Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz. (Q3179021)

From EU Knowledge Graph
Jump to navigation Jump to search
Project Q3179021 in Spain
Language Label Description Also known as
English
Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz.
Project Q3179021 in Spain

    Statements

    0 references
    802,108.5 Euro
    0 references
    995,666.0 Euro
    0 references
    80.56 percent
    0 references
    1 January 2016
    0 references
    31 December 2018
    0 references
    UNIVERSIDAD DE CADIZ
    0 references

    36°31'37.24"N, 6°11'4.70"W
    0 references
    11510
    0 references
    Se solicita equipamiento para efectuar la sustitución del Microscopio Electrónico de Barrido-Transmisión Analítico de Emisión de Campo, JEOL2010F, instalado en la División de Microscopía Electrónica (DME) de los Servicios Científicos de Investigación Científica y Técnica (SC-ICYT) de la Universidad de Cádiz (UCA) por un equipo actualizado, de prestaciones similares, para dar continuidad a la prestación de servicios de caracterización estructural y analítica en la escala nanométrica-subnanométrica en el ámbito de muestras de materiales. (Spanish)
    0 references
    Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English)
    12 October 2021
    0.0563342920849962
    0 references
    L’équipement est demandé pour le remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission de JEOL2010F, installé dans la Division de la microscopie électronique (DME) des Services de recherche scientifique et technique (SC-ICYT) de l’Université de Cadiz (UCA) par une équipe mise à jour, dotée de caractéristiques similaires, afin d’assurer la continuité dans la prestation de services de caractérisation structurale et analytique à l’échelle nanométrique-subnanométrique dans le domaine des échantillons de matériaux. (French)
    4 December 2021
    0 references
    Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German)
    9 December 2021
    0 references
    Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch)
    17 December 2021
    0 references
    L'apparecchiatura è richiesta per la sostituzione del microscopio analitico analitico di JEOL2010F di JEOL2010F, installato nella divisione di microscopia elettronica (DME) dei servizi di ricerca scientifica e tecnica (SC-ICYT) dell'Università di Cadice (UCA) da un team aggiornato, con caratteristiche analoghe, per fornire continuità nella fornitura di servizi di caratterizzazione strutturale e analitica su scala nanometrica-subnanometrica nel campo dei campioni di materiale. (Italian)
    16 January 2022
    0 references
    Απαιτείται εξοπλισμός για την αντικατάσταση του Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Εκπομπών Πεδίου Αναλυτικού Πεδίου JEOL2010F, εγκατεστημένο στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας (DME) των Υπηρεσιών Επιστημονικής και Τεχνικής Έρευνας (SC-ICYT) του Πανεπιστημίου του Cadiz (UCA) από ενημερωμένη ομάδα, με παρόμοια χαρακτηριστικά, για την εξασφάλιση συνέχειας στην παροχή δομικών και αναλυτικών υπηρεσιών χαρακτηρισμού σε νανομετρική-υπονανομετρική κλίμακα στον τομέα των δειγμάτων υλικών. (Greek)
    18 August 2022
    0 references
    Der anmodes om udstyr til udskiftning af JEOL2010F's Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, der er installeret i afdelingen for elektronisk mikroskopi (DME) under de videnskabelige og tekniske forskningstjenester (SC-ICYT) ved universitetet i Cadiz (UCA) med et opdateret team med lignende funktioner for at sikre kontinuitet i leveringen af strukturelle og analytiske karakteriseringstjenester på nanometrisk-subnometrisk skala inden for materialeprøver. (Danish)
    18 August 2022
    0 references
    Laitteita pyydetään korvaamaan JEOL2010F:n Electronic Sweep-Transmission-analyyttinen kentän päästömikroskooppi, joka on asennettu Cadizin yliopiston (UCA) tieteellisten ja teknisten tutkimuspalvelujen (SC-ICYT) elektroniseen mikroskopiaan (DME), päivitetyllä ryhmällä, jolla on samanlaiset ominaisuudet, jotta voidaan varmistaa jatkuvuus rakenne- ja analyyttisten karakterisointipalvelujen tarjoamisessa materiaalinäytteiden nanometrisellä subnanometrisellä asteikolla. (Finnish)
    18 August 2022
    0 references
    Huwa mitlub tagħmir għas-sostituzzjoni tal-Mikroskopju tal-Emissjoni tal-Emissjoni fil-Qasam Analitiku tat-Trasmissjoni Elettronika ta’ JEOL2010F, installat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika (DME) tas-Servizzi ta’ Riċerka Xjentifika u Teknika (SC-ICYT) tal-Università ta’ Cadiz (UCA) minn tim aġġornat, b’karatteristiċi simili, biex jipprovdi kontinwità fil-forniment ta’ servizzi ta’ karatterizzazzjoni strutturali u analitika fuq l-iskala nanometrika-subnanometrika fil-qasam tal-kampjuni tal-materjal. (Maltese)
    18 August 2022
    0 references
    Iekārtas tiek pieprasītas, lai aizstātu JEOL2010F Elektronisko slaucīšanas-pārraides analīzes lauka emisijas mikroskopu, kas uzstādīts Kadisas Universitātes (UCA) Zinātniskās un tehniskās pētniecības pakalpojumu (SC-ICYT) Elektroniskās mikrokopijas nodaļā (DME), ar atjauninātu komandu ar līdzīgām iezīmēm, lai nodrošinātu strukturālo un analītisko raksturošanas pakalpojumu nepārtrauktību nanometriskā subnanometriskā mērogā materiālu paraugu jomā. (Latvian)
    18 August 2022
    0 references
    Požaduje sa vybavenie na nahradenie mikroskopu s elektronickým mikroskopom na prenose poľnej emisnej mikroskopie (DME) spoločnosti JEOL2010F, ktorý je nainštalovaný v divízii Elektronická mikroskopia (DME) vedecko-technických výskumných služieb (SC-ICYT) Univerzity v Cádiz (UCA) aktualizovaným tímom s podobnými vlastnosťami s cieľom zabezpečiť kontinuitu pri poskytovaní služieb štrukturálnej a analytickej charakterizácie na nanometrickej a subnanometrickej stupnici v oblasti materiálových vzoriek. (Slovak)
    18 August 2022
    0 references
    Iarrtar trealamh a chur in ionad Mhicreascóp Astaíochta Réimse Anailíseach Leictreonach JEOL2010F, atá suiteáilte sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí (DME) de Sheirbhísí Taighde Eolaíoch agus Teicniúil (SC-ICYT) Ollscoil Cadiz (UCA) ag foireann nuashonraithe, a bhfuil gnéithe comhchosúla aici, chun leanúnachas a sholáthar i soláthar seirbhísí tréithrithe struchtúracha agus anailíseacha ar an scála nanaiméadrach-fo-mhéadrach i réimse na samplaí ábhair. (Irish)
    18 August 2022
    0 references
    Zařízení je požadováno pro nahrazení elektronického Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope JEOL2010F, instalovaného v divizi elektronické mikroskopie (DME) vědeckých a technických výzkumných služeb (SC-ICYT) Univerzity v Cádizu (UCA) aktualizovaným týmem s podobnými vlastnostmi, aby byla zajištěna kontinuita při poskytování strukturních a analytických služeb charakterizace nanometricko-subnanometrické stupnice v oblasti vzorků materiálu. (Czech)
    18 August 2022
    0 references
    O equipamento é solicitado para a substituição do microscópio de emissão de campo eletrônico de transmissão eletrônica da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrônica (DME) dos Serviços de Pesquisa Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádiz (UCA) por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para proporcionar continuidade na prestação de serviços de caracterização estrutural e analítica na escala nanométrica-subnanométrica no campo das amostras de materiais. (Portuguese)
    18 August 2022
    0 references
    Cádizi ülikooli teadus- ja tehnikauuringute teenuste (SC-ICYT) elektroonilise mikroskoopia (JEOL2010F) elektroonse väljaanalüüsi mikroskoobi (JEOL2010F) asendamiseks sarnaste omadustega ajakohastatud meeskonnaga, et tagada materjaliproovide nanomeetrilise subnanomeetrilise skaala struktuuriliste ja analüütiliste iseloomustamisteenuste osutamise järjepidevus. (Estonian)
    18 August 2022
    0 references
    A JEOL2010F Cadizi Egyetem (UCA) Tudományos és Műszaki Kutatási Szolgálatának (SC-ICYT) elektronikus mikroszkópi részlegében (DME) felszerelt elektronikus Sweep-transzmissziós analitikai mikroszkópjának egy frissített, hasonló jellemzőkkel rendelkező csapattal való helyettesítésére van szükség annak érdekében, hogy folyamatos legyen a szerkezeti és analitikai jellemzési szolgáltatások nyújtása az anyagminták területén a nanometriai-szubnanometrikus skálán. (Hungarian)
    18 August 2022
    0 references
    Изисква се оборудване за подмяна на електронния Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope на JEOL2010F, инсталиран в отдел „Електронна микроскопия“ (DME) на службите за научно-технически изследвания (SC-ICYT) на Университета в Кадис (UCA) от актуализиран екип със сходни характеристики, за да се осигури непрекъснатост при предоставянето на услуги по структурно и аналитично характеризиране на нанометричната и субнанометричната скала в областта на пробите от материали. (Bulgarian)
    18 August 2022
    0 references
    Prašoma įrangos, kad būtų galima pakeisti JEOL2010F elektroninio signalo perdavimo analizės lauko taršos mikroskopą, įrengtą Kadiso universiteto (UCA) Mokslinių ir techninių tyrimų tarnybų (SC-ICYT) Elektroninės mikroskopijos skyriuje (DME) atnaujinta komanda, kuriai būdingos panašios savybės, siekiant užtikrinti struktūrinių ir analitinių charakteristikų paslaugų teikimo nanometrinės-subnanometrinės skalės medžiagų mėginių srityje tęstinumą. (Lithuanian)
    18 August 2022
    0 references
    Oprema se traži za zamjenu analitičkog mikroskopa JEOL2010F-a za elektronski prijenos na terenu koji je instaliran u Odjelu za elektronsku mikroskopiju (DME) Službe za znanstvena i tehnička istraživanja (SC-ICYT) Sveučilišta u Cadizu (UCA) od strane ažuriranog tima sa sličnim značajkama kako bi se osigurao kontinuitet u pružanju usluga strukturne i analitičke karakterizacije na nanometrijsko-subnanometrijskoj ljestvici u području uzoraka materijala. (Croatian)
    18 August 2022
    0 references
    Utrustning begärs för utbyte av JEOL2010F:s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installerat i Electronic Microscopy Division (DME) vid vetenskapliga och tekniska forskningstjänsterna (SC-ICYT) vid University of Cadiz (UCA) med ett uppdaterat team med liknande egenskaper, för att tillhandahålla kontinuitet i tillhandahållandet av strukturella och analytiska karakteriseringstjänster på den nanometriska subnanometriska skalan för materialprover. (Swedish)
    18 August 2022
    0 references
    Se solicită echipamente pentru înlocuirea Microscopului de emisie analitică de câmp electronic al JEOL2010F, instalat în Divizia de Microscopie Electronică (DME) a Serviciilor de Cercetare Științifică și Tehnică (SC-ICYT) din cadrul Universității din Cadiz (UCA) cu o echipă actualizată, cu caracteristici similare, pentru a asigura continuitatea furnizării de servicii de caracterizare structurală și analitică la scară nanometrică-subnanometrică în domeniul probelor de material. (Romanian)
    18 August 2022
    0 references
    Oprema se zahteva za zamenjavo elektronskega mikroskopa JEOL2010F za analizo emisijskega polja, nameščenega v oddelku za elektronsko mikroskopijo (DME) Znanstvenih in tehničnih raziskovalnih služb (SC-ICYT) Univerze v Cadizu (UCA), s posodobljeno ekipo s podobnimi funkcijami, da se zagotovi kontinuiteta pri zagotavljanju strukturnih in analitičnih karakterizacijskih storitev na nanometrično-subnanometrični lestvici na področju vzorcev materiala. (Slovenian)
    18 August 2022
    0 references
    W celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług w zakresie charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skalę nanometryczno-subnanometryczną w dziedzinie próbek materiałów wymagane jest wyposażenie do wymiany elektronicznego mikroskopu elektronicznego JEOL2010F, zainstalowanego w dziale mikroskopii elektronicznej (DME) w ramach usług naukowo-technicznych (SC-ICYT) Uniwersytetu w Kadyzie (UCA), w celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skali nanometrycznej i subnanometrycznej w dziedzinie próbek materiałów. (Polish)
    18 August 2022
    0 references
    Puerto Real
    0 references
    20 December 2023
    0 references

    Identifiers

    UNCA15-CE-3482
    0 references