ACQUISITION OF AN ION CANNON GAS CLUSTER ION SOURCE FOR TOF-SIMS SPECTROMETER (Q3145228)
Jump to navigation
Jump to search
Project Q3145228 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | ACQUISITION OF AN ION CANNON GAS CLUSTER ION SOURCE FOR TOF-SIMS SPECTROMETER |
Project Q3145228 in Spain |
Statements
138,303.0 Euro
0 references
254,000.0 Euro
0 references
54.45 percent
0 references
1 January 2018
0 references
31 March 2021
0 references
UNIVERSIDAD DE VIGO
0 references
36310
0 references
Esta petición persigue actualizar y mejorar la infraestructura de la Unidad espectrometría de masas de Iones Secundarios por tiempo de Vuelo (TOF-SIMS) del CACTI con un nuevo accesorio que es cañón del tipo ¿Argon Gas Cluster Source¿ que se instalaría en el espectrómetro de masas de Iones Secundarios por tiempo de vuelo TOF-SIMS ya existente en el Servicio de Nanotecnología y Análisis de Superficies del CACTI. Este accesorio amplia y complementa la capacidad analítica de la técnica en el ámbito orgánico, farmacológico y biotecnológico._x000D_ _x000D_ La Unidad espectrometría de masas de Iones Secundarios por tiempo de Vuelo (TOF-SIMS), pertenece al Servicio de Nanotecnología y Analisis de Superficies del Centro de Apoyo Científico y Tecnológico a la Investigación (CACTI) de la Universidad de Vigo. Este centro tiene como misión principal el prestar apoyo científico y tecnológico a los trabajos de investigación y desarrollo que se realicen en los diversos ámbitos científicos de esta Universidad. _x000D_ Este nuevo cañón que se acoplaría al TOF-SIMS existente proporcionará la versatilidad necesaria y ampliará las capacidades para responder a la demanda de los usuarios para realizar espectros en condiciones experimentales que permitan realizar estudios que ahora no podemos llevar a cabo. La gran evolución de los cañones iónicos de Clusters Poliatómicos, han dado un vuelco a las prestaciones que ahora son posibles con este tipo de cañones de última tecnología. (Spanish)
0 references
This proposal seeks to update and improve the infrastructure of the Unit Secondary Ion Mass Spectrometry for Flight Time (TOF-SIMS) with a new accessory that is a new Ion gun "Ion Gas Cluster Source" type that would be installed in the spectrometer Times of flight Secondary Ion Mass Spectrometry already existing at the Nanotechnology and Surface Analysis Service of CACTI. This accessory expands and complements the analytical capacity of the technique in the organic, pharmacological and biotechnological fields._x000D_ _x000D_ The Unit Secondary Ion Mass Spectrometry for Flight Time (TOF-SIMS) belongs to the Nanotechnology and Surface Analysis Service, which in turn, depends on the CACTI Research Support Center of the University of Vigo. The main mission of this center is to provide scientific and technological support to the research and development work carried out in the various scientific fields of this University._x000D_ This new Ion Gun that would be coupled to the existing TOF-SIMS will provide the necessary versatility and expand the capabilities to respond to the demand of users to perform spectra under experimental conditions that allow studies that we can¿t carry out now. The great evolution of the ION Gas Cluster Source the last years, have overturned the benefits that are now possible with this type of guns of the latest technology and that in the case of financing this project, will allow access to cutting-edge technologies that the existing equipment can not provide. (English)
0.7177871866115434
0 references
Cette demande vise à mettre à jour et à améliorer l’infrastructure de l’unité de spectrométrie de masse des ions secondaires (TOF-SIMS) à l’aide d’un nouvel accessoire qui est le canon source de gaz Argon qui serait installé sur le spectromètre de masse Ion secondaire pour le temps de vol TOF-SIMS déjà existant dans le Service d’analyse de nanotechnologie et de surface du CACTI. Cet accessoire complet complète la capacité d’analyse de la technique dans les domaines organique, pharmacologique et biotechnologique._x000D_ _x000D_ L’unité de spectrométrie de masse en temps de vol (TOF-SIMS) appartient au service d’analyse nanotechnologie et de surface du Centre de soutien à la recherche scientifique et technologique (CACTI) de l’Université de Vigo. La mission principale de ce centre est d’apporter un soutien scientifique et technologique aux travaux de recherche et de développement menés dans les différents domaines scientifiques de cette université. _x000D_ ce nouveau pistolet qui serait couplé au TOF-SIMS existant fournira la polyvalence nécessaire et élargira les capacités pour répondre à la demande des utilisateurs d’effectuer des spectres dans des conditions expérimentales qui nous permettent de réaliser des études que nous ne pouvons pas effectuer maintenant. La grande évolution des canons ioniques des clusters polyatomiques, a renversé la performance qui est maintenant possible avec ce type de pistolets de dernière technologie. (French)
2 December 2021
0 references
Diese Anforderung zielt darauf ab, die Infrastruktur der CACTI Secondary Time of Flight Ion Mass Spectrometry Unit (TOF-SIMS) mit einem neuen Zubehör, dem Argon Gas Cluster Source Kanone, zu aktualisieren und zu verbessern, das auf dem Sekundär-Ionen-Massenspektrometer für die Flugzeit TOF-SIMS bereits im CACTI-Nanotechnologie- und Oberflächenanalysedienst installiert werden würde. Dieses umfangreiche Zubehör ergänzt die analytische Leistungsfähigkeit der Technik im Bereich der organischen, pharmakologischen und Biotechnologie._x000D_ _x000D_ Die Flight Time Maß Spectrometry Unit (TOF-SIMS) gehört zum Nanotechnologie- und Oberflächenanalysedienst des Center for Scientific and Technological Research Support (CACTI) der Universität Vigo. Die Hauptaufgabe dieses Zentrums besteht darin, die Forschungs- und Entwicklungsarbeiten in den verschiedenen wissenschaftlichen Bereichen dieser Universität wissenschaftlich und technologisch zu unterstützen. _x000D_ diese neue Pistole, die an das bestehende TOF-SIMS gekoppelt wäre, wird die notwendige Vielseitigkeit bieten und die Fähigkeiten erweitern, um auf die Nachfrage der Nutzer zu reagieren, Spektren unter experimentellen Bedingungen durchzuführen, die es uns ermöglichen, Studien durchzuführen, die wir jetzt nicht durchführen können. Die große Entwicklung der Ionenkanonen von polyatomischen Clustern, haben die Leistung, die jetzt mit dieser Art von neuesten Technologie-Geschütze möglich ist, umgedreht. (German)
9 December 2021
0 references
Dit verzoek heeft tot doel de infrastructuur van de CACTI Secondary Time of Flight Ion Mass Spectrometry Unit (TOF-SIMS) te actualiseren en te verbeteren met een nieuw accessoire dat het Argon Gas Cluster Source kanon is dat zou worden geïnstalleerd op de secundaire Ion massaspectrometer voor vliegtijd TOF-SIMS die reeds in de CACTI Nanotechnology and Surface Analysis Service aanwezig is. Dit uitgebreide accessoire vormt een aanvulling op de analytische capaciteit van de techniek op het gebied van organische, farmacologische en biotechnologie._x000D_ _x000D_ De eenheid vluchttijdmassaspectrometrie (TOF-SIMS) behoort tot de dienst Nanotechnologie en Oppervlakteanalyse van het Center for Scientific and Technological Research Support (CACTI) van de Universiteit van Vigo. De belangrijkste opdracht van dit centrum is het verlenen van wetenschappelijke en technologische ondersteuning van de onderzoeks- en ontwikkelingswerkzaamheden op de verschillende wetenschappelijke gebieden van deze universiteit. _x000D_ dit nieuwe pistool dat zou worden gekoppeld aan de bestaande TOF-SIMS zal de nodige veelzijdigheid bieden en de mogelijkheden uitbreiden om te reageren op de vraag van gebruikers om spectra uit te voeren onder experimentele omstandigheden die ons in staat stellen studies uit te voeren die we nu niet kunnen uitvoeren. De grote evolutie van de ionenkanonnen van polyatomische clusters, heeft de prestaties die nu mogelijk zijn met dit soort nieuwste technologiegeweren omgedraaid. (Dutch)
17 December 2021
0 references
La presente richiesta mira ad aggiornare e migliorare l'infrastruttura dell'unità di spettrometria di massa degli ioni di volo secondari CACTI (TOF-SIMS) con un nuovo accessorio che è il cannone Argon Gas Cluster Source che sarebbe installato sullo spettrometro di massa a ioni secondari per il tempo di volo TOF-SIMS già esistente nel servizio CACTI Nanotechnology and Surface Analysis. Questo accessorio completo completa la capacità analitica della tecnica in campo organico, farmacologico e biotecnologico._x000D_ _x000D_ L'Unità spettrometria di massa in tempo di volo (TOF-SIMS) appartiene al Servizio Nanotecnologico e Analisi delle superfici del Centro di Supporto alla Ricerca Scientifica e Tecnologica (CACTI) dell'Università di Vigo. La missione principale di questo centro è fornire supporto scientifico e tecnologico al lavoro di ricerca e sviluppo svolto nei vari campi scientifici di questa Università. _x000D_ questa nuova pistola che sarebbe accoppiata all'esistente TOF-SIMS fornirà la necessaria versatilità e amplierà le capacità per rispondere alla domanda degli utenti di eseguire spettri in condizioni sperimentali che ci permettono di effettuare studi che non possiamo ora effettuare. La grande evoluzione dei cannoni ioni dei Cluster poliatomici, ha rovesciato le prestazioni che sono ora possibili con questo tipo di pistole di ultima generazione. (Italian)
16 January 2022
0 references
Tá sé mar aidhm leis an togra seo bonneagar an Aonaid um Mais-Speictriméadracht ian Tánaisteach le haghaidh Am Eitilte (TOF-SIMS) a nuashonrú agus a fheabhsú le cúlpháirtí nua atá ann cheana féin ag Seirbhís Anailíse Nanaitheicneolaíochta agus Dromchla cacti. Leathnaíonn sé seo cúlpháirtí agus comhlánaíonn an cumas anailíseach an teicníc i réimsí orgánacha, cógaseolaíochta agus biteicneolaíochta._x000D_ _x000D_ An tAonad Meánscoile Mais ian Speictriméadracht do Am Eitilte (TOF-SIMS) mbaineann leis an Nanotechnology agus Seirbhís Anailís Dromchla, ina dhiaidh sin, ag brath ar an Ionad Tacaíochta Cacti Taighde de chuid Ollscoil Vigo. Is é príomh-mhisean an ionaid seo tacaíocht eolaíoch agus theicneolaíoch a chur ar fáil don obair thaighde agus forbartha a dhéantar sna réimsí eolaíochta éagsúla den University._x000D_ seo nua Ian Gun a bheadh cúpláilte leis an TOF-SIMS atá ann cheana a chur ar fáil an solúbthacht is gá agus na cumais a leathnú chun freagra a thabhairt ar an éileamh na n-úsáideoirí a dhéanamh spectra faoi choinníollacha turgnamhacha a chuireann ar chumas staidéir gur féidir linn a dhéanamh anois. Tá éabhlóid mhór an Bhraisle Gáis ION Foinse le blianta beaga anuas, tar éis na buntáistí is féidir a chur ar ceal anois leis an gcineál seo gunnaí den teicneolaíocht is déanaí agus, i gcás an tionscadail seo a mhaoiniú, ceadóidh sé rochtain ar theicneolaíochtaí ceannródaíocha nach féidir leis an trealamh atá ann cheana a chur ar fáil. (Irish)
3 November 2022
0 references
Niniejszy wniosek ma na celu aktualizację i ulepszenie infrastruktury jednostki Secondary Ion Mass Spectrometry for Flight Time (TOF-SIMS) dzięki nowemu akcesorium, które jest nowym typem pistoletu jonowego „Źródło klastra gazu jonowego”, który zostałby zainstalowany w spektrometrze Times of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry już istniejącej w serwisie nanotechnologii i analizy powierzchni CACTI. Akcesorium rozszerza i uzupełnia zdolność analityczną techniki w dziedzinie organicznej, farmakologicznej i biotechnologicznej._x000D_ _x000D_ Jednostka drugorzędna jonowa spektrometria masowa dla czasu lotu (TOF-SIMS) należy do usługi nanotechnologii i analizy powierzchni, która z kolei zależy od Centrum Wsparcia Badań CACTI Uniwersytetu w Vigo. Główną misją tego ośrodka jest zapewnienie naukowego i technologicznego wsparcia prac badawczo-rozwojowych prowadzonych w różnych dziedzinach naukowych Uniwersytetu._x000D_ Ten nowy pistolet jonowy, który byłby połączony z istniejącym TOF-SIMS, zapewni niezbędną wszechstronność i poszerzy możliwości reagowania na zapotrzebowanie użytkowników na wykonywanie widma w warunkach eksperymentalnych, które pozwolą na badania, których nie możemy teraz przeprowadzić. Wielka ewolucja Źródła Klastra Gazowego ION w ostatnich latach przewróciła korzyści, które są obecnie możliwe dzięki tego typu działam najnowszej technologii i że w przypadku finansowania tego projektu, umożliwi dostęp do najnowocześniejszych technologii, których istniejący sprzęt nie może zapewnić. (Polish)
3 November 2022
0 references
Prezenta propunere urmărește să actualizeze și să îmbunătățească infrastructura spectrometriei de masă ionică secundară pentru timpul de zbor (TOF-SIMS) cu un nou accesoriu, care este un nou tip de tun Ion „Ion Gas Cluster Source”, care ar fi instalat în spectrometrul Timpuri de zbor Spectrometria de masă ionică secundară existentă deja la Serviciul de Nanotehnologie și Analiză de Suprafață al CACTI. Acest accesoriu extinde și completează capacitatea analitică a tehnicii în domeniile organic, farmacologic și biotehnologic._x000D_ _x000D_ Spectrometria de masă ionică secundară pentru timpul de zbor (TOF-SIMS) aparține Serviciului de Nanotehnologie și Analiză de Suprafață, care, la rândul său, depinde de Centrul de Sprijin pentru Cercetare CACTI al Universității din Vigo. Misiunea principală a acestui centru este de a oferi suport științific și tehnologic pentru activitatea de cercetare și dezvoltare desfășurată în diferitele domenii științifice ale acestei universități._x000D_ Acest nou Ion Gun care ar fi cuplat la TOF-SIMS existent va oferi versatilitatea necesară și va extinde capacitățile de a răspunde cererii utilizatorilor de a efectua spectre în condiții experimentale care să permită studii pe care le putem efectua acum. Marea evoluție a ION Gas Cluster Source din ultimii ani, a răsturnat beneficiile care sunt acum posibile cu acest tip de arme de cea mai recentă tehnologie și că, în cazul finanțării acestui proiect, va permite accesul la tehnologii de ultimă oră pe care echipamentele existente nu le pot oferi. (Romanian)
3 November 2022
0 references
Detta förslag syftar till att uppdatera och förbättra infrastrukturen för Unit Secondary Ion Mass Spectrometry for Flight Time (TOF-SIMS) med ett nytt tillbehör som är en ny jonpistol ”Ion Gas Cluster Source” typ som skulle installeras i spektrometern Times of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry som redan finns vid Nanotechnology and Surface Analysis Service of CACTI. Detta tillbehör utökar och kompletterar den analytiska kapaciteten hos tekniken i de organiska, farmakologiska och biotekniska fälten._x000D_ _x000D_ Enheten sekundär jonmasspektrometri för flygtid (TOF-SIMS) tillhör Nanotechnology och Surface Analysis Service, som i sin tur beror på CACTI Research Support Center vid University of Vigo. Huvuduppgiften för detta centrum är att ge vetenskapligt och tekniskt stöd till forskning och utvecklingsarbete som utförs inom de olika vetenskapliga områdena vid detta universitet._x000D_ Denna nya jonpistol som skulle kopplas till den befintliga TOF-SIMS kommer att ge den nödvändiga mångsidigheten och utöka förmågan att svara på användarnas efterfrågan att utföra spektra under experimentella förhållanden som tillåter studier som vi inte kan utföra nu. Den stora utvecklingen av ION Gas Cluster Source de senaste åren, har störtat de fördelar som nu är möjliga med denna typ av vapen av den senaste tekniken och att när det gäller finansiering av detta projekt, kommer att ge tillgång till banbrytande teknik som den befintliga utrustningen inte kan tillhandahålla. (Swedish)
3 November 2022
0 references
Namen tega predloga je posodobiti in izboljšati infrastrukturo enote Sekundarna ionska masna spektrometrija za čas letenja (TOF-SIMS) z novo opremo, ki je nova vrsta ionske pištole „vir ionskih plinskih grozdov“, ki bi bila nameščena v spektrometrskem času letenja Srednja ionska masna spektrometrija, ki že obstaja v službi za analizo nanotehnologije in površinske analize CACTI. Ta dodatek razširja in dopolnjuje analitično zmogljivost tehnike na organskih, farmakoloških in biotehnoloških področjih._x000D_ _x000D_ Enota Sekundarna ionska masna spektrometrija za čas letenja (TOF-SIMS) spada v Službo za nanotehnologijo in površinsko analizo, ki je odvisna od CACTI raziskovalnega podpornega centra Univerze v Vigu. Glavno poslanstvo tega centra je zagotoviti znanstveno in tehnološko podporo za raziskovalno in razvojno delo, ki se izvaja na različnih znanstvenih področjih te univerze._x000D_ Ta nova Ion pištola, ki bi bila povezana z obstoječim TOF-SIMS bo zagotovila potrebno vsestranskost in razširila zmogljivosti za odzivanje na povpraševanje uporabnikov za izvajanje spektrov v eksperimentalnih pogojih, ki omogočajo študije, ki jih zdaj ne moremo izvesti. Velika evolucija vira plinskega grozda ION v zadnjih letih je razveljavila prednosti, ki so zdaj možne s to vrsto pištol najnovejše tehnologije in ki bo v primeru financiranja tega projekta omogočila dostop do najsodobnejših tehnologij, ki jih obstoječa oprema ne more zagotoviti. (Slovenian)
3 November 2022
0 references
Šiuo pasiūlymu siekiama atnaujinti ir patobulinti bloko antrinės jonų masės spektrometrijos (TOF-SIMS) infrastruktūrą su nauju aksesuaru, kuris yra naujas jonų pistoletas „jonų dujų klasterio šaltinis“, kuris būtų įdiegtas skrydžio antrinės jonų masės spektrometrijos spektrometre, kuri jau veikia CACTI nanotechnologijos ir paviršiaus analizės tarnyboje. Šis priedas išplečia ir papildo analitinį pajėgumą organinių, farmakologinių ir biotechnologinių srityse._x000D_ _x000D_ Unit Antrinė jonų masės spektrometrija skrydžio laikui (TOF-SIMS) priklauso Nanotechnologijos ir paviršiaus analizės tarnybai, kuri savo ruožtu priklauso nuo Vigo universiteto CACTI tyrimų palaikymo centro. Pagrindinė šio centro misija yra teikti mokslinę ir technologinę paramą mokslinių tyrimų ir plėtros darbams, atliekamiems įvairiose šio universiteto mokslo srityse._x000D_ Šis naujas jonų pistoletas, kuris būtų susietas su esama TOF-SIMS, suteiks reikiamą universalumą ir išplės galimybes reaguoti į vartotojų poreikį atlikti spektrą eksperimentinėmis sąlygomis, leidžiančiomis atlikti tyrimus, kuriuos mes galime atlikti dabar. Didžioji ION dujų klasterio šaltinio raida pastaraisiais metais panaikino naudą, kuri dabar yra įmanoma su šiuo naujausių technologijų šautuvais, ir kad finansuojant šį projektą bus sudarytos sąlygos naudotis pažangiausiomis technologijomis, kurių dabartinė įranga negali suteikti. (Lithuanian)
3 November 2022
0 references
Η παρούσα πρόταση επιδιώκει να επικαιροποιήσει και να βελτιώσει την υποδομή της Μονάδας Δευτεροβάθμιας Φασματομετρίας Μάζας Ιόντων για το Χρόνο Πτήσης (TOF-SIMS) με ένα νέο εξάρτημα που είναι ένα νέο ιονικό πυροβόλο όπλο «Ion Gas Cluster Source» που θα εγκατασταθεί στο φασματόμετρο Times της πτήσης Δευτεροβάθμια Φασματομετρία Μάζας Ιόντων που υπάρχουν ήδη στην υπηρεσία ανάλυσης νανοτεχνολογίας και επιφανειακής ανάλυσης της CACTI. Το εξάρτημα αυτό επεκτείνει και συμπληρώνει την αναλυτική ικανότητα της τεχνικής στους οργανικούς, φαρμακολογικούς και βιοτεχνολογικούς τομείς._x000D_ _x000D_ Η Μονάδα Δευτεροβάθμιας Φασματομετρίας Μάζας Ιονίου για το Χρόνο Πτήσης (TOF-SIMS) ανήκει στην Υπηρεσία Νανοτεχνολογίας και Ανάλυσης Επιφανειών, η οποία με τη σειρά της εξαρτάται από το Κέντρο Υποστήριξης Έρευνας CACTI του Πανεπιστημίου του Vigo. Η κύρια αποστολή αυτού του κέντρου είναι να παρέχει επιστημονική και τεχνολογική υποστήριξη στο έργο έρευνας και ανάπτυξης που διεξάγεται στους διάφορους επιστημονικούς τομείς αυτού του Πανεπιστημίου._x000D_ Αυτό το νέο Ion Gun που θα συνδυαστεί με το υπάρχον TOF-SIMS θα παρέχει την απαραίτητη ευελιξία και θα επεκτείνει τις δυνατότητες ανταπόκρισης στη ζήτηση των χρηστών να εκτελούν φάσματα υπό πειραματικές συνθήκες που επιτρέπουν μελέτες που δεν μπορούμε να πραγματοποιήσουμε τώρα. Η μεγάλη εξέλιξη της ION Gas Cluster Source τα τελευταία χρόνια, έχει ανατρέψει τα οφέλη που είναι τώρα δυνατά με αυτό το είδος των όπλων τελευταίας τεχνολογίας και ότι σε περίπτωση χρηματοδότησης αυτού του έργου, θα επιτρέψει την πρόσβαση σε τεχνολογίες αιχμής που ο υφιστάμενος εξοπλισμός δεν μπορεί να προσφέρει. (Greek)
3 November 2022
0 references
Dette forslag har til formål at opdatere og forbedre infrastrukturen i Unit Secondary Ion Mass Spectrometry for Flight Time (TOF-SIMS) med et nyt tilbehør, der er en ny Ion pistol "Ion Gas Cluster Source" type, der ville blive installeret i spektrometret Times of flight Secondary Ion Mass Spectrometry allerede eksisterende på Nanoteknologi og Surface Analysis Service for CACTI. Dette tilbehør udvider og supplerer den analytiske kapacitet af teknikken i de organiske, farmakologiske og bioteknologiske felter._x000D_ _x000D_ Unit Secondary Ion Mass Spectrometry for Flight Time (TOF-SIMS) tilhører Nanoteknologi og Surface Analysis Service, som igen afhænger af CACTI Research Support Center for University of Vigo. Den vigtigste mission for dette center er at yde videnskabelig og teknologisk støtte til forskning og udvikling arbejde udført i de forskellige videnskabelige områder af dette universitet._x000D_ Denne nye Ion Gun, der ville blive koblet til den eksisterende TOF-SIMS vil give den nødvendige alsidighed og udvide kapaciteten til at reagere på efterspørgslen fra brugere til at udføre spektre under eksperimentelle betingelser, der tillader undersøgelser, som vi ikke kan udføre nu. Den store udvikling af ION Gas Cluster Source de sidste år har væltet de fordele, der nu er mulige med denne type kanoner af den nyeste teknologi, og at i tilfælde af finansiering af dette projekt, vil give adgang til avancerede teknologier, som det eksisterende udstyr ikke kan levere. (Danish)
3 November 2022
0 references
A javaslat célja, hogy korszerűsítse és javítsa a másodrendű Ion tömegspektrometriát (TOF-SIMS) egy új kiegészítővel, amely egy új Ionágyú „Iongáz Klaszterforrás” típusú, amelyet a CACTI nanotechnológiai és felületelemző szolgálatában már létező másodfokú Ion tömegspektrometria spektrométerébe telepítenek. Ez a kiegészítő bővíti és kiegészíti a technika analitikai kapacitását a szerves, farmakológiai és biotechnológiai területeken._x000D_ _x000D_ Az egység másodlagos ion tömegspektrometriája a repülési időre (TOF-SIMS) a nanotechnológiai és felszíni elemzési szolgáltatáshoz tartozik, amely viszont a Vigo Egyetem CACTI Kutató Támogató Központjától függ. Ennek a központnak a fő küldetése, hogy tudományos és technológiai támogatást nyújtson az egyetem különböző tudományos területein végzett kutatási és fejlesztési munkához._x000D_ Ez az új Ion Gun, amelyet a meglévő TOF-SIMS-hez kapcsolnának, biztosítja a szükséges sokoldalúságot és bővíti a képességeket, hogy válaszoljon a felhasználók keresletére, hogy kísérleti körülmények között végezzék el a spektrumokat, amelyek lehetővé teszik azokat a tanulmányokat, amelyeket most már elvégezhetünk. Az elmúlt években az ION gázklaszter-forrás nagy fejlődése megdöntötte azokat az előnyöket, amelyek most a legújabb technológia ilyen típusú fegyvereivel lehetségesek, és hogy a projekt finanszírozása esetén lehetővé teszi a hozzáférést az élvonalbeli technológiákhoz, amelyeket a meglévő berendezések nem tudnak biztosítani. (Hungarian)
3 November 2022
0 references
Cieľom tohto návrhu je aktualizovať a zlepšiť infraštruktúru sekundárnej iónovej hmotnostnej spektrometrie jednotky pre letový čas (TOF-SIMS) s novým príslušenstvom, ktorým je nový typ iónovej pištole „Ion Gas Cluster Source“, ktorý by bol inštalovaný v spektrometri času letu Sekundárna iónová hmotnostná spektrometria už existujúca v službe nanotechnológie a povrchovej analýzy CACTI. Toto príslušenstvo rozširuje a dopĺňa analytickú kapacitu techniky v organickej, farmakologickej a biotechnologickej oblasti._x000D_ _x000D_ Jednotka Sekundárna iónová hmotnostná spektrometria pre letový čas (TOF-SIMS) patrí do služby nanotechnológie a povrchovej analýzy, ktorá zase závisí od Centra podpory výskumu CACTI na univerzite vo Vigu. Hlavným poslaním tohto centra je poskytovať vedeckú a technologickú podporu výskumnej a vývojovej práci vykonávanej v rôznych vedeckých oblastiach tejto univerzity._x000D_ Táto nová Ion Gun, ktorá by bola spojená s existujúcim TOF-SIMS, poskytne potrebnú všestrannosť a rozšíri schopnosti reagovať na dopyt užívateľov vykonávať spektrá v experimentálnych podmienkach, ktoré umožňujú štúdie, ktoré môžeme vykonať teraz. Veľký vývoj zdroja plynového klastra ION v posledných rokoch prevrátil výhody, ktoré sú teraz možné s týmto typom zbraní najnovšej technológie a že v prípade financovania tohto projektu umožní prístup k špičkovým technológiám, ktoré existujúce zariadenia nemôžu poskytnúť. (Slovak)
3 November 2022
0 references
Tällä ehdotuksella pyritään päivittämään ja parantamaan yksikön toissijaisen ionimassaspektrometrian (TOF-SIMS) infrastruktuuria uudella lisälaitteella, joka on uusi ”Ion Gas Cluster Source” -tyyppi, joka asennettaisiin CACTI:n nanoteknologia- ja pinta-analyysipalvelussa jo olemassa olevaan lennon toissijaisen ionimassaspektrometrian spektrometriin. Tämä lisävaruste laajentaa ja täydentää tekniikan analyyttistä kapasiteettia orgaanisilla, farmakologisilla ja bioteknologisilla aloilla._x000D_ _x000D_ Unit Secondary Ion Mass Spectrometry for Flight Time (TOF-SIMS) kuuluu nanoteknologia- ja pinta-analyysipalveluun, joka puolestaan riippuu Vigon yliopiston CACTI-tutkimuksen tukikeskuksesta. Tämän keskuksen päätehtävänä on tarjota tieteellistä ja teknologista tukea tämän yliopiston eri tieteenaloilla tehtävään tutkimus- ja kehitystyöhön._x000D_ Tämä uusi Ion-ase, joka kytkettäisiin olemassa oleviin TOF-SIMS-järjestelmiin, tarjoaa tarvittavan monipuolisuuden ja laajentaa valmiuksia vastata käyttäjien kysyntään spektrien suorittamiseksi kokeellisissa olosuhteissa, jotka mahdollistavat tutkimukset, joita voimme tehdä nyt. ION-kaasuklusterilähteen suuri kehitys viime vuosina on kumonnut edut, jotka ovat nyt mahdollisia tämäntyyppisillä uusimman teknologian aseilla ja jotka tämän hankkeen rahoittamisessa mahdollistavat pääsyn huipputeknologiaan, jota nykyiset laitteet eivät pysty tarjoamaan. (Finnish)
3 November 2022
0 references
Din il-proposta tfittex li taġġorna u ttejjeb l-infrastruttura tal-Unità Sekondarja tal-Ispettrometrija tal-Massa Ion għall-Ħin tat-Titjir (TOF-SIMS) b’aċċessorju ġdid li huwa tip ġdid ta’ pistola Ion “Ion Gas Cluster Sors” li jkun installat fl-ispettrometru Times tat-titjira Spettrometrija tal-Massa Sekondarja tal-Ion li diġà teżisti fis-Servizz ta’ Analiżi tan-Nanoteknoloġija u tal-Wiċċ ta’ CACTI. Dan l-aċċessorju tespandi u tikkumplimenta l-kapaċità analitika tat-teknika fl-oqsma organiċi, farmakoloġiċi u bijoteknoloġiċi._x000D_ _x000D_ L-Unità L-Ispettrometrija tal-Massa Ion Sekondarja għall-Ħin tat-Titjira (TOF-SIMS) tappartjeni għas-Servizz ta ‘Analiżi tan-Nanoteknoloġija u tal-Wiċċ, li min-naħa tagħha, tiddependi fuq iċ-Ċentru ta’ Appoġġ għar-Riċerka CACTI tal-Università ta ‘Vigo. Il-missjoni ewlenija ta ‘dan iċ-ċentru huwa li jipprovdi appoġġ xjentifiku u teknoloġiku għall-ħidma ta’ riċerka u żvilupp imwettqa fl-oqsma xjentifiċi varji ta ‘dan Università._x000D_ Dan Gun Ion ġdid li jkunu akkoppjati mal-TOF-SIMS eżistenti se tipprovdi l-versatilità meħtieġa u jespandu l-kapaċitajiet biex jirrispondu għad-domanda ta ‘utenti biex iwettqu spettra taħt kondizzjonijiet sperimentali li jippermettu studji li aħna ma tistax twettaq issa. L-evoluzzjoni kbira tas-Sors tar-Raggruppament tal-Gass tal-ION f’dawn l-aħħar snin, biddlet il-benefiċċji li issa huma possibbli b’dan it-tip ta’ xkubetti tal-aħħar teknoloġija u li fil-każ tal-finanzjament ta’ dan il-proġett, se tippermetti aċċess għal teknoloġiji avvanzati li t-tagħmir eżistenti ma jistax jipprovdi. (Maltese)
3 November 2022
0 references
Käesoleva ettepaneku eesmärk on ajakohastada ja parandada lennuaja sekundaarse ioonmassi spektromeetria (TOF-SIMS) infrastruktuuri uue lisaseadmega, mis on uus ioonpüstoli „Ion Gas Cluster Source“ tüüp, mis paigaldataks CACTI nanotehnoloogia ja pinnaanalüüsi teenistuses juba olemasolevale lennuspektromeetrile sekundaarse ioonmassi spektromeetriale. See tarvik laiendab ja täiendab tehnika analüütilist suutlikkust orgaanilistes, farmakoloogilistes ja biotehnoloogilistes valdkondades._x000D_ _x000D_ Unit Secondary Ion Mass Spectrometry for Flight Time (TOF-SIMS) kuulub Nanotehnoloogia ja Surface Analysis Service’i, mis omakorda sõltub Vigo ülikooli CACTI teadusuuringute tugikeskusest. Selle keskuse peamine ülesanne on pakkuda teaduslikku ja tehnoloogilist tuge teadus- ja arendustegevusele, mis viiakse läbi selle ülikooli erinevates teadusvaldkondades._x000D_ See uus Ion Gun, mis oleks ühendatud olemasoleva TOF-SIMSiga, pakub vajalikku mitmekülgsust ja laiendab võimalusi, et vastata kasutajate nõudlusele täita spektriid katsetingimustes, mis võimaldavad uuringuid, mida me saame nüüd läbi viia. ION Gas Cluster Source’i viimaste aastate suur areng on tühistanud kasu, mis on nüüd võimalik seda tüüpi uusima tehnoloogia relvadega ja mis selle projekti rahastamise korral võimaldab juurdepääsu tipptasemel tehnoloogiatele, mida olemasolevad seadmed ei saa pakkuda. (Estonian)
3 November 2022
0 references
Šā priekšlikuma mērķis ir atjaunināt un uzlabot lidojuma laika vienības sekundārās jonu masas spektrometrijas (TOF-SIMS) infrastruktūru ar jaunu piederumu, kas ir jauns jonu pistoles “Ion Gas Cluster Source” tips, kas tiktu uzstādīts CACTI Nanotehnoloģijas un virsmas analīzes dienestā jau esošā lidojuma sekundārā jonu masas spektrometrijas spektrometrijas laikā. Šis aksesuārs paplašina un papildina analītiskās spējas tehniku organisko, farmakoloģisko un biotehnoloģisko jomu._x000D_ _x000D_ Unit Secondary jonu Masspektrometrija lidojuma laika (TOF-SIMS) pieder pie Nanotehnoloģijas un virsmas analīzes pakalpojumu, kas savukārt, ir atkarīgs no CACTI pētniecības atbalsta centra Vigo Universitātes. Galvenā misija šī centra ir sniegt zinātnisko un tehnoloģisko atbalstu pētniecības un attīstības darbu, ko veic dažādās zinātnes jomās šīs universitātes._x000D_ Šis jaunais Ion Gun, kas būtu saistīts ar esošo TOF-SIMS nodrošinās nepieciešamo daudzpusību un paplašināt iespējas, lai reaģētu uz lietotāju pieprasījumu veikt spektros eksperimentālos apstākļos, kas ļauj pētījumus, ka mēs varam veikt tagad. Lielā attīstība ION Gas Cluster Source pēdējo gadu laikā, ir apgājuši priekšrocības, kas tagad ir iespējams ar šāda veida ieročiem jaunākās tehnoloģijas, un ka gadījumā, ja finansē šo projektu, ļaus piekļūt progresīvajām tehnoloģijām, ka esošās iekārtas nevar nodrošināt. (Latvian)
3 November 2022
0 references
Това предложение има за цел да актуализира и подобри инфраструктурата на Единната вторична йонна масспектрометрия за полетно време (TOF-SIMS) с нов аксесоар, който е нов тип йонно оръжие „Ion Gas Cluster Source“, който ще бъде инсталиран в спектрометъра на полет Вторичен йонен масспектрометрия, който вече съществува в нанотехнологията и услугата за анализ на повърхността на CACTI. Този аксесоар разширява и допълва аналитичния капацитет на техниката в органичните, фармакологичните и биотехнологичните области._x000D_ _x000D_ Единната вторична йонна масспектрометрия за полетно време (TOF-SIMS) принадлежи към Службата за нанотехнология и анализ на повърхността, която от своя страна зависи от Центъра за подкрепа на научните изследвания CACTI на Университета във Виго. Основната мисия на този център е да осигури научна и технологична подкрепа за научноизследователската и развойната дейност, извършвана в различните научни области на този университет._x000D_ Този нов йонен пистолет, който ще бъде свързан със съществуващите TOF-SIMS, ще осигури необходимата гъвкавост и ще разшири възможностите, за да отговори на търсенето на потребителите да изпълняват спектри при експериментални условия, които позволяват проучвания, които можем да извършваме сега. Голямата еволюция на източника на газов клъстер ION през последните години преобърна ползите, които сега са възможни с този тип оръжия на най-новите технологии и че в случай на финансиране на този проект, ще позволи достъп до авангардни технологии, които съществуващото оборудване не може да осигури. (Bulgarian)
3 November 2022
0 references
Cílem tohoto návrhu je aktualizovat a zlepšit infrastrukturu Sekundární iontové hmotnostní spektrometrie pro letový čas (TOF-SIMS) s novým příslušenstvím, které je novým typem iontové pistole „Ion Gas Cluster Source“, která by byla instalována ve spektrometru časů letu Sekundární iontová hmotnostní spektrometrie, která již existuje v Nanotechnologii a Surface Analysis Service CACTI. Toto příslušenství rozšiřuje a doplňuje analytickou kapacitu techniky v organické, farmakologické a biotechnologické oblasti._x000D_ _x000D_ Jednotka Sekundární iontová hmotnostní spektrometrie pro letový čas (TOF-SIMS) patří do služby nanotechnologie a analýzy povrchu, která zase závisí na Centru podpory výzkumu CACTI Univerzity Vigo. Hlavním posláním tohoto centra je poskytovat vědeckou a technologickou podporu výzkumné a vývojové činnosti prováděné v různých vědeckých oblastech této univerzity._x000D_ Tato nová iontová zbraň, která by byla spojena se stávajícími TOF-SIMS, poskytne potřebnou všestrannost a rozšíří schopnosti reagovat na poptávku uživatelů provádět spektra za experimentálních podmínek, které umožňují studie, které můžeme provést nyní. Velký vývoj ION Gas Cluster Source v posledních letech převrátil výhody, které jsou nyní možné s tímto typem zbraní nejnovější technologie a že v případě financování tohoto projektu, umožní přístup k nejmodernějším technologiím, které stávající zařízení nemůže poskytnout. (Czech)
3 November 2022
0 references
Esta proposta visa atualizar e melhorar a infraestrutura da unidade de espetrometria de massa de iões secundária para o tempo de voo (TOF-SIMS) com um novo acessório que é um novo tipo de pistola de iões «fonte de aglomerado de iões de gás» que seria instalado no espectrómetro «Times of flight Secondary Ion Mass Spectrometry» já existente no serviço de nanotecnologia e análise de superfície do CACTI. Este acessório expande e complementa a capacidade analítica da técnica nos campos orgânico, farmacológico e biotecnológico._x000D_ _x000D_ A Unidade de Espectrometria Secundária de Massa de Íons para Tempo de Voo (TOF-SIMS) pertence ao Serviço de Nanotecnologia e Análise de Superfície, que por sua vez, depende do Centro de Apoio à Pesquisa CACTI da Universidade de Vigo. A principal missão deste centro é fornecer apoio científico e tecnológico ao trabalho de investigação e desenvolvimento realizado nos vários campos científicos desta Universidade._x000D_ Esta nova pistola de iões que seria acoplada ao TOF-SIMS existente proporcionará a versatilidade necessária e expandirá as capacidades para responder à procura dos utilizadores para realizar espectros em condições experimentais que permitam estudos que não podemos realizar agora. A grande evolução da Fonte de Cluster de Gás ION nos últimos anos, anulou os benefícios que agora são possíveis com este tipo de armas da mais recente tecnologia e que, no caso do financiamento deste projeto, permitirá o acesso a tecnologias de ponta que os equipamentos existentes não podem fornecer. (Portuguese)
3 November 2022
0 references
Ovim se prijedlogom nastoji ažurirati i poboljšati infrastruktura sekundarne ionske masene spektrometrije za vrijeme leta (TOF-SIMS) novim dodatkom koji je novi ionski pištolj „izvor klastera ionskog plina” koji bi se ugradio u spektrometriju sekundarne ionske masene spektrometrije koja već postoji u nanotehnološkoj ionskoj službi CACTI-ja. Ovaj dodatak proširuje i nadopunjuje analitički kapacitet tehnike u organskim, farmakološkim i biotehnološkim poljima._x000D_ _x000D_ Jedinica sekundarna ionska spektrometrija za vrijeme leta (TOF-SIMS) pripada Službi za analizu nanotehnologije i površinske analize, koja pak ovisi o Centru za podršku istraživanju CACTI Sveučilišta u Vigu. Glavna misija ovog centra je pružiti znanstvenu i tehnološku podršku istraživačkom i razvojnom radu koji se provodi u različitim znanstvenim područjima ovog Sveučilišta._x000D_ Ovaj novi Ion Gun koji će biti spojen s postojećim TOF-SIMS-om pružit će potrebnu svestranost i proširiti mogućnosti za odgovor na zahtjev korisnika za izvođenje spektra u eksperimentalnim uvjetima koji omogućuju studije koje ne možemo provesti sada. Velika evolucija ION plinskog klastera posljednjih godina, poništila je prednosti koje su sada moguće s ovom vrstom oružja najnovije tehnologije i da će u slučaju financiranja ovog projekta omogućiti pristup najsuvremenijim tehnologijama koje postojeća oprema ne može pružiti. (Croatian)
3 November 2022
0 references
Vigo
0 references
20 December 2023
0 references
Identifiers
EQC2018-004981-P
0 references