No label defined (Q3148881)
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Project Q3148881 in Spain
Language | Label | Description | Also known as |
---|---|---|---|
English | No label defined |
Project Q3148881 in Spain |
Statements
450,000.0 Euro
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900,000.0 Euro
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50.0 percent
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1 January 2016
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30 June 2018
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INSTITUTO DE CIENCIAS FOTONICAS
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08056
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El microscopio de iones de helio (Helium Ion Microscope o HIM) es un nuevo tipo de microscopio que usa iones de helio para la creación de imágenes de superficie y análisis. Su funcionalidad es similar a la del microscopio de barrido, pero con la principal particularidad de usar iones de helio en vez de electrones. Gracias al hecho de que los iones de helio pueden enfocarse en un menor volumen y por consiguiente proporcionan un volumen de interacción superficial mucho menor comparado con el de los electrones, se pueden conseguir imágenes con mucha mayor resolución, contraste (para distintos materiales) y profundidad de campo. _x000D_ _x000D_ La mayor resolución es debida principalmente a la tecnología usada para la extracción de los iones de helio, que consiste en una aguja extremadamente afilada y un proceso que extrae los átomos de la fuente individualmente hasta que se consigue crear una pirámide formada por sólo 3 átomos en el ápice de la fuente. _x000D_ _x000D_ El HIM permite conseguir resoluciones de 0.3nm a energías de aceleración de 25-30kV y permite generar corrientes entre 1fA y 25pA. El HIM también tiene similitudes con el FIB (Focused Ion Beam), usando un haz focalizado de iones de helio en vez de galio. En el caso del FIB se usan iones de galio para fabricar nanoestructuras de 20nm de resolución mientras que en el caso del HIM se pueden conseguir resoluciones de tan solo 1nm. (Spanish)
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Castelldefels
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Identifiers
ICFO15-EE-3767
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