Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz. (Q3179021): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed label, description and/or aliases in en: translated_label) |
(Changed label, description and/or aliases in pt) |
||||||||||||||
| (12 intermediate revisions by 2 users not shown) | |||||||||||||||
| label / fr | label / fr | ||||||||||||||
Remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission analytique de la division de microscopie électronique de l’Université de Cadiz. | |||||||||||||||
| label / de | label / de | ||||||||||||||
Ersatz des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops der Abteilung Elektronische Mikroskopie der University of Cadiz. | |||||||||||||||
| label / nl | label / nl | ||||||||||||||
Vervanging van de Electronic Sweep-Transmission Analytische Field Emission Microscoop van de afdeling Elektronische Microscopie van de Universiteit van Cadiz. | |||||||||||||||
| label / it | label / it | ||||||||||||||
Sostituzione del microscopio analitico di emissione a trasmissione elettronica della divisione di microscopia elettronica dell'Università di Cadice. | |||||||||||||||
| label / el | label / el | ||||||||||||||
Αντικατάσταση του Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Εκπομπής Αναλυτικών Πεδιάδων Μεταφοράς Ηλεκτρονικών Μικροσκοπίων του Πανεπιστημίου του Cadiz. | |||||||||||||||
| label / da | label / da | ||||||||||||||
Udskiftning af Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope af Electronic Microscopy Division ved University of Cadiz. | |||||||||||||||
| label / fi | label / fi | ||||||||||||||
Cadizin yliopiston elektronisen mikroskoopin elektronisen mikroskoopin korvaavan elektronisen tehonsiirron analyyttisen kentän päästömikroskoopin korvaaminen. | |||||||||||||||
| label / mt | label / mt | ||||||||||||||
Sostituzzjoni tal-Mikroskopju Elettroniku tal-Mikroskopju tal-Mikroskopija tal-Mikroskopija Elettronika tal-Università ta’ Cadiz. | |||||||||||||||
| label / lv | label / lv | ||||||||||||||
Kadisas Universitātes Elektroniskās mikroskopijas nodaļas elektroniskās pārbaudes-pārraides analītiskā lauka emisijas mikroskopa aizstāšana. | |||||||||||||||
| label / sk | label / sk | ||||||||||||||
Nahradenie mikroskopu Elektronického mikroskopu elektronickej mikroskopie na Cádizskej univerzite. | |||||||||||||||
| label / ga | label / ga | ||||||||||||||
An Mhicreascóp Astaíochta Anailíseach Allamuigh Leictreonach Scuab-Traschuir ón Rannán Micriscópachta Leictreonaí in Ollscoil Cadiz a athsholáthar. | |||||||||||||||
| label / cs | label / cs | ||||||||||||||
Výměna elektronického Sweep-Transmission Analytical Field Emission mikroskopu divize elektronické mikroskopie Univerzity v Cádizu. | |||||||||||||||
| label / pt | label / pt | ||||||||||||||
Substituição do Microscópio de Campo Analítico de Emissão por Varredura Eletrónica da Divisão de Microscopia Eletrónica da Universidade de Cádis. | |||||||||||||||
| label / et | label / et | ||||||||||||||
Cádizi ülikooli elektroonilise mikroskoopia osakonna elektroonilise pihkamisülekande analüütilise väljaheite mikroskoobi asendamine. | |||||||||||||||
| label / hu | label / hu | ||||||||||||||
A Cadiz Egyetem Elektronikus Mikroszkópiai Osztályának elektronikus Sweep-transzmissziós elemző mikroszkópjának cseréje. | |||||||||||||||
| label / bg | label / bg | ||||||||||||||
Замяна на електронния Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope на отдела за електронна микроскопия на университета в Кадис. | |||||||||||||||
| label / lt | label / lt | ||||||||||||||
Pakeitimas Elektroninio šveitimo-perdavimo analizės lauko išmetamųjų teršalų mikroskopu elektroninės mikroskopijos skyriaus Kadiso universiteto. | |||||||||||||||
| label / hr | label / hr | ||||||||||||||
Zamjena elektroničkog prijenosa podataka Analitički mikroskopski mikroskopski mikroskopski mikroskopski odjel Sveučilišta u Cadizu. | |||||||||||||||
| label / sv | label / sv | ||||||||||||||
Ersättande av det elektroniska svepanalysmikroskopet vid avdelningen för elektronisk mikroskopi vid universitetet i Cadiz. | |||||||||||||||
| label / ro | label / ro | ||||||||||||||
Înlocuirea Microscopului de emisie analitică de câmp electronic de transmisie electronică a Diviziei Microscopie Electronică a Universității din Cadiz. | |||||||||||||||
| label / sl | label / sl | ||||||||||||||
Zamenjava elektronskega Sweep-transmisijskega analitičnega mikroskopskega polja emisijskega mikroskopskega oddelka za elektronsko mikroskopijo Univerze v Cadizu. | |||||||||||||||
| label / pl | label / pl | ||||||||||||||
Zastąpienie Elektronicznego Mikroskopu Mikroskopu Mikroskopu Elektronicznego Mikroskopii Elektronicznej na Uniwersytecie w Kadyksie. | |||||||||||||||
| description / bg | description / bg | ||||||||||||||
Проект Q3179021 в Испания | |||||||||||||||
| description / hr | description / hr | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 u Španjolskoj | |||||||||||||||
| description / hu | description / hu | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 Spanyolországban | |||||||||||||||
| description / cs | description / cs | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 ve Španělsku | |||||||||||||||
| description / da | description / da | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 i Spanien | |||||||||||||||
| description / nl | description / nl | ||||||||||||||
Project Q3179021 in Spanje | |||||||||||||||
| description / et | description / et | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 Hispaanias | |||||||||||||||
| description / fi | description / fi | ||||||||||||||
Projekti Q3179021 Espanjassa | |||||||||||||||
| description / fr | description / fr | ||||||||||||||
Projet Q3179021 en Espagne | |||||||||||||||
| description / de | description / de | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 in Spanien | |||||||||||||||
| description / el | description / el | ||||||||||||||
Έργο Q3179021 στην Ισπανία | |||||||||||||||
| description / ga | description / ga | ||||||||||||||
Tionscadal Q3179021 sa Spáinn | |||||||||||||||
| description / it | description / it | ||||||||||||||
Progetto Q3179021 in Spagna | |||||||||||||||
| description / lv | description / lv | ||||||||||||||
Projekts Q3179021 Spānijā | |||||||||||||||
| description / lt | description / lt | ||||||||||||||
Projektas Q3179021 Ispanijoje | |||||||||||||||
| description / mt | description / mt | ||||||||||||||
Proġett Q3179021 fi Spanja | |||||||||||||||
| description / pl | description / pl | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 w Hiszpanii | |||||||||||||||
| description / pt | description / pt | ||||||||||||||
Projeto Q3179021 na Espanha | |||||||||||||||
| description / ro | description / ro | ||||||||||||||
Proiectul Q3179021 în Spania | |||||||||||||||
| description / sk | description / sk | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 v Španielsku | |||||||||||||||
| description / sl | description / sl | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 v Španiji | |||||||||||||||
| description / es | description / es | ||||||||||||||
Proyecto Q3179021 en España | |||||||||||||||
| description / sv | description / sv | ||||||||||||||
Projekt Q3179021 i Spanien | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / budget: 995,666.0 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 80.0 percent / rank | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / EU contribution: 796,532.8 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
| Property / summary: Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English) / rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English) / qualifier | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / postal code | |||||||||||||||
| Property / postal code: 11028 / rank | |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
| Property / location (string): Puerto Real / rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 36°31'43.28"N, 6°11'24.79"W / rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Cádiz Province / rank | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English) | |||||||||||||||
| Property / summary: Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 12 October 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary: Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English) / qualifier | |||||||||||||||
readability score: 0.0563342920849962
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
L’équipement est demandé pour le remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission de JEOL2010F, installé dans la Division de la microscopie électronique (DME) des Services de recherche scientifique et technique (SC-ICYT) de l’Université de Cadiz (UCA) par une équipe mise à jour, dotée de caractéristiques similaires, afin d’assurer la continuité dans la prestation de services de caractérisation structurale et analytique à l’échelle nanométrique-subnanométrique dans le domaine des échantillons de matériaux. (French) | |||||||||||||||
| Property / summary: L’équipement est demandé pour le remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission de JEOL2010F, installé dans la Division de la microscopie électronique (DME) des Services de recherche scientifique et technique (SC-ICYT) de l’Université de Cadiz (UCA) par une équipe mise à jour, dotée de caractéristiques similaires, afin d’assurer la continuité dans la prestation de services de caractérisation structurale et analytique à l’échelle nanométrique-subnanométrique dans le domaine des échantillons de matériaux. (French) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: L’équipement est demandé pour le remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission de JEOL2010F, installé dans la Division de la microscopie électronique (DME) des Services de recherche scientifique et technique (SC-ICYT) de l’Université de Cadiz (UCA) par une équipe mise à jour, dotée de caractéristiques similaires, afin d’assurer la continuité dans la prestation de services de caractérisation structurale et analytique à l’échelle nanométrique-subnanométrique dans le domaine des échantillons de matériaux. (French) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 4 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German) | |||||||||||||||
| Property / summary: Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 9 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch) | |||||||||||||||
| Property / summary: Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 17 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
L'apparecchiatura è richiesta per la sostituzione del microscopio analitico analitico di JEOL2010F di JEOL2010F, installato nella divisione di microscopia elettronica (DME) dei servizi di ricerca scientifica e tecnica (SC-ICYT) dell'Università di Cadice (UCA) da un team aggiornato, con caratteristiche analoghe, per fornire continuità nella fornitura di servizi di caratterizzazione strutturale e analitica su scala nanometrica-subnanometrica nel campo dei campioni di materiale. (Italian) | |||||||||||||||
| Property / summary: L'apparecchiatura è richiesta per la sostituzione del microscopio analitico analitico di JEOL2010F di JEOL2010F, installato nella divisione di microscopia elettronica (DME) dei servizi di ricerca scientifica e tecnica (SC-ICYT) dell'Università di Cadice (UCA) da un team aggiornato, con caratteristiche analoghe, per fornire continuità nella fornitura di servizi di caratterizzazione strutturale e analitica su scala nanometrica-subnanometrica nel campo dei campioni di materiale. (Italian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: L'apparecchiatura è richiesta per la sostituzione del microscopio analitico analitico di JEOL2010F di JEOL2010F, installato nella divisione di microscopia elettronica (DME) dei servizi di ricerca scientifica e tecnica (SC-ICYT) dell'Università di Cadice (UCA) da un team aggiornato, con caratteristiche analoghe, per fornire continuità nella fornitura di servizi di caratterizzazione strutturale e analitica su scala nanometrica-subnanometrica nel campo dei campioni di materiale. (Italian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 16 January 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Απαιτείται εξοπλισμός για την αντικατάσταση του Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Εκπομπών Πεδίου Αναλυτικού Πεδίου JEOL2010F, εγκατεστημένο στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας (DME) των Υπηρεσιών Επιστημονικής και Τεχνικής Έρευνας (SC-ICYT) του Πανεπιστημίου του Cadiz (UCA) από ενημερωμένη ομάδα, με παρόμοια χαρακτηριστικά, για την εξασφάλιση συνέχειας στην παροχή δομικών και αναλυτικών υπηρεσιών χαρακτηρισμού σε νανομετρική-υπονανομετρική κλίμακα στον τομέα των δειγμάτων υλικών. (Greek) | |||||||||||||||
| Property / summary: Απαιτείται εξοπλισμός για την αντικατάσταση του Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Εκπομπών Πεδίου Αναλυτικού Πεδίου JEOL2010F, εγκατεστημένο στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας (DME) των Υπηρεσιών Επιστημονικής και Τεχνικής Έρευνας (SC-ICYT) του Πανεπιστημίου του Cadiz (UCA) από ενημερωμένη ομάδα, με παρόμοια χαρακτηριστικά, για την εξασφάλιση συνέχειας στην παροχή δομικών και αναλυτικών υπηρεσιών χαρακτηρισμού σε νανομετρική-υπονανομετρική κλίμακα στον τομέα των δειγμάτων υλικών. (Greek) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Απαιτείται εξοπλισμός για την αντικατάσταση του Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Εκπομπών Πεδίου Αναλυτικού Πεδίου JEOL2010F, εγκατεστημένο στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας (DME) των Υπηρεσιών Επιστημονικής και Τεχνικής Έρευνας (SC-ICYT) του Πανεπιστημίου του Cadiz (UCA) από ενημερωμένη ομάδα, με παρόμοια χαρακτηριστικά, για την εξασφάλιση συνέχειας στην παροχή δομικών και αναλυτικών υπηρεσιών χαρακτηρισμού σε νανομετρική-υπονανομετρική κλίμακα στον τομέα των δειγμάτων υλικών. (Greek) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Der anmodes om udstyr til udskiftning af JEOL2010F's Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, der er installeret i afdelingen for elektronisk mikroskopi (DME) under de videnskabelige og tekniske forskningstjenester (SC-ICYT) ved universitetet i Cadiz (UCA) med et opdateret team med lignende funktioner for at sikre kontinuitet i leveringen af strukturelle og analytiske karakteriseringstjenester på nanometrisk-subnometrisk skala inden for materialeprøver. (Danish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Der anmodes om udstyr til udskiftning af JEOL2010F's Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, der er installeret i afdelingen for elektronisk mikroskopi (DME) under de videnskabelige og tekniske forskningstjenester (SC-ICYT) ved universitetet i Cadiz (UCA) med et opdateret team med lignende funktioner for at sikre kontinuitet i leveringen af strukturelle og analytiske karakteriseringstjenester på nanometrisk-subnometrisk skala inden for materialeprøver. (Danish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Der anmodes om udstyr til udskiftning af JEOL2010F's Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, der er installeret i afdelingen for elektronisk mikroskopi (DME) under de videnskabelige og tekniske forskningstjenester (SC-ICYT) ved universitetet i Cadiz (UCA) med et opdateret team med lignende funktioner for at sikre kontinuitet i leveringen af strukturelle og analytiske karakteriseringstjenester på nanometrisk-subnometrisk skala inden for materialeprøver. (Danish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Laitteita pyydetään korvaamaan JEOL2010F:n Electronic Sweep-Transmission-analyyttinen kentän päästömikroskooppi, joka on asennettu Cadizin yliopiston (UCA) tieteellisten ja teknisten tutkimuspalvelujen (SC-ICYT) elektroniseen mikroskopiaan (DME), päivitetyllä ryhmällä, jolla on samanlaiset ominaisuudet, jotta voidaan varmistaa jatkuvuus rakenne- ja analyyttisten karakterisointipalvelujen tarjoamisessa materiaalinäytteiden nanometrisellä subnanometrisellä asteikolla. (Finnish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Laitteita pyydetään korvaamaan JEOL2010F:n Electronic Sweep-Transmission-analyyttinen kentän päästömikroskooppi, joka on asennettu Cadizin yliopiston (UCA) tieteellisten ja teknisten tutkimuspalvelujen (SC-ICYT) elektroniseen mikroskopiaan (DME), päivitetyllä ryhmällä, jolla on samanlaiset ominaisuudet, jotta voidaan varmistaa jatkuvuus rakenne- ja analyyttisten karakterisointipalvelujen tarjoamisessa materiaalinäytteiden nanometrisellä subnanometrisellä asteikolla. (Finnish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Laitteita pyydetään korvaamaan JEOL2010F:n Electronic Sweep-Transmission-analyyttinen kentän päästömikroskooppi, joka on asennettu Cadizin yliopiston (UCA) tieteellisten ja teknisten tutkimuspalvelujen (SC-ICYT) elektroniseen mikroskopiaan (DME), päivitetyllä ryhmällä, jolla on samanlaiset ominaisuudet, jotta voidaan varmistaa jatkuvuus rakenne- ja analyyttisten karakterisointipalvelujen tarjoamisessa materiaalinäytteiden nanometrisellä subnanometrisellä asteikolla. (Finnish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Huwa mitlub tagħmir għas-sostituzzjoni tal-Mikroskopju tal-Emissjoni tal-Emissjoni fil-Qasam Analitiku tat-Trasmissjoni Elettronika ta’ JEOL2010F, installat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika (DME) tas-Servizzi ta’ Riċerka Xjentifika u Teknika (SC-ICYT) tal-Università ta’ Cadiz (UCA) minn tim aġġornat, b’karatteristiċi simili, biex jipprovdi kontinwità fil-forniment ta’ servizzi ta’ karatterizzazzjoni strutturali u analitika fuq l-iskala nanometrika-subnanometrika fil-qasam tal-kampjuni tal-materjal. (Maltese) | |||||||||||||||
| Property / summary: Huwa mitlub tagħmir għas-sostituzzjoni tal-Mikroskopju tal-Emissjoni tal-Emissjoni fil-Qasam Analitiku tat-Trasmissjoni Elettronika ta’ JEOL2010F, installat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika (DME) tas-Servizzi ta’ Riċerka Xjentifika u Teknika (SC-ICYT) tal-Università ta’ Cadiz (UCA) minn tim aġġornat, b’karatteristiċi simili, biex jipprovdi kontinwità fil-forniment ta’ servizzi ta’ karatterizzazzjoni strutturali u analitika fuq l-iskala nanometrika-subnanometrika fil-qasam tal-kampjuni tal-materjal. (Maltese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Huwa mitlub tagħmir għas-sostituzzjoni tal-Mikroskopju tal-Emissjoni tal-Emissjoni fil-Qasam Analitiku tat-Trasmissjoni Elettronika ta’ JEOL2010F, installat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika (DME) tas-Servizzi ta’ Riċerka Xjentifika u Teknika (SC-ICYT) tal-Università ta’ Cadiz (UCA) minn tim aġġornat, b’karatteristiċi simili, biex jipprovdi kontinwità fil-forniment ta’ servizzi ta’ karatterizzazzjoni strutturali u analitika fuq l-iskala nanometrika-subnanometrika fil-qasam tal-kampjuni tal-materjal. (Maltese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Iekārtas tiek pieprasītas, lai aizstātu JEOL2010F Elektronisko slaucīšanas-pārraides analīzes lauka emisijas mikroskopu, kas uzstādīts Kadisas Universitātes (UCA) Zinātniskās un tehniskās pētniecības pakalpojumu (SC-ICYT) Elektroniskās mikrokopijas nodaļā (DME), ar atjauninātu komandu ar līdzīgām iezīmēm, lai nodrošinātu strukturālo un analītisko raksturošanas pakalpojumu nepārtrauktību nanometriskā subnanometriskā mērogā materiālu paraugu jomā. (Latvian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Iekārtas tiek pieprasītas, lai aizstātu JEOL2010F Elektronisko slaucīšanas-pārraides analīzes lauka emisijas mikroskopu, kas uzstādīts Kadisas Universitātes (UCA) Zinātniskās un tehniskās pētniecības pakalpojumu (SC-ICYT) Elektroniskās mikrokopijas nodaļā (DME), ar atjauninātu komandu ar līdzīgām iezīmēm, lai nodrošinātu strukturālo un analītisko raksturošanas pakalpojumu nepārtrauktību nanometriskā subnanometriskā mērogā materiālu paraugu jomā. (Latvian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Iekārtas tiek pieprasītas, lai aizstātu JEOL2010F Elektronisko slaucīšanas-pārraides analīzes lauka emisijas mikroskopu, kas uzstādīts Kadisas Universitātes (UCA) Zinātniskās un tehniskās pētniecības pakalpojumu (SC-ICYT) Elektroniskās mikrokopijas nodaļā (DME), ar atjauninātu komandu ar līdzīgām iezīmēm, lai nodrošinātu strukturālo un analītisko raksturošanas pakalpojumu nepārtrauktību nanometriskā subnanometriskā mērogā materiālu paraugu jomā. (Latvian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Požaduje sa vybavenie na nahradenie mikroskopu s elektronickým mikroskopom na prenose poľnej emisnej mikroskopie (DME) spoločnosti JEOL2010F, ktorý je nainštalovaný v divízii Elektronická mikroskopia (DME) vedecko-technických výskumných služieb (SC-ICYT) Univerzity v Cádiz (UCA) aktualizovaným tímom s podobnými vlastnosťami s cieľom zabezpečiť kontinuitu pri poskytovaní služieb štrukturálnej a analytickej charakterizácie na nanometrickej a subnanometrickej stupnici v oblasti materiálových vzoriek. (Slovak) | |||||||||||||||
| Property / summary: Požaduje sa vybavenie na nahradenie mikroskopu s elektronickým mikroskopom na prenose poľnej emisnej mikroskopie (DME) spoločnosti JEOL2010F, ktorý je nainštalovaný v divízii Elektronická mikroskopia (DME) vedecko-technických výskumných služieb (SC-ICYT) Univerzity v Cádiz (UCA) aktualizovaným tímom s podobnými vlastnosťami s cieľom zabezpečiť kontinuitu pri poskytovaní služieb štrukturálnej a analytickej charakterizácie na nanometrickej a subnanometrickej stupnici v oblasti materiálových vzoriek. (Slovak) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Požaduje sa vybavenie na nahradenie mikroskopu s elektronickým mikroskopom na prenose poľnej emisnej mikroskopie (DME) spoločnosti JEOL2010F, ktorý je nainštalovaný v divízii Elektronická mikroskopia (DME) vedecko-technických výskumných služieb (SC-ICYT) Univerzity v Cádiz (UCA) aktualizovaným tímom s podobnými vlastnosťami s cieľom zabezpečiť kontinuitu pri poskytovaní služieb štrukturálnej a analytickej charakterizácie na nanometrickej a subnanometrickej stupnici v oblasti materiálových vzoriek. (Slovak) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Iarrtar trealamh a chur in ionad Mhicreascóp Astaíochta Réimse Anailíseach Leictreonach JEOL2010F, atá suiteáilte sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí (DME) de Sheirbhísí Taighde Eolaíoch agus Teicniúil (SC-ICYT) Ollscoil Cadiz (UCA) ag foireann nuashonraithe, a bhfuil gnéithe comhchosúla aici, chun leanúnachas a sholáthar i soláthar seirbhísí tréithrithe struchtúracha agus anailíseacha ar an scála nanaiméadrach-fo-mhéadrach i réimse na samplaí ábhair. (Irish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Iarrtar trealamh a chur in ionad Mhicreascóp Astaíochta Réimse Anailíseach Leictreonach JEOL2010F, atá suiteáilte sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí (DME) de Sheirbhísí Taighde Eolaíoch agus Teicniúil (SC-ICYT) Ollscoil Cadiz (UCA) ag foireann nuashonraithe, a bhfuil gnéithe comhchosúla aici, chun leanúnachas a sholáthar i soláthar seirbhísí tréithrithe struchtúracha agus anailíseacha ar an scála nanaiméadrach-fo-mhéadrach i réimse na samplaí ábhair. (Irish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Iarrtar trealamh a chur in ionad Mhicreascóp Astaíochta Réimse Anailíseach Leictreonach JEOL2010F, atá suiteáilte sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí (DME) de Sheirbhísí Taighde Eolaíoch agus Teicniúil (SC-ICYT) Ollscoil Cadiz (UCA) ag foireann nuashonraithe, a bhfuil gnéithe comhchosúla aici, chun leanúnachas a sholáthar i soláthar seirbhísí tréithrithe struchtúracha agus anailíseacha ar an scála nanaiméadrach-fo-mhéadrach i réimse na samplaí ábhair. (Irish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Zařízení je požadováno pro nahrazení elektronického Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope JEOL2010F, instalovaného v divizi elektronické mikroskopie (DME) vědeckých a technických výzkumných služeb (SC-ICYT) Univerzity v Cádizu (UCA) aktualizovaným týmem s podobnými vlastnostmi, aby byla zajištěna kontinuita při poskytování strukturních a analytických služeb charakterizace nanometricko-subnanometrické stupnice v oblasti vzorků materiálu. (Czech) | |||||||||||||||
| Property / summary: Zařízení je požadováno pro nahrazení elektronického Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope JEOL2010F, instalovaného v divizi elektronické mikroskopie (DME) vědeckých a technických výzkumných služeb (SC-ICYT) Univerzity v Cádizu (UCA) aktualizovaným týmem s podobnými vlastnostmi, aby byla zajištěna kontinuita při poskytování strukturních a analytických služeb charakterizace nanometricko-subnanometrické stupnice v oblasti vzorků materiálu. (Czech) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Zařízení je požadováno pro nahrazení elektronického Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope JEOL2010F, instalovaného v divizi elektronické mikroskopie (DME) vědeckých a technických výzkumných služeb (SC-ICYT) Univerzity v Cádizu (UCA) aktualizovaným týmem s podobnými vlastnostmi, aby byla zajištěna kontinuita při poskytování strukturních a analytických služeb charakterizace nanometricko-subnanometrické stupnice v oblasti vzorků materiálu. (Czech) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
É solicitado equipamento para a substituição do Microscópio de Campo Analítico de Emissão por Varredura Eletrónica (Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope) da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrónica (DME) dos Serviços de Investigação Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádis (UCA), por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para assegurar a continuidade na prestação de serviços de caracterização estrutural e analítica à escala nanométrica-subnanométrica no domínio das amostras de materiais. (Portuguese) | |||||||||||||||
| Property / summary: É solicitado equipamento para a substituição do Microscópio de Campo Analítico de Emissão por Varredura Eletrónica (Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope) da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrónica (DME) dos Serviços de Investigação Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádis (UCA), por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para assegurar a continuidade na prestação de serviços de caracterização estrutural e analítica à escala nanométrica-subnanométrica no domínio das amostras de materiais. (Portuguese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: É solicitado equipamento para a substituição do Microscópio de Campo Analítico de Emissão por Varredura Eletrónica (Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope) da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrónica (DME) dos Serviços de Investigação Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádis (UCA), por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para assegurar a continuidade na prestação de serviços de caracterização estrutural e analítica à escala nanométrica-subnanométrica no domínio das amostras de materiais. (Portuguese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Cádizi ülikooli teadus- ja tehnikauuringute teenuste (SC-ICYT) elektroonilise mikroskoopia (JEOL2010F) elektroonse väljaanalüüsi mikroskoobi (JEOL2010F) asendamiseks sarnaste omadustega ajakohastatud meeskonnaga, et tagada materjaliproovide nanomeetrilise subnanomeetrilise skaala struktuuriliste ja analüütiliste iseloomustamisteenuste osutamise järjepidevus. (Estonian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Cádizi ülikooli teadus- ja tehnikauuringute teenuste (SC-ICYT) elektroonilise mikroskoopia (JEOL2010F) elektroonse väljaanalüüsi mikroskoobi (JEOL2010F) asendamiseks sarnaste omadustega ajakohastatud meeskonnaga, et tagada materjaliproovide nanomeetrilise subnanomeetrilise skaala struktuuriliste ja analüütiliste iseloomustamisteenuste osutamise järjepidevus. (Estonian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Cádizi ülikooli teadus- ja tehnikauuringute teenuste (SC-ICYT) elektroonilise mikroskoopia (JEOL2010F) elektroonse väljaanalüüsi mikroskoobi (JEOL2010F) asendamiseks sarnaste omadustega ajakohastatud meeskonnaga, et tagada materjaliproovide nanomeetrilise subnanomeetrilise skaala struktuuriliste ja analüütiliste iseloomustamisteenuste osutamise järjepidevus. (Estonian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
A JEOL2010F Cadizi Egyetem (UCA) Tudományos és Műszaki Kutatási Szolgálatának (SC-ICYT) elektronikus mikroszkópi részlegében (DME) felszerelt elektronikus Sweep-transzmissziós analitikai mikroszkópjának egy frissített, hasonló jellemzőkkel rendelkező csapattal való helyettesítésére van szükség annak érdekében, hogy folyamatos legyen a szerkezeti és analitikai jellemzési szolgáltatások nyújtása az anyagminták területén a nanometriai-szubnanometrikus skálán. (Hungarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: A JEOL2010F Cadizi Egyetem (UCA) Tudományos és Műszaki Kutatási Szolgálatának (SC-ICYT) elektronikus mikroszkópi részlegében (DME) felszerelt elektronikus Sweep-transzmissziós analitikai mikroszkópjának egy frissített, hasonló jellemzőkkel rendelkező csapattal való helyettesítésére van szükség annak érdekében, hogy folyamatos legyen a szerkezeti és analitikai jellemzési szolgáltatások nyújtása az anyagminták területén a nanometriai-szubnanometrikus skálán. (Hungarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: A JEOL2010F Cadizi Egyetem (UCA) Tudományos és Műszaki Kutatási Szolgálatának (SC-ICYT) elektronikus mikroszkópi részlegében (DME) felszerelt elektronikus Sweep-transzmissziós analitikai mikroszkópjának egy frissített, hasonló jellemzőkkel rendelkező csapattal való helyettesítésére van szükség annak érdekében, hogy folyamatos legyen a szerkezeti és analitikai jellemzési szolgáltatások nyújtása az anyagminták területén a nanometriai-szubnanometrikus skálán. (Hungarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Изисква се оборудване за подмяна на електронния Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope на JEOL2010F, инсталиран в отдел „Електронна микроскопия“ (DME) на службите за научно-технически изследвания (SC-ICYT) на Университета в Кадис (UCA) от актуализиран екип със сходни характеристики, за да се осигури непрекъснатост при предоставянето на услуги по структурно и аналитично характеризиране на нанометричната и субнанометричната скала в областта на пробите от материали. (Bulgarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Изисква се оборудване за подмяна на електронния Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope на JEOL2010F, инсталиран в отдел „Електронна микроскопия“ (DME) на службите за научно-технически изследвания (SC-ICYT) на Университета в Кадис (UCA) от актуализиран екип със сходни характеристики, за да се осигури непрекъснатост при предоставянето на услуги по структурно и аналитично характеризиране на нанометричната и субнанометричната скала в областта на пробите от материали. (Bulgarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Изисква се оборудване за подмяна на електронния Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope на JEOL2010F, инсталиран в отдел „Електронна микроскопия“ (DME) на службите за научно-технически изследвания (SC-ICYT) на Университета в Кадис (UCA) от актуализиран екип със сходни характеристики, за да се осигури непрекъснатост при предоставянето на услуги по структурно и аналитично характеризиране на нанометричната и субнанометричната скала в областта на пробите от материали. (Bulgarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Prašoma įrangos, kad būtų galima pakeisti JEOL2010F elektroninio signalo perdavimo analizės lauko taršos mikroskopą, įrengtą Kadiso universiteto (UCA) Mokslinių ir techninių tyrimų tarnybų (SC-ICYT) Elektroninės mikroskopijos skyriuje (DME) atnaujinta komanda, kuriai būdingos panašios savybės, siekiant užtikrinti struktūrinių ir analitinių charakteristikų paslaugų teikimo nanometrinės-subnanometrinės skalės medžiagų mėginių srityje tęstinumą. (Lithuanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Prašoma įrangos, kad būtų galima pakeisti JEOL2010F elektroninio signalo perdavimo analizės lauko taršos mikroskopą, įrengtą Kadiso universiteto (UCA) Mokslinių ir techninių tyrimų tarnybų (SC-ICYT) Elektroninės mikroskopijos skyriuje (DME) atnaujinta komanda, kuriai būdingos panašios savybės, siekiant užtikrinti struktūrinių ir analitinių charakteristikų paslaugų teikimo nanometrinės-subnanometrinės skalės medžiagų mėginių srityje tęstinumą. (Lithuanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Prašoma įrangos, kad būtų galima pakeisti JEOL2010F elektroninio signalo perdavimo analizės lauko taršos mikroskopą, įrengtą Kadiso universiteto (UCA) Mokslinių ir techninių tyrimų tarnybų (SC-ICYT) Elektroninės mikroskopijos skyriuje (DME) atnaujinta komanda, kuriai būdingos panašios savybės, siekiant užtikrinti struktūrinių ir analitinių charakteristikų paslaugų teikimo nanometrinės-subnanometrinės skalės medžiagų mėginių srityje tęstinumą. (Lithuanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Oprema se traži za zamjenu analitičkog mikroskopa JEOL2010F-a za elektronski prijenos na terenu koji je instaliran u Odjelu za elektronsku mikroskopiju (DME) Službe za znanstvena i tehnička istraživanja (SC-ICYT) Sveučilišta u Cadizu (UCA) od strane ažuriranog tima sa sličnim značajkama kako bi se osigurao kontinuitet u pružanju usluga strukturne i analitičke karakterizacije na nanometrijsko-subnanometrijskoj ljestvici u području uzoraka materijala. (Croatian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Oprema se traži za zamjenu analitičkog mikroskopa JEOL2010F-a za elektronski prijenos na terenu koji je instaliran u Odjelu za elektronsku mikroskopiju (DME) Službe za znanstvena i tehnička istraživanja (SC-ICYT) Sveučilišta u Cadizu (UCA) od strane ažuriranog tima sa sličnim značajkama kako bi se osigurao kontinuitet u pružanju usluga strukturne i analitičke karakterizacije na nanometrijsko-subnanometrijskoj ljestvici u području uzoraka materijala. (Croatian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Oprema se traži za zamjenu analitičkog mikroskopa JEOL2010F-a za elektronski prijenos na terenu koji je instaliran u Odjelu za elektronsku mikroskopiju (DME) Službe za znanstvena i tehnička istraživanja (SC-ICYT) Sveučilišta u Cadizu (UCA) od strane ažuriranog tima sa sličnim značajkama kako bi se osigurao kontinuitet u pružanju usluga strukturne i analitičke karakterizacije na nanometrijsko-subnanometrijskoj ljestvici u području uzoraka materijala. (Croatian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Utrustning begärs för utbyte av JEOL2010F:s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installerat i Electronic Microscopy Division (DME) vid vetenskapliga och tekniska forskningstjänsterna (SC-ICYT) vid University of Cadiz (UCA) med ett uppdaterat team med liknande egenskaper, för att tillhandahålla kontinuitet i tillhandahållandet av strukturella och analytiska karakteriseringstjänster på den nanometriska subnanometriska skalan för materialprover. (Swedish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Utrustning begärs för utbyte av JEOL2010F:s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installerat i Electronic Microscopy Division (DME) vid vetenskapliga och tekniska forskningstjänsterna (SC-ICYT) vid University of Cadiz (UCA) med ett uppdaterat team med liknande egenskaper, för att tillhandahålla kontinuitet i tillhandahållandet av strukturella och analytiska karakteriseringstjänster på den nanometriska subnanometriska skalan för materialprover. (Swedish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Utrustning begärs för utbyte av JEOL2010F:s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installerat i Electronic Microscopy Division (DME) vid vetenskapliga och tekniska forskningstjänsterna (SC-ICYT) vid University of Cadiz (UCA) med ett uppdaterat team med liknande egenskaper, för att tillhandahålla kontinuitet i tillhandahållandet av strukturella och analytiska karakteriseringstjänster på den nanometriska subnanometriska skalan för materialprover. (Swedish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Se solicită echipamente pentru înlocuirea Microscopului de emisie analitică de câmp electronic al JEOL2010F, instalat în Divizia de Microscopie Electronică (DME) a Serviciilor de Cercetare Științifică și Tehnică (SC-ICYT) din cadrul Universității din Cadiz (UCA) cu o echipă actualizată, cu caracteristici similare, pentru a asigura continuitatea furnizării de servicii de caracterizare structurală și analitică la scară nanometrică-subnanometrică în domeniul probelor de material. (Romanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Se solicită echipamente pentru înlocuirea Microscopului de emisie analitică de câmp electronic al JEOL2010F, instalat în Divizia de Microscopie Electronică (DME) a Serviciilor de Cercetare Științifică și Tehnică (SC-ICYT) din cadrul Universității din Cadiz (UCA) cu o echipă actualizată, cu caracteristici similare, pentru a asigura continuitatea furnizării de servicii de caracterizare structurală și analitică la scară nanometrică-subnanometrică în domeniul probelor de material. (Romanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Se solicită echipamente pentru înlocuirea Microscopului de emisie analitică de câmp electronic al JEOL2010F, instalat în Divizia de Microscopie Electronică (DME) a Serviciilor de Cercetare Științifică și Tehnică (SC-ICYT) din cadrul Universității din Cadiz (UCA) cu o echipă actualizată, cu caracteristici similare, pentru a asigura continuitatea furnizării de servicii de caracterizare structurală și analitică la scară nanometrică-subnanometrică în domeniul probelor de material. (Romanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Oprema se zahteva za zamenjavo elektronskega mikroskopa JEOL2010F za analizo emisijskega polja, nameščenega v oddelku za elektronsko mikroskopijo (DME) Znanstvenih in tehničnih raziskovalnih služb (SC-ICYT) Univerze v Cadizu (UCA), s posodobljeno ekipo s podobnimi funkcijami, da se zagotovi kontinuiteta pri zagotavljanju strukturnih in analitičnih karakterizacijskih storitev na nanometrično-subnanometrični lestvici na področju vzorcev materiala. (Slovenian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Oprema se zahteva za zamenjavo elektronskega mikroskopa JEOL2010F za analizo emisijskega polja, nameščenega v oddelku za elektronsko mikroskopijo (DME) Znanstvenih in tehničnih raziskovalnih služb (SC-ICYT) Univerze v Cadizu (UCA), s posodobljeno ekipo s podobnimi funkcijami, da se zagotovi kontinuiteta pri zagotavljanju strukturnih in analitičnih karakterizacijskih storitev na nanometrično-subnanometrični lestvici na področju vzorcev materiala. (Slovenian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Oprema se zahteva za zamenjavo elektronskega mikroskopa JEOL2010F za analizo emisijskega polja, nameščenega v oddelku za elektronsko mikroskopijo (DME) Znanstvenih in tehničnih raziskovalnih služb (SC-ICYT) Univerze v Cadizu (UCA), s posodobljeno ekipo s podobnimi funkcijami, da se zagotovi kontinuiteta pri zagotavljanju strukturnih in analitičnih karakterizacijskih storitev na nanometrično-subnanometrični lestvici na področju vzorcev materiala. (Slovenian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
W celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług w zakresie charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skalę nanometryczno-subnanometryczną w dziedzinie próbek materiałów wymagane jest wyposażenie do wymiany elektronicznego mikroskopu elektronicznego JEOL2010F, zainstalowanego w dziale mikroskopii elektronicznej (DME) w ramach usług naukowo-technicznych (SC-ICYT) Uniwersytetu w Kadyzie (UCA), w celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skali nanometrycznej i subnanometrycznej w dziedzinie próbek materiałów. (Polish) | |||||||||||||||
| Property / summary: W celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług w zakresie charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skalę nanometryczno-subnanometryczną w dziedzinie próbek materiałów wymagane jest wyposażenie do wymiany elektronicznego mikroskopu elektronicznego JEOL2010F, zainstalowanego w dziale mikroskopii elektronicznej (DME) w ramach usług naukowo-technicznych (SC-ICYT) Uniwersytetu w Kadyzie (UCA), w celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skali nanometrycznej i subnanometrycznej w dziedzinie próbek materiałów. (Polish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: W celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług w zakresie charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skalę nanometryczno-subnanometryczną w dziedzinie próbek materiałów wymagane jest wyposażenie do wymiany elektronicznego mikroskopu elektronicznego JEOL2010F, zainstalowanego w dziale mikroskopii elektronicznej (DME) w ramach usług naukowo-technicznych (SC-ICYT) Uniwersytetu w Kadyzie (UCA), w celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skali nanometrycznej i subnanometrycznej w dziedzinie próbek materiałów. (Polish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
Puerto Real | |||||||||||||||
| Property / location (string): Puerto Real / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / postal code | |||||||||||||||
11510 | |||||||||||||||
| Property / postal code: 11510 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Cádiz Province / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Cádiz Province / qualifier | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: Puerto Real / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: Puerto Real / qualifier | |||||||||||||||
| Property / coordinate location | |||||||||||||||
36°31'37.24"N, 6°11'4.70"W
| |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 36°31'37.24"N, 6°11'4.70"W / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 36°31'37.24"N, 6°11'4.70"W / qualifier | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
995,666.0 Euro
| |||||||||||||||
| Property / budget: 995,666.0 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | |||||||||||||||
802,108.5 Euro
| |||||||||||||||
| Property / EU contribution: 802,108.5 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
80.56 percent
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 80.56 percent / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / date of last update | |||||||||||||||
20 December 2023
| |||||||||||||||
| Property / date of last update: 20 December 2023 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
Latest revision as of 09:52, 10 October 2024
Project Q3179021 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz. |
Project Q3179021 in Spain |
Statements
802,108.5 Euro
0 references
995,666.0 Euro
0 references
80.56 percent
0 references
1 January 2016
0 references
31 December 2018
0 references
UNIVERSIDAD DE CADIZ
0 references
11510
0 references
Se solicita equipamiento para efectuar la sustitución del Microscopio Electrónico de Barrido-Transmisión Analítico de Emisión de Campo, JEOL2010F, instalado en la División de Microscopía Electrónica (DME) de los Servicios Científicos de Investigación Científica y Técnica (SC-ICYT) de la Universidad de Cádiz (UCA) por un equipo actualizado, de prestaciones similares, para dar continuidad a la prestación de servicios de caracterización estructural y analítica en la escala nanométrica-subnanométrica en el ámbito de muestras de materiales. (Spanish)
0 references
Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English)
12 October 2021
0.0563342920849962
0 references
L’équipement est demandé pour le remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission de JEOL2010F, installé dans la Division de la microscopie électronique (DME) des Services de recherche scientifique et technique (SC-ICYT) de l’Université de Cadiz (UCA) par une équipe mise à jour, dotée de caractéristiques similaires, afin d’assurer la continuité dans la prestation de services de caractérisation structurale et analytique à l’échelle nanométrique-subnanométrique dans le domaine des échantillons de matériaux. (French)
4 December 2021
0 references
Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German)
9 December 2021
0 references
Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch)
17 December 2021
0 references
L'apparecchiatura è richiesta per la sostituzione del microscopio analitico analitico di JEOL2010F di JEOL2010F, installato nella divisione di microscopia elettronica (DME) dei servizi di ricerca scientifica e tecnica (SC-ICYT) dell'Università di Cadice (UCA) da un team aggiornato, con caratteristiche analoghe, per fornire continuità nella fornitura di servizi di caratterizzazione strutturale e analitica su scala nanometrica-subnanometrica nel campo dei campioni di materiale. (Italian)
16 January 2022
0 references
Απαιτείται εξοπλισμός για την αντικατάσταση του Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Εκπομπών Πεδίου Αναλυτικού Πεδίου JEOL2010F, εγκατεστημένο στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας (DME) των Υπηρεσιών Επιστημονικής και Τεχνικής Έρευνας (SC-ICYT) του Πανεπιστημίου του Cadiz (UCA) από ενημερωμένη ομάδα, με παρόμοια χαρακτηριστικά, για την εξασφάλιση συνέχειας στην παροχή δομικών και αναλυτικών υπηρεσιών χαρακτηρισμού σε νανομετρική-υπονανομετρική κλίμακα στον τομέα των δειγμάτων υλικών. (Greek)
18 August 2022
0 references
Der anmodes om udstyr til udskiftning af JEOL2010F's Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, der er installeret i afdelingen for elektronisk mikroskopi (DME) under de videnskabelige og tekniske forskningstjenester (SC-ICYT) ved universitetet i Cadiz (UCA) med et opdateret team med lignende funktioner for at sikre kontinuitet i leveringen af strukturelle og analytiske karakteriseringstjenester på nanometrisk-subnometrisk skala inden for materialeprøver. (Danish)
18 August 2022
0 references
Laitteita pyydetään korvaamaan JEOL2010F:n Electronic Sweep-Transmission-analyyttinen kentän päästömikroskooppi, joka on asennettu Cadizin yliopiston (UCA) tieteellisten ja teknisten tutkimuspalvelujen (SC-ICYT) elektroniseen mikroskopiaan (DME), päivitetyllä ryhmällä, jolla on samanlaiset ominaisuudet, jotta voidaan varmistaa jatkuvuus rakenne- ja analyyttisten karakterisointipalvelujen tarjoamisessa materiaalinäytteiden nanometrisellä subnanometrisellä asteikolla. (Finnish)
18 August 2022
0 references
Huwa mitlub tagħmir għas-sostituzzjoni tal-Mikroskopju tal-Emissjoni tal-Emissjoni fil-Qasam Analitiku tat-Trasmissjoni Elettronika ta’ JEOL2010F, installat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika (DME) tas-Servizzi ta’ Riċerka Xjentifika u Teknika (SC-ICYT) tal-Università ta’ Cadiz (UCA) minn tim aġġornat, b’karatteristiċi simili, biex jipprovdi kontinwità fil-forniment ta’ servizzi ta’ karatterizzazzjoni strutturali u analitika fuq l-iskala nanometrika-subnanometrika fil-qasam tal-kampjuni tal-materjal. (Maltese)
18 August 2022
0 references
Iekārtas tiek pieprasītas, lai aizstātu JEOL2010F Elektronisko slaucīšanas-pārraides analīzes lauka emisijas mikroskopu, kas uzstādīts Kadisas Universitātes (UCA) Zinātniskās un tehniskās pētniecības pakalpojumu (SC-ICYT) Elektroniskās mikrokopijas nodaļā (DME), ar atjauninātu komandu ar līdzīgām iezīmēm, lai nodrošinātu strukturālo un analītisko raksturošanas pakalpojumu nepārtrauktību nanometriskā subnanometriskā mērogā materiālu paraugu jomā. (Latvian)
18 August 2022
0 references
Požaduje sa vybavenie na nahradenie mikroskopu s elektronickým mikroskopom na prenose poľnej emisnej mikroskopie (DME) spoločnosti JEOL2010F, ktorý je nainštalovaný v divízii Elektronická mikroskopia (DME) vedecko-technických výskumných služieb (SC-ICYT) Univerzity v Cádiz (UCA) aktualizovaným tímom s podobnými vlastnosťami s cieľom zabezpečiť kontinuitu pri poskytovaní služieb štrukturálnej a analytickej charakterizácie na nanometrickej a subnanometrickej stupnici v oblasti materiálových vzoriek. (Slovak)
18 August 2022
0 references
Iarrtar trealamh a chur in ionad Mhicreascóp Astaíochta Réimse Anailíseach Leictreonach JEOL2010F, atá suiteáilte sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí (DME) de Sheirbhísí Taighde Eolaíoch agus Teicniúil (SC-ICYT) Ollscoil Cadiz (UCA) ag foireann nuashonraithe, a bhfuil gnéithe comhchosúla aici, chun leanúnachas a sholáthar i soláthar seirbhísí tréithrithe struchtúracha agus anailíseacha ar an scála nanaiméadrach-fo-mhéadrach i réimse na samplaí ábhair. (Irish)
18 August 2022
0 references
Zařízení je požadováno pro nahrazení elektronického Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope JEOL2010F, instalovaného v divizi elektronické mikroskopie (DME) vědeckých a technických výzkumných služeb (SC-ICYT) Univerzity v Cádizu (UCA) aktualizovaným týmem s podobnými vlastnostmi, aby byla zajištěna kontinuita při poskytování strukturních a analytických služeb charakterizace nanometricko-subnanometrické stupnice v oblasti vzorků materiálu. (Czech)
18 August 2022
0 references
É solicitado equipamento para a substituição do Microscópio de Campo Analítico de Emissão por Varredura Eletrónica (Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope) da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrónica (DME) dos Serviços de Investigação Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádis (UCA), por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para assegurar a continuidade na prestação de serviços de caracterização estrutural e analítica à escala nanométrica-subnanométrica no domínio das amostras de materiais. (Portuguese)
18 August 2022
0 references
Cádizi ülikooli teadus- ja tehnikauuringute teenuste (SC-ICYT) elektroonilise mikroskoopia (JEOL2010F) elektroonse väljaanalüüsi mikroskoobi (JEOL2010F) asendamiseks sarnaste omadustega ajakohastatud meeskonnaga, et tagada materjaliproovide nanomeetrilise subnanomeetrilise skaala struktuuriliste ja analüütiliste iseloomustamisteenuste osutamise järjepidevus. (Estonian)
18 August 2022
0 references
A JEOL2010F Cadizi Egyetem (UCA) Tudományos és Műszaki Kutatási Szolgálatának (SC-ICYT) elektronikus mikroszkópi részlegében (DME) felszerelt elektronikus Sweep-transzmissziós analitikai mikroszkópjának egy frissített, hasonló jellemzőkkel rendelkező csapattal való helyettesítésére van szükség annak érdekében, hogy folyamatos legyen a szerkezeti és analitikai jellemzési szolgáltatások nyújtása az anyagminták területén a nanometriai-szubnanometrikus skálán. (Hungarian)
18 August 2022
0 references
Изисква се оборудване за подмяна на електронния Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope на JEOL2010F, инсталиран в отдел „Електронна микроскопия“ (DME) на службите за научно-технически изследвания (SC-ICYT) на Университета в Кадис (UCA) от актуализиран екип със сходни характеристики, за да се осигури непрекъснатост при предоставянето на услуги по структурно и аналитично характеризиране на нанометричната и субнанометричната скала в областта на пробите от материали. (Bulgarian)
18 August 2022
0 references
Prašoma įrangos, kad būtų galima pakeisti JEOL2010F elektroninio signalo perdavimo analizės lauko taršos mikroskopą, įrengtą Kadiso universiteto (UCA) Mokslinių ir techninių tyrimų tarnybų (SC-ICYT) Elektroninės mikroskopijos skyriuje (DME) atnaujinta komanda, kuriai būdingos panašios savybės, siekiant užtikrinti struktūrinių ir analitinių charakteristikų paslaugų teikimo nanometrinės-subnanometrinės skalės medžiagų mėginių srityje tęstinumą. (Lithuanian)
18 August 2022
0 references
Oprema se traži za zamjenu analitičkog mikroskopa JEOL2010F-a za elektronski prijenos na terenu koji je instaliran u Odjelu za elektronsku mikroskopiju (DME) Službe za znanstvena i tehnička istraživanja (SC-ICYT) Sveučilišta u Cadizu (UCA) od strane ažuriranog tima sa sličnim značajkama kako bi se osigurao kontinuitet u pružanju usluga strukturne i analitičke karakterizacije na nanometrijsko-subnanometrijskoj ljestvici u području uzoraka materijala. (Croatian)
18 August 2022
0 references
Utrustning begärs för utbyte av JEOL2010F:s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installerat i Electronic Microscopy Division (DME) vid vetenskapliga och tekniska forskningstjänsterna (SC-ICYT) vid University of Cadiz (UCA) med ett uppdaterat team med liknande egenskaper, för att tillhandahålla kontinuitet i tillhandahållandet av strukturella och analytiska karakteriseringstjänster på den nanometriska subnanometriska skalan för materialprover. (Swedish)
18 August 2022
0 references
Se solicită echipamente pentru înlocuirea Microscopului de emisie analitică de câmp electronic al JEOL2010F, instalat în Divizia de Microscopie Electronică (DME) a Serviciilor de Cercetare Științifică și Tehnică (SC-ICYT) din cadrul Universității din Cadiz (UCA) cu o echipă actualizată, cu caracteristici similare, pentru a asigura continuitatea furnizării de servicii de caracterizare structurală și analitică la scară nanometrică-subnanometrică în domeniul probelor de material. (Romanian)
18 August 2022
0 references
Oprema se zahteva za zamenjavo elektronskega mikroskopa JEOL2010F za analizo emisijskega polja, nameščenega v oddelku za elektronsko mikroskopijo (DME) Znanstvenih in tehničnih raziskovalnih služb (SC-ICYT) Univerze v Cadizu (UCA), s posodobljeno ekipo s podobnimi funkcijami, da se zagotovi kontinuiteta pri zagotavljanju strukturnih in analitičnih karakterizacijskih storitev na nanometrično-subnanometrični lestvici na področju vzorcev materiala. (Slovenian)
18 August 2022
0 references
W celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług w zakresie charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skalę nanometryczno-subnanometryczną w dziedzinie próbek materiałów wymagane jest wyposażenie do wymiany elektronicznego mikroskopu elektronicznego JEOL2010F, zainstalowanego w dziale mikroskopii elektronicznej (DME) w ramach usług naukowo-technicznych (SC-ICYT) Uniwersytetu w Kadyzie (UCA), w celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skali nanometrycznej i subnanometrycznej w dziedzinie próbek materiałów. (Polish)
18 August 2022
0 references
Puerto Real
0 references
20 December 2023
0 references
Identifiers
UNCA15-CE-3482
0 references