Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz. (Q3179021): Difference between revisions

From EU Knowledge Graph
Jump to navigation Jump to search
(‎Added qualifier: readability score (P590521): 0.0563342920849962)
(‎Set a claim value: summary (P836): É solicitado equipamento para a substituição do Microscópio de Campo Analítico de Emissão por Varredura Eletrónica (Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope) da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrónica (DME) dos Serviços de Investigação Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádis (UCA), por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para assegurar a continuidade na prestação de serviços de car...)
Property / summaryProperty / summary
O equipamento é solicitado para a substituição do microscópio de emissão de campo eletrônico de transmissão eletrônica da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrônica (DME) dos Serviços de Pesquisa Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádiz (UCA) por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para proporcionar continuidade na prestação de serviços de caracterização estrutural e analítica na escala nanométrica-subnanométrica no campo das amostras de materiais. (Portuguese)
É solicitado equipamento para a substituição do Microscópio de Campo Analítico de Emissão por Varredura Eletrónica (Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope) da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrónica (DME) dos Serviços de Investigação Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádis (UCA), por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para assegurar a continuidade na prestação de serviços de caracterização estrutural e analítica à escala nanométrica-subnanométrica no domínio das amostras de materiais. (Portuguese)

Revision as of 09:52, 10 October 2024

Project Q3179021 in Spain
Language Label Description Also known as
English
Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz.
Project Q3179021 in Spain

    Statements

    0 references
    802,108.5 Euro
    0 references
    995,666.0 Euro
    0 references
    80.56 percent
    0 references
    1 January 2016
    0 references
    31 December 2018
    0 references
    UNIVERSIDAD DE CADIZ
    0 references

    36°31'37.24"N, 6°11'4.70"W
    0 references
    11510
    0 references
    Se solicita equipamiento para efectuar la sustitución del Microscopio Electrónico de Barrido-Transmisión Analítico de Emisión de Campo, JEOL2010F, instalado en la División de Microscopía Electrónica (DME) de los Servicios Científicos de Investigación Científica y Técnica (SC-ICYT) de la Universidad de Cádiz (UCA) por un equipo actualizado, de prestaciones similares, para dar continuidad a la prestación de servicios de caracterización estructural y analítica en la escala nanométrica-subnanométrica en el ámbito de muestras de materiales. (Spanish)
    0 references
    Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English)
    12 October 2021
    0.0563342920849962
    0 references
    L’équipement est demandé pour le remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission de JEOL2010F, installé dans la Division de la microscopie électronique (DME) des Services de recherche scientifique et technique (SC-ICYT) de l’Université de Cadiz (UCA) par une équipe mise à jour, dotée de caractéristiques similaires, afin d’assurer la continuité dans la prestation de services de caractérisation structurale et analytique à l’échelle nanométrique-subnanométrique dans le domaine des échantillons de matériaux. (French)
    4 December 2021
    0 references
    Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German)
    9 December 2021
    0 references
    Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch)
    17 December 2021
    0 references
    L'apparecchiatura è richiesta per la sostituzione del microscopio analitico analitico di JEOL2010F di JEOL2010F, installato nella divisione di microscopia elettronica (DME) dei servizi di ricerca scientifica e tecnica (SC-ICYT) dell'Università di Cadice (UCA) da un team aggiornato, con caratteristiche analoghe, per fornire continuità nella fornitura di servizi di caratterizzazione strutturale e analitica su scala nanometrica-subnanometrica nel campo dei campioni di materiale. (Italian)
    16 January 2022
    0 references
    Απαιτείται εξοπλισμός για την αντικατάσταση του Ηλεκτρονικού Μικροσκοπίου Εκπομπών Πεδίου Αναλυτικού Πεδίου JEOL2010F, εγκατεστημένο στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας (DME) των Υπηρεσιών Επιστημονικής και Τεχνικής Έρευνας (SC-ICYT) του Πανεπιστημίου του Cadiz (UCA) από ενημερωμένη ομάδα, με παρόμοια χαρακτηριστικά, για την εξασφάλιση συνέχειας στην παροχή δομικών και αναλυτικών υπηρεσιών χαρακτηρισμού σε νανομετρική-υπονανομετρική κλίμακα στον τομέα των δειγμάτων υλικών. (Greek)
    18 August 2022
    0 references
    Der anmodes om udstyr til udskiftning af JEOL2010F's Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, der er installeret i afdelingen for elektronisk mikroskopi (DME) under de videnskabelige og tekniske forskningstjenester (SC-ICYT) ved universitetet i Cadiz (UCA) med et opdateret team med lignende funktioner for at sikre kontinuitet i leveringen af strukturelle og analytiske karakteriseringstjenester på nanometrisk-subnometrisk skala inden for materialeprøver. (Danish)
    18 August 2022
    0 references
    Laitteita pyydetään korvaamaan JEOL2010F:n Electronic Sweep-Transmission-analyyttinen kentän päästömikroskooppi, joka on asennettu Cadizin yliopiston (UCA) tieteellisten ja teknisten tutkimuspalvelujen (SC-ICYT) elektroniseen mikroskopiaan (DME), päivitetyllä ryhmällä, jolla on samanlaiset ominaisuudet, jotta voidaan varmistaa jatkuvuus rakenne- ja analyyttisten karakterisointipalvelujen tarjoamisessa materiaalinäytteiden nanometrisellä subnanometrisellä asteikolla. (Finnish)
    18 August 2022
    0 references
    Huwa mitlub tagħmir għas-sostituzzjoni tal-Mikroskopju tal-Emissjoni tal-Emissjoni fil-Qasam Analitiku tat-Trasmissjoni Elettronika ta’ JEOL2010F, installat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika (DME) tas-Servizzi ta’ Riċerka Xjentifika u Teknika (SC-ICYT) tal-Università ta’ Cadiz (UCA) minn tim aġġornat, b’karatteristiċi simili, biex jipprovdi kontinwità fil-forniment ta’ servizzi ta’ karatterizzazzjoni strutturali u analitika fuq l-iskala nanometrika-subnanometrika fil-qasam tal-kampjuni tal-materjal. (Maltese)
    18 August 2022
    0 references
    Iekārtas tiek pieprasītas, lai aizstātu JEOL2010F Elektronisko slaucīšanas-pārraides analīzes lauka emisijas mikroskopu, kas uzstādīts Kadisas Universitātes (UCA) Zinātniskās un tehniskās pētniecības pakalpojumu (SC-ICYT) Elektroniskās mikrokopijas nodaļā (DME), ar atjauninātu komandu ar līdzīgām iezīmēm, lai nodrošinātu strukturālo un analītisko raksturošanas pakalpojumu nepārtrauktību nanometriskā subnanometriskā mērogā materiālu paraugu jomā. (Latvian)
    18 August 2022
    0 references
    Požaduje sa vybavenie na nahradenie mikroskopu s elektronickým mikroskopom na prenose poľnej emisnej mikroskopie (DME) spoločnosti JEOL2010F, ktorý je nainštalovaný v divízii Elektronická mikroskopia (DME) vedecko-technických výskumných služieb (SC-ICYT) Univerzity v Cádiz (UCA) aktualizovaným tímom s podobnými vlastnosťami s cieľom zabezpečiť kontinuitu pri poskytovaní služieb štrukturálnej a analytickej charakterizácie na nanometrickej a subnanometrickej stupnici v oblasti materiálových vzoriek. (Slovak)
    18 August 2022
    0 references
    Iarrtar trealamh a chur in ionad Mhicreascóp Astaíochta Réimse Anailíseach Leictreonach JEOL2010F, atá suiteáilte sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí (DME) de Sheirbhísí Taighde Eolaíoch agus Teicniúil (SC-ICYT) Ollscoil Cadiz (UCA) ag foireann nuashonraithe, a bhfuil gnéithe comhchosúla aici, chun leanúnachas a sholáthar i soláthar seirbhísí tréithrithe struchtúracha agus anailíseacha ar an scála nanaiméadrach-fo-mhéadrach i réimse na samplaí ábhair. (Irish)
    18 August 2022
    0 references
    Zařízení je požadováno pro nahrazení elektronického Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope JEOL2010F, instalovaného v divizi elektronické mikroskopie (DME) vědeckých a technických výzkumných služeb (SC-ICYT) Univerzity v Cádizu (UCA) aktualizovaným týmem s podobnými vlastnostmi, aby byla zajištěna kontinuita při poskytování strukturních a analytických služeb charakterizace nanometricko-subnanometrické stupnice v oblasti vzorků materiálu. (Czech)
    18 August 2022
    0 references
    É solicitado equipamento para a substituição do Microscópio de Campo Analítico de Emissão por Varredura Eletrónica (Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope) da JEOL2010F, instalado na Divisão de Microscopia Eletrónica (DME) dos Serviços de Investigação Científica e Técnica (SC-ICYT) da Universidade de Cádis (UCA), por uma equipa atualizada, com características semelhantes, para assegurar a continuidade na prestação de serviços de caracterização estrutural e analítica à escala nanométrica-subnanométrica no domínio das amostras de materiais. (Portuguese)
    18 August 2022
    0 references
    Cádizi ülikooli teadus- ja tehnikauuringute teenuste (SC-ICYT) elektroonilise mikroskoopia (JEOL2010F) elektroonse väljaanalüüsi mikroskoobi (JEOL2010F) asendamiseks sarnaste omadustega ajakohastatud meeskonnaga, et tagada materjaliproovide nanomeetrilise subnanomeetrilise skaala struktuuriliste ja analüütiliste iseloomustamisteenuste osutamise järjepidevus. (Estonian)
    18 August 2022
    0 references
    A JEOL2010F Cadizi Egyetem (UCA) Tudományos és Műszaki Kutatási Szolgálatának (SC-ICYT) elektronikus mikroszkópi részlegében (DME) felszerelt elektronikus Sweep-transzmissziós analitikai mikroszkópjának egy frissített, hasonló jellemzőkkel rendelkező csapattal való helyettesítésére van szükség annak érdekében, hogy folyamatos legyen a szerkezeti és analitikai jellemzési szolgáltatások nyújtása az anyagminták területén a nanometriai-szubnanometrikus skálán. (Hungarian)
    18 August 2022
    0 references
    Изисква се оборудване за подмяна на електронния Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope на JEOL2010F, инсталиран в отдел „Електронна микроскопия“ (DME) на службите за научно-технически изследвания (SC-ICYT) на Университета в Кадис (UCA) от актуализиран екип със сходни характеристики, за да се осигури непрекъснатост при предоставянето на услуги по структурно и аналитично характеризиране на нанометричната и субнанометричната скала в областта на пробите от материали. (Bulgarian)
    18 August 2022
    0 references
    Prašoma įrangos, kad būtų galima pakeisti JEOL2010F elektroninio signalo perdavimo analizės lauko taršos mikroskopą, įrengtą Kadiso universiteto (UCA) Mokslinių ir techninių tyrimų tarnybų (SC-ICYT) Elektroninės mikroskopijos skyriuje (DME) atnaujinta komanda, kuriai būdingos panašios savybės, siekiant užtikrinti struktūrinių ir analitinių charakteristikų paslaugų teikimo nanometrinės-subnanometrinės skalės medžiagų mėginių srityje tęstinumą. (Lithuanian)
    18 August 2022
    0 references
    Oprema se traži za zamjenu analitičkog mikroskopa JEOL2010F-a za elektronski prijenos na terenu koji je instaliran u Odjelu za elektronsku mikroskopiju (DME) Službe za znanstvena i tehnička istraživanja (SC-ICYT) Sveučilišta u Cadizu (UCA) od strane ažuriranog tima sa sličnim značajkama kako bi se osigurao kontinuitet u pružanju usluga strukturne i analitičke karakterizacije na nanometrijsko-subnanometrijskoj ljestvici u području uzoraka materijala. (Croatian)
    18 August 2022
    0 references
    Utrustning begärs för utbyte av JEOL2010F:s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installerat i Electronic Microscopy Division (DME) vid vetenskapliga och tekniska forskningstjänsterna (SC-ICYT) vid University of Cadiz (UCA) med ett uppdaterat team med liknande egenskaper, för att tillhandahålla kontinuitet i tillhandahållandet av strukturella och analytiska karakteriseringstjänster på den nanometriska subnanometriska skalan för materialprover. (Swedish)
    18 August 2022
    0 references
    Se solicită echipamente pentru înlocuirea Microscopului de emisie analitică de câmp electronic al JEOL2010F, instalat în Divizia de Microscopie Electronică (DME) a Serviciilor de Cercetare Științifică și Tehnică (SC-ICYT) din cadrul Universității din Cadiz (UCA) cu o echipă actualizată, cu caracteristici similare, pentru a asigura continuitatea furnizării de servicii de caracterizare structurală și analitică la scară nanometrică-subnanometrică în domeniul probelor de material. (Romanian)
    18 August 2022
    0 references
    Oprema se zahteva za zamenjavo elektronskega mikroskopa JEOL2010F za analizo emisijskega polja, nameščenega v oddelku za elektronsko mikroskopijo (DME) Znanstvenih in tehničnih raziskovalnih služb (SC-ICYT) Univerze v Cadizu (UCA), s posodobljeno ekipo s podobnimi funkcijami, da se zagotovi kontinuiteta pri zagotavljanju strukturnih in analitičnih karakterizacijskih storitev na nanometrično-subnanometrični lestvici na področju vzorcev materiala. (Slovenian)
    18 August 2022
    0 references
    W celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług w zakresie charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skalę nanometryczno-subnanometryczną w dziedzinie próbek materiałów wymagane jest wyposażenie do wymiany elektronicznego mikroskopu elektronicznego JEOL2010F, zainstalowanego w dziale mikroskopii elektronicznej (DME) w ramach usług naukowo-technicznych (SC-ICYT) Uniwersytetu w Kadyzie (UCA), w celu zapewnienia ciągłości świadczenia usług charakterystyki strukturalnej i analitycznej na skali nanometrycznej i subnanometrycznej w dziedzinie próbek materiałów. (Polish)
    18 August 2022
    0 references
    Puerto Real
    0 references
    20 December 2023
    0 references

    Identifiers

    UNCA15-CE-3482
    0 references