Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz. (Q3179021): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed label, description and/or aliases in de, and other parts: Adding German translations) |
(Changed label, description and/or aliases in nl, and other parts: Adding Dutch translations) |
||||||||||||||
| label / nl | label / nl | ||||||||||||||
Vervanging van de Electronic Sweep-Transmission Analytische Field Emission Microscoop van de afdeling Elektronische Microscopie van de Universiteit van Cadiz. | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch) | |||||||||||||||
| Property / summary: Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 17 December 2021
| |||||||||||||||
Revision as of 16:03, 17 December 2021
Project Q3179021 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz. |
Project Q3179021 in Spain |
Statements
796,532.8 Euro
0 references
995,666.0 Euro
0 references
80.0 percent
0 references
1 January 2016
0 references
31 December 2018
0 references
UNIVERSIDAD DE CADIZ
0 references
36°31'43.28"N, 6°11'24.79"W
0 references
11028
0 references
Se solicita equipamiento para efectuar la sustitución del Microscopio Electrónico de Barrido-Transmisión Analítico de Emisión de Campo, JEOL2010F, instalado en la División de Microscopía Electrónica (DME) de los Servicios Científicos de Investigación Científica y Técnica (SC-ICYT) de la Universidad de Cádiz (UCA) por un equipo actualizado, de prestaciones similares, para dar continuidad a la prestación de servicios de caracterización estructural y analítica en la escala nanométrica-subnanométrica en el ámbito de muestras de materiales. (Spanish)
0 references
Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English)
12 October 2021
0 references
L’équipement est demandé pour le remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission de JEOL2010F, installé dans la Division de la microscopie électronique (DME) des Services de recherche scientifique et technique (SC-ICYT) de l’Université de Cadiz (UCA) par une équipe mise à jour, dotée de caractéristiques similaires, afin d’assurer la continuité dans la prestation de services de caractérisation structurale et analytique à l’échelle nanométrique-subnanométrique dans le domaine des échantillons de matériaux. (French)
4 December 2021
0 references
Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German)
9 December 2021
0 references
Apparatuur wordt gevraagd voor de vervanging van JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscoop, geïnstalleerd in de afdeling Elektronische Microscopie (DME) van de Wetenschappelijke en Technische Onderzoeksdiensten (SC-ICYT) van de Universiteit van Cadiz (UCA) door een bijgewerkt team, met soortgelijke kenmerken, om continuïteit te bieden in de verlening van structurele en analytische karakteriseringsdiensten op de nanometrisch-subnanometrische schaal op het gebied van materiaalmonsters. (Dutch)
17 December 2021
0 references
Puerto Real
0 references
Identifiers
UNCA15-CE-3482
0 references