Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz. (Q3179021): Difference between revisions
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label / de | label / de | ||||||||||||||
Ersatz des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops der Abteilung Elektronische Mikroskopie der University of Cadiz. | |||||||||||||||
Property / summary | |||||||||||||||
Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German) | |||||||||||||||
Property / summary: Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German) / rank | |||||||||||||||
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Property / summary: Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 9 December 2021
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Revision as of 15:22, 9 December 2021
Project Q3179021 in Spain
Language | Label | Description | Also known as |
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English | Replacement of the Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz. |
Project Q3179021 in Spain |
Statements
796,532.8 Euro
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995,666.0 Euro
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80.0 percent
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1 January 2016
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31 December 2018
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UNIVERSIDAD DE CADIZ
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11028
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Se solicita equipamiento para efectuar la sustitución del Microscopio Electrónico de Barrido-Transmisión Analítico de Emisión de Campo, JEOL2010F, instalado en la División de Microscopía Electrónica (DME) de los Servicios Científicos de Investigación Científica y Técnica (SC-ICYT) de la Universidad de Cádiz (UCA) por un equipo actualizado, de prestaciones similares, para dar continuidad a la prestación de servicios de caracterización estructural y analítica en la escala nanométrica-subnanométrica en el ámbito de muestras de materiales. (Spanish)
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Equipment is requested for the replacement of JEOL2010F’s Electronic Sweep-Transmission Analytical Field Emission Microscope, installed in the Electronic Microscopy Division (DME) of the Scientific and Technical Research Services (SC-ICYT) of the University of Cadiz (UCA) by an updated team, with similar features, to provide continuity in the provision of structural and analytical characterisation services on the nanometric-subnanometric scale in the field of material samples. (English)
12 October 2021
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L’équipement est demandé pour le remplacement du microscope électronique d’émission de balayage-transmission de JEOL2010F, installé dans la Division de la microscopie électronique (DME) des Services de recherche scientifique et technique (SC-ICYT) de l’Université de Cadiz (UCA) par une équipe mise à jour, dotée de caractéristiques similaires, afin d’assurer la continuité dans la prestation de services de caractérisation structurale et analytique à l’échelle nanométrique-subnanométrique dans le domaine des échantillons de matériaux. (French)
4 December 2021
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Für den Austausch des Elektronischen Sweep-Transmission Analytical Field Emission Mikroskops von JEOL2010F, das in der Abteilung für Elektronische Mikroskopie (DME) der wissenschaftlichen und technischen Forschungsdienste (SC-ICYT) der University of Cadiz (UCA) installiert ist, wird ein aktualisiertes Team mit ähnlichen Merkmalen angefordert, um Kontinuität bei der Bereitstellung struktureller und analytischer Charakterisierungsdienste auf der nanometrisch-subnanometrischen Skala im Bereich der Materialproben zu gewährleisten. (German)
9 December 2021
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Puerto Real
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Identifiers
UNCA15-CE-3482
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