Replacement and Update of the Quanta 200 Sweep Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz (Q3150620)
Jump to navigation
Jump to search
Project Q3150620 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Replacement and Update of the Quanta 200 Sweep Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz |
Project Q3150620 in Spain |
Statements
665,022.8 Euro
0 references
825,500.0 Euro
0 references
80.56 percent
0 references
1 January 2018
0 references
31 March 2021
0 references
UNIVERSIDAD DE CADIZ
0 references
11510
0 references
Se solicita la sustitución del microscopio de barrido Quanta 200 de la División de Microscopía Electrónica de los SC-ICYT UCA, por un equipo de tipo haz doble (Dual Beam), con cañón de electrones de emisión de campo y cañón de iones Ga+, que permita actualizar sus capacidades y completar el catálogo de servicios incorporando un aspecto esencial en cualquier instalación moderna de microscopía electrónica: la preparación de muestras electrón-transparentes mediante técnicas de Haces de Iones Focalizados. _x000D_ Con esta acción, crucial para la DME-UCA, se pretende: (1) Dar continuidad a los servicios que se vienen prestando en las técnicas de microscopía electrónica de barrido; (2) Incorporar nuevas técnicas, bien desarrolladas y con amplio espectro de aplicaciones, tales como la Difracción de Electrones Retrodispersados o la Tomografía en Barrido mediante la aproximación corte-visualización; (3) Ofrecer un servicio de preparación de muestras para microscopía de Transmisión (TEM), Barrido-Transmisión (STEM) de materiales y dispositivos que contribuya a potenciar las actuales capacidades de los microscopios de última generación de los que dispone la unidad; (4) Desarrollar un servicio de caracterización singular incorporando al equipo solicitado, otro optimizado en la UCA para estudios de Catodoluminiscencia en SEM._x000D_ El equipamiento solicitado contribuirá decisivamente a consolidar y potenciar las capacidades de servicio de la DME-UCA , a nivel nacional, como nodo de la ICTS ELECMI. (Spanish)
0 references
This proposal aims at replacing the FEI Quanta 200 Scanning Transmission Microscope at the Electron Microscopy Division of the University of Cádiz by a Dual Beam, or Cross Beam, station which allows upgrading the current capabilities of this Facility and, at the same time, incorporating new analytical tools. Among the later, the goal would be adding to the basic electron imaging and TEM/STEM lamella preparation capabilities of this type of equipment those of 3D structural and composition reconstruction by FIB tomography, EDS and EBSD. The proposed solution involves a station wit FEG electron gun and Ga+ ion source._x000D_ Apart from incorporating a technique which is present in most modern, top level, EM Facilities and contributing to enlarging the service portfolio, the major goals of this key proposal for DME-UCA are the following: 1) To guarantee an on-going, high quality, service to DME-UCA users requiring Scanning Electron Microscopy analysis; 2) Incorporating new techniques currently unavailable at DME-UCA, such as Electron Backscattered Diffraction or FIB tomography; 3) Opening a new service of electron-transparent STEM sample preparation of materials and devices by FIB; 4) Developing an unique characterization service by incorporating to the proposed Dual Beam other already developed by DME-UCA researchers for Cathodeluminescence experiments in an Scanning Microscope._x000D_ The new equipment would consolidate the position of DME-UCA at both national and international levels. (English)
0.4822333917315151
0 references
Le remplacement du microscope à balayage Quanta 200 de la division de microscopie électronique SC-ICYT UCA est demandé par un équipement à double faisceau (Dual Beam), par un pistolet électronique à émission de champ et un canon à ion Ga+, afin de mettre à jour ses capacités et de compléter le catalogue de services intégrant un aspect essentiel dans toute installation de microscopie électronique moderne: la préparation d’échantillons transparents aux électrons à l’aide de techniques focalisées de fabrication d’ion. _x000D_ avec cette action, cruciale pour le DME-UCA, est destinée à: (1) Poursuivre les services fournis dans le cadre des techniques de microscopie électronique à balayage; (2) Incorporer de nouvelles techniques bien développées avec un large éventail d’applications, telles que la diffraction d’électrons rétrodispersés ou la tomographie de balayage par l’approche de la vue de coupe; (3) fournir un service de préparation d’échantillons pour la microscopie de transmission (TEM), le balayage-transmission (STEM) de matériaux et d’appareils qui contribuent à améliorer les capacités actuelles des microscopes de pointe disponibles pour l’unité; (4) Développer un service de caractérisation unique intégrant les équipements demandés, un autre optimisé à l’UCA pour les études de catodoluminescence dans SEM._x000D_ Les équipements demandés contribueront de manière décisive à consolider et à renforcer les capacités de service du DME-UCA, au niveau national, en tant que nœud du ICTS ELECMI. (French)
2 December 2021
0 references
Die Ersetzung des Quanta 200-Scanmikroskops der SC-ICYT UCA Electronic Microscopy Division wird durch eine Dual-Strahl-Ausrüstung (Dual Beam) durch Feldemissionselektronenpistole und Ga+ Ionenlauf gefordert, um seine Fähigkeiten zu aktualisieren und den Servicekatalog zu vervollständigen, der einen wesentlichen Aspekt in jeder modernen elektronischen Mikroskopie-Installation enthält: die Herstellung von elektronentransparenten Proben mit fokalisierten Ionen Making-Techniken. _x000D_ mit dieser Aktion, die für den DME-UCA entscheidend ist, soll: (1) Fortsetzung der Dienstleistungen, die in elektronischen Scan-Mikroskopietechniken erbracht werden; (2) Inkorporiert neue, gut entwickelte Techniken mit einer breiten Palette von Anwendungen, wie retrodispersierte Elektronenbeugung oder Kehrtomographie durch Schnitt-Ansatz; (3) Geben Sie einen Probevorbereitungsdienst für Transmissionsmikroskopie (TEM), Sweep-Transmission (STEM) von Materialien und Geräten, die zur Verbesserung der aktuellen Fähigkeiten der dem Gerät zur Verfügung stehenden hochmodernen Mikroskope beitragen; (4) Entwicklung eines einzigartigen Charakterisierungsdienstes, der die angeforderte Ausrüstung enthält, eine weitere optimierte UCA für Catodolumineszenzstudien in SEM._x000D_ Die angeforderte Ausrüstung wird entscheidend zur Konsolidierung und Verbesserung der Servicekapazitäten des DME-UCA auf nationaler Ebene als Knoten des ICTS ELECMI beitragen. (German)
9 December 2021
0 references
De vervanging van de Quanta 200 scanmicroscoop van de SC-ICYT UCA Electronic Microscopy Division wordt gevraagd door een dual beam apparatuur (Dual Beam), met veldemissie elektronenpistool en Ga+ ionenloop, om de mogelijkheden ervan te actualiseren en de servicecatalogus te voltooien met een essentieel aspect in elke moderne elektronische microscopie-installatie: de voorbereiding van elektronen-transparante monsters met behulp van gefocusseerde Ion Making technieken. _x000D_ met deze actie, cruciaal voor de DME-UCA, is bedoeld om: (1) voortzetting van de diensten die worden verleend in elektronische scanmicroscopietechnieken; (2) Incorporeren van nieuwe, goed ontwikkelde technieken met een breed scala van toepassingen, zoals retrodispersed elektronen diffractie of vegen tomografie door cutting-view aanpak; (3) Verleen een steekproefvoorbereidingsdienst voor Transmissiemicroscopie (TEM), Sweep-Transmission (STEM) van materialen en apparaten die bijdragen aan het verbeteren van de huidige mogelijkheden van de state-of-the-art microscopen beschikbaar aan de eenheid; (4) Het ontwikkelen van een unieke karakteriseringsdienst waarin de gevraagde apparatuur is verwerkt, een andere geoptimaliseerd bij de UCA voor Catodoluminescentiestudies in SEM._x000D_ De gevraagde apparatuur zal een beslissende bijdrage leveren aan de consolidatie en verbetering van de servicemogelijkheden van de DME-UCA, op nationaal niveau, als knooppunt van ICTS ELECMI. (Dutch)
17 December 2021
0 references
La sostituzione del microscopio a scansione Quanta 200 della Divisione Microscopia Elettronica SC-ICYT UCA è richiesta da un'apparecchiatura a doppio fascio (Dual Beam), con cannone elettroni ad emissione di campo e canna di ione Ga+, per aggiornare le sue capacità e completare il catalogo dei servizi integrando un aspetto essenziale in ogni moderna installazione di microscopia elettronica: la preparazione di campioni elettroni trasparenti utilizzando tecniche di Ion Making focalizzati. _x000D_ con questa azione, cruciale per il DME-UCA, ha lo scopo di: (1) Continuare i servizi forniti con tecniche di microscopia a scansione elettronica; (2) incorporare tecniche nuove e ben sviluppate con un'ampia gamma di applicazioni, come la diffrazione degli elettroni retrodispersa o la tomografia a tappeto mediante un approccio di taglio-visione; (3) fornire un servizio di preparazione di campioni per la microscopia di trasmissione (TEM), la trasmissione a spazzola (STEM) di materiali e dispositivi che contribuisca a migliorare le capacità attuali dei microscopi all'avanguardia a disposizione dell'unità; (4) Sviluppare un servizio di caratterizzazione unico che incorpora le apparecchiature richieste, un altro ottimizzato presso l'UCA per gli studi di catodoluminescenza in SEM._x000D_ L'apparecchiatura richiesta contribuirà in modo decisivo a consolidare e migliorare le capacità di servizio della DME-UCA, a livello nazionale, come nodo dell'ICTS ELECMI. (Italian)
16 January 2022
0 references
Käesoleva ettepaneku eesmärk on asendada Cádizi ülikooli elektronmikroskoopia osakonna FEI Quanta 200 skaneerimismikroskoop kahekiire ehk risttalaga, mis võimaldab ajakohastada selle rahastu praegust suutlikkust ja samal ajal lisada uusi analüütilisi vahendeid. Hilisemate seas, eesmärk oleks lisada põhielektron pildistamine ja TEM/STEM lamella ettevalmistamise võimeid seda tüüpi seadmete 3D struktuuri ja kompositsiooni rekonstrueerimine FIB tomograafia, EDS ja EBSD. Pakutud lahendus hõlmab jaama wit FEG elektronpüstol ja Ga+ ioon allikas._x000D_ Peale selle, et lisada tehnika, mis on olemas kõige kaasaegsem, tipptasemel, EM rajatiste ja aitab laiendada teenuste portfelli, peamised eesmärgid käesoleva olulise ettepaneku DME-UCA on järgmised: 1) tagada DME-UCA kasutajatele pidev ja kvaliteetne teenus, mis nõuab skaneeriva elektronmikroskoopia analüüsi; 2) lisada uusi meetodeid, mis praegu DME-UCA-s ei ole kättesaadavad, nagu Electron Backshattered Diffraction või FIB tomograafia; 3) avades uue teenuse elektronide läbipaistva STEM-proovi ettevalmistamise materjalide ja seadmete FIB; 4) Unikaalse iseloomustamisteenuse väljatöötamine, lisades kavandatud kahekiire muu juba välja töötatud DME-UCA teadlaste katodeluminestsentsi katsete jaoks skaneeriva mikroskoobiga._x000D_Uued seadmed tugevdaksid DME-UCA positsiooni nii riiklikul kui ka rahvusvahelisel tasandil. (Estonian)
4 August 2022
0 references
Šiuo pasiūlymu siekiama pakeisti Kadiso universiteto elektronų mikroskopijos skyriaus FEI Quanta 200 skenavimo perdavimo mikroskopą dvejopo pluošto arba Kryžiaus pluošto stotimi, kuri leidžia atnaujinti dabartines šios priemonės galimybes ir kartu įtraukti naujas analitines priemones. Tarp vėlesnių, tikslas būtų pridėti prie pagrindinių elektronų vaizdo ir TEM/STEM lamella paruošimo galimybes šios rūšies įrangos 3D struktūros ir kompozicijos rekonstrukcija FIB tomografija, EDS ir EBSD. Siūlomas sprendimas apima stotį su FEG elektronų pistoletu ir Ga+ jonų šaltiniu._x000D_ Be to, kad būtų įdiegta technologija, kuri yra daugelyje moderniausių, aukščiausio lygio EM įrenginių ir prisidedanti prie paslaugų portfelio išplėtimo, pagrindiniai šio pagrindinio pasiūlymo dėl DME-UCA tikslai yra šie: 1) garantuoti nuolatinę, aukštos kokybės paslaugą DME-UCA vartotojams, kuriems reikalinga skenavimo elektronų mikroskopija analizė; 2) naujų metodų, kurių šiuo metu nėra DME-UCA, pvz., Electron Backscattered difrakcijos arba FIB tomografijos, įtraukimas; 3) atidaryti naują paslaugą elektronų skaidraus STEM mėginio paruošimo medžiagų ir prietaisų FIB; 4) unikalaus apibūdinimo paslaugos kūrimas įtraukiant į siūlomą DME-UCA tyrėjų jau sukurtą DME-UCA mokslo darbuotojų katedrinio apšvietimo eksperimentams skenavimo mikroskopu._x000D_ Nauja įranga konsoliduotų DME-UCA padėtį tiek nacionaliniu, tiek tarptautiniu lygiu. (Lithuanian)
4 August 2022
0 references
Cilj je ovog prijedloga zamijeniti mikroskop FEI Quanta 200 Scanning Transmission Microscopy Division of the University of Cádiz, Dual Beam, ili Cross Beam, stanicom koja omogućuje nadogradnju trenutačnih kapaciteta tog instrumenta i, u isto vrijeme, uključivanje novih analitičkih alata. Među kasnijim, cilj bi bio dodavanje osnovnih elektronskih slika i TEM/STEM lamele sposobnosti pripreme ove vrste opreme one 3D strukturne i sastavne rekonstrukcije FIB tomografije, EDS-a i EBSD-a. Predloženo rješenje uključuje stanicu s FEG elektronskim pištoljem i izvorom Ga+ iona._x000D_ Osim što uključuje tehniku koja je prisutna u najmodernijim, vrhunskim EM objektima i pridonosi proširenju portfelja usluga, glavni ciljevi ovog ključnog prijedloga za DME-UCA su sljedeći: 1) Da bi se zajamčila kontinuirana, visoka kvaliteta, usluga za DME-UCA korisnike koji zahtijevaju skeniranje Electron mikroskopske analize; 2) Uključivanje novih tehnika trenutačno nedostupnih na DME-UCA, kao što su elektronski Backscattered diiffraction ili FIB tomografija; 3) Otvaranje nove usluge elektron-transparentne STEM pripreme uzoraka materijala i uređaja od strane FIB-a; 4) Razvoj jedinstvene karakterizacije usluga uključivanjem u predložene Dual Beam drugi već razvijen od strane DME-UCA istraživača za katodeluminiscencije eksperimente u skeniranje mikroskop._x000D_ Nova oprema će učvrstiti položaj DME-UCA na nacionalnoj i međunarodnoj razini. (Croatian)
4 August 2022
0 references
Η παρούσα πρόταση αποσκοπεί στην αντικατάσταση του μικροσκοπίου μετάδοσης ανίχνευσης Quanta 200 FEI στο τμήμα μικροσκοπίας ηλεκτρονίων του Πανεπιστημίου του Cádiz από σταθμό διπλής δέσμης, ή Cross Beam, ο οποίος επιτρέπει την αναβάθμιση των υφιστάμενων δυνατοτήτων του εν λόγω μηχανισμού και, ταυτόχρονα, ενσωματώνει νέα εργαλεία ανάλυσης. Μεταξύ των μεταγενέστερων, ο στόχος θα ήταν η προσθήκη στις βασικές δυνατότητες απεικόνισης ηλεκτρονίων και προετοιμασίας lamella TEM/STEM αυτού του τύπου εξοπλισμού εκείνων της τρισδιάστατης δομικής και σύνθεσης ανακατασκευής από το FIB τομογραφία, EDS και EBSD. Η προτεινόμενη λύση περιλαμβάνει έναν σταθμό με πυροβόλο όπλο ηλεκτρονίων FEG και Ga+ πηγή ιόντων._x000D_ Εκτός από την ενσωμάτωση μιας τεχνικής που είναι παρούσα στο πιο σύγχρονο, ανώτατο επίπεδο, EM εγκαταστάσεις και συμβάλλοντας στη διεύρυνση του χαρτοφυλακίου υπηρεσιών, οι κύριοι στόχοι αυτής της βασικής πρότασης για DME-UCA είναι οι εξής: 1) Για να εγγυηθεί έναν συνεχή, υψηλό — ποιότητα, υπηρεσία στους χρήστες DME-UCA που απαιτούν ανάλυση μικροσκοπίας ηλεκτρονίων ανίχνευσης 2) Ενσωματώνοντας νέες τεχνικές που επί του παρόντος δεν είναι διαθέσιμες στο DME-UCA, όπως το Electron Backscattered Diffraction ή FIB τομογραφία. 3) Ανοίγοντας μια νέα υπηρεσία ηλεκτρονίων-διαφανών δειγμάτων STEM προετοιμασία υλικών και συσκευών από FIB 4) Αναπτύσσοντας μια μοναδική υπηρεσία χαρακτηρισμού ενσωματώνοντας στην προτεινόμενη Dual Beam άλλα που έχουν ήδη αναπτυχθεί από ερευνητές της DME-UCA για πειράματα καθοδαρισμού σε ένα μικροσκόπιο σάρωσης._x000D_ Ο νέος εξοπλισμός θα εδραιώσει τη θέση του DME-UCA τόσο σε εθνικό όσο και σε διεθνές επίπεδο. (Greek)
4 August 2022
0 references
Cieľom tohto návrhu je nahradiť FEI Quanta 200 skenovací prenosový mikroskop v divízii elektrónovej mikroskopie na Cádizskej univerzite dvojitým lúčom alebo krížovým lúčom, čo umožňuje modernizáciu súčasných schopností tohto zariadenia a zároveň začlenenie nových analytických nástrojov. Medzi neskoršie, cieľom by bolo pridať k základné elektrónové zobrazovanie a TEM/STEM lamella prípravy schopnosti tohto typu zariadenia tie 3D štrukturálne a kompozície rekonštrukcie FIB tomografia, EDS a EBSD. Navrhované riešenie zahŕňa stanicu s elektrónovou pištoľou FEG a zdroj iónov Ga+._x000D_ Okrem začlenenia techniky, ktorá je prítomná vo väčšine moderných, špičkových zariadení EM a prispieva k rozšíreniu portfólia služieb, hlavnými cieľmi tohto kľúčového návrhu pre DME-UCA sú: 1) Zaručiť priebežnú, vysoko kvalitnú službu pre používateľov DME-UCA, ktorí vyžadujú analýzu mikroskopie skenovaním elektrónov; 2) Zapracovanie nových techník v súčasnosti nedostupných na DME-UCA, ako je Electron Backscattered Diffraction alebo FIB tomografia; 3) otvorenie novej služby elektrón-transparentné STEM príprava vzoriek materiálov a zariadení FIB; 4) Rozvíjanie jedinečnej charakterizačnej služby začlenením do navrhovaného duálneho lúča ďalšie už vyvinuté výskumníkmi DME-UCA pre katódluminiscenčné experimenty v skenovacom mikroskope._x000D_ Nové zariadenie by upevnilo pozíciu DME-UCA na národnej aj medzinárodnej úrovni. (Slovak)
4 August 2022
0 references
Tämän ehdotuksen tarkoituksena on korvata Cádizin yliopiston Electron Microscopy Divisionissa sijaitseva FEI Quanta 200 -skannaustransmissiomikroskooppi Dual Beam eli Cross Beam -asemalla, joka mahdollistaa tämän laitoksen nykyisten valmiuksien parantamisen ja samalla uusien analyysivälineiden käyttöönoton. Myöhemmin tavoitteena olisi lisätä tämäntyyppisten laitteiden peruselektronisen kuvantamisen ja TEM/STEM-lamellien valmisteluvalmiuksia FIB-tomografian, EDS:n ja EBSD:n 3D-rakenne- ja koostumusrekonstruktioiden avulla. Ehdotettu ratkaisu sisältää aseman wit FEG elektronipistoolin ja Ga+ ionilähteen._x000D_ Sen lisäksi, että se sisältää tekniikan, joka on läsnä nykyaikaisimmissa, huipputason EM-laitoksissa ja edistää palveluvalikoiman laajentamista, tämän DME-UCA:n keskeisen ehdotuksen tärkeimmät tavoitteet ovat seuraavat: 1) Jotta voidaan taata jatkuva, korkealaatuinen palvelu DME-UCA-käyttäjille, jotka tarvitsevat skannauksen Electron Microscopy -analyysia; 2) Sisällytetään uusia tekniikoita, joita ei tällä hetkellä ole saatavilla DME-UCA:ssa, kuten Electron Backscattered Diffraction tai FIB-tomografia; 3) avaaminen uuden palvelun elektroni-läpinäkyvä STEM näytteen valmistelu materiaalien ja laitteiden FIB; 4) Kehitetään ainutlaatuista karakterisointipalvelua sisällyttämällä ehdotettu Dual Beam muut DME-UCA-tutkijoiden jo kehittämät Cathodeluminescence-kokeet skannausmikroskooppiin._x000D_ Uudet laitteet vahvistaisivat DME-UCAn asemaa sekä kansallisella että kansainvälisellä tasolla. (Finnish)
4 August 2022
0 references
Niniejszy wniosek ma na celu zastąpienie mikroskopu transmisyjnego skanowania FEI Quanta 200 w Wydziale Mikroskopii Elektronowej Uniwersytetu w Kadyksie przez stację podwójną wiązką lub poprzeczną wiązką, która umożliwia modernizację obecnych możliwości tego obiektu i jednoczesne włączenie nowych narzędzi analitycznych. Jednym z późniejszych celów byłoby dodanie do podstawowego obrazu elektronowego i możliwości przygotowania lamelli TEM/STEM tego typu urządzeń do przebudowy strukturalnej i kompozycji 3D za pomocą tomografii FIB, EDS i EBSD. Proponowane rozwiązanie obejmuje stacjonarny pistolet elektronowy FEG i źródło jonów Ga+._x000D_ Oprócz zastosowania techniki, która jest obecna w najnowocześniejszych, na najwyższym poziomie, obiektach EM i przyczynia się do poszerzenia portfolio usług, główne cele tej kluczowej propozycji DME-UCA są następujące: 1) Aby zagwarantować stałą, wysoką jakość usług dla użytkowników DME-UCA wymagających analizy mikroskopii elektronowej; 2) Włączenie nowych technik obecnie niedostępnych w DME-UCA, takich jak dyfrakcja rozrzutna elektronów lub tomografia FIB; 3) Otwarcie nowej usługi przezroczystego elektronu przygotowania próbek STEM materiałów i urządzeń przez FIB; 4) Opracowanie unikalnej usługi charakterystyki poprzez włączenie do proponowanego Dual Beam innych już opracowanych przez badaczy DME-UCA dla eksperymentów katodeluminescencji w mikroskopie skanującym._x000D_ Nowy sprzęt umocni pozycję DME-UCA zarówno na poziomie krajowym, jak i międzynarodowym. (Polish)
4 August 2022
0 references
E javaslat célja, hogy a Cádizi Egyetem elektronmikroszkópiai részlegében működő FEI Quanta 200 szkennelési jelátviteli mikroszkópot egy Dual Beam vagy Cross Beam állomással váltsa fel, amely lehetővé teszi az eszköz jelenlegi képességeinek fejlesztését, és ezzel egyidejűleg új analitikai eszközöket is beépít. A későbbiek között a cél az lenne, hogy az ilyen típusú berendezések alapvető elektronképalkotási és TEM/STEM lamella előkészítési képességeit kiegészítsék a FIB tomográfia, EDS és EBSD 3D szerkezeti és összetételi rekonstrukciójával. A javasolt megoldás magában foglalja a FEG elektronpisztolyt és a Ga+ ionforrást._x000D_ A legmodernebb, legfelső szintű EM létesítményekben jelen lévő technikán kívül, amely hozzájárul a szolgáltatási portfólió bővítéséhez, a DME-UCA-ra vonatkozó kulcsfontosságú javaslat fő céljai a következők: 1) A folyamatos, kiváló minőségű szolgáltatás biztosítása a DME-UCA felhasználók számára, akik szkennelési elektronmikroszkópos elemzést igényelnek; 2) A DME-UCA-nál jelenleg nem elérhető új technikák, például az Electron Backscattered Diffraction vagy a FIB tomográfia beépítése; 3) Új szolgáltatás megnyitása az elektronátlátszó STEM minta előkészítésére anyagok és eszközök FIB által; 4) Egyedi jellemzési szolgáltatás kifejlesztése a DME-UCA kutatói által már kifejlesztett, a szkennelési mikroszkópban végzett katódlumineszcencia-kísérletekhez._x000D_ Az új berendezés megszilárdítaná a DME-UCA helyzetét mind nemzeti, mind nemzetközi szinten. (Hungarian)
4 August 2022
0 references
Cílem tohoto návrhu je nahradit mikroskop pro skenovací přenos FEI Quanta 200 v divizi elektronové mikroskopie Univerzity v Cádizu stanicí Dual Beam nebo Cross Beam, která umožňuje modernizovat stávající schopnosti tohoto zařízení a zároveň začlenit nové analytické nástroje. Mezi pozdější, cílem by bylo přidat k základní elektronové zobrazování a TEM/STEM lamely možnosti přípravy tohoto typu zařízení 3D konstrukční a kompozice rekonstrukce FIB tomografie, EDS a EBSD. Navrhované řešení zahrnuje stanici s elektronovou pistolí FEG a zdroj iontů Ga+._x000D_ Kromě toho, že zahrnuje techniku, která je přítomna v nejmodernějších, špičkových zařízeních a přispívá k rozšíření portfolia služeb, hlavní cíle tohoto klíčového návrhu pro DME-UCA jsou následující: 1) Chcete-li zaručit průběžné, vysoce kvalitní, služby pro uživatele DME-UCA vyžadující skenování elektronové mikroskopické analýzy; 2) Začlenění nových technik v současné době nedostupné na DME-UCA, jako je Electron Backscattered difrakce nebo FIB tomografie; 3) Otevření nové služby elektronově průhledné přípravy vzorků STEM materiálů a zařízení FIB; 4) Vývoj jedinečné charakterizační služby začleněním do navrhovaného Dual Beam další již vyvinuté DME-UCA výzkumníky pro katodeluminescenční experimenty v skenovacím mikroskopu._x000D_ Nové zařízení by upevnilo postavení DME-UCA na národní i mezinárodní úrovni. (Czech)
4 August 2022
0 references
Šā priekšlikuma mērķis ir aizstāt FEI Quanta 200 skenēšanas pārraides mikroskopu Kadisas Universitātes Elektronu mikroskopijas nodaļā ar Dual Beam jeb Cross Beam staciju, kas ļauj uzlabot šā objekta pašreizējās spējas un vienlaikus iekļaut jaunus analītiskos instrumentus. Starp pēdējiem, mērķis būtu papildināt pamata elektronu attēlveidošanas un TEM/STEM lamella sagatavošanas spējas šāda veida iekārtām, kas atbilst 3D konstrukcijas un kompozīcijas rekonstrukcijai ar FIB tomogrāfijas, EDS un EBSD palīdzību. Ierosinātais risinājums ietver staciju ar FEG elektronu lielgabalu un Ga+ jonu avotu._x000D_ Neatkarīgi no tā, ka tajā ir iekļauta tehnika, kas ir pārstāvēta lielākajā daļā moderno, augstākā līmeņa EM iekārtu un veicina pakalpojumu portfeļa paplašināšanu, DME-UCA galvenā priekšlikuma galvenie mērķi ir šādi: 1) garantēt nepārtrauktu, augstas kvalitātes pakalpojumu DME-UCA lietotājiem, kuriem nepieciešama skenēšanas elektronu mikroskopijas analīze; 2) DME-UCA pašlaik nepieejamu jaunu metožu, piemēram, Electron Backscattered diiffraction vai FIB tomogrāfijas, iekļaušana; 3) atverot jaunu pakalpojumu elektronu caurspīdīgu STEM paraugu sagatavošanas materiālu un ierīču FIB; 4) Izstrādāt unikālu raksturošanas pakalpojumu, iekļaujot ierosinātajā Dual Beam citu DME-UCA pētnieku jau izstrādāto katoodeluminiscences eksperimentiem skenēšanas mikroskopā._x000D_ Jaunā iekārta nostiprinātu DME-UCA pozīciju gan nacionālā, gan starptautiskā līmenī. (Latvian)
4 August 2022
0 references
Tá sé d’aidhm ag an togra seo an Mhicreascóip Tarchurtha a Scanáil de chuid FEI Quanta 200 a chur in ionad an Mhicreascóip Leictreoin in Ollscoil Cádiz ag stáisiún Dual-Bhíoma, nó Trasbhíoma, lenar féidir cumais reatha na Saoráide seo a uasghrádú agus, ag an am céanna, uirlisí anailíseacha nua a ionchorprú. I measc na mblianta ina dhiaidh sin, bheadh an sprioc ag cur leis an íomháú leictreon bunúsach agus cumais ullmhúcháin TEM/STEM lamella den chineál seo trealaimh a bhaineann le hatógáil struchtúrtha agus comhdhéanamh 3D ag tomagrafaíocht FIB, EDS agus EBSD. Is éard atá i gceist leis an réiteach atá beartaithe ná gunna leictreon FEG stáisiún agus Ga+ ian source._x000D_ Apart as teicníc atá i láthair sa chuid is mó nua-aimseartha, barrleibhéil, Áiseanna EM a ionchorprú agus cur leis an bpunann seirbhíse a mhéadú, is iad seo a leanas príomhspriocanna an togra seo le haghaidh DME-UCA: 1) Chun seirbhís leanúnach, ardchaighdeáin a ráthú d’úsáideoirí DME-UCA a éilíonn anailís Mhicreascópachta Leictreonaic a Scanáil; 2) Teicnící nua nach bhfuil ar fáil faoi láthair ag DME-UCA a chorprú, amhail Díraonadh Leictreon Scaipthe nó tomagrafaíocht FIB; 3) Oscailt seirbhís nua d’ullmhú sampla STEM leictreon-trédhearcach d’ábhair agus d’fheistí ag FIB; 4) Seirbhís tréithrithe uathúil a fhorbairt trí ionchorprú leis an Dual Beam atá beartaithe eile atá forbartha cheana féin ag taighdeoirí DME-UCA do thurgnaimh Cathodeluminescence i Mhicreascóp Scanning._x000D_ Bheadh an trealamh nua chomhdhlúthú an seasamh DME-UCA ag leibhéil náisiúnta agus idirnáisiúnta araon. (Irish)
4 August 2022
0 references
Namen tega predloga je nadomestiti mikroskop FEI Quanta 200 Scanning Transmission na oddelku za elektronsko mikroskopijo Univerze v Cádizu s postajo z dvojnim svetlobnim pramenom ali Cross Beam, ki omogoča nadgradnjo sedanjih zmogljivosti tega objekta in hkrati vključuje nova analitična orodja. Med poznejšimi bi bil cilj dodati osnovnemu elektronskemu slikanju in zmogljivostim priprave te vrste opreme TEM/STEM lamele 3D strukturne in kompozicijske rekonstrukcije s tomografijo FIB, EDS in EBSD. Predlagana rešitev vključuje postajo wit FEG elektronski top in Ga+ ion vir._x000D_ Poleg vključitve tehnike, ki je prisotna v najsodobnejših, vrhunskih, EM objektov in prispeva k razširitvi portfelja storitev, so glavni cilji tega ključnega predloga za DME-UCA naslednji: 1) zagotoviti stalno, visoko kakovostno storitev za uporabnike DME-UCA, ki zahtevajo analizo mikroskopije Scanning Electron; 2) Vključevanje novih tehnik, ki trenutno niso na voljo v DME-UCA, kot je difrakcija z elektronskim ozadjem ali tomografija FIB; 3) odprtje nove storitve elektronske prozorne STEM-prozorne priprave materialov in naprav s strani FIB; 4) Razvoj edinstvene karakterizacijske storitve z vključitvijo drugega predlaganega dvojnega žarka, ki so ga že razvili raziskovalci DME-UCA za katodeluminiscenčne poskuse v Scanning Microscope._x000D_ Nova oprema bi utrdila položaj DME-UCA na nacionalni in mednarodni ravni. (Slovenian)
4 August 2022
0 references
Настоящото предложение има за цел да замени микроскопа за сканиране на трансмисионния микроскоп на FEI Quanta 200 в отдела за микроскопия по електрон на Университета в Кадис с двойна греда или кръстосана греда, която позволява да се модернизират настоящите възможности на това съоръжение и същевременно да се включат нови аналитични инструменти. Сред по-късните цели ще бъде да се добавят към основните електронни изображения и TEM/STEM ламела възможности за подготовка на този тип оборудване тези на 3D структурна и композиционна реконструкция от FIB томография, EDS и EBSD. Предложеното решение включва станция с електрон пистолет FEG и източник Ga+ йони._x000D_ Освен че включва техника, която присъства в най-модерните, най-високо ниво, EM съоръжения и допринася за разширяване на портфолиото от услуги, основните цели на това ключово предложение за DME-UCA са следните: 1) За да се гарантира непрекъснато, високо качество, обслужване на потребителите на DME-UCA, изискващи сканиране Electron Microscopy анализ; 2) Включване на нови техники в момента недостъпни в DME-UCA, като Electron Backscattered дифракция или FIB томография; 3) Откриване на нова услуга за електронно-прозрачна подготовка на STEM проби от материали и устройства от FIB; 4) Разработване на уникална услуга за характеризиране чрез включване на предложените Dual Beam други вече разработени от DME-UCA изследователи за катоделуминесцентни експерименти в сканиращ микроскоп._x000D_ Новото оборудване ще консолидира позицията на DME-UCA както на национално, така и на международно ниво. (Bulgarian)
4 August 2022
0 references
Din il-proposta għandha l-għan li tissostitwixxi l-FEI Quanta 200 Scanning Transmission Microscope fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija tal-Elettron tal-Università ta’ Cádiz bi stazzjon ta’ Riga Doppju, jew Cross Beam, li jippermetti t-titjib tal-kapaċitajiet attwali ta’ din il-Faċilità u, fl-istess ħin, jinkorpora għodod analitiċi ġodda. Fost l-aktar tard, l-għan ikun iż-żieda mal-immaġni bażika tal-elettroni u l-kapaċitajiet ta’ tħejjija tal-lamella TEM/STEM ta’ dan it-tip ta’ tagħmir dawk tar-rikostruzzjoni strutturali u tal-kompożizzjoni 3D permezz tat-tomografija FIB, l-EDS u l-EBSD. Is-soluzzjoni proposta tinvolvi stazzjon wit FEG electron gun u Ga+ ion source._x000D_ Apparti mill-inkorporazzjoni ta’ teknika li hija preżenti fil-faċilitajiet l-aktar moderni, tal-ogħla livell, tal-EM u li tikkontribwixxi għat-tkabbir tal-portafoll tas-servizz, l-għanijiet ewlenin ta’ din il-proposta ewlenija għal DME-UCA huma dawn li ġejjin: 1) Biex jiggarantixxu servizz kontinwu, ta ‘kwalità għolja għall-utenti DME-UCA li jeħtieġu analiżi tal-Mikroskopija tal-Elettron Scanning; 2) L-inkorporazzjoni ta’ tekniki ġodda li bħalissa mhumiex disponibbli f’DME-UCA, bħal Diffrazzjon b’Restituzzjoni ta’ Elettron jew tomografija FIB; 3) Il-ftuħ ta ‘servizz ġdid ta’ preparazzjoni ta ‘kampjun STEM elettro-trasparenti ta’ materjali u apparat minn FIB; 4) L-iżvilupp ta ‘servizz ta’ karatterizzazzjoni uniku billi jinkorpora l-Beam Dual proposta oħra diġà żviluppati minn riċerkaturi DME-UCA għal esperimenti Cathodeluminescence fi Scanning Microscope._x000D_ It-tagħmir il-ġdid jikkonsolida l-pożizzjoni ta ‘DME-UCA kemm fil-livelli nazzjonali u internazzjonali. (Maltese)
4 August 2022
0 references
Esta proposta visa substituir o microscópio de transmissão de varrimento FEI Quanta 200 na Divisão de Microscopia Eletrónica da Universidade de Cádis por uma estação de feixe duplo, ou feixe cruzado, que permite atualizar as capacidades atuais desta instalação e, ao mesmo tempo, incorporar novas ferramentas analíticas. Entre os últimos, o objetivo seria adicionar às capacidades básicas de imagem de elétrons e de preparação de lamelas TEM/STEM deste tipo de equipamento as de reconstrução estrutural e de composição 3D por tomografia FIB, EDS e EBSD. A solução proposta envolve uma estação com canhão de electrões FEG e fonte de iões Ga+._x000D_ Além de incorporar uma técnica que está presente nas instalações EM mais modernas e de nível superior e contribuir para o alargamento do portefólio de serviços, os principais objectivos desta proposta-chave para o DME-UCA são os seguintes: 1) Garantir um serviço contínuo e de alta qualidade aos utilizadores de DME-UCA que necessitem de análise por Microscopia Eletrónica de Varrimento; 2) Incorporar novas técnicas atualmente indisponíveis no DME-UCA, como a Difração Retrodifundida por Elétrons ou a tomografia por FIB; 3) Abertura de um novo serviço de preparação de amostras STEM transparente a electrões de materiais e dispositivos pela FIB; 4) Desenvolver um serviço de caracterização único incorporando ao proposto Dual Beam outros já desenvolvidos por investigadores da DME-UCA para experiências de Catodeluminescência num Microscópio de Varredura._x000D_ O novo equipamento consolidaria a posição da DME-UCA a nível nacional e internacional. (Portuguese)
4 August 2022
0 references
Dette forslag har til formål at erstatte FEI Quanta 200 Scanning Transmission Microscope ved Electron Microscopy Division of the University of Cádiz med en station med Dual Beam eller Cross Beam, som gør det muligt at opgradere denne facilitets nuværende kapacitet og samtidig indarbejde nye analytiske værktøjer. Blandt de senere, målet ville være at tilføje til den grundlæggende elektron billeddannelse og TEM/STEM lamella forberedelse kapaciteter af denne type udstyr dem af 3D struktur og sammensætning rekonstruktion ved FIB tomografi, EDS og EBSD. Den foreslåede løsning indebærer en station med FEG elektronpistol og Ga+ ion source._x000D_ Bortset fra at indarbejde en teknik, der er til stede i de fleste moderne, øverste niveau, EM faciliteter og bidrage til at udvide serviceporteføljen, de vigtigste mål for dette centrale forslag til DME-UCA er følgende: 1) For at garantere en løbende, høj kvalitet, service til DME-UCA-brugere, der kræver Scanning Electron Microscopy analyse; 2) Inkorporering af nye teknikker, der i øjeblikket ikke er tilgængelige på DME-UCA, såsom Electron Backscattered Diffraction eller FIB-tomografi; 3) Åbning af en ny tjeneste af elektron-gennemsigtig STEM prøve forberedelse af materialer og udstyr af FIB; 4) Udvikling af en unik karakterisering tjeneste ved at indarbejde i den foreslåede Dual Beam andre allerede udviklet af DME-UCA forskere til kathodeluminescens eksperimenter i et Scanning Microscope._x000D_ Det nye udstyr ville konsolidere positionen af DME-UCA på både nationalt og internationalt plan. (Danish)
4 August 2022
0 references
Prezenta propunere vizează înlocuirea Microscopului de transmisie de scanare FEI Quanta 200 de la Divizia Microscopie Electron a Universității din Cádiz cu o stație cu dublă fascicul sau Cross Beam, care permite modernizarea capacităților actuale ale acestei facilități și, în același timp, încorporarea de noi instrumente analitice. Printre cele mai recente, obiectivul ar fi adăugarea la imagistica electronică de bază și capacitățile de pregătire TEM/STEM lamella ale acestui tip de echipamente cele de reconstrucție structurală și compoziție 3D prin tomografie FIB, EDS și EBSD. Soluția propusă implică o stație cu tun electronic FEG și Ga+ ion source._x000D_ În afară de încorporarea unei tehnici care este prezentă în cele mai moderne, de nivel superior, facilități EM și care contribuie la extinderea portofoliului de servicii, obiectivele majore ale acestei propuneri cheie pentru DME-UCA sunt următoarele: 1) Pentru a garanta un serviciu continuu, de înaltă calitate, pentru utilizatorii DME-UCA care necesită analiza Microscopiei Electron Scanning; 2) Încorporarea de noi tehnici indisponibile în prezent la DME-UCA, cum ar fi Diffracția Electron Backscattered sau tomografia FIB; 3) Deschiderea unui nou serviciu de pregătire a eșantioanelor STEM transparente la electroni de materiale și dispozitive de către FIB; 4) Dezvoltarea unui serviciu unic de caracterizare prin încorporarea la proiectul Dual Beam, deja dezvoltat de cercetătorii DME-UCA pentru experimente de catodeluminescență într-un Microscop de scanare._x000D_ Noul echipament ar consolida poziția DME-UCA atât la nivel național, cât și la nivel internațional. (Romanian)
4 August 2022
0 references
Detta förslag syftar till att ersätta FEI Quanta 200 Scanning Transmission Microscope vid Electron Microscopy Division vid University of Cádiz med en station med dubbla strålar, eller Cross Beam, som gör det möjligt att uppgradera anläggningens nuvarande kapacitet och samtidigt införliva nya analysverktyg. Bland de senare skulle målet vara att lägga till den grundläggande elektronavbildning och TEM/STEM lamella förberedelse kapacitet för denna typ av utrustning de av 3D struktur och sammansättning rekonstruktion av FIB tomografi, EDS och EBSD. Den föreslagna lösningen innebär en station med FEG elektronpistol och Ga+ ion source._x000D_ Förutom att införliva en teknik som finns i de flesta moderna, toppnivå, EM-anläggningar och bidrar till att utöka tjänsteportföljen, är de viktigaste målen för detta viktiga förslag för DME-UCA följande: 1) För att garantera en kontinuerlig, hög kvalitet, service till DME-UCA-användare som kräver Scanning Electron Microscopy analys; 2) Inkorporera ny teknik som för närvarande inte finns tillgänglig på DME-UCA, såsom Electron Backscattered Diffraction eller FIB-tomografi; 3) Öppna en ny tjänst av elektrontransparent STEM provberedning av material och anordningar av FIB; 4) Utveckla en unik karakteriseringstjänst genom att införliva till den föreslagna Dual Beam andra som redan utvecklats av DME-UCA forskare för Cathodeluminescence experiment i ett Scanning Microscope._x000D_ Den nya utrustningen skulle konsolidera positionen för DME-UCA på både nationell och internationell nivå. (Swedish)
4 August 2022
0 references
Puerto Real
0 references
20 December 2023
0 references
Identifiers
EQC2018-004113-P
0 references