Nanokaracterisation laboratory for the development of new advanced materials (Q3958253)

Az ELTE Műszerközpontja keretében 5 éve működik egy, az anyagtudomány és alkalmazott anyagkutatás szempontjából igen fontos pásztázó elektronmikroszkóp (SEM), amely a hagyományos kb. 2 nm-es felbontású pásztázó üzemmódon kívül rendelkezik még több a minta felületi összetételének, lokális orientációjának, stb. meghatározásához szükséges detektorral is. Emellett egybe van építve egy fókuszált ionsugaras porlasztóval (FIB) amely lehetővé teszi a nanométeres skálán felületi struktúrák kialakítását, és azt is, hogy rétegek eltávolításával egy 3D képet alkothassunk a mikroszerkezetről. A berendezést széles körben használja az ELTE TTK Fizikai, Kémiai, Földtudományi és a Biológiai Intézete, valamint megbízási munkákon keresztül számos külső hazai és külföldi (ausztriai, francia, szlovák, német…stb) kutatóintézet ill. kutatás fejlesztéssel foglalkozó kis és közepes vállalkozás. Ugyanakkor számos anyagtudományban fellépő, alapkutatáshoz kapcsolódó probléma korszerű vizsgálatához a SEM által elérhető térbeli felbontást ki kell terjeszteni a kisebb atomi (0.1nm) skálájú és a nagyobb (szubmikron, mikrométers) méretű tartományokba is. Az infrastrukturális beruházás szempontjából a projekt legfontosabb célkitűzése az, hogy az ELTE TTK eddig rendelkezésre álló mikroszerkezetvizsgáló kapacitás felbontóképességét mind a két irányba kiterjesszük. Ezzel megtartani, illetve a jövőben növelni kívánjuk a Magyarország jelentős szerepét a fizikában, az anyagtudományi kutatásokban. Beszerezni tervezünk egy korszerű AFM/STM berendezést, amely lehetővé teszi felületi morfológiák atomi skálán történő megjelenítését több különböző módon mint pl. atomerő (AFM), alagút áram (STM) és mágneses kölcsönhatás. Emellett a berendezés képes a hagyományos nanokeménység mérő berendezéseknél kisebb skálán in-situ dinamikus keménység (benyomódás) mérésre. Ez többek között vékonyrétegek, nanoszerkezetű anyagok mechanikai tulajdonságának meghatározására ad módot. Az AFM/STM és in-situ benyomódás mérés kombinációja új távlatokat nyitna a többoldalú vizsgálatok elvégzésében, az alapvető anyagtudományi jelenségek tanulmányozásában. A másik tervezett beruházás egy korszerű diffrakciós optikával, detektorral ill. mintamozgató egységgel felszerelt röntgen diffraktométer. Amellett, hogy a berendezés alkalmas rutinszerűnek tekinthető pordiffrakciós mérésekre legnagyobb előnye, hogy képes nagy pontossággal igen jó jel/zaj viszony mellett a diffrakciós Bragg csúcsok alakjának precíziós meghatározására. A Bragg csúcsok kiszélesedését a kristályban jelen levő különböző típusú kristályhibák okozzák. Jelentős mértékű kiszélesedést a vonalszerű kristályhiba (diszlokációk), a rétegződési hiba, valamint a véges (elsősorban a 100 nm alatti) szemcseméret okoz. Az un. röntgen vonalprofil analízis (RVA) során a csúcs alakjának, valamint aszimptotikus lecsengésének precíziós analízisével meghatározható a szemcseméret eloszlás néhány fontos paramétere, a diszlokációk sűrűsége, annak térbeli fluktuációjának mértéke, valamint a rétegződési hiba sűrűsége. A módszer kifejlesztésének és alkalmazásának az témavezető tanszékén (ELTE Anyagfizikai Tanszék) hosszú évtizedekre visszatekintő hagyományai vannak. A kiértékelés alapját jelentős részben a témavezető által kidolgozott általános elmélet jelenti. A Tanszéken került kidolgozásra a világ több laboratóriumában is használt általános célú profil kiértékelési algoritmus is. Emellett az elmúlt három évtizedben konkrét rendszereken nagyszámú vizsgálat született, amelyek eredményeit a szakterület vezető folyóirataiban publikáltuk. Ezek a vizsgálatok kiterjedt nemzetközi együttműködésben történnek. A Tanszék két mintegy 50 PhD hallgató részvételével megvalósuló nemzetközi doktori szemináriumot is rendezett az elmúlt 5 évben. Tehát a Tanszék a vonalprofil analízis egyik meghatározó laboratóriuma. Ugyanakkor a jelenleg rendelkezésre álló röntgen berendezések rendkívül elavultak, karbantartásuk mára szinte lehetetlenné vált. Ez még fokozottabban igaz a röntgen detektorokra. A tervezett beszerzéssel egy korszerű nagy pontosságú vonalprofil méréseket lehető tevő berendezés állna rendelkezésre. Megjegyezzük még, hogy a diffraktométert a Kémia és a Földtudományi Intézet munkatársai is használnák rácsparaméter és szemcseméret meghatározására. Habár a tervezett beruházások nagyszámú, igen széles skálájú kutatáshoz nyújtanak segítséget, az alábbiakban részletesebben kitérünk 4 olyan projektre, amelyek unikálisak és feltétlenül biztosítják azt, hogy a berendezésekkel a világ élvonalába tartozó kutatások folyjanak. Mikrooszlopok deformációs tulajdonságainak vizsgálata, deformációs lavinák, képlékeny instabilitások: A technikai fejlődésnek köszönhetően mind az anyagfejlesztésben, mind a vizsgálati módszerekben új lehetőségek nyílnak nano- és szubmikron méretű kristályos anyagok előállításában és az azokban lejátszódó képlékeny deformációjának nanoskálán történő nyomon követésében. Az utóbbi évek során kiderült, hogy a mikronos mérettarto (Hungarian)

0 references

In the framework of ELTE’s Instrument Centre, a scanning electron microscope (SEM), which is very important for material science and applied material research, has been operating for 5 years, which, in addition to the traditional scanning mode with a resolution of about 2 nm, has more detectors to determine the surface composition, local orientation, etc. of the sample. In addition, it is combined with a focused ion beam carburettor (FIB) that allows the creation of surface structures on the nanometer scale and the ability to create a 3D image of the microstructure by removing layers. The equipment is widely used by the Institute of Physics, Chemistry, Earth Sciences and Biology of ELTE TTK, as well as through commissioning work by many foreign and foreign (Austrian, French, Slovak, German...etc) research institutes and small and medium-sized enterprises involved in research development. At the same time, for an up-to-date examination of a number of fundamental research problems in material science, the spatial resolution that SEM can achieve must be extended to smaller atomic (0.1nm) scales and larger (submicron, micrometer) ranges. From the point of view of the infrastructure investment, the main objective of the project is to extend the resolution capacity of the existing microstructure testing capacity of ELTE TTK in both directions. In doing so, we intend to maintain and increase the important role of Hungary in physics and material science research. We plan to acquire a modern AFM/STM equipment that allows surface morphologies to be displayed on an atomic scale in a variety of ways such as atomic power (AFM), tunnel current (STM) and magnetic interaction. In addition, the equipment is capable of measuring in-situ dynamic hardness on a smaller scale than conventional nanohardness measurement equipment. This allows, among other things, the determination of the mechanical properties of thin films and nanostructured materials. The combination of AFM/STM and in-situ penetration measurement would open up new perspectives for conducting multilateral studies, studying fundamental material science phenomena. Another planned investment is an X-ray diffractometer equipped with a modern diffraction optics, detector or sample movement unit. In addition to the fact that the equipment is suitable for routine dust diffraction measurements, its greatest advantage is its ability to accurately determine the shape of the diffraction Bragg peaks under a very good signal/noise relationship. The widening of Bragg peaks is caused by different types of crystal defects present in the crystal. Significant expansion is caused by linear crystal defects (dislocations), stratification error and finite particle size (mainly below 100 nm). A precision analysis of the shape of the peak and its asymptotic finish during the X-ray Line Profile Analysis (RVA) determines some important parameters of particle size distribution, the density of dislocations, its spatial fluctuation, and the density of the stratification error. The development and application of the method has long-lasting traditions in the field department (ELTE Department of Materials Physics). To a large extent, the evaluation is based on the general theory developed by the supervisor. The General Purpose Profile Assessment algorithm, which is used in several laboratories around the world, has also been developed in the Department. In addition, over the past three decades, a large number of studies have been carried out on specific systems, the results of which have been published in the leading journals in the field. These investigations are carried out in extensive international cooperation. The Department has also organised two international doctoral seminars with the participation of about 50 PhD students over the past 5 years. So the Department is one of the determining laboratories for line profile analysis. At the same time, the X-ray equipment currently available is extremely outdated and has become almost impossible to maintain. This is even more true for X-ray detectors. With the planned procurement, a modern high-precision line profile measurement system would be available. It should also be noted that the diffractometer would also be used by staff of the Institute of Chemistry and Earth Sciences to determine grid parameters and grain size. Although the planned investments will support a large number of very wide-ranging research, 4 projects that are uninical and absolutely ensure that the equipment is conducted at the world’s leading level are discussed in more detail below. Examination of the deformation properties of microcolumns, deformation avalanches, plastic instability: Thanks to technical progress, new possibilities for the production of nano- and submicron-sized crystalline materials and the monitoring of their plastic deformation on the nanoscale can be created in both material development and test methods. In recent years, it has been reve... (English)

point in time

9 February 2022

readability score

0.5703817942992131

0 references

Dans le cadre du Centre d’instruments d’ELTE, un microscope électronique à balayage (SEM), qui est très important pour la science des matériaux et la recherche sur les matériaux appliqués, fonctionne depuis 5 ans, qui, en plus du mode de balayage traditionnel avec une résolution d’environ 2 nm, dispose de plus de détecteurs pour déterminer la composition de surface, l’orientation locale, etc. de l’échantillon. En outre, il est combiné avec un carburateur à faisceau ionique focalisé (FIB) qui permet la création de structures de surface à l’échelle du nanomètre et la possibilité de créer une image 3D de la microstructure en enlevant les couches. L’équipement est largement utilisé par l’Institut de physique, de chimie, de sciences de la Terre et de biologie de l’ELTE TTK, ainsi que par la mise en service de nombreux instituts de recherche étrangers et étrangers (autrichiens, français, slovaques, allemands...etc) et de petites et moyennes entreprises impliquées dans le développement de la recherche. Dans le même temps, pour un examen à jour d’un certain nombre de problèmes de recherche fondamentale en science des matériaux, la résolution spatiale que le SEM peut obtenir doit être étendue à de plus petites échelles atomiques (0,1 nm) et à des plages plus grandes (submicron, micromètre). Du point de vue de l’investissement dans l’infrastructure, l’objectif principal du projet est d’étendre la capacité de résolution de la capacité d’essai de microstructure existante d’ELTE TTK dans les deux sens. Ce faisant, nous avons l’intention de maintenir et d’accroître le rôle important de la Hongrie dans la recherche en physique et en sciences des matériaux. Nous prévoyons d’acquérir un équipement AFM/STM moderne qui permet d’afficher les morphologies de surface à l’échelle atomique de diverses façons telles que la puissance atomique (AFM), le courant tunnel (STM) et l’interaction magnétique. En outre, l’équipement est capable de mesurer la dureté dynamique in situ à une plus petite échelle que l’équipement conventionnel de mesure de la nanodureté. Cela permet, entre autres, la détermination des propriétés mécaniques des films minces et des matériaux nanostructurés. La combinaison de l’AFM/STM et de la mesure de pénétration in situ ouvrirait de nouvelles perspectives pour la réalisation d’études multilatérales et l’étude des phénomènes fondamentaux de la science des matériaux. Un autre investissement prévu est un diffractomètre à rayons X équipé d’une optique de diffraction moderne, d’un détecteur ou d’une unité de mouvement d’échantillons. En plus du fait que l’équipement est adapté aux mesures de diffraction des poussières de routine, son plus grand avantage est sa capacité à déterminer avec précision la forme des pics de diffraction Bragg sous une très bonne relation signal/bruit. L’élargissement des pics de Bragg est causé par différents types de défauts de cristal présents dans le cristal. L’expansion significative est causée par des défauts linéaires de cristal (dislocations), une erreur de stratification et la taille des particules finies (principalement inférieures à 100 nm). Une analyse de précision de la forme du pic et de sa finition asymptotique au cours de l’analyse du profil de la ligne de rayons X (RVA) détermine certains paramètres importants de la répartition de la taille des particules, de la densité des dislocations, de sa fluctuation spatiale et de la densité de l’erreur de stratification. Le développement et l’application de la méthode ont des traditions durables dans le département de terrain (ELTE Department of Materials Physics). Dans une large mesure, l’évaluation est fondée sur la théorie générale développée par le superviseur. L’algorithme d’évaluation du profil à des fins générales, qui est utilisé dans plusieurs laboratoires du monde entier, a également été développé au Ministère. En outre, au cours des trois dernières décennies, un grand nombre d’études ont été réalisées sur des systèmes spécifiques, dont les résultats ont été publiés dans les principales revues du domaine. Ces enquêtes sont menées dans le cadre d’une vaste coopération internationale. Le Département a également organisé deux séminaires de doctorat internationaux avec la participation d’une cinquantaine d’étudiants au doctorat au cours des cinq dernières années. Le Ministère est donc l’un des laboratoires déterminants pour l’analyse des profils de ligne. Dans le même temps, l’équipement de radiographie actuellement disponible est extrêmement obsolète et est devenu presque impossible à entretenir. C’est encore plus vrai pour les détecteurs à rayons X. Avec l’approvisionnement prévu, un système moderne de mesure de profil de ligne de haute précision serait disponible. Il convient également de noter que le diffractomètre serait également utilisé par le personnel de l’Institut de chimie et de sciences de la Terre pour déterminer les paramètres de la grille et la taille des grains. Bien que les investissements prévus soutie... (French)

point in time

10 February 2022

0 references

ELTE instrumendikeskuse raames on 5 aastat tegutsenud skaneeriv elektronmikroskoop (SEM), mis on materjaliteaduse ja rakendusmaterjalide uurimise jaoks väga oluline, millel on lisaks tavapärasele skaneerimisrežiimile, mille lahutusvõime on umbes 2 nm, rohkem detektoriid, et määrata proovi pinna koostis, kohalik orientatsioon jne. Lisaks sellele on see kombineeritud fokuseeritud ioonkiire karburaatoriga (FIB), mis võimaldab luua nanomeetri skaalal pindstruktuure ja võime luua kihtide eemaldamise teel mikrostruktuurist 3D-kujutise. Seadmeid kasutab laialdaselt ELTE TTK Füüsika, Keemia, Maateaduste ja Bioloogia Instituut, samuti paljude välis- ja välismaiste (Austria, Prantsusmaa, Slovakkia, Saksamaa...jne) uurimisinstituutide ning väikeste ja keskmise suurusega ettevõtete poolt, kes tegelevad teadusuuringute arendamisega. Samal ajal tuleb materjaliteaduse alusuuringute mitme probleemi ajakohaseks uurimiseks laiendada ruumilist resolutsiooni, mida SEM võib saavutada, väiksematele aatomiskaaladele (0,1 nm) ja suurematele (submikron, mikromeeter) vahemikele. Taristuinvesteeringute seisukohast on projekti peamine eesmärk laiendada ELTE TTK olemasoleva mikrostruktuuri katsetamise suutlikkuse lahutusvõimet mõlemas suunas. Seda tehes kavatseme säilitada ja suurendada Ungari olulist rolli füüsika- ja materjaliuuringutes. Meil on kavas omandada kaasaegne AFM/STM seadmed, mis võimaldavad pinna morfoloogiaid aatomskaalal kuvada erinevatel viisidel, nagu aatomvõimsus (AFM), tunnelivool (STM) ja magnetiline koostoime. Lisaks on seadmed võimelised mõõtma in situ dünaamilist kõvadust väiksemas ulatuses kui tavalised nanokõvaduse mõõtmise seadmed. See võimaldab muu hulgas määrata õhukeste kilede ja nanostruktuuriga materjalide mehaanilisi omadusi. AFM/STMi ja kohapealse läbitavuse mõõtmise kombinatsioon looks uusi väljavaateid mitmepoolsete uuringute läbiviimiseks, materjaliteaduse põhinähtuste uurimiseks. Teine kavandatav investeering on röntgendifraktomeeter, mis on varustatud kaasaegse difraktsiooni optika, detektori või proovi liikumise üksusega. Lisaks sellele, et seade sobib rutiinseks tolmu difraktsiooni mõõtmiseks, on selle suurim eelis selle võime täpselt määrata difraktsiooni Bragg piikide kuju väga hea signaali/müra suhte all. Braggi piikide laienemine on tingitud kristalliseerunud eri tüüpi kristallide defektidest. Märkimisväärset laienemist põhjustavad lineaarkristallide defektid (dislokatsioonid), kihistusviga ja piiratud osakeste suurus (peamiselt alla 100 nm). Piigi kuju ja asümptootilise viimistluse täpne analüüs röntgenikiirguse profiili analüüsi (RVA) käigus määrab kindlaks mõned olulised parameetrid osakeste suuruse jaotusest, nihestustihedusest, selle ruumilisest kõikumisest ja stratifitseerimisvea tihedusest. Meetodi väljatöötamisel ja rakendamisel on pikaajalised traditsioonid valdkonnas (ELTE Materjalide Füüsika osakond). Suures osas põhineb hindamine juhendaja väljatöötatud üldteoorial. Osakonnas on välja töötatud ka üldeesmärgi profiili hindamise algoritm, mida kasutatakse mitmes laboris üle kogu maailma. Lisaks on viimase kolme aastakümne jooksul läbi viidud suur hulk uuringuid konkreetsete süsteemide kohta, mille tulemused on avaldatud valdkonna juhtivates ajakirjades. Neid uurimisi viiakse läbi ulatusliku rahvusvahelise koostöö raames. Osakond on viimase 5 aasta jooksul korraldanud ka kaks rahvusvahelist doktoritöö seminari, kus osales umbes 50 doktoranti. Osakond on üks määravaid laboreid liiniprofiilide analüüsiks. Samal ajal on praegu saadaval olevad röntgeniseadmed äärmiselt vananenud ja on muutunud peaaegu võimatuks hooldada. See kehtib veelgi rohkem röntgeniandurite kohta. Kavandatud hankega oleks võimalik kasutada kaasaegset suure täpsusega liiniprofiili mõõtmise süsteemi. Samuti tuleb märkida, et difraktomeetrit kasutaksid ka keemia ja maateaduste instituudi töötajad, et määrata võrguparameetrid ja tera suurus. Kuigi kavandatud investeeringutega toetatakse paljusid väga laiaulatuslikke teadusuuringuid, käsitletakse allpool üksikasjalikumalt nelja projekti, mis on ebainiklikud ja tagavad täielikult, et seadmed viiakse läbi maailma juhtival tasandil. Mikrokolonnide, deformatsioonilaviinide ja plastilise ebastabiilsuse deformatsiooniomaduste uurimine: Tänu tehnika arengule on nii materjaliarenduse kui ka katsemeetodite puhul võimalik luua uusi võimalusi nano- ja submikrooniliste kristalliliste materjalide tootmiseks ning nende nanoskaalal plastdeformatsiooni jälgimiseks. Viimastel aastatel on see olnud reve... (Estonian)

point in time

13 August 2022

0 references

ELTE prietaisų centro sistemoje 5 metus veikia skenavimo elektronų mikroskopas (SEM), kuris yra labai svarbus medžiagų mokslui ir taikomųjų medžiagų tyrimams, kuris, be tradicinio skenavimo režimo, kurio skiriamoji geba yra apie 2 nm, turi daugiau detektorių mėginio paviršiaus sudėčiai, vietinei orientacijai ir kt. nustatyti. Be to, jis derinamas su koncentruotu jonų pluošto karbiuratoriumi (FIB), kuris leidžia sukurti paviršiaus struktūras nanometrų skalėje ir galimybę sukurti mikrostruktūros 3D vaizdą pašalinant sluoksnius. Įranga plačiai naudojama fizikos, chemijos, žemės mokslų ir biologijos instituto ELTE TTK, taip pat daugelio užsienio ir užsienio (Austrijos, Prancūzijos, Slovakijos, Vokietijos... ir kt.) mokslinių tyrimų institutų ir mažųjų bei vidutinių įmonių, dalyvaujančių mokslinių tyrimų plėtros veikloje, užsakant darbus. Tuo pat metu, siekiant atnaujinti daugelio fundamentinių tyrimų problemų materialiojo mokslo srityje tyrimą, erdvinė skiriamoji geba, kurią gali pasiekti SEM, turi būti išplėsta iki mažesnių atominių skalių (0,1 nm) ir didesnių (submikronų, mikrometrų) diapazonų. Investicijų į infrastruktūrą požiūriu pagrindinis projekto tikslas – išplėsti esamų ELTE TTK mikrostruktūrų testavimo pajėgumų pertvarkymo pajėgumus abiem kryptimis. Tai darydami ketiname išlaikyti ir padidinti svarbų Vengrijos vaidmenį fizikos ir medžiagų mokslo tyrimų srityje. Mes planuojame įsigyti modernią AFM/STM įrangą, kuri leidžia paviršiaus morfologiją rodyti atominėje skalėje įvairiais būdais, tokiais kaip atominė galia (AFM), tunelio srovė (STM) ir magnetinė sąveika. Be to, įranga gali matuoti in situ dinaminį kietumą mažesniu mastu nei įprasta nanokietumo matavimo įranga. Tai leidžia, be kita ko, nustatyti plonų plėvelių ir nanostruktūrinių medžiagų mechanines savybes. AFM/STM ir in situ skverbties matavimo derinys atvertų naujas perspektyvas daugiašaliams tyrimams, studijuojantiems fundamentaliųjų medžiagų mokslo reiškinius. Kita planuojama investicija – rentgeno spinduliuotės difrakcijos matuoklis su modernia difrakcijos optika, detektoriumi arba mėginio judėjimo įrenginiu. Be to, kad įranga tinka įprastiniams dulkių difrakcijos matavimams, jos didžiausias privalumas yra jos gebėjimas tiksliai nustatyti difrakcijos Bragg smailių formą labai geru signalo/triukšmo santykiu. Bragg viršūnių išsiplėtimą sukelia įvairių tipų kristalų defektai, esantys kristale. Reikšmingą išsiplėtimą lemia linijiniai kristalų defektai (dislokacijos), stratifikacijos paklaida ir baigtinių dalelių dydis (daugiausia mažesnis nei 100 nm). Smailės formos ir jos asimptotinės apdailos tikslumo analizė rentgeno linijos profilio analizės (RVA) metu nustato kai kuriuos svarbius dalelių dydžio pasiskirstymo parametrus, dislokacijų tankį, erdvinius svyravimus ir sluoksniavimo paklaidos tankį. Metodo kūrimas ir taikymas turi ilgalaikes tradicijas lauko skyriuje (ELTE Medžiagų fizikos katedra). Iš esmės vertinimas grindžiamas bendra priežiūros institucijos parengta teorija. Departamentas taip pat sukūrė Bendrosios paskirties profilio vertinimo algoritmą, kuris naudojamas keliose laboratorijose visame pasaulyje. Be to, per pastaruosius tris dešimtmečius atlikta daug konkrečių sistemų tyrimų, kurių rezultatai paskelbti svarbiausiuose šios srities žurnaluose. Šie tyrimai atliekami glaudžiai bendradarbiaujant tarptautiniu mastu. Departamentas taip pat surengė du tarptautinius doktorantūros seminarus, kuriuose dalyvavo apie 50 doktorantūros studentų per pastaruosius 5 metus. Taigi departamentas yra vienas iš nustatymo laboratorijų linijos profilio analizės. Tuo pačiu metu, rentgeno įranga šiuo metu yra labai pasenusi ir tapo beveik neįmanoma išlaikyti. Tai dar labiau pasakytina apie rentgeno detektorius. Planuojant viešuosius pirkimus būtų galima naudotis modernia didelio tikslumo linijos profilio matavimo sistema. Taip pat reikėtų pažymėti, kad difrakco matuoklį taip pat naudotų Chemijos ir žemės mokslų instituto darbuotojai, kad nustatytų tinklelio parametrus ir grūdų dydį. Nors planuojamomis investicijomis bus remiama daug labai plataus masto mokslinių tyrimų, toliau išsamiau aptariami 4 projektai, kurie yra neinalūs ir visiškai užtikrina, kad įranga būtų vykdoma pirmaujančiu pasaulio lygmeniu. Mikrokolonų deformacijos savybių, deformacijos lavinų, plastiko nestabilumo tyrimas: Dėl technikos pažangos kuriant medžiagas ir taikant bandymų metodus gali būti sukurtos naujos nano ir submikronų dydžio kristalinių medžiagų gamybos ir jų plastikinės deformacijos nanoskalėse stebėsenos galimybės. Pastaraisiais metais jis buvo iš naujo... (Lithuanian)

point in time

13 August 2022

0 references

Nel quadro del centro strumenti di ELTE, un microscopio elettronico a scansione (SEM), molto importante per la scienza dei materiali e la ricerca dei materiali applicati, funziona da 5 anni, che, oltre alla tradizionale modalità di scansione con una risoluzione di circa 2 nm, dispone di più rivelatori per determinare la composizione superficiale, l'orientamento locale, ecc. del campione. Inoltre, è combinato con un carburatore a fascio ionico focalizzato (FIB) che consente la creazione di strutture superficiali sulla scala nanometrica e la capacità di creare un'immagine 3D della microstruttura rimuovendo gli strati. L'attrezzatura è ampiamente utilizzata dall'Istituto di Fisica, Chimica, Scienze della Terra e Biologia di ELTE TTK, così come attraverso la messa in servizio di molti istituti di ricerca stranieri e stranieri (austriaco, francese, slovacco, tedesco... ecc) e piccole e medie imprese coinvolte nello sviluppo della ricerca. Allo stesso tempo, per un esame aggiornato di una serie di problemi di ricerca fondamentali nella scienza dei materiali, la risoluzione spaziale che il SEM può raggiungere deve essere estesa a scale atomiche (0,1nm) più piccole e a intervalli più ampi (submicron, micrometri). Dal punto di vista dell'investimento infrastrutturale, l'obiettivo principale del progetto è quello di estendere la capacità di risoluzione dell'attuale capacità di prova della microstruttura di ELTE TTK in entrambe le direzioni. In tal modo, intendiamo mantenere e aumentare l'importante ruolo dell'Ungheria nella ricerca in fisica e nella scienza dei materiali. Abbiamo in programma di acquisire una moderna apparecchiatura AFM/STM che consente di visualizzare le morfologie di superficie su scala atomica in vari modi come la potenza atomica (AFM), la corrente a tunnel (STM) e l'interazione magnetica. Inoltre, l'apparecchiatura è in grado di misurare la durezza dinamica in situ su scala minore rispetto alle apparecchiature convenzionali di misurazione della nanodurezza. Ciò consente, tra l'altro, la determinazione delle proprietà meccaniche dei film sottili e dei materiali nanostrutturati. La combinazione di AFM/STM e misurazione della penetrazione in situ aprirebbe nuove prospettive per condurre studi multilaterali, studiando i fenomeni fondamentali delle scienze materiali. Un altro investimento pianificato è un diffrattometro a raggi X dotato di un'ottica di diffrazione moderna, rivelatore o unità di movimento del campione. Oltre al fatto che l'apparecchiatura è adatta per le misurazioni di routine di diffrazione della polvere, il suo più grande vantaggio è la sua capacità di determinare con precisione la forma dei picchi di Bragg di diffrazione in un ottimo rapporto segnale/rumore. L'ampliamento dei picchi di Bragg è causato da diversi tipi di difetti di cristallo presenti nel cristallo. Un'espansione significativa è causata da difetti lineari cristallini (dislocazioni), errori di stratificazione e dimensioni delle particelle finite (principalmente al di sotto di 100 nm). Un'analisi di precisione della forma del picco e della sua finitura asintotica durante l'analisi del profilo di linea a raggi X (RVA) determina alcuni importanti parametri di distribuzione delle dimensioni delle particelle, la densità delle dislocazioni, la sua fluttuazione spaziale e la densità dell'errore di stratificazione. Lo sviluppo e l'applicazione del metodo ha tradizioni di lunga durata nel reparto di campo (ELTE Department of Materials Physics). In larga misura, la valutazione si basa sulla teoria generale sviluppata dal supervisore. L'algoritmo di valutazione del profilo di scopo generale, che viene utilizzato in diversi laboratori in tutto il mondo, è stato sviluppato anche nel dipartimento. Inoltre, negli ultimi trent'anni, sono stati effettuati numerosi studi su sistemi specifici, i cui risultati sono stati pubblicati nelle principali riviste del settore. Tali indagini sono condotte nell'ambito di un'ampia cooperazione internazionale. Il Dipartimento ha inoltre organizzato due seminari di dottorato internazionali con la partecipazione di circa 50 dottorandi negli ultimi 5 anni. Quindi il Dipartimento è uno dei laboratori determinanti per l'analisi del profilo di linea. Allo stesso tempo, l'apparecchiatura radiografica attualmente disponibile è estremamente obsoleta ed è diventata quasi impossibile da mantenere. Questo è ancora più vero per i rivelatori a raggi X. Con l'appalto previsto, sarebbe disponibile un moderno sistema di misurazione del profilo di linea ad alta precisione. Va inoltre notato che il diffractometro sarebbe utilizzato anche dal personale dell'Istituto di Chimica e Scienze della Terra per determinare i parametri della griglia e la dimensione del grano. Anche se gli investimenti previsti sosterranno un gran numero di ricerche di ampia portata, 4 progetti che sono indifferenti e garantiscono assolutamente che l'attrezzatura sia condotta al livello leader mondiale sono discussi più in dettaglio qui di segu... (Italian)

point in time

13 August 2022

0 references

U okviru ELTE-ova Instrumenta centra, skenirajući elektronski mikroskop (SEM), koji je vrlo važan za znanost o materijalima i primijenjena istraživanja materijala, djeluje već 5 godina, koji osim tradicionalnog načina skeniranja s rezolucijom od oko 2 nm, ima više detektora za određivanje sastava površine, lokalne orijentacije itd. uzorka. Osim toga, kombinira se s fokusiranim ionskim rasplinjačem (FIB) koji omogućuje stvaranje površinskih struktura na ljestvici nanometara i sposobnost stvaranja 3D slike mikrostrukture uklanjanjem slojeva. Opremu široko koristi Institut za fiziku, kemiju, znanost o Zemlji i biologiju ELTE TTK, kao i kroz rad mnogih stranih i stranih (austrijski, francuski, slovački, njemački... itd) istraživačkih instituta i malih i srednjih poduzeća uključenih u razvoj istraživanja. Istodobno, za ažurno ispitivanje niza temeljnih istraživačkih problema u znanosti o materijalima, prostorna rezolucija koju SEM može postići mora se proširiti na manje atomske (0,1nm) ljestvice i veće (submicron, mikrometarske) raspone. Sa stajališta ulaganja u infrastrukturu, glavni je cilj projekta proširenje kapaciteta sanacije postojećeg kapaciteta ispitivanja mikrostrukture ELTE TTK u oba smjera. Pritom namjeravamo zadržati i povećati važnu ulogu Mađarske u istraživanju fizike i znanosti o materijalima. Planiramo nabaviti modernu AFM/STM opremu koja omogućuje prikaz površinskih morfologija na atomskoj razini na različite načine kao što su atomska snaga (AFM), struja tunela (STM) i magnetska interakcija. Osim toga, oprema može mjeriti dinamičku tvrdoću in situ u manjoj mjeri od konvencionalne opreme za mjerenje nanotvrdnosti. To, između ostalog, omogućuje određivanje mehaničkih svojstava tankih filmova i nanostrukturiranih materijala. Kombinacija AFM/STM-a i in situ mjerenja penetracije otvorila bi nove perspektive za provođenje multilateralnih studija, proučavajući temeljne fenomene znanosti o materijalima. Još jedno planirano ulaganje je difraktometar X-zraka opremljen modernom difrakcijskom optikom, detektorom ili jedinicom za kretanje uzoraka. Osim činjenice da je oprema pogodna za rutinska mjerenja difrakcije prašine, njegova najveća prednost je njegova sposobnost da točno odredi oblik difrakcije Bragg vrhova pod vrlo dobrim odnosom signala/buke. Proširenje Braggovih vrhova uzrokovano je različitim vrstama kristalnih nedostataka prisutnih u kristalu. Značajno širenje uzrokovano je linearnim oštećenjima kristala (dislokacijama), stratifikacijama i konačnom veličinom čestica (uglavnom ispod 100 nm). Preciznom analizom oblika pika i njegove asimptotske obrade tijekom analize profila rendgenske linije (RVA) određuju se neki važni parametri raspodjele veličine čestica, gustoća dislokacija, prostorna fluktuacija i gustoća pogreške stratifikacije. Razvoj i primjena metode ima dugogodišnju tradiciju u odjelu na terenu (ELTE Odjel za fiziku materijala). Evaluacija se u velikoj mjeri temelji na općoj teoriji koju je razvio nadzornik. Algoritam za procjenu profila opće namjene, koji se koristi u nekoliko laboratorija diljem svijeta, također je razvijen u Odjelu. Osim toga, u protekla tri desetljeća proveden je velik broj studija o specifičnim sustavima, čiji su rezultati objavljeni u vodećim časopisima u tom području. Te se istrage provode u okviru opsežne međunarodne suradnje. Odjel je također organizirao dva međunarodna doktorska seminara na kojima je sudjelovalo oko 50 studenata doktora znanosti u proteklih 5 godina. Odjel je jedan od laboratorija za linijsku analizu profila. Istodobno, trenutno dostupna rendgenska oprema iznimno je zastarjela i postala je gotovo nemoguća za održavanje. To još više vrijedi za rendgenske detektore. S planiranom nabavom bio bi dostupan moderan sustav mjerenja profila linije visoke preciznosti. Također treba napomenuti da će difraktometar također koristiti osoblje Instituta za kemiju i znanost o Zemlji za određivanje parametara mreže i veličine zrna. Iako će planirana ulaganja podržati velik broj vrlo širokih istraživanja, u nastavku se detaljnije raspravlja o 4 projekta koji su neninični i apsolutno osiguravaju da se oprema provodi na vodećem svjetskom nivou. Ispitivanje svojstava deformacije mikrokolona, lavina deformacije, plastična nestabilnost: Zahvaljujući tehničkom napretku u razvoju materijala i metodama ispitivanja mogu se stvoriti nove mogućnosti za proizvodnju kristalnih materijala veličine nano i submikrona te praćenje njihove plastične deformacije na nanorazini. U posljednjih nekoliko godina, to je bio reve... (Croatian)

point in time

13 August 2022

0 references

Στο πλαίσιο του Κέντρου Οργάνων ΕΛΤΕ, λειτουργεί εδώ και 5 χρόνια ένα ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (SEM), το οποίο είναι πολύ σημαντικό για την επιστήμη των υλικών και την εφαρμοσμένη έρευνα υλικού, το οποίο, εκτός από την παραδοσιακή λειτουργία σάρωσης με ανάλυση περίπου 2 nm, διαθέτει περισσότερους ανιχνευτές για τον προσδιορισμό της επιφανειακής σύνθεσης, του τοπικού προσανατολισμού κ.λπ. του δείγματος. Επιπλέον, συνδυάζεται με ένα εστιασμένο εξαερωτήρα δέσμης ιόντων (FIB) που επιτρέπει τη δημιουργία επιφανειακών δομών στην κλίμακα των νανομέτρων και την ικανότητα δημιουργίας μιας τρισδιάστατης εικόνας της μικροδομής με την αφαίρεση στρωμάτων. Ο εξοπλισμός χρησιμοποιείται ευρέως από το Ινστιτούτο Φυσικής, Χημείας, Γης και Βιολογίας του ΕΛΤΕ ΤΤΚ, καθώς και μέσω της ανάθεσης εργασιών από πολλά ξένα και ξένα (Αυστριακά, Γαλλικά, Σλοβακικά, Γερμανικά... κ.λπ.) ερευνητικά ινστιτούτα και μικρομεσαίες επιχειρήσεις που ασχολούνται με την ανάπτυξη της έρευνας. Ταυτόχρονα, για μια ενημερωμένη εξέταση ορισμένων βασικών ερευνητικών προβλημάτων στην επιστήμη των υλικών, η χωρική ανάλυση που μπορεί να επιτύχει το SEM πρέπει να επεκταθεί σε μικρότερες ατομικές κλίμακες (0,1nm) και μεγαλύτερες (υπομικρόμετρο) κλίμακες. Από την άποψη της επένδυσης υποδομής, κύριος στόχος του έργου είναι η επέκταση της ικανότητας εξυγίανσης της υφιστάμενης δυναμικότητας δοκιμής μικροδομής της ΕΛΤΕ ΤΤΚ και προς τις δύο κατευθύνσεις. Με τον τρόπο αυτό, σκοπεύουμε να διατηρήσουμε και να αυξήσουμε τον σημαντικό ρόλο της Ουγγαρίας στην έρευνα της φυσικής και της επιστήμης των υλικών. Σχεδιάζουμε να αποκτήσουμε έναν σύγχρονο εξοπλισμό AFM/STM που επιτρέπει την εμφάνιση μορφολογιών επιφάνειας σε ατομική κλίμακα με ποικίλους τρόπους όπως η ατομική ισχύς (AFM), το ρεύμα σήραγγας (STM) και η μαγνητική αλληλεπίδραση. Επιπλέον, ο εξοπλισμός είναι ικανός να μετρά την επιτόπια δυναμική σκληρότητα σε μικρότερη κλίμακα από τον συμβατικό εξοπλισμό μέτρησης νανοσκληρότητας. Αυτό επιτρέπει, μεταξύ άλλων, τον προσδιορισμό των μηχανικών ιδιοτήτων των λεπτών μεμβρανών και των νανοδομημένων υλικών. Ο συνδυασμός της AFM/STM και της επιτόπιας μέτρησης διείσδυσης θα ανοίξει νέες προοπτικές για τη διεξαγωγή πολυμερών μελετών, μελετώντας θεμελιώδη επιστημονικά φαινόμενα των υλικών. Μια άλλη προγραμματισμένη επένδυση είναι ένα περίφραγμα ακτίνων Χ εξοπλισμένο με σύγχρονη οπτική περίθλαψη, ανιχνευτή ή μονάδα κίνησης δείγματος. Εκτός από το γεγονός ότι ο εξοπλισμός είναι κατάλληλος για μετρήσεις περίθλασης σκόνης ρουτίνας, το μεγαλύτερο πλεονέκτημά του είναι η ικανότητά του να καθορίζει με ακρίβεια το σχήμα των κορυφών της περίθλασης Bragg κάτω από μια πολύ καλή σχέση σήματος/θόρυβο. Η διεύρυνση των κορυφών Bragg προκαλείται από διαφορετικούς τύπους κρυσταλλικών ελαττωμάτων που υπάρχουν στον κρύσταλλο. Σημαντική επέκταση προκαλείται από γραμμικά ελαττώματα κρυστάλλου (εξαρθρώσεις), σφάλμα διαστρωμάτωσης και μέγεθος πεπερασμένου σωματιδίου (κυρίως κάτω των 100 nm). Μια ανάλυση ακρίβειας του σχήματος της κορυφής και του ασυμπτωτικού φινιρίσματος κατά τη διάρκεια της ανάλυσης προφίλ γραμμών ακτίνων Χ (RVA) καθορίζει ορισμένες σημαντικές παραμέτρους της κατανομής μεγέθους σωματιδίων, την πυκνότητα των εξαρθρώσεων, τη χωρική διακύμανση της και την πυκνότητα του σφάλματος διαστρωμάτωσης. Η ανάπτυξη και εφαρμογή της μεθόδου έχει μακροχρόνιες παραδόσεις στο τμήμα πεδίου (ΕΛΤΕ Τμήμα Φυσικής Υλικών). Σε μεγάλο βαθμό, η αξιολόγηση βασίζεται στη γενική θεωρία που ανέπτυξε ο επόπτης. Ο αλγόριθμος αξιολόγησης προφίλ γενικού σκοπού, ο οποίος χρησιμοποιείται σε διάφορα εργαστήρια σε όλο τον κόσμο, έχει επίσης αναπτυχθεί στο Τμήμα. Επιπλέον, κατά τη διάρκεια των τελευταίων τριών δεκαετιών, έχει πραγματοποιηθεί μεγάλος αριθμός μελετών σε συγκεκριμένα συστήματα, τα αποτελέσματα των οποίων έχουν δημοσιευθεί στα κορυφαία περιοδικά του τομέα. Οι έρευνες αυτές διεξάγονται στο πλαίσιο εκτεταμένης διεθνούς συνεργασίας. Το Τμήμα έχει επίσης διοργανώσει δύο διεθνή διδακτορικά σεμινάρια με τη συμμετοχή περίπου 50 διδακτορικών φοιτητών τα τελευταία 5 χρόνια. Έτσι, το Τμήμα είναι ένα από τα καθοριστικά εργαστήρια για την ανάλυση προφίλ γραμμής. Ταυτόχρονα, ο εξοπλισμός ακτίνων Χ που είναι διαθέσιμος επί του παρόντος είναι εξαιρετικά παρωχημένος και έχει καταστεί σχεδόν αδύνατο να διατηρηθεί. Αυτό ισχύει ακόμα περισσότερο για ανιχνευτές ακτίνων Χ. Με την προγραμματισμένη προμήθεια, θα ήταν διαθέσιμο ένα σύγχρονο σύστημα μέτρησης προφίλ γραμμής υψηλής ακρίβειας. Θα πρέπει επίσης να σημειωθεί ότι το περίφραγμα θα χρησιμοποιηθεί επίσης από το προσωπικό του Ινστιτούτου Χημείας και Επιστημών της Γης για τον καθορισμό των παραμέτρων του καννάβου και του μεγέθους του κόκκου. Παρά το γεγονός ότι οι σχεδιαζόμενες επενδύσεις θα στηρίξουν μεγάλο αριθμό πολύ ευρείας κλίμακας έρευνας, 4 σχέδια που είναι αντικειμενικά και εξασφαλίζουν απολύτως ότι ο εξοπλισμός διεξάγεται σε παγκόσμιο επίπεδο, εξετάζονται λεπτομερέστερα παρακάτω. Εξέταση των ιδιοτήτων παραμόρφωσης των μικροστήλων, χιονοστιβάδες παραμόρφωσης,... (Greek)

point in time

13 August 2022

0 references

V rámci prístrojového centra ELTE funguje skenovací elektrónový mikroskop (SEM), ktorý je veľmi dôležitý pre materiálovú vedu a aplikovaný výskum materiálov, už 5 rokov, ktorý okrem tradičného skenovacieho režimu s rozlíšením približne 2 nm má viac detektorov na určenie zloženia povrchu, miestnej orientácie atď. vzorky. Okrem toho sa kombinuje so zaostreným karburátorom iónového lúča (FIB), ktorý umožňuje vytvorenie povrchových štruktúr na stupnici nanometrov a schopnosť vytvoriť 3D obraz mikroštruktúry odstránením vrstiev. Zariadenie je široko používané Ústavom fyziky, chémie, vied o Zemi a biológie ELTE TTK, ako aj prostredníctvom zadania práce mnohých zahraničných a zahraničných (rakúskych, francúzskych, slovenských, nemeckých... atď.) výskumných ústavov a malých a stredných podnikov zapojených do vývoja výskumu. Na aktuálne preskúmanie viacerých základných výskumných problémov v oblasti vedy o materiáloch sa zároveň musí priestorové rozlíšenie, ktoré môže SEM dosiahnuť, rozšíriť na menšie atómové (0.1 nm) stupnice a väčšie (submikrrónové, mikrometrové) rozsahy. Z hľadiska investícií do infraštruktúry je hlavným cieľom projektu rozšírenie kapacity riešenia existujúcej kapacity testovania mikroštruktúry ELTE TTK v oboch smeroch. Týmto zámerom máme v úmysle zachovať a posilniť dôležitú úlohu Maďarska vo fyzike a výskume materiálovej vedy. Plánujeme získať moderné zariadenie AFM/STM, ktoré umožňuje zobrazovanie povrchových morfológií v atómovej škále rôznymi spôsobmi, ako je atómová energia (AFM), tunelový prúd (STM) a magnetická interakcia. Okrem toho je zariadenie schopné merať dynamickú tvrdosť in situ v menšom rozsahu ako bežné zariadenie na meranie nanotvrdosti. To okrem iného umožňuje určenie mechanických vlastností tenkých vrstiev a nanoštruktúrovaných materiálov. Kombináciou AFM/STM a merania penetrácie in situ by sa otvorili nové perspektívy na vykonávanie mnohostranných štúdií a štúdium fenoménov základných materiálových vied. Ďalšou plánovanou investíciou je röntgenový difraktometer vybavený modernou difrakčnou optikou, detektorom alebo pohybovou jednotkou vzorky. Okrem toho, že zariadenie je vhodné na bežné merania difrakcie prachu, jeho najväčšou výhodou je jeho schopnosť presne určiť tvar difrakčných píkov Bragg pod veľmi dobrým vzťahom signál/hluk. Rozšírenie píkov Bragg je spôsobené rôznymi typmi krištáľových defektov prítomných v kryštáli. Významnú expanziu spôsobujú lineárne kryštálové defekty (dislokácie), chyba stratifikácie a konečná veľkosť častíc (hlavne pod 100 nm). Presná analýza tvaru píku a jeho asymptotickej úpravy počas analýzy profilu röntgenovej línie (RVA) určuje niektoré dôležité parametre rozdelenia veľkosti častíc, hustoty dislokácií, jeho priestorových výkyvov a hustoty chyby stratifikácie. Vývoj a aplikácia metódy má dlhotrvajúce tradície v odbore (ELTE Katedra fyziky materiálov). Hodnotenie je do veľkej miery založené na všeobecnej teórii vypracovanej dozorným orgánom. V odbore bol vyvinutý aj algoritmus hodnotenia profilu všeobecného účelu, ktorý sa používa v niekoľkých laboratóriách po celom svete. Okrem toho sa za posledné tri desaťročia uskutočnilo veľké množstvo štúdií o špecifických systémoch, ktorých výsledky boli uverejnené v popredných časopisoch v tejto oblasti. Tieto vyšetrovania sa vykonávajú v rozsiahlej medzinárodnej spolupráci. Oddelenie tiež zorganizovalo dva medzinárodné doktorandské semináre za posledných 5 rokov za účasti približne 50 doktorandov. Takže oddelenie je jedným z určujúcich laboratórií pre analýzu profilu linky. V súčasnosti dostupné röntgenové zariadenie je zároveň mimoriadne zastarané a je takmer nemožné ho udržiavať. To platí ešte viac pre röntgenové detektory. S plánovaným obstarávaním by bol k dispozícii moderný vysoko presný systém merania profilu. Treba tiež poznamenať, že difraktometer by používali aj zamestnanci Inštitútu chémie a vied o Zemi na určenie parametrov mriežky a veľkosti zrna. Hoci plánované investície podporia veľký počet veľmi rozsiahleho výskumu, 4 projekty, ktoré sú neinické a absolútne zabezpečujú, aby sa zariadenie vykonávalo na poprednej svetovej úrovni, sú podrobnejšie opísané nižšie. Preskúmanie deformačných vlastností mikrostĺpcov, deformačných lavín, plastickej nestability: Vďaka technickému pokroku je možné vytvoriť nové možnosti výroby kryštalických materiálov s nano- a submikrrónovou veľkosťou a monitorovania ich plastickej deformácie na nanoúrovni, a to tak vo vývoji materiálov, ako aj v testovacích metódach. V posledných rokoch, to bolo reve... (Slovak)

point in time

13 August 2022

0 references

ELTE:n instrumenttikeskuksen puitteissa on ollut viisi vuotta käytössä oleva skannauselektronimikroskooppi (SEM), joka on erittäin tärkeä materiaalitieteelle ja soveltavalle materiaalitutkimukselle ja jossa on perinteisen skannauksen lisäksi noin 2 nm:n resoluutiolla enemmän ilmaisimia näytteen pinnan koostumuksen, paikallisen suuntautumisen jne. määrittämiseksi. Lisäksi se yhdistetään keskittynyt ionisuihku kaasutin (FIB), joka mahdollistaa luoda pintarakenteita nanometrin mittakaavassa ja kyky luoda 3D-kuva mikrorakenteesta poistamalla kerroksia. Laitteita käytetään laajalti instituutin fysiikan, kemian, Maan tieteiden ja biologian ELTE TTK, sekä tilaamalla työtä monet ulkomaiset ja ulkomaiset (Itävalta, Ranska, Slovakia, Saksa... jne) tutkimuslaitokset ja pienet ja keskisuuret yritykset osallistuvat tutkimukseen. Jotta materiaalitieteen perustutkimusongelmia voitaisiin tarkastella ajan tasalla, SEM:n mahdollistamaa alueellista erotuskykyä on laajennettava pienempiin atomiasteikkoihin (0,1nm) ja suurempiin (submicron, mikrometrin) vaihteluväleihin. Infrastruktuuri-investointien kannalta hankkeen päätavoitteena on laajentaa ELTE TTK:n nykyisen mikrorakenteiden testauskapasiteetin kriisinratkaisukapasiteettia molempiin suuntiin. Tällä tavoin aiomme säilyttää Unkarin tärkeän roolin fysiikan ja materiaalitieteen tutkimuksessa ja lisätä sitä. Aiomme hankkia nykyaikaisen AFM/STM-laitteiston, joka mahdollistaa pintamorfologioiden näkymisen atomiasteikolla eri tavoin, kuten atomiteho (AFM), tunnelivirta (STM) ja magneettinen vuorovaikutus. Lisäksi laite pystyy mittaamaan in situ -dynaamista kovuutta pienemmässä mittakaavassa kuin tavanomaiset nanokovuuden mittauslaitteet. Tämä mahdollistaa muun muassa ohuiden kalvojen ja nanostrukturoitujen materiaalien mekaanisten ominaisuuksien määrittämisen. AFM/STM- ja in situ -penetraatiomittausten yhdistäminen avaa uusia näkökulmia monenvälisiin tutkimuksiin, joissa tutkitaan materiaalitieteen perusilmiöitä. Toinen suunniteltu investointi on röntgendifraktometri, joka on varustettu nykyaikaisella diffraktiooptiikalla, ilmaisimella tai näytteen liikeyksiköllä. Sen lisäksi, että laite soveltuu rutiininomaisiin pölydiffraktiomittauksiin, sen suurin etu on sen kyky määrittää tarkasti diffraktio Bragg-huippujen muoto erittäin hyvällä signaali-/melusuhteella. Bragg-huippujen laajeneminen johtuu kristallin eri tyypeistä. Merkittävä laajeneminen johtuu lineaarisista kidevirheistä (siirtymät), ositusvirheestä ja rajallisesta hiukkaskokosta (lähinnä alle 100 nm). Piikin muodon tarkkuusanalyysi ja sen asymptoottinen viimeistely röntgenlinjaprofiilianalyysin (RVA) aikana määrittää joitain tärkeitä hiukkaskokojakauman parametreja, sijoiltaan tiheyden, sen tilan vaihtelun ja ositusvirheen tiheyden. Menetelmän kehittämisellä ja soveltamisella on pitkät perinteet kenttäosastolla (ELTE Department of Materials Physics). Arviointi perustuu suurelta osin esimiehen kehittämään yleiseen teoriaan. Osastolla on kehitetty myös yleiskäyttöprofiilin arviointialgoritmi, jota käytetään useissa laboratorioissa eri puolilla maailmaa. Lisäksi viimeisten kolmen vuosikymmenen aikana on tehty useita erityisjärjestelmiä koskevia tutkimuksia, joiden tulokset on julkaistu alan johtavissa aikakauslehdissä. Nämä tutkimukset toteutetaan laajassa kansainvälisessä yhteistyössä. Osasto on myös järjestänyt kaksi kansainvälistä tohtoriseminaaria, joihin osallistui noin 50 tohtoriopiskelijaa viimeisten viiden vuoden aikana. Osasto on siis yksi niistä laboratorioista, jotka määrittävät profiilianalyysin. Samaan aikaan tällä hetkellä saatavilla olevat röntgenlaitteet ovat erittäin vanhentuneita ja niistä on tullut lähes mahdotonta ylläpitää. Tämä pätee vielä enemmän röntgenilmaisimiin. Suunnitellun hankinnan myötä käytettävissä olisi nykyaikainen korkean tarkkuuden radan profiilin mittausjärjestelmä. On myös huomattava, että diffraktometriä käytettäisiin myös Institute of Chemistry and Earth Sciences -instituutin henkilöstössä ruudukon parametrien ja raekoon määrittämiseksi. Vaikka suunnitelluilla investoinneilla tuetaan suurta määrää hyvin laaja-alaista tutkimusta, seuraavassa käsitellään tarkemmin neljää epäininkaalista hanketta, joilla varmistetaan ehdottomasti, että laitteet ovat maailman johtavalla tasolla. Mikrosarakkeiden muodonmuutosominaisuuksien, muodonmuutoksen lumivyöryjen, muovin epävakauden tutkiminen: Tekniikan kehityksen ansiosta sekä materiaalikehityksessä että testimenetelmissä voidaan luoda uusia mahdollisuuksia nano- ja alimikronikokoisten kiteisten materiaalien tuotantoon ja niiden plastisen muodonmuutoksen seurantaan nanomittakaavassa. Viime vuosina se on kunnioittanut... (Finnish)

point in time

13 August 2022

0 references

W ramach Centrum Instrumentów ELTE od 5 lat działa skanujący mikroskop elektronowy (SEM), który jest bardzo ważny dla nauk materiałowych i badań nad materiałami stosowanymi, który oprócz tradycyjnego trybu skanowania o rozdzielczości około 2 nm posiada więcej czujników do określania składu powierzchni, orientacji lokalnej itp. próbki. Ponadto jest on połączony z gaźnikiem wiązki jonów (FIB), który umożliwia tworzenie struktur powierzchniowych na skali nanometrów i możliwość tworzenia obrazu 3D mikrostruktury poprzez usuwanie warstw. Sprzęt jest szeroko stosowany przez Instytut Fizyki, Chemii, Nauk o Ziemi i Biologii ELTE TTK, a także poprzez zlecenie pracy wielu zagranicznych i zagranicznych (austriackich, francuskich, słowackich, niemieckich... itp.) instytutów badawczych oraz małych i średnich przedsiębiorstw zaangażowanych w rozwój badań. Jednocześnie, w celu przeprowadzenia aktualnej analizy szeregu podstawowych problemów badawczych w dziedzinie nauk materialnych, rozdzielczość przestrzenna, którą można osiągnąć SEM, musi zostać rozszerzona na mniejsze skale atomowe (0,1 nm) i większe (submikron, mikrometr) zakresy. Z punktu widzenia inwestycji infrastrukturalnej głównym celem projektu jest zwiększenie zdolności naprawczej istniejącej zdolności testowania mikrostruktury ELTE TTK w obu kierunkach. W ten sposób zamierzamy utrzymać i zwiększyć ważną rolę Węgier w badaniach fizyki i materiałoznawstwa. Planujemy nabyć nowoczesny sprzęt AFM/STM, który umożliwia wyświetlanie morfologii powierzchni w skali atomowej na różne sposoby, takie jak moc atomowa (AFM), prąd tunelowy (STM) i interakcja magnetyczna. Ponadto urządzenie jest zdolne do pomiaru twardości dynamicznej in situ na mniejszą skalę niż konwencjonalne urządzenia do pomiaru twardości nanotwardości. Pozwala to między innymi na określenie właściwości mechanicznych cienkich folii i materiałów nanostrukturalnych. Połączenie AFM/STM i pomiarów penetracji in situ otworzyłoby nowe perspektywy prowadzenia badań wielostronnych, badania podstawowych zjawisk materialno-naukowych. Kolejną planowaną inwestycją jest dyfraktometr rentgenowski wyposażony w nowoczesną optykę dyfrakcyjną, detektor lub jednostkę ruchu próbek. Oprócz tego, że urządzenie nadaje się do rutynowych pomiarów dyfrakcji pyłu, jego największą zaletą jest możliwość dokładnego określenia kształtu dyfrakcji Bragg w bardzo dobrym związku sygnał/hałas. Poszerzenie szczytów Bragga jest spowodowane różnymi rodzajami wad krystalicznych obecnych w krysztale. Znaczna ekspansja jest spowodowana przez wady liniowe kryształu (przemieszczenia), błąd stratyfikacji i skończoną wielkość cząstek (głównie poniżej 100 nm). Precyzyjna analiza kształtu piku i jego asymptotycznego wykończenia podczas analizy profilu linii rentgenowskiej (RVA) określa niektóre ważne parametry rozkładu wielkości cząstek, gęstości dyslokacji, jej wahań przestrzennych oraz gęstości błędu stratyfikacji. Opracowanie i zastosowanie metody ma długotrwałe tradycje w dziale terenowym (Departament Fizyki Materiałów ELTE). Ocena opiera się w dużej mierze na ogólnej teorii opracowanej przez organ nadzoru. Algorytm Ogólnocelowej Oceny Profilu, który jest stosowany w kilku laboratoriach na całym świecie, został również opracowany w Departamencie. Ponadto w ciągu ostatnich trzech dziesięcioleci przeprowadzono wiele badań nad konkretnymi systemami, których wyniki opublikowano w wiodących czasopismach w tej dziedzinie. Dochodzenia te prowadzone są w ramach szeroko zakrojonej współpracy międzynarodowej. Wydział zorganizował również dwa międzynarodowe seminaria doktoranckie z udziałem około 50 doktorantów w ciągu ostatnich 5 lat. Departament jest jednym z laboratoriów do analizy profilu linii. Jednocześnie dostępne obecnie urządzenia rentgenowskie są bardzo przestarzałe i prawie niemożliwe do utrzymania. Jest to tym bardziej prawdziwe w przypadku detektorów rentgenowskich. Wraz z planowanym zamówieniem dostępny byłby nowoczesny, precyzyjny system pomiaru profilu linii. Należy również zauważyć, że dyfraktometr byłby również wykorzystywany przez pracowników Instytutu Chemii i Nauk o Ziemi do określenia parametrów siatki i wielkości ziarna. Mimo że planowane inwestycje będą wspierać dużą liczbę bardzo szeroko zakrojonych badań, poniżej szczegółowo omówiono 4 projekty, które są niepowtarzalne i absolutnie gwarantują, że sprzęt jest prowadzony na światowym poziomie wiodącym. Badanie właściwości odkształceń mikrokolumn, lawin deformacyjnych, niestabilności plastycznej: Dzięki postępowi technicznemu można stworzyć nowe możliwości produkcji nano- i submikronowych materiałów krystalicznych oraz monitorowanie ich odkształceń plastycznych w nanoskali, zarówno w zakresie opracowywania materiałów, jak i metod badawczych. W ostatnich latach, to był reve... (Polish)

point in time

13 August 2022

0 references

In het kader van het Instrumentencentrum van ELTE werkt een scanelektronenmicroscoop (SEM), die zeer belangrijk is voor materiaalwetenschap en toegepast materiaalonderzoek, al 5 jaar, die naast de traditionele scanmodus met een resolutie van ongeveer 2 nm, meer detectoren heeft om de oppervlaktesamenstelling, lokale oriëntatie, enz. van het monster te bepalen. Bovendien wordt het gecombineerd met een gerichte ionenbundel carburateur (FIB) die de creatie van oppervlaktestructuren op de nanometerschaal en de mogelijkheid om een 3D beeld van de microstructuur te creëren door het verwijderen van lagen mogelijk maakt. De apparatuur wordt op grote schaal gebruikt door het Instituut voor Natuurkunde, Chemie, Aardwetenschappen en Biologie van ELTE TTK, evenals door inbedrijfstelling van vele buitenlandse en buitenlandse (Oostenrijkse, Franse, Slowaakse, Duitse... enz.) onderzoeksinstituten en kleine en middelgrote ondernemingen die betrokken zijn bij onderzoek. Tegelijkertijd moet voor een actueel onderzoek van een aantal fundamentele onderzoeksproblemen in de materiële wetenschap de ruimtelijke resolutie die SEM kan bereiken, worden uitgebreid tot kleinere atomaire (0,1nm) schalen en grotere (submicron, micrometer) bereiken. Vanuit het oogpunt van de infrastructuurinvesteringen is het hoofddoel van het project de resolutiecapaciteit van de bestaande microstructuurtestcapaciteit van ELTE TTK in beide richtingen uit te breiden. Daarbij willen we de belangrijke rol van Hongarije in natuurkunde en materiaalwetenschappelijk onderzoek behouden en vergroten. We zijn van plan een moderne AFM/STM-apparatuur te verwerven waarmee oppervlaktemorfologieën op verschillende manieren op atoomschaal kunnen worden weergegeven, zoals atoomvermogen (AFM), tunnelstroom (STM) en magnetische interactie. Bovendien is de apparatuur in staat om dynamische hardheid in situ op kleinere schaal te meten dan conventionele nanohardheidsmeetapparatuur. Dit maakt onder meer de bepaling van de mechanische eigenschappen van dunne films en nanogestructureerde materialen mogelijk. De combinatie van AFM/STM en in-situ penetratiemeting zou nieuwe perspectieven openen voor het uitvoeren van multilaterale studies, het bestuderen van fundamentele materiaalwetenschapfenomenen. Een andere geplande investering is een röntgendiffractometer uitgerust met een moderne diffractieoptica, detector of monsterbewegingseenheid. Naast het feit dat de apparatuur geschikt is voor routinematige stofdiffractiemetingen, is het grootste voordeel dat het de vorm van de diffractie Bragg-pieken nauwkeurig kan bepalen onder een zeer goede signaal/ruisverhouding. De verbreding van Bragg pieken wordt veroorzaakt door verschillende soorten kristal defecten aanwezig in het kristal. Significante expansie wordt veroorzaakt door lineaire kristalafwijkingen (dislocaties), stratificatiefout en eindige deeltjesgrootte (voornamelijk minder dan 100 nm). Een precisieanalyse van de vorm van de piek en de asymptotische afwerking tijdens de RVA-lijnprofielanalyse bepaalt enkele belangrijke parameters van de deeltjesgrootteverdeling, de dichtheid van dislocaties, de ruimtelijke fluctuatie en de dichtheid van de stratificatiefout. De ontwikkeling en toepassing van de methode heeft langdurige tradities binnen de veldafdeling (ELTE Department of Materials Physics). De evaluatie is grotendeels gebaseerd op de algemene theorie die door de toezichthouder is ontwikkeld. Het General Purpose Profile Assessment algoritme, dat wordt gebruikt in verschillende laboratoria over de hele wereld, is ook ontwikkeld in de afdeling. Daarnaast zijn in de afgelopen drie decennia een groot aantal studies uitgevoerd naar specifieke systemen, waarvan de resultaten zijn gepubliceerd in de toonaangevende tijdschriften op dit gebied. Deze onderzoeken worden uitgevoerd in het kader van een uitgebreide internationale samenwerking. De afdeling heeft ook twee internationale doctoraatsseminars georganiseerd met de deelname van ongeveer 50 promovendi in de afgelopen 5 jaar. Dus de afdeling is een van de bepalende laboratoria voor lijn profiel analyse. Tegelijkertijd is de momenteel beschikbare röntgenapparatuur uiterst verouderd en is het bijna onmogelijk geworden om te onderhouden. Dit geldt nog meer voor röntgendetectoren. Met de geplande aanbesteding zou er een modern high-precision lijnprofielmeetsysteem beschikbaar zijn. Er zij ook op gewezen dat de diffractometer ook door medewerkers van het Institute of Chemistry and Earth Sciences zou worden gebruikt om roosterparameters en korrelgrootte te bepalen. Hoewel de geplande investeringen een groot aantal zeer uitgebreid onderzoek zullen ondersteunen, worden hieronder 4 projecten die oneinisch zijn en er absoluut voor zorgen dat de apparatuur op ’s werelds toonaangevende niveau wordt uitgevoerd, hieronder nader besproken. Onderzoek van de vervormingseigenschappen van microkolommen, vervorming lawines, plastic instabiliteit: Dankzij de technische vooruitgang kunnen nieuwe moge... (Dutch)

point in time

13 August 2022

0 references

V rámci Centra nástrojů ELTE funguje již 5 let skenovací elektronový mikroskop (SEM), který je velmi důležitý pro materiálovou vědu a aplikovaný materiálový výzkum, který kromě tradičního režimu skenování s rozlišením asi 2 nm má více detektorů pro určení povrchového složení, lokální orientace atd. vzorku. Kromě toho je kombinován se zaostřeným iontovým paprskem karburátoru (FIB), který umožňuje vytváření povrchových struktur na nanometrové stupnici a schopnost vytvořit 3D obraz mikrostruktury odstraněním vrstev. Zařízení je široce využíváno Ústavem fyziky, chemie, vědy o Zemi a biologie ELTE TTK, stejně jako zadáváním prací mnoha zahraničních a zahraničních (rakouských, francouzských, slovenských, německých... atd.) výzkumných ústavů a malých a středních podniků zapojených do výzkumu. Zároveň pro aktuální zkoumání řady základních výzkumných problémů v materiálové vědě musí být prostorové rozlišení, kterého může SEM dosáhnout, rozšířeno na menší atomové stupnice (0,1 nm) a větší (submikrony, mikrometry) rozsahy. Z hlediska investice do infrastruktury je hlavním cílem projektu rozšíření kapacity pro řešení problémů stávající kapacity testování mikrostruktury ELTE TTK v obou směrech. Za tímto účelem hodláme zachovat a posílit významnou úlohu Maďarska ve výzkumu fyziky a vědy o materiálech. Plánujeme získat moderní zařízení AFM/STM, které umožní zobrazení povrchových morfologií v atomovém měřítku různými způsoby, jako je atomová síla (AFM), tunelový proud (STM) a magnetická interakce. Kromě toho je zařízení schopné měřit dynamickou tvrdost in situ v menším měřítku než konvenční zařízení pro měření nanotvrdosti. To mimo jiné umožňuje určit mechanické vlastnosti tenkých filmů a nanostrukturovaných materiálů. Kombinace AFM/STM a měření penetrace in situ by otevřela nové perspektivy pro provádění multilaterálních studií studujících základní jevy hmotné vědy. Další plánovanou investicí je rentgenový difraktometr vybavený moderní difrakční optikou, detektorem nebo pohybovou jednotkou vzorku. Kromě toho, že zařízení je vhodné pro rutinní měření rozptylu prachu, jeho největší výhodou je jeho schopnost přesně určit tvar vrcholů ohybu Bragg ve velmi dobrém vztahu signálu/hluku. Rozšíření vrcholů Bragga je způsobeno různými typy krystalových vad přítomných v krystalu. Významná expanze je způsobena lineárními vadami krystalů (dislokace), chybou stratifikace a konečnou velikostí částic (hlavně pod 100 nm). Přesná analýza tvaru píku a jeho asymptotické úpravy během analýzy profilu rentgenového paprsku (RVA) určuje některé důležité parametry rozložení velikosti částic, hustotu dislokací, prostorové kolísání a hustotu stratifikační chyby. Vývoj a aplikace metody má dlouholeté tradice v oborovém oddělení (ELTE Department of Materials Physics). Hodnocení je do značné míry založeno na obecné teorii vypracované orgánem dohledu. V oddělení byl rovněž vyvinut algoritmus všeobecného posuzování profilu, který se používá v několika laboratořích po celém světě. Kromě toho bylo v posledních třech desetiletích provedeno velké množství studií o specifických systémech, jejichž výsledky byly zveřejněny v předních časopisech v této oblasti. Tato vyšetřování se provádějí v rámci rozsáhlé mezinárodní spolupráce. Katedra také uspořádala dva mezinárodní doktorské semináře za účasti asi 50 doktorandů za posledních 5 let. Takže oddělení je jednou z určujících laboratoří pro analýzu profilu. Současně je v současné době k dispozici rentgenové zařízení extrémně zastaralé a je téměř nemožné jej udržovat. To platí ještě víc pro rentgenové detektory. Při plánovaném zadávání veřejných zakázek by byl k dispozici moderní vysoce přesný systém měření profilu vedení. Je třeba také poznamenat, že difraktometr by byl také používán zaměstnanci Ústavu chemie a věd o Zemi ke stanovení parametrů mřížky a velikosti zrna. Ačkoli plánované investice podpoří velké množství velmi rozsáhlého výzkumu, jsou níže podrobněji popsány 4 projekty, které jsou neinické a absolutně zajišťují, že zařízení bude prováděno na přední světové úrovni. Zkoumání deformačních vlastností mikrosloupců, deformačních lavin, plastové nestability: Díky technickému pokroku lze vytvořit nové možnosti výroby krystalických materiálů o velikosti nano- a submikronů a monitorování jejich plastické deformace na nanoměřítku, a to jak při vývoji materiálů, tak ve zkušebních metodách. V posledních letech, to bylo reve... (Czech)

point in time

13 August 2022

0 references

ELTE Instrumentu centra ietvaros skenējošais elektronu mikroskops (SEM), kas ir ļoti svarīgs materiālzinātnē un lietišķo materiālu izpētē, darbojas jau 5 gadus, kam papildus tradicionālajam skenēšanas režīmam ar izšķirtspēju aptuveni 2 nm ir vairāk detektoru, lai noteiktu parauga virsmas sastāvu, vietējo orientāciju utt. Turklāt tas ir apvienots ar koncentrētu jonu staru karburatoru (FIB), kas ļauj izveidot virsmas struktūras nanometra mērogā un spēju izveidot mikrostruktūras 3D attēlu, noņemot slāņus. Aprīkojumu plaši izmanto ELTE TTK Fizikas, ķīmijas, Zemes zinātņu un bioloģijas institūts, kā arī nododot ekspluatācijā daudzu ārvalstu un ārvalstu (Austrijas, Francijas, Slovākijas, Vācijas... utt.) pētniecības institūtus un mazos un vidējos uzņēmumus, kas iesaistīti pētniecības attīstībā. Tajā pašā laikā, lai atjauninātu vairāku fundamentālu pētniecības problēmu analīzi materiālu zinātnē, telpiskā izšķirtspēja, ko var sasniegt SEM, ir jāpaplašina līdz mazākiem atomu (0,1 nm) skalām un lielākiem (submikronu, mikrometru) diapazoniem. No infrastruktūras ieguldījumu viedokļa projekta galvenais mērķis ir palielināt ELTE TTK esošās mikrostruktūru testēšanas jaudas noregulējuma jaudu abos virzienos. To darot, mēs plānojam saglabāt un palielināt Ungārijas svarīgo lomu fizikas un materiālzinātnes pētniecībā. Mēs plānojam iegādāties modernu AFM/STM aprīkojumu, kas ļauj parādīt virsmas morfoloģijas atomu mērogā dažādos veidos, piemēram, atomenerģijas (AFM), tuneļa strāvas (STM) un magnētiskās mijiedarbības veidā. Turklāt iekārta spēj izmērīt in situ dinamisko cietību mazākā mērogā nekā parastās nanocietības mērīšanas iekārtas. Tas cita starpā ļauj noteikt plānas plēves un nanostrukturētu materiālu mehāniskās īpašības. AFM/STM un in situ iespiešanās mērījumu apvienojums pavērtu jaunas perspektīvas daudzpusēju pētījumu veikšanai, pētot fundamentālus materiālzinātņu fenomenus. Vēl viens plānotais ieguldījums ir rentgena difraktometrs, kas aprīkots ar modernu difrakcijas optiku, detektoru vai paraugu kustības vienību. Papildus tam, ka iekārta ir piemērota rutīnas putekļu difrakcijas mērījumiem, tās lielākā priekšrocība ir tās spēja precīzi noteikt difrakcijas Bragg virsotnes formu ar ļoti labu signāla/trokšņa attiecību. Bragg pīķu paplašināšanos izraisa dažāda veida kristāla defekti, kas atrodas kristālā. Ievērojamu izplešanos izraisa lineāri kristālu defekti (izvietojumi), stratifikācijas kļūda un ierobežots daļiņu izmērs (galvenokārt zem 100 nm). Pīķa formas un tā asimptotiskās apdares precīza analīze rentgena līnijas profila analīzes (RVA) laikā nosaka dažus svarīgus parametrus daļiņu izmēra sadalījumam, dislokāciju blīvumam, telpiskajām svārstībām un stratifikācijas kļūdas blīvumam. Metodes izstrādei un pielietošanai ir ilgstošas tradīcijas lauka nodaļā (ELTE Materiālu fizikas departaments). Novērtējuma pamatā lielā mērā ir vadītāja izstrādātā vispārējā teorija. Departamentā ir izstrādāts arī vispārējā mērķa profila novērtēšanas algoritms, ko izmanto vairākās laboratorijās visā pasaulē. Turklāt pēdējo trīs desmitgažu laikā ir veikti daudzi pētījumi par konkrētām sistēmām, kuru rezultāti ir publicēti vadošajos nozares žurnālos. Šīs izmeklēšanas tiek veiktas plašā starptautiskā sadarbībā. Departaments ir organizējis arī divus starptautiskus doktorantūras seminārus, kuros pēdējos 5 gados piedalās aptuveni 50 doktorantūras studenti. Tātad departaments ir viena no noteicošajām laboratorijām līnijas profila analīzei. Tajā pašā laikā pašlaik pieejamais rentgena aprīkojums ir ļoti novecojis un ir kļuvis gandrīz neiespējami uzturēt. Tas vēl jo vairāk attiecas uz rentgena detektoriem. Ar plānoto iepirkumu būs pieejama mūsdienīga augstas precizitātes līnijas profila mērīšanas sistēma. Jāatzīmē arī, ka difraktometru izmantos arī Ķīmijas un Zemes zinātņu institūta darbinieki, lai noteiktu režģa parametrus un graudu izmēru. Lai gan plānotās investīcijas atbalstīs lielu skaitu ļoti plašu pētījumu, 4 projekti, kas ir neiniski un pilnīgi nodrošina, ka iekārtas tiek veiktas pasaules vadošajā līmenī, ir sīkāk apspriesti turpmāk. Mikrokolonnu deformācijas īpašību pārbaude, deformācijas lavīnas, plastmasas nestabilitāte: Pateicoties tehnikas attīstībai, gan materiālu izstrādes, gan testēšanas metodēs var radīt jaunas iespējas ražot nano- un submikroni izmēra kristāliskos materiālus un uzraudzīt to plastisko deformāciju nanomērogā. Pēdējos gados, tas ir reve... (Latvian)

point in time

13 August 2022

0 references

Faoi chuimsiú Ionad Ionstraim ELTE, tá micreascóp leictreon scanadh (SEM), atá an-tábhachtach do thaighde eolaíochta ábhair agus ábhar feidhmeach, ag feidhmiú ar feadh 5 bliana, a bhfuil, chomh maith leis an modh scanadh traidisiúnta le réiteach de thart ar 2 nm, níos mó brathadóirí chun comhdhéanamh dromchla, treoshuíomh áitiúil, etc. an tsampla a chinneadh. Ina theannta sin, tá sé comhcheangailte le carburettor bhíoma ian dírithe (FIB) a ligeann struchtúir dromchla a chruthú ar scála nanaiméadar agus an cumas íomhá 3D den mhicreastruchtúr a chruthú trí shraitheanna a bhaint. Tá an trealamh in úsáid go forleathan ag an Institiúid na Fisice, Ceimic, Domhaneolaíochtaí agus Bitheolaíocht ELTE TTK, chomh maith le trí obair choimisiúnú ag go leor eachtrach agus eachtrannacha (Ostarach, Fraincis, Slóvaicis, Gearmáinis...etc) institiúidí taighde agus fiontair bheaga agus mheánmhéide a bhfuil baint acu le forbairt taighde. Ag an am céanna, chun scrúdú cothrom le dáta a dhéanamh ar roinnt fadhbanna taighde bunúsacha san eolaíocht ábhair, ní mór an réiteach spásúil ar féidir le SEM a bhaint amach a leathnú go scálaí adamhach níos lú (0.1nm) agus raonta níos mó (fomhicrinn, micriméadar). Ó thaobh na hinfheistíochta bonneagair de, is é príomhchuspóir an tionscadail cur le hacmhainn réitigh na hacmhainne tástála micreastruchtúir atá ag ELTE TTK sa dá threo. Agus sin á dhéanamh againn, tá sé beartaithe againn ról tábhachtach na hUngáire san fhisic agus sa taighde eolaíochta ábhartha a choinneáil agus a mhéadú. Tá sé beartaithe againn trealamh AFM/STM nua-aimseartha a fháil a ligeann moirfeolaíochtaí dromchla a thaispeáint ar scála adamhach ar bhealaí éagsúla amhail cumhacht adamhach (AFM), sruth tolláin (STM) agus idirghníomhaíocht mhaighnéadach. Ina theannta sin, tá an trealamh in ann cruas dinimiciúil in-situ a thomhas ar scála níos lú ná trealamh tomhais traidisiúnta nanohardness. Ligeann sé seo, i measc rudaí eile, airíonna meicniúla scannáin tanaí agus ábhair nanastruchtúrtha a chinneadh. Chuirfeadh an meascán de AFM/STM agus tomhas treáite in situ peirspictíochtaí nua ar fáil chun staidéir iltaobhacha a dhéanamh, ag déanamh staidéir ar fheiniméin bhunúsacha eolaíochta ábhair. Infheistíocht bheartaithe eile is ea diffractometer X-gha atá feistithe le optaic nua-aimseartha díraonadh, brathadóir nó aonad gluaiseachta samplach. Chomh maith leis an bhfíric go bhfuil an trealamh oiriúnach do thomhais gnáthaimh díraonadh deannaigh, is é an buntáiste is mó atá aige ná a chumas chun cruth na beanna Bragg diffraction a chinneadh go cruinn faoi chaidreamh comhartha/torann an-mhaith. Is iad na cineálacha éagsúla lochtanna criostail atá i láthair sa chriostal ba chúis le leathnú beanna Bragg. Is é is cúis le leathnú suntasach lochtanna criostail líneacha (dislocations), earráid srathaithe agus méid na gcáithníní críochta (faoi bhun 100 nm den chuid is mó). Cinneann anailís bheachtais ar chruth an bhuaic agus a chríochnú asymptotic le linn na Anailíse Próifíle Líne X-gha (RVA) roinnt paraiméadair thábhachtacha de dháileadh méid na gcáithníní, dlús na dislocations, a luaineacht spásúil, agus dlús na hearráide srathaithe. Tá traidisiúin fhadtéarmacha ag forbairt agus cur i bhfeidhm an mhodha sa roinn allamuigh (ELTE Roinn na Fisice Ábhair). Den chuid is mó, tá an mheastóireacht bunaithe ar an teoiric ghinearálta a d’fhorbair an maoirseoir. Forbraíodh algartam an Mheasúnaithe Próifíle Ginearálta, a úsáidtear i roinnt saotharlann ar fud an domhain, sa Roinn freisin. Ina theannta sin, le tríocha bliain anuas, rinneadh líon mór staidéar ar chórais shonracha, ar foilsíodh a dtorthaí sna príomhirisí sa réimse. Déantar na himscrúduithe sin i gcomhar forleathan idirnáisiúnta. Chomh maith leis sin, d’eagraigh an Roinn dhá sheimineár dochtúireachta idirnáisiúnta le rannpháirtíocht thart ar 50 mac léinn PhD le 5 bliana anuas. Mar sin, tá an Roinn ar cheann de na saotharlanna cinntitheacha le haghaidh anailís ar phróifílí líne. Ag an am céanna, tá an trealamh X-gha atá ar fáil faoi láthair as dáta agus tá sé beagnach dodhéanta a chothabháil. Tá sé seo níos fíor fós do bhrathadóirí X-gha. Leis an soláthar beartaithe, bheadh córas nua-aimseartha tomhais próifíl líne ardchruinnis ar fáil. Ba chóir a thabhairt faoi deara freisin go n-úsáidfeadh foireann na hInstitiúide Ceimice agus Eolaíochtaí Cruinne an diffractometer freisin chun paraiméadair eangaí agus méid gráin a chinneadh. Cé go dtacóidh na hinfheistíochtaí atá beartaithe le líon mór taighde an-leathan, pléitear níos mó sonraí faoi 4 thionscadal atá mídhianach agus a chinntíonn go hiomlán go ndéantar an trealamh ag leibhéal tosaigh an domhain. Scrúdú ar airíonna dífhoirmithe micreacholúin, dífhoirmiúchán, éagobhsaíocht phlaisteach: A bhuí le dul chun cinn teicniúil, is féidir féidearthachtaí nua a chruthú maidir le hábhair chriostalta nana agus fo-mhiocrónacha a tháirgeadh agus faireachán a dhéanamh ar dhífhoirmiú plaisteach ar an nanascála i modhanna forbartha ábhair agus tástála arao... (Irish)

point in time

13 August 2022

0 references

V okviru Instrumentnega centra ELTE že 5 let deluje skenirni elektronski mikroskop (SEM), ki je zelo pomemben za znanost o materialih in uporabne materialne raziskave, ki ima poleg tradicionalnega načina skeniranja z ločljivostjo približno 2 nm več detektorjev za določanje sestave površine, lokalne orientacije itd. vzorca. Poleg tega je kombiniran z osredotočenim uplinjačem ionskega žarka (FIB), ki omogoča ustvarjanje površinskih struktur na nanometrski lestvici in sposobnost ustvarjanja 3D slike mikrostrukture z odstranitvijo plasti. Opremo pogosto uporablja Inštitut za fiziko, kemijo, vede o Zemlji in biologijo ELTE TTK, kot tudi z naročanjem dela številnih tujih in tujih (avstrijskih, francoskih, slovaških, nemških... itd.) raziskovalnih inštitutov ter malih in srednje velikih podjetij, ki se ukvarjajo z razvojem raziskav. Hkrati je treba za posodobljen pregled številnih temeljnih raziskovalnih problemov v znanosti o materialih prostorsko ločljivost, ki jo lahko doseže SEM, razširiti na manjše atomske (0,1nm) lestvice in večje (podmikronske, mikrometrske) razpone. Z vidika naložbe v infrastrukturo je glavni cilj projekta razširiti zmogljivost reševanja obstoječe zmogljivosti testiranja mikrostrukture ELTE TTK v obe smeri. Pri tem nameravamo ohraniti in povečati pomembno vlogo Madžarske pri raziskovanju fizike in znanosti o materialih. Načrtujemo pridobitev sodobne opreme AFM/STM, ki omogoča prikaz površinskih morfologij v atomskem merilu na različne načine, kot so atomska moč (AFM), tunelski tok (STM) in magnetna interakcija. Poleg tega je oprema sposobna meriti dinamično trdoto na kraju samem v manjšem obsegu kot običajna oprema za merjenje nanotrdnosti. To med drugim omogoča določitev mehanskih lastnosti tankih folij in nanostrukturiranih materialov. Kombinacija AFM/STM in merjenje penetracije na kraju samem bi odprla nove možnosti za izvajanje večstranskih študij, ki bi preučevale pojave temeljne znanosti o materialih. Druga načrtovana naložba je rentgenski difraktometer, opremljen s sodobno difrakcijsko optiko, detektorjem ali enoto gibanja vzorcev. Poleg dejstva, da je oprema primerna za rutinske meritve difrakcije prahu, je njegova največja prednost njena sposobnost, da natančno določi obliko difrakcije Bragg pod zelo dobrim razmerjem signal/hrup. Širjenje Braggovih vrhov je posledica različnih vrst kristalnih napak, prisotnih v kristalu. Značilno ekspanzijo povzročajo linearne kristalne napake (dislokacije), napaka pri stratifikaciji in končna velikost delcev (večinoma pod 100 nm). Natančna analiza oblike vrha in njegovega asimptotičnega konca med analizo profila rentgenskih žarkov (RVA) določa nekatere pomembne parametre porazdelitve velikosti delcev, gostote dislokacij, prostorskega nihanja in gostote napake pri stratifikaciji. Razvoj in uporaba metode ima dolgoletne tradicije v terenskem oddelku (ELTE Oddelek za materialno fiziko). Ocena v veliki meri temelji na splošni teoriji, ki jo je razvil nadzornik. Algoritem za oceno profila splošnega namena, ki se uporablja v več laboratorijih po vsem svetu, je bil razvit tudi v oddelku. Poleg tega je bilo v zadnjih treh desetletjih izvedenih veliko študij o specifičnih sistemih, katerih rezultati so bili objavljeni v vodilnih revijah na tem področju. Te preiskave se izvajajo v okviru obsežnega mednarodnega sodelovanja. Ministrstvo je v zadnjih 5 letih organiziralo tudi dva mednarodna doktorska seminarja, v katerih se je udeležilo približno 50 doktorskih študentov. Oddelek je torej eden od laboratorijev za analizo linijskih profilov. Hkrati je rentgenska oprema, ki je trenutno na voljo, izjemno zastarela in je postala skoraj nemogoče vzdrževati. To še bolj velja za rentgenske detektorje. Z načrtovanim naročilom bi bil na voljo sodoben visoko natančen sistem za merjenje profila linije. Opozoriti je treba tudi, da bi difraktometer uporabljalo tudi osebje Inštituta za kemijo in vede o Zemlji, da bi določili mrežne parametre in velikost zrn. Čeprav bodo načrtovane naložbe podprle veliko število zelo obsežnih raziskav, so v nadaljevanju podrobneje obravnavani štirje projekti, ki so neinični in popolnoma zagotavljajo, da se oprema izvaja na vodilni svetovni ravni. Pregled deformacijskih lastnosti mikrostolpov, deformacijskih plazov, nestabilnosti plastike: Zaradi tehničnega napredka se lahko pri razvoju materialov in preskusnih metodah ustvarijo nove možnosti za proizvodnjo nano- in submikronsko velikih kristaliničnih materialov ter spremljanje njihove plastične deformacije na nanoravni. V zadnjih letih je bil v čast... (Slovenian)

point in time

13 August 2022

0 references

En el marco del Centro de Instrumentos de ELTE, un microscopio electrónico de barrido (SEM), que es muy importante para la ciencia de los materiales y la investigación de materiales aplicados, ha estado funcionando durante 5 años, que, además del modo de escaneo tradicional con una resolución de aproximadamente 2 nm, tiene más detectores para determinar la composición de la superficie, la orientación local, etc. de la muestra. Además, se combina con un carburador de haz de iones enfocado (FIB) que permite la creación de estructuras superficiales en la escala nanómetro y la capacidad de crear una imagen 3D de la microestructura mediante la eliminación de capas. El equipo es ampliamente utilizado por el Instituto de Física, Química, Ciencias de la Tierra y Biología de ELTE TTK, así como a través de la puesta en marcha de trabajos de muchos institutos de investigación extranjeros y extranjeros (austríacos, franceses, eslovacos, alemanes, etc.) y pequeñas y medianas empresas que participan en el desarrollo de la investigación. Al mismo tiempo, para un examen actualizado de una serie de problemas de investigación fundamentales en la ciencia material, la resolución espacial que puede lograr SEM debe ampliarse a escalas atómicas más pequeñas (0,1 nm) y rangos más grandes (submicrones, micrómetros). Desde el punto de vista de la inversión en infraestructuras, el objetivo principal del proyecto es ampliar la capacidad de resolución de la capacidad de ensayo de microestructuras existente de ELTE TTK en ambas direcciones. Al hacerlo, tenemos la intención de mantener y aumentar el importante papel de Hungría en la investigación física y en las ciencias materiales. Planeamos adquirir un moderno equipo AFM/STM que permite exhibir morfologías superficiales a escala atómica en una variedad de maneras como la energía atómica (AFM), la corriente de túnel (STM) y la interacción magnética. Además, el equipo es capaz de medir la dureza dinámica in situ a menor escala que los equipos de medición de nanodureza convencionales. Esto permite, entre otras cosas, la determinación de las propiedades mecánicas de las películas finas y los materiales nanoestructurados. La combinación de AFM/STM y medición de penetración in situ abriría nuevas perspectivas para la realización de estudios multilaterales, estudiando fenómenos científicos materiales fundamentales. Otra inversión planificada es un difractómetro de rayos X equipado con una moderna óptica de difracción, detector o unidad de movimiento de muestras. Además del hecho de que el equipo es adecuado para mediciones rutinarias de difracción de polvo, su mayor ventaja es su capacidad para determinar con precisión la forma de los picos de difracción Bragg bajo una muy buena relación señal/ruido. La ampliación de los picos de Bragg es causada por diferentes tipos de defectos de cristal presentes en el cristal. La expansión significativa es causada por defectos cristalinos lineales (dislocaciones), error de estratificación y tamaño de partícula finita (principalmente por debajo de 100 nm). Un análisis de precisión de la forma del pico y su acabado asintótico durante el Análisis de Perfil de Línea de rayos X (RVA) determina algunos parámetros importantes de la distribución del tamaño de partícula, la densidad de las dislocaciones, su fluctuación espacial y la densidad del error de estratificación. El desarrollo y aplicación del método tiene tradiciones duraderas en el departamento de campo (ELTE Department of Materials Physics). En gran medida, la evaluación se basa en la teoría general desarrollada por el supervisor. El algoritmo de evaluación del perfil de propósito general, que se utiliza en varios laboratorios de todo el mundo, también se ha desarrollado en el Departamento. Además, en las últimas tres décadas se han realizado numerosos estudios sobre sistemas específicos, cuyos resultados se han publicado en las principales revistas del campo. Estas investigaciones se llevan a cabo en el marco de una amplia cooperación internacional. El Departamento también ha organizado dos seminarios internacionales de doctorado con la participación de unos 50 estudiantes de doctorado en los últimos 5 años. Así que el Departamento es uno de los laboratorios determinantes para el análisis de perfiles de línea. Al mismo tiempo, el equipo de rayos X actualmente disponible es extremadamente anticuado y se ha vuelto casi imposible de mantener. Esto es aún más cierto para los detectores de rayos X. Con la adquisición prevista, estaría disponible un sistema moderno de medición de perfiles de línea de alta precisión. También cabe señalar que el diffracómetro también sería utilizado por el personal del Instituto de Química y Ciencias de la Tierra para determinar los parámetros de la cuadrícula y el tamaño de los granos. Aunque las inversiones previstas apoyarán un gran número de investigaciones de gran alcance, a continuación se analizan 4 proyectos que no son inconclusos y garantizan absolutamente que el e... (Spanish)

point in time

13 August 2022

0 references

В рамките на инструментариумния център на ELTE, сканиращият електронен микроскоп (SEM), който е много важен за материалната наука и приложните изследвания на материалите, работи в продължение на 5 години, който в допълнение към традиционния режим на сканиране с разделителна способност от около 2 nm, разполага с повече детектори за определяне на състава на повърхността, локалната ориентация и т.н. на пробата. В допълнение, той се комбинира с фокусиран йонен лъч карбуратор (FIB), който позволява създаването на повърхностни структури по скалата на нанометъра и способността да се създаде 3D изображение на микроструктурата чрез премахване на слоеве. Оборудването се използва широко от Института по физика, химия, науки за Земята и биология на ELTE TTK, както и чрез възлагане на работа от много чуждестранни и чуждестранни (австрийски, френски, словашки, немски и др.) изследователски институти и малки и средни предприятия, участващи в научноизследователска и развойна дейност. В същото време, за осъвременен преглед на редица фундаментални научноизследователски проблеми в материалната наука, пространствената разделителна способност, която SEM може да постигне, трябва да бъде разширена до по-малки атомни (0,1nm) скали и по-големи обхвати (субмикрони, микрометри). От гледна точка на инфраструктурната инвестиция основната цел на проекта е да се разшири капацитетът за разрешаване на съществуващия капацитет за изпитване на микроструктура на ELTE TTK в двете посоки. По този начин възнамеряваме да запазим и увеличим важната роля на Унгария в научните изследвания в областта на физиката и материалната наука. Планираме да придобием модерно AFM/STM оборудване, което позволява повърхностните морфологии да бъдат показвани в атомни мащаби по различни начини като атомна енергия (AFM), тунелен ток (STM) и магнитно взаимодействие. В допълнение, оборудването е в състояние да измерва на място динамична твърдост в по-малък мащаб от конвенционалното оборудване за измерване на нанотвърдост. Това позволява, наред с другото, определянето на механичните свойства на тънките филми и наноструктурираните материали. Комбинацията от AFM/STM и измерването на проникването на място би разкрила нови перспективи за провеждане на многостранни проучвания, изучаване на фундаменталните явления на материалната наука. Друга планирана инвестиция е рентгенов дифрактометър, оборудван с модерна дифракционна оптика, детектор или единица за движение на проби. В допълнение към факта, че оборудването е подходящо за рутинни измервания на дифракция на прах, най-голямото му предимство е способността му да определя точно формата на пиковете на дифракцията Bragg при много добра връзка сигнал/шум. Разширяването на върховете на Браг се дължи на различни видове кристални дефекти, присъстващи в кристала. Значителното разширение се дължи на линейни кристални дефекти (изместване), грешка при стратификация и ограничен размер на частиците (главно под 100 nm). Прецизният анализ на формата на пика и неговото асимптотично покритие по време на анализа на профила на рентгеновата линия (RVA) определя някои важни параметри на разпределението на размера на частиците, плътността на дислокациите, пространственото му колебание и плътността на грешката при стратификацията. Разработването и прилагането на метода има дългогодишни традиции в полевия отдел (ELTE Department of Materials Physics). До голяма степен оценката се основава на общата теория, разработена от надзорния орган. Алгоритъмът за оценка на профила с общо предназначение, който се използва в няколко лаборатории по света, също е разработен в отдела. Освен това през последните три десетилетия бяха проведени голям брой проучвания на специфични системи, резултатите от които бяха публикувани във водещите списания в тази област. Тези разследвания се провеждат в рамките на широко международно сътрудничество. Катедрата организира и два международни докторски семинара с участието на около 50 докторанти през последните 5 години. Отделът е една от определящите лаборатории за анализ на профила на линията. В същото време предлаганото понастоящем рентгеново оборудване е изключително остаряло и е станало почти невъзможно да се поддържа. Това е още по-вярно за рентгеновите детектори. С планираното възлагане на обществени поръчки ще бъде на разположение модерна високопрецизна система за измерване на профила на линиите. Следва също така да се отбележи, че дифрактометърът ще се използва и от персонала на Института по химия и науки за Земята за определяне на параметрите на мрежата и размера на зърното. Въпреки че планираните инвестиции ще подкрепят голям брой много широкообхватни научни изследвания, 4 проекта, които са неинични и абсолютно гарантират, че оборудването се провежда на водещо в света ниво, са разгледани по-подробно по-долу. Изследване на деформационните свойства на микроколони, деформационни лавини, пластична нестабилност: Благодарение на техническия прогрес могат да се създадат нови възможности за производство на кристални материали ... (Bulgarian)

point in time

13 August 2022

0 references

Fil-qafas taċ-Ċentru tal-Istrumenti tal-ELTE, mikroskopju tal-elettroni tal-iskannjar (SEM), li huwa importanti ħafna għax-xjenza tal-materjal u r-riċerka dwar il-materjal applikat, ilu jopera għal 5 snin, li, minbarra l-mod tradizzjonali tal-iskannjar b’riżoluzzjoni ta’ madwar 2 nm, għandu aktar ditekters biex jiddetermina l-kompożizzjoni tal-wiċċ, l-orjentazzjoni lokali, eċċ. tal-kampjun. Barra minn hekk, huwa kkombinat ma ‘karburatur tar-raġġ joniku ffukat (FIB) li jippermetti l-ħolqien ta’ strutturi tal-wiċċ fuq l-iskala tan-nanometru u l-abbiltà li tinħoloq immaġni 3D tal-mikrostruttura billi jitneħħew is-saffi. It-tagħmir jintuża ħafna mill-Istitut tal-Fiżika, il-Kimika, ix-Xjenzi tad-Dinja u l-Bijoloġija tal-ELTE TTK, kif ukoll permezz ta’ ħidma ta’ kummissjonar minn ħafna istituti ta’ riċerka barranin u barranin (Awstrijaċi, Franċiżi, Slovakki, Ġermaniżi...eċċ) u intrapriżi żgħar u ta’ daqs medju involuti fl-iżvilupp tar-riċerka. Fl-istess ħin, għal eżami aġġornat ta’ għadd ta’ problemi ta’ riċerka fundamentali fix-xjenza tal-materjali, ir-riżoluzzjoni spazjali li s-SEM jista’ jikseb trid tiġi estiża għal skali atomiċi iżgħar (0.1nm) u firxiet akbar (submikron, mikrometru). Mill-perspettiva tal-investiment fl-infrastruttura, l-objettiv ewlieni tal-proġett huwa li tiġi estiża l-kapaċità ta’ riżoluzzjoni tal-kapaċità eżistenti tal-ittestjar tal-mikrostruttura tal-ELTE TTK fiż-żewġ direzzjonijiet. B’hekk, biħsiebna nżommu u nżidu r-rwol importanti tal-Ungerija fir-riċerka tal-fiżika u tax-xjenza tal-materjali. Aħna qed nippjanaw li niksbu tagħmir AFM/STM modern li jippermetti morfoloġiji tal-wiċċ li jintwerew fuq skala atomika f’varjetà ta ‘modi bħall-qawwa atomika (AFM), kurrent tal-mina (STM) u interazzjoni manjetika. Barra minn hekk, it-tagħmir huwa kapaċi jkejjel l-ebusija dinamika in situ fuq skala iżgħar minn tagħmir konvenzjonali għall-kejl tan-nanoebusija. Dan jippermetti, fost affarijiet oħra, id-determinazzjoni tal-proprjetajiet mekkaniċi ta’ films irqaq u materjali nanostrutturati. Il-kombinazzjoni tal-kejl tal-AFM/STM u tal-penetrazzjoni in situ tiftaħ perspettivi ġodda għat-twettiq ta’ studji multilaterali, bl-istudju tal-fenomeni tax-xjenza materjali fundamentali. Investiment ieħor ippjanat huwa diffractometer tar-raġġi-X mgħammar b’ottika moderna ta’ diffrazzjoni, ditekter jew unità ta’ moviment ta’ kampjun. Minbarra l-fatt li t-tagħmir huwa adattat għall-kejl tad-diffrazzjoni tat-trab ta ‘rutina, l-akbar vantaġġ tiegħu huwa l-abbiltà tiegħu li jiddetermina b’mod preċiż il-forma tal-qċaċet tad-diffrazzjoni Bragg taħt relazzjoni tajba ħafna ta’ sinjal/ħoss. It-twessigħ tal-qċaċet Bragg huwa kkawżat minn tipi differenti ta ‘difetti kristall preżenti fil-kristall. L-espansjoni sinifikanti hija kkawżata minn difetti kristalli lineari (dislokazzjonijiet), żball ta’ stratifikazzjoni u daqs tal-partikuli finiti (prinċipalment taħt il-100 nm). Analiżi ta’ preċiżjoni tal-forma tal-quċċata u tal-finitura asimptotika tagħha matul l-Analiżi tal-Profil tal-Linja tar-Raġġi X (RVA) tiddetermina xi parametri importanti tad-distribuzzjoni tad-daqs tal-partikuli, id-densità tad-dislokazzjonijiet, il-fluttwazzjoni spazjali tagħha, u d-densità tal-iżball ta’ stratifikazzjoni. L-iżvilupp u l-applikazzjoni tal-metodu għandu tradizzjonijiet fit-tul fid-dipartiment qasam (ELTE Dipartiment tal-Fiżika Materjali). Fil-biċċa l-kbira, l-evalwazzjoni hija bbażata fuq it-teorija ġenerali żviluppata mis-superviżur. L-algoritmu tal-Valutazzjoni tal-Profil tal-Għan Ġenerali, li jintuża f’diversi laboratorji madwar id-dinja, ġie żviluppat ukoll fid-Dipartiment. Barra minn hekk, matul dawn l-aħħar tliet deċennji, twettqu għadd kbir ta’ studji dwar sistemi speċifiċi, li r-riżultati tagħhom ġew ippubblikati fil-ġurnali ewlenin fil-qasam. Dawn l-investigazzjonijiet jitwettqu f’kooperazzjoni internazzjonali estensiva. Id-Dipartiment organizza wkoll żewġ seminars internazzjonali ta’ dottorat bil-parteċipazzjoni ta’ madwar 50 student tal-PhD matul l-aħħar 5 snin. Allura d-Dipartiment huwa wieħed mill-laboratorji determinanti għall-analiżi tal-profil linja. Fl-istess ħin, it-tagħmir tar-raġġi X attwalment disponibbli huwa estremament antikwat u sar kważi impossibbli li jinżamm. Dan huwa saħansitra aktar minnu għad-ditekters tar-raġġi X. Bl-akkwist ippjanat, sistema moderna ta’ kejl tal-profil tal-linja ta’ preċiżjoni għolja tkun disponibbli. Ta’ min jinnota wkoll li d-difraktometru jintuża wkoll mill-persunal tal-Istitut tal-Kimika u x-Xjenzi tad-Dinja biex jiddetermina l-parametri tal-grilja u d-daqs tal-qamħ. Għalkemm l-investimenti ppjanati se jappoġġaw għadd kbir ta’ riċerka wiesgħa ħafna, erba’ proġetti li huma uniniċi u assolutament jiżguraw li t-tagħmir isir fil-livell ewlieni tad-dinja jiġu diskussi f’aktar dettall hawn taħt. Eżami tal-proprjetajiet ta’ deformazzjoni ta’ mikrokolonni, valangi ta’ deformazzjoni, instabilità tal-plastik: Bis-saħħa tal-progress tekniku, jistgħu jinħolqu possibbiltajiet ġodda għall-produzz... (Maltese)

point in time

13 August 2022

0 references

No âmbito do Centro de Instrumentos da ELTE, um microscópio eletrônico de varredura (SEM), que é muito importante para a ciência dos materiais e pesquisa de materiais aplicados, funciona há 5 anos, que, além do modo de digitalização tradicional com uma resolução de cerca de 2 nm, tem mais detetores para determinar a composição da superfície, orientação local, etc. da amostra. Além disso, é combinado com um carburador de feixe de íons focado (FIB) que permite a criação de estruturas de superfície na escala de nanômetros e a capacidade de criar uma imagem 3D da microestrutura removendo camadas. O equipamento é amplamente utilizado pelo Instituto de Física, Química, Ciências da Terra e Biologia da ELTE TTK, bem como através do trabalho de comissionamento por muitos institutos de pesquisa estrangeiros e estrangeiros (austríaco, francês, eslovaco, alemão... etc) e pequenas e médias empresas envolvidas no desenvolvimento da pesquisa. Ao mesmo tempo, para um exame atualizado de uma série de problemas fundamentais de pesquisa em ciência dos materiais, a resolução espacial que o SEM pode alcançar deve ser estendida a escalas atômicas menores (0,1nm) e intervalos maiores (submícrones, micrômetros). Do ponto de vista do investimento em infraestruturas, o principal objetivo do projeto é alargar a capacidade de resolução da capacidade de ensaio de microestruturas existente da ELTE TTK em ambos os sentidos. Ao fazê-lo, tencionamos manter e reforçar o importante papel da Hungria na investigação em física e ciência dos materiais. Planejamos adquirir um moderno equipamento AFM/STM que permita que as morfologias de superfície sejam exibidas em escala atômica de várias maneiras, como potência atômica (AFM), corrente de túnel (STM) e interação magnética. Além disso, o equipamento é capaz de medir a dureza dinâmica in situ em uma escala mais pequeno do que o equipamento convencional de medição de nanodureza. Isto permite, entre outras coisas, determinar as propriedades mecânicas de películas finas e materiais nanoestruturados. A combinação de AFM/STM e medição de penetração in situ abriria novas perspetivas para a realização de estudos multilaterais, estudando fenômenos fundamentais da ciência material. Outro investimento planejado é um difratômetro de raios X equipado com uma moderna ótica de difração, detetor ou unidade de movimento de amostras. Além do fato de que o equipamento é adequado para medições rotineiras de difração de poeira, sua maior vantagem é sua capacidade de determinar com precisão a forma da difração picos de Bragg sob uma relação sinal/ruído muito bom. O alargamento dos picos de Bragg é causado por diferentes tipos de defeitos de cristal presentes no cristal. A expansão significativa é causada por defeitos lineares de cristal (deslocações), erro de estratificação e tamanho de partícula finita (principalmente abaixo de 100 nm). Uma análise de precisão da forma do pico e seu acabamento assintótico durante a Análise de Perfil de Linha de Raios X (RVA) determina alguns parâmetros importantes da distribuição do tamanho de partícula, a densidade das luxações, sua flutuação espacial e a densidade do erro de estratificação. O desenvolvimento e aplicação do método tem tradições duradouras no departamento de campo (ELTE Departamento de Física de Materiais). Em grande medida, a avaliação baseia-se na teoria geral desenvolvida pelo supervisor. O algoritmo de Avaliação de Perfil de Finalidade Geral, que é usado em vários laboratórios ao redor do mundo, também foi desenvolvido no Departamento. Além disso, nas últimas três décadas, um grande número de estudos tem sido realizado sobre sistemas específicos, cujos resultados foram publicados nos principais periódicos da área. Estes inquéritos são realizados no âmbito de uma ampla cooperação internacional. O Departamento também organizou dois seminários internacionais de doutorado com a participação de cerca de 50 estudantes de doutorado nos últimos 5 anos. Então, o Departamento é um dos laboratórios determinantes para a análise de perfil de linha. Ao mesmo tempo, o equipamento de raios-X atualmente disponível está extremamente desatualizado e tornou-se quase impossível de manter. Isto é ainda mais verdade para detetores de raios-X. Com a aquisição planejada, um moderno sistema de medição de perfil de linha de alta precisão estaria disponível. Deve-se também notar que o difratômetro também seria usado pelo pessoal do Instituto de Química e Ciências da Terra para determinar parâmetros de grade e tamanho de grãos. Embora os investimentos previstos apoiem um grande número de pesquisas de grande envergadura, 4 projetos que são pouco incisivos e garantem absolutamente que o equipamento é conduzido ao nível de liderança mundial são discutidos mais detalhadamente abaixo. Exame das propriedades de deformação de microcolunas, avalanches de deformação, instabilidade plástica: Graças ao progresso técnico, podem ser criadas novas possibilidades para a produção de materiais cristalinos... (Portuguese)

point in time

13 August 2022

0 references

Inden for rammerne af ELTE's instrumentcenter har et scanningselektronmikroskop (SEM), som er meget vigtigt for materialevidenskab og anvendt materialeforskning, fungeret i 5 år, som ud over den traditionelle scanningsmodus med en opløsning på ca. 2 nm har flere detektorer til at bestemme prøvens overfladesammensætning, lokale orientering osv. Derudover kombineres det med en fokuseret ionstrålekarburator (FIB), der gør det muligt at skabe overfladestrukturer på nanometerskalaen og evnen til at skabe et 3D-billede af mikrostrukturen ved at fjerne lag. Udstyret er meget udbredt af Institut for Fysik, Kemi, Jordvidenskab og Biologi af ELTE TTK, samt gennem bestilling arbejde af mange udenlandske og udenlandske (østrigske, franske, slovakiske, tyske...etc) forskningsinstitutter og små og mellemstore virksomheder, der er involveret i forskning udvikling. Samtidig skal den rumlige løsning, som SEM kan opnå, udvides til at omfatte mindre atomare (0.1nm) skalaer og større (submicron, mikrometer) intervaller for en ajourført undersøgelse af en række grundforskningsproblemer inden for materialevidenskaben. Med hensyn til infrastrukturinvesteringerne er hovedformålet med projektet at udvide afviklingskapaciteten for ELTE TTK's eksisterende mikrostrukturprøvningskapacitet i begge retninger. Dermed har vi til hensigt at bevare og øge Ungarns vigtige rolle inden for fysik og materialevidenskabelig forskning. Vi planlægger at erhverve et moderne AFM/STM udstyr, der gør det muligt at vise overflademorfologier på en atomisk skala på en række forskellige måder såsom atomkraft (AFM), tunnelstrøm (STM) og magnetisk interaktion. Desuden er udstyret i stand til at måle in situ dynamisk hårdhed i mindre skala end konventionelt udstyr til måling af nanohårdhed. Dette gør det bl.a. muligt at bestemme tyndfilms og nanostrukturerede materialers mekaniske egenskaber. Kombinationen af AFM/STM og in situ penetrationsmåling vil åbne op for nye perspektiver for at gennemføre multilaterale undersøgelser og studere grundlæggende materialevidenskabelige fænomener. En anden planlagt investering er et røntgendiffraktometer udstyret med en moderne diffraktionsoptik, detektor eller prøvebevægelsesenhed. Ud over at udstyret er egnet til rutinemæssige støvdiffraktionsmålinger, er dets største fordel dens evne til nøjagtigt at bestemme formen af diffraktion Bragg toppe under et meget godt signal/støj forhold. Udvidelsen af Bragg toppe er forårsaget af forskellige typer af krystal defekter til stede i krystallen. Signifikant ekspansion skyldes lineære krystalfejl (forskydninger), stratifikationsfejl og finite partikelstørrelse (hovedsagelig under 100 nm). En præcisionsanalyse af formen af toppen og dens asymptotiske finish under røntgenlinjens profilanalyse (RVA) bestemmer nogle vigtige parametre for partikelstørrelsesfordeling, tætheden af dislokationer, dens rumlige udsving og densiteten af stratifikationsfejlen. Udviklingen og anvendelsen af metoden har langvarige traditioner i feltafdelingen (ELTE Department of Materials Physics). Evalueringen er i vid udstrækning baseret på den generelle teori, som vejlederen har udviklet. General Purpose Profile Assessment algoritme, som anvendes i flere laboratorier rundt om i verden, er også blevet udviklet i departementet. Desuden er der i løbet af de sidste tre årtier gennemført en lang række undersøgelser af specifikke systemer, hvis resultater er blevet offentliggjort i de førende tidsskrifter på området. Disse undersøgelser gennemføres inden for rammerne af et omfattende internationalt samarbejde. Afdelingen har også afholdt to internationale ph.d.-seminarer med deltagelse af omkring 50 ph.d.-studerende i løbet af de seneste 5 år. Så departementet er et af de bestemmende laboratorier for linjeprofilanalyse. Samtidig er det røntgenudstyr, der i øjeblikket er tilgængeligt, ekstremt forældet og er blevet næsten umuligt at vedligeholde. Dette gælder endnu mere for røntgendetektorer. Med det planlagte indkøb vil der være et moderne højpræcisionslinjeprofilmålingssystem til rådighed. Det skal også bemærkes, at diffraktometeret også vil blive brugt af personalet ved Institute of Chemistry and Earth Sciences til at bestemme gitterparametre og kornstørrelse. Selv om de planlagte investeringer vil støtte en lang række meget vidtrækkende forskningsprojekter, drøftes fire projekter, der er uiniske og absolut sikrer, at udstyret gennemføres på verdens førende niveau, nærmere nedenfor. Undersøgelse af mikrokolonners deformationsegenskaber, laviner af deformation, ustabilitet i plast: Takket være den tekniske udvikling kan der skabes nye muligheder for produktion af krystallinske materialer af nano- og submikronstørrelse og overvågning af deres plastiske deformation på nanoskala i både materialeudvikling og testmetoder. I de senere år har det været... (Danish)

point in time

13 August 2022

0 references

În cadrul Centrului de instrumente ELTE, un microscop electronic de scanare (SEM), care este foarte important pentru știința materialelor și cercetarea materialelor aplicate, funcționează de 5 ani, care, pe lângă modul tradițional de scanare cu o rezoluție de aproximativ 2 nm, are mai multe detectoare pentru a determina compoziția suprafeței, orientarea locală etc. a eșantionului. În plus, este combinat cu un carburator focalizat cu fascicul de ioni (FIB) care permite crearea structurilor de suprafață pe scara nanometrică și capacitatea de a crea o imagine 3D a microstructurii prin îndepărtarea straturilor. Echipamentul este utilizat pe scară largă de Institutul de Fizică, Chimie, Științe ale Pământului și Biologie ELTE TTK, precum și prin punerea în funcțiune de către multe institute de cercetare străine și străine (austriacă, franceză, slovacă, germană etc.) și întreprinderi mici și mijlocii implicate în dezvoltarea cercetării. În același timp, pentru o examinare actualizată a unei serii de probleme de cercetare fundamentală în știința materialelor, rezoluția spațială pe care o poate atinge SEM trebuie extinsă la scări atomice mai mici (0,1nm) și la intervale mai mari (submicroni, micrometri). Din punctul de vedere al investiției în infrastructură, obiectivul principal al proiectului este de a extinde capacitatea de rezoluție a capacității existente de testare a microstructurii ELTE TTK în ambele direcții. În acest sens, intenționăm să menținem și să sporim rolul important al Ungariei în domeniul fizicii și al cercetării în domeniul științei materialelor. Intenționăm să achiziționăm un echipament modern AFM/STM care să permită afișarea la scară atomică a morfologiilor de suprafață într-o varietate de moduri, cum ar fi puterea atomică (AFM), curentul tunelului (STM) și interacțiunea magnetică. În plus, echipamentul este capabil să măsoare duritatea dinamică in situ la o scară mai mică decât echipamentul convențional de măsurare a nanodurității. Acest lucru permite, printre altele, determinarea proprietăților mecanice ale filmelor subțiri și ale materialelor nanostructurate. Combinația dintre măsurarea AFM/STM și măsurarea penetrării in situ ar deschide noi perspective pentru realizarea de studii multilaterale, studierea fenomenelor științifice fundamentale ale materialelor. O altă investiție planificată este un difractometru cu raze X echipat cu o optică de difracție modernă, detector sau unitate de mișcare a eșantioanelor. Pe lângă faptul că echipamentul este potrivit pentru măsurători de rutină ale difracției prafului, cel mai mare avantaj al acestuia este capacitatea sa de a determina cu precizie forma vârfurilor de difracție Bragg sub o relație semnal/zgomot foarte bună. Lărgirea vârfurilor Bragg este cauzată de diferite tipuri de defecte de cristal prezente în cristal. Expansiunea semnificativă este cauzată de defecte de cristal liniar (dislocări), eroare de stratificare și dimensiunea particulelor finite (în principal sub 100 nm). O analiză de precizie a formei vârfului și a finisajului său asimptotic în timpul analizei profilului liniei X (RVA) determină anumiți parametri importanți ai distribuției dimensiunii particulelor, densitatea dislocărilor, fluctuația spațială a acesteia și densitatea erorii de stratificare. Dezvoltarea și aplicarea metodei are tradiții de lungă durată în departamentul de domeniu (Departamentul ELTE de Fizică a Materialelor). Într-o mare măsură, evaluarea se bazează pe teoria generală elaborată de supraveghetor. Algoritmul de evaluare a profilului de scop general, care este utilizat în mai multe laboratoare din întreaga lume, a fost, de asemenea, dezvoltat în cadrul Departamentului. În plus, în ultimele trei decenii, un număr mare de studii au fost efectuate pe sisteme specifice, ale căror rezultate au fost publicate în revistele de vârf din domeniu. Aceste investigații sunt efectuate în cadrul unei cooperări internaționale extinse. Departamentul a organizat, de asemenea, două seminarii internaționale de doctorat cu participarea a aproximativ 50 de doctoranzi în ultimii 5 ani. Deci Departamentul este unul dintre laboratoarele de determinare pentru analiza profilului liniei. În același timp, echipamentul cu raze X disponibil în prezent este extrem de depășit și a devenit aproape imposibil de întreținut. Acest lucru este și mai adevărat pentru detectoarele cu raze X. Odată cu achiziția planificată, ar fi disponibil un sistem modern de măsurare a profilului liniei de înaltă precizie. De asemenea, trebuie remarcat faptul că difractometrul ar fi, de asemenea, utilizat de personalul Institutului de Chimie și Științe ale Pământului pentru a determina parametrii de grilă și dimensiunea cerealelor. Deși investițiile planificate vor sprijini un număr mare de cercetări foarte ample, 4 proiecte care sunt neinice și se asigură absolut că echipamentele sunt realizate la nivel mondial sunt discutate în detaliu mai jos. Examinarea proprietăților de deformare ale microcoloanelor, avalanșe... (Romanian)

point in time

13 August 2022

0 references

Im Rahmen des ELTE Instrument Centre arbeitet seit 5 Jahren ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Materialwissenschaft und die angewandte Materialforschung sehr wichtig ist, das neben dem traditionellen Scanmodus mit einer Auflösung von etwa 2 nm mehr Detektoren besitzt, um die Oberflächenzusammensetzung, die lokale Ausrichtung usw. der Probe zu bestimmen. Darüber hinaus wird es mit einem fokussierten Ionenstrahlvergaser (FIB) kombiniert, der die Bildung von Oberflächenstrukturen auf der Nanometerskala und die Fähigkeit ermöglicht, ein 3D-Bild der Mikrostruktur durch Entfernen von Schichten zu erstellen. Die Ausrüstung wird weit verbreitet vom Institut für Physik, Chemie, Erdwissenschaften und Biologie von ELTE TTK, sowie durch die Inbetriebnahme von vielen ausländischen (österreichischen, französischen, slowakischen, deutschen... etc.) Forschungsinstituten und kleinen und mittleren Unternehmen in der Forschung. Gleichzeitig muss für eine aktuelle Untersuchung einer Reihe grundlegender Forschungsprobleme in der Materialwissenschaft die räumliche Auflösung, die SEM erreichen kann, auf kleinere atomare (0,1nm) Skalen und größere (submicron, micrometer) Bereiche ausgedehnt werden. Aus Sicht der Infrastrukturinvestitionen besteht das Hauptziel des Projekts darin, die Auflösungskapazität der bestehenden Mikrostrukturprüfkapazität von ELTE TTK in beide Richtungen zu erweitern. Dabei wollen wir die wichtige Rolle Ungarns in der Physik- und Materialforschung erhalten und ausbauen. Wir planen, eine moderne AFM/STM-Ausrüstung zu erwerben, die es erlaubt, Oberflächenmorphologien auf einer atomaren Skala in einer Vielzahl von Arten wie Atomkraft (AFM), Tunnelstrom (STM) und magnetische Interaktion anzuzeigen. Darüber hinaus ist das Gerät in der Lage, in-situ dynamische Härte in einem kleineren Maßstab zu messen als herkömmliche Nanohardness-Messgeräte. Dies ermöglicht unter anderem die Bestimmung der mechanischen Eigenschaften von Dünnschichten und nanostrukturierten Materialien. Die Kombination von AFM/STM und In-situ Penetrationsmessung würde neue Perspektiven für die Durchführung multilateraler Studien eröffnen, die grundlegende materialwissenschaftliche Phänomene untersuchen. Eine weitere geplante Investition ist ein Röntgendiffraktometer mit moderner Beugungsoptik, Detektor oder Probenbewegungseinheit. Neben der Tatsache, dass das Gerät für Routinestaubdiffraktionsmessungen geeignet ist, ist ihr größter Vorteil die Fähigkeit, die Form der Beugung Bragg-Spitzen unter einer sehr guten Signal-/Lärmbeziehung genau zu bestimmen. Die Erweiterung der Bragg-Spitzen wird durch verschiedene Arten von Kristalldefekten im Kristall verursacht. Eine signifikante Ausdehnung wird durch lineare Kristalldefekte (Dislokationen), Schichtungsfehler und endliche Partikelgröße (hauptsächlich unter 100 nm) verursacht. Eine präzise Analyse der Form des Peaks und seines asymptotischen Finishs während der Röntgenlinienprofilanalyse (RVA) bestimmt einige wichtige Parameter der Partikelgrößenverteilung, der Dichte der Dislokationen, der räumlichen Schwankung und der Dichte des Schichtungsfehlers. Die Entwicklung und Anwendung der Methode hat langjährige Traditionen in der Feldabteilung (ELTE Department of Materials Physics). Die Bewertung basiert weitgehend auf der allgemeinen Theorie, die der Betreuer entwickelt hat. Der Algorithmus General Purpose Profile Assessment, der in mehreren Laboratorien auf der ganzen Welt verwendet wird, wurde ebenfalls in der Abteilung entwickelt. Darüber hinaus wurden in den letzten drei Jahrzehnten zahlreiche Studien zu spezifischen Systemen durchgeführt, deren Ergebnisse in den führenden Fachzeitschriften veröffentlicht wurden. Diese Untersuchungen werden in umfassender internationaler Zusammenarbeit durchgeführt. Die Abteilung hat auch zwei internationale Doktorandenseminare organisiert, an denen in den letzten 5 Jahren rund 50 Doktoranden teilnahmen. So ist die Abteilung eines der bestimmenden Labors für die Linienprofilanalyse. Gleichzeitig ist das derzeit verfügbare Röntgengerät extrem veraltet und ist fast unmöglich zu warten. Dies gilt noch mehr für Röntgendetektoren. Mit der geplanten Beschaffung wäre ein modernes Hochpräzisionslinienprofilmesssystem verfügbar. Es sei auch darauf hingewiesen, dass das Diffraktometer auch von Mitarbeitern des Instituts für Chemie und Geowissenschaften zur Bestimmung der Gitterparameter und der Korngröße verwendet wird. Obwohl die geplanten Investitionen eine große Anzahl sehr umfangreicher Forschungen unterstützen werden, werden im Folgenden 4 Projekte, die uninical sind und absolut gewährleisten, dass die Ausrüstung auf der weltweit führenden Ebene durchgeführt wird, ausführlicher diskutiert. Untersuchung der Verformungseigenschaften von Mikrospalten, Verformung Lawinen, Kunststoffinstabilität: Dank des technischen Fortschritts können sowohl in der Materialentwicklung als auch in Testmethoden neue Möglichkeiten für die Herstellung von kristallinen Material... (German)

point in time

13 August 2022

0 references

Inom ramen för ELTE:s Instrument Centre har ett skanningselektronmikroskop (SEM), som är mycket viktigt för materialvetenskap och tillämpad materialforskning, varit i drift i fem år, som förutom det traditionella skanningsläget med en upplösning på ca 2 nm har fler detektorer för att bestämma ytsammansättningen, lokal orientering etc. av provet. Dessutom kombineras den med en fokuserad jonstråleförgasare (FIB) som gör det möjligt att skapa ytstrukturer på nanometerskalan och möjligheten att skapa en 3D-bild av mikrostrukturen genom att ta bort lager. Utrustningen används i stor utsträckning av Institutet för fysik, kemi, geovetenskap och biologi vid ELTE TTK, samt genom att beställa arbete av många utländska och utländska (österrikiska, franska, slovakiska, tyska... etc.) forskningsinstitut och små och medelstora företag som är involverade i forskningsutveckling. Samtidigt måste den rumsliga upplösning som SEM kan uppnå utvidgas till att omfatta mindre atomskalan (0,1nm) och större (submikrometer) intervall för en aktuell undersökning av ett antal grundläggande forskningsproblem inom materialvetenskapen. När det gäller infrastrukturinvesteringen är huvudsyftet med projektet att utöka upplösningskapaciteten för ELTE TTK:s befintliga mikrostrukturprovningskapacitet i båda riktningarna. På så sätt har vi för avsikt att bibehålla och öka Ungerns viktiga roll inom fysik- och materialvetenskaplig forskning. Vi planerar att förvärva en modern AFM/STM-utrustning som gör det möjligt att visa ytmorfologier på en rad olika sätt såsom atomkraft (AFM), tunnelström (STM) och magnetisk interaktion. Dessutom kan utrustningen mäta dynamisk hårdhet på plats i mindre skala än konventionell utrustning för mätning av nanohårdhet. Detta möjliggör bland annat bestämning av de mekaniska egenskaperna hos tunna filmer och nanostrukturerade material. Kombinationen av AFM/STM och in situ penetrationsmätning skulle öppna nya perspektiv för att genomföra multilaterala studier och studera grundläggande materialvetenskapliga fenomen. En annan planerad investering är en röntgendiffraktometer utrustad med en modern diffraktionsoptik, detektor eller provrörelseenhet. Förutom det faktum att utrustningen är lämplig för rutinmässiga dammdiffraktionsmätningar, är dess största fördel dess förmåga att exakt bestämma formen på diffraktionsbraggtopparna under ett mycket bra signal-/bullerförhållande. Breddningen av Braggs toppar orsakas av olika typer av kristalldefekter som finns i kristallen. Signifikant expansion orsakas av linjära kristalldefekter (dislocations), stratifieringsfel och ändlig partikelstorlek (främst under 100 nm). En precisionsanalys av toppens form och dess asymptotiska finish under röntgenlinjeprofilanalysen (RVA) bestämmer några viktiga parametrar för partikelstorleksfördelning, förskjutningarnas densitet, dess rumsliga fluktuation och stratifieringsfelets densitet. Utvecklingen och tillämpningen av metoden har långvariga traditioner inom fältavdelningen (ELTE Institutionen för materialfysik). Utvärderingen bygger till stor del på den allmänna teori som utvecklats av handledaren. Algoritmen General Purpose Profile Assessment, som används i flera laboratorier runt om i världen, har också utvecklats på institutionen. Under de senaste tre decennierna har dessutom ett stort antal studier genomförts om specifika system, vars resultat har publicerats i de ledande tidskrifterna på området. Dessa undersökningar genomförs i ett omfattande internationellt samarbete. Institutionen har också anordnat två internationella doktorandseminarier med deltagande av cirka 50 doktorander under de senaste fem åren. Så institutionen är ett av de avgörande laboratorierna för linjeprofilanalys. Samtidigt är röntgenutrustningen för närvarande extremt föråldrad och har blivit nästan omöjlig att underhålla. Detta är ännu mer sant för röntgendetektorer. Med den planerade upphandlingen skulle ett modernt system för mätning av linjeprofiler med hög precision vara tillgängligt. Det bör också noteras att diffraktometern också skulle användas av personalen vid Institutet för kemi och geovetenskaper för att fastställa rutnätsparametrar och kornstorlek. Även om de planerade investeringarna kommer att stödja ett stort antal mycket omfattande forskning, diskuteras fyra projekt som är oiniska och absolut säkerställer att utrustningen genomförs på världsledande nivå nedan. Undersökning av mikrokolumners deformationsegenskaper, deformation laviner, plastinstabilitet: Tack vare den tekniska utvecklingen kan nya möjligheter skapas för produktion av kristallina material i nano- och submikronstorlek och övervakning av deras plastdeformation på nanoskala, både inom materialutveckling och testmetoder. Under de senaste åren har det varit reve... (Swedish)

point in time

13 August 2022

0 references

contained in Local Administrative Unit

Budapest

0 references

location (string)

Budapest, Budapest

0 references

Identifiers

Hungarian Kohesio ID

VEKOP-2.3.3-15-2016-00003

0 references

Nanokaracterisation laboratory for the development of new advanced materials (Q3958253)

Statements

Identifiers

Navigation menu

Search