High-precision techniques of millimeter and sub-THz band characterisation of materials for Microelectronics (Q84175)
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Project Q84175 in Poland
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | High-precision techniques of millimeter and sub-THz band characterisation of materials for Microelectronics |
Project Q84175 in Poland |
Statements
1,753,670.0 zloty
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100.0 percent
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1 November 2016
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30 April 2020
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POLITECHNIKA WARSZAWSKA
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The main objective of this project will be to develop novel sensors and sensing methodologies useful to non-destructive contactless electric and magnetic characterization of materials at millimeter and sub-THz spectra. The implementation of this goal will be two-pronged. On one hand, the said resonant structures will be exploited to benefit from their inherent narrow-band properties, which are particularly useful at measuring low-loss materials. On the other hand, the research will also concern broadband measurement techniques based on multimode resonant structures. The auxiliary goal is adopting the technological approaches typical for the microelectronics industry and apply them for precise fabrication of novel resonant cavities operating in the millimeter and the sub-THz bands. Another such goal is development of a new low-loss yet high dielectric constant material for dielectric posts inserted into sensing cavities. (Polish)
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The main objective of this project will be to develop novel sensors and sensing methodologies useful to non-destructive contactless electric and magnetic characterisation of materials at millimeter and sub-THz spectra. The implementation of this goal will be two-Pronged. On one hand, the said Resonant structures will be exploited to benefit from their inherent narrow-band properties, which are particularly useful at measuring low-loss materials. On the other hand, the research will also concern broadband measurement techniques based on multimode Resonant structures. The auxiliary goal is adopting the technological approaches typical for the Microelectronics industry and apply them for precise fabrication of novel Resonant cavities operating in the millimeter and the sub-THz bands. Another such goal is development of a new low-loss yet high dielectric constant material for dielectric posts inserted into sensing cavities. (English)
14 October 2020
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L’objectif principal de ce projet sera de développer de nouveaux capteurs et méthodologies de détection utiles à la caractérisation électrique et magnétique non destructive sans contact des matériaux aux spectres millimètres et sub-THz. La réalisation de cet objectif sera à deux volets. D’une part, ces structures résonnantes seront exploitées pour bénéficier de leurs propriétés intrinsèques à bande étroite, qui sont particulièrement utiles pour mesurer les matériaux à faible perte. D’autre part, la recherche portera également sur les techniques de mesure à large bande basées sur des structures multimodes résonnantes. L’objectif auxiliaire est d’adopter les approches technologiques typiques de l’industrie de la microélectronique et de les appliquer pour la fabrication précise de cavités résonnantes nouvelles opérant dans les bandes millimètres et sub-THz. Un autre objectif de ce type est le développement d’un nouveau matériau constant diélectrique à faible perte mais élevé pour les poteaux diélectriques insérés dans les cavités sensibles. (French)
30 November 2021
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Hauptziel dieses Projekts ist die Entwicklung neuartiger Sensoren und Sensibilisierungsmethoden, die für die zerstörungsfreie elektrische und magnetische Charakterisierung von Materialien in Millimeter und Sub-THz-Spektren nützlich sind. Die Umsetzung dieses Ziels wird zweigleisig sein. Einerseits werden die genannten Resonanzstrukturen ausgenutzt, um von ihren inhärenten Schmalbandeigenschaften zu profitieren, die bei der Messung von verlustarmen Materialien besonders nützlich sind. Andererseits wird die Forschung auch Breitbandmesstechniken betreffen, die auf Multimode-Resonanzstrukturen basieren. Das Hilfsziel ist es, die für die Mikroelektronikindustrie typischen technologischen Ansätze zu übernehmen und sie für die präzise Herstellung neuartiger Resonanzhöhlen im Millimeter- und Sub-THz-Band anzuwenden. Ein weiteres solches Ziel ist die Entwicklung eines neuen Low-Loss-Konstantenmaterials für die elektrischen Pfosten, das in Sensing Hohlräume eingefügt wird. (German)
7 December 2021
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Het belangrijkste doel van dit project is het ontwikkelen van nieuwe sensoren en detectiemethoden die nuttig zijn voor niet-destructieve contactloze elektrische en magnetische karakterisering van materialen bij millimeter en sub-THz spectra. De verwezenlijking van dit doel zal tweeledig zijn. Aan de ene kant zullen de genoemde resonante structuren worden benut om te profiteren van hun inherente smalbandeigenschappen, die bijzonder nuttig zijn bij het meten van materialen met een laag verlies. Anderzijds zal het onderzoek ook betrekking hebben op breedbandmeettechnieken op basis van multimode resonante structuren. Het nevendoel is het aannemen van de technologische benaderingen die typisch zijn voor de micro-elektronica-industrie en deze toe te passen voor nauwkeurige fabricage van nieuwe resonante holtes die in de millimeter en de sub-THz-banden werken. Een ander doel is de ontwikkeling van een nieuw laag-verlies maar hoog diëlektrische constante materiaal voor diëlektrische palen die in sensingholten worden geplaatst. (Dutch)
16 December 2021
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L'obiettivo principale di questo progetto sarà quello di sviluppare nuovi sensori e metodologie di rilevamento utili alla caratterizzazione elettrica e magnetica non distruttiva dei materiali a spettro millimetro e subTHz. L'attuazione di questo obiettivo sarà duplice. Da un lato, tali strutture risonanti saranno sfruttate per beneficiare delle loro proprietà intrinseche a banda stretta, che sono particolarmente utili per misurare i materiali a bassa perdita. D'altro canto, la ricerca riguarderà anche le tecniche di misurazione della banda larga basate su strutture risonanti multimodi. L'obiettivo ausiliario è quello di adottare gli approcci tecnologici tipici dell'industria della microelettronica e applicarli per una precisa fabbricazione di nuove cavità risonanti operanti nelle bande millimetriche e sub-THz. Un altro obiettivo di questo tipo è lo sviluppo di un nuovo materiale costante dielettrico a bassa perdita ma elevato per i pali dielettrici inseriti nelle cavità sensibili. (Italian)
16 January 2022
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El objetivo principal de este proyecto será desarrollar nuevos sensores y metodologías de detección útiles para la caracterización eléctrica y magnética no destructiva sin contacto de los materiales en espectros milimétricos y subTHz. La aplicación de este objetivo será de dos puntas. Por un lado, las estructuras resonantes mencionadas serán explotadas para beneficiarse de sus propiedades inherentes de banda estrecha, que son particularmente útiles para medir materiales de baja pérdida. Por otra parte, la investigación también se referirá a técnicas de medición de banda ancha basadas en estructuras resonantes multimodo. El objetivo auxiliar es adoptar los enfoques tecnológicos típicos de la industria de la microelectrónica y aplicarlos para la fabricación precisa de nuevas cavidades resonantes que operan en el milímetro y las bandas sub-THz. Otro objetivo de este tipo es el desarrollo de un nuevo material constante dieléctrico de baja pérdida pero alto para postes dieléctricos insertados en cavidades de detección. (Spanish)
19 January 2022
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Identifiers
POIR.04.04.00-00-1C4B/16
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