Equipment for near-situ electronic microscopy and high-resolution low-voltage Analytical Tomography. (Q3180412)
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Project Q3180412 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Equipment for near-situ electronic microscopy and high-resolution low-voltage Analytical Tomography. |
Project Q3180412 in Spain |
Statements
167,632.14 Euro
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209,540.17 Euro
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80.0 percent
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1 January 2016
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31 December 2018
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UNIVERSIDAD DE CADIZ
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36°31'43.28"N, 6°11'24.79"W
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11028
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El objetivo central de esta solicitud es expandir las posibilidades analíticas del Microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 recientemente incorporado a la División de Microscopía Electrónica de los SC-ICYT de la Universidad de Cádiz mediante la adquisición de porta-muestras avanzados de microscopía electrónica, así como mediante la posibilidad de reducir el voltaje de trabajo a 60kV, extendiendo así el uso de este microscopio a materiales sensibles a daños por irradiación, en condiciones distintas a las habituales en microscopios convencionales. Se propone, en primer lugar, la adquisición de un portamuestras de doble inclinación de transferencia en vacío, que permitiría el estudio analítico de las muestras estudiadas en condiciones cuasi in-situ, tras un tratamiento en atmósfera controlada. Se propone igualmente la adquisición de un porta-muestras comercial que permita, gracias a su diseño y su gran intervalo de giro, la adquisición de series tomográficas en modo X-EDS para generar mapas composicionales en tres dimensiones. Finalmente se propone la incorporación del alineamiento a 60 kV del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300. A través de esta incorporación se amplía las posibilidades de uso del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 a otros materiales, de importancia tecnológica, creándose una línea nueva de investigación en nuestra Universidad. (Spanish)
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The central objective of this request is to expand the analytical possibilities of the FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscope recently incorporated into the Electronic Microscopy Division of the SC-ICYT of the University of Cadiz through the acquisition of advanced electronic microscopy sample holders, as well as the possibility of reducing the working voltage to 60 kV, thus extending the use of this microscope to materials sensitive to irradiation damage, under conditions other than those usual in conventional microscopes. It is proposed, first of all, the acquisition of a double tilt vacuum transfer sample holder, which would allow the analytical study of the samples studied under quasi-situ conditions, after treatment in controlled atmosphere. It is also proposed to acquire a commercial sample holder that, thanks to its design and its large turning interval, allows the acquisition of X-EDS tomographic series to generate compositional maps in three dimensions. Finally, the 60 kV alignment of the FEI TITAN3 Themis 60-300 microscope is proposed. This addition extends the possibilities of using the FEI TITAN3 Themis 60-300 microscope to other materials, of technological importance, creating a new line of research at our University. (English)
12 October 2021
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L’objectif central de cette demande est d’élargir les possibilités d’analyse du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 récemment intégré à la division Microscopie électronique du SC-ICYT de l’Université de Cadiz par l’acquisition de porte-échantillons de microscopie électronique avancés, ainsi que la possibilité de réduire la tension de travail à 60 kV, étendant ainsi l’utilisation de ce microscope à des matériaux sensibles aux dommages par irradiation, dans des conditions autres que celles habituelles dans les microscopes conventionnels. Il est proposé, tout d’abord, d’acquérir un porte-échantillon de transfert sous vide à double inclinaison, qui permettrait l’étude analytique des échantillons étudiés dans des conditions quasi-situes, après traitement en atmosphère contrôlée. Il est également proposé d’acquérir un détenteur d’échantillons commerciaux qui, grâce à sa conception et à son intervalle de rotation important, permet l’acquisition de séries tomographiques X-EDS pour générer des cartes compositionnelles en trois dimensions. Enfin, l’alignement de 60 kV du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 est proposé. Cet ajout élargit les possibilités d’utiliser le microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 à d’autres matériaux d’importance technologique, créant ainsi une nouvelle ligne de recherche à l’Université. (French)
4 December 2021
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Zentrales Ziel dieses Antrags ist es, die Analysemöglichkeiten des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops, das kürzlich in die Electronic Microscopy Division der SC-ICYT der Universität Cadiz integriert wurde, durch den Erwerb von hochentwickelten elektronischen Mikroskopieprobenhaltern sowie die Möglichkeit, die Arbeitsspannung auf 60 kV zu reduzieren, zu erweitern und so die Verwendung dieses Mikroskops auf Materialien auszuweiten, die für Bestrahlungsschäden empfindlich sind, unter anderen Bedingungen als in herkömmlichen Mikroskopen üblich. Es wird zunächst vorgeschlagen, einen doppelten Neigungsvakuumtransfer Probenhalter zu erwerben, der die analytische Untersuchung der unter Quasi-Situ-Bedingungen untersuchten Proben nach Behandlung in kontrollierter Atmosphäre ermöglichen würde. Es wird auch vorgeschlagen, einen kommerziellen Probenhalter zu erwerben, der dank seines Designs und seines großen Drehintervalls den Erwerb von X-EDS-Tomographie-Serien ermöglicht, um kompositorische Karten in drei Dimensionen zu erzeugen. Schließlich wird die 60 kV Ausrichtung des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops vorgeschlagen. Diese Ergänzung erweitert die Möglichkeiten des Einsatzes des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops auf andere Materialien von technologischer Bedeutung und schafft eine neue Forschungslinie an unserer Universität. (German)
9 December 2021
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Het centrale doel van dit verzoek is het uitbreiden van de analytische mogelijkheden van de FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscoop die onlangs is opgenomen in de afdeling Elektronische Microscopie van het SC-ICYT van de Universiteit van Cadiz door de verwerving van geavanceerde elektronische microscopiemonsterhouders, evenals de mogelijkheid om de werkspanning te verminderen tot 60 kV, waardoor het gebruik van deze microscoop wordt uitgebreid tot materialen die gevoelig zijn voor bestralingsschade, onder andere omstandigheden dan gebruikelijk in conventionele microscopen. In de eerste plaats wordt voorgesteld een houder van een dubbelkantel vacuümoverbrengingsmonster te verkrijgen, die het mogelijk zou maken de monsters die onder quasi-situ-omstandigheden zijn onderzocht, na behandeling in gecontroleerde atmosfeer te analyseren. Er wordt ook voorgesteld om een commerciële monsterhouder te verwerven die, dankzij zijn ontwerp en zijn grote draaiinterval, de overname van X-EDS-tomografische series mogelijk maakt om compositiekaarten in drie dimensies te genereren. Ten slotte wordt de 60 kV-uitlijning van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop voorgesteld. Deze toevoeging breidt de mogelijkheden van het gebruik van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop uit naar andere materialen, van technologisch belang, het creëren van een nieuwe lijn van onderzoek aan onze universiteit. (Dutch)
17 December 2021
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Puerto Real
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Identifiers
UNCA15-CE-3715
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