Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. (Q81354)
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Project Q81354 in Poland
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. |
Project Q81354 in Poland |
Statements
254,991.5 zloty
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299,990.0 zloty
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85.0 percent
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2 January 2018
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30 April 2019
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CORRESCOPY MICHAŁ DYKAS
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Numer_referencyjny_programu_pomocowego: SA.42799(2015/X), pomoc_de_minimis: §42 rozporządzenia Ministra Infrastruktury i Rozwoju z dnia 10 lipca 2015 r. w sprawie udzielania przez Polską Agencję Rozwoju Przedsiębiorczości pomocy finansowej w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014–2020.Projekt zakłada opracowanie i przebadanie nowego wyrobu - nanokalibracyjnej płytki wzorcowej (dla systemu korelacyjnej obserwacji powierzchni w mikro- i nanoskali oraz optymalizacje systemu korelacyjnej obserwacji do współpracy z opracowanymi próbkami. Finalny produkt będzie miał cechy innowacyjne wyróżniające go od obecnie znanych rozwiązań tj. -funkcjonalność, poprzez uniwersalność płytki wzorcowej użytkownik może zastosować jedną i tą samą płytkę wzorcową w wielu urządzeniach mikroskopowych (wykorzystujących np. światło czy wiązkę elektronową); -zwiększona odporność produktu na czynniki zewnętrzne, poprzez wprowadzoną uniwersalność płytki, musi ona być odporna na wiele czynników zewnętrznych w których będzie używana, np. temperaturę, środki chemiczne, czy działanie promieniowania; -precyzyjność płytki, przy produkcji wykonane zostaną nanomarkery, które pozwalają na znaczące (nawet o rząd wielkości) zwiększenie precyzji ustalania położenia badanego preparatu oraz ulepszoną kalibrację mikroskopów pod kątem obrazowania korelacyjnego; -dodatkowo, wprowadzony będzie także układ nanomarkerów na powierzchni refencyjnej uchwytu systemu korelacyjnej obserwacji, pozwalający znacząco zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki, w tym także ilościowo ocenić odchylenie ortogonalności ustawienia uchwytu. -opracowana zostanie procedura wprowadzania nastaw i obliczania współczynników korekcyjnych pozycjonowania próbki. Nowe rozwiązanie może zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki kilkukrotnie, a nawet o rząd wielkości. Wprowadzone innowacje będą skutkować znacznym podniesieniem jakości całego systemu k (Polish)
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Reference number of the aid programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 of the Regulation of the Minister of Infrastructure and Development of 10 July 2015 on the granting by the Polish Agency for Enterprise Development financial assistance under the Operational Programme Intelligent Development 2014-2020.The project assumes the development and testing of a new product – a nanocalibration calibration plate (for the correlated system of surface observation in micro- and nanoscales and optimisation of the correlation system of observation to cooperate with the samples developed. The final product will have innovative features that distinguish it from currently known solutions i.e. —functionality, through the versatility of the reference plate, the user can use one and the same reference plate in many microscopic devices (using e.g. light or electron beam); —increased resistance of the product to external factors, through the introduction of the versatility of the plate, it must be resistant to many external factors in which it will be used, e.g. temperature, chemicals or radiation; —the precision of the plate, in production, will be made nanomarkers, which allow for a significant (even an order of size) increase the precision of the positioning of the test preparation and improved calibration of microscopes for correlation imaging; —in addition, a system of nanomarkers will also be introduced on the reef surface of the handle of the correlation observation system, which allows to significantly increase the precision of the positioning of the sample, including quantifying the deviation of the orthogonality of the positioning of the handle. —a procedure for setting up and calculating the corrective factors for the positioning of the sample will be developed. The new solution can increase the precision of positioning the sample several times, or even by an order of magnitude. The innovations introduced will result in a significant improvement in the quality of the whole system k (English)
14 October 2020
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Reference_Aid_programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Article 42 du règlement du ministre des infrastructures et du développement du 10 juillet 2015 relatif à l’octroi d’une aide financière par l’Agence polonaise pour le développement de l’entreprise dans le cadre du programme opérationnel «Croissance intelligente» 2014-2020. Le projet comporte la mise au point et la mise à l’essai d’un nouveau produit — une plaque de référence pour la nanoétalonnage (pour un système d’observation de corrélation des surfaces à l’échelle micro et nanométrique et l’optimisation du système d’observation de corrélation pour la coopération avec les échantillons préparés). Le produit final aura des caractéristiques innovantes qui le distinguent des solutions actuellement connues, à savoir: —fonctionnalité, grâce à la polyvalence de la plaque de référence, l’utilisateur peut utiliser une seule et même plaque standard dans plusieurs dispositifs microscopiques (en utilisant par exemple la lumière ou le faisceau d’électrons); —la résistance accrue du produit aux agents externes, par la polyvalence introduite de la plaque, doit être résistante à de nombreux facteurs externes dans lesquels il sera utilisé, par exemple la température, les agents chimiques ou le rayonnement; —la précision de la plaque, en production, sera faite nanomarqueurs, ce qui permettra d’augmenter significativement (même par ordre de taille) la précision du positionnement de la préparation d’essai et l’étalonnage amélioré des microscopes pour l’imagerie de corrélation; —en outre, le système de nanomarqueurs sera également introduit sur la surface réfractive de la poignée du système d’observation de corrélation, ce qui permettra d’augmenter de manière significative la précision du positionnement de l’échantillon, y compris en quantifiant l’écart de l’orthogonité du réglage de la poignée. — une procédure de fixation et de calcul des facteurs de correction de positionnement de l’échantillon sera mise au point. La nouvelle solution peut augmenter la précision du positionnement de l’échantillon plusieurs fois, voire par ordre de taille. Les innovations introduites amélioreront considérablement la qualité de l’ensemble du système k (French)
30 November 2021
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Referenz_Aid_Programm: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: § 42 der Verordnung des Ministers für Infrastruktur und Entwicklung vom 10. Juli 2015 über die finanzielle Unterstützung der polnischen Agentur für Unternehmensentwicklung im Rahmen des Operationellen Programms „Intelligentes Wachstum“ 2014-2020. Das Projekt umfasst die Entwicklung und Erprobung eines neuen Produkts – eine Referenzplatte für Nanokalibrierung (für ein System der Korrelationsbeobachtung von Oberflächen in Mikro- und Nanoskalen und Optimierungen des Korrelationsbeobachtungssystems für die Zusammenarbeit mit den vorbereiteten Proben). Das Endprodukt wird innovative Merkmale aufweisen, die es von den derzeit bekannten Lösungen unterscheiden, d. h. —Funktionalität, durch die Vielseitigkeit der Referenzplatte, kann der Benutzer eine und die gleiche Standardplatte in mehreren mikroskopischen Geräten (mit z. B. Licht- oder Elektronenstrahl) verwenden; —die erhöhte Beständigkeit des Produkts gegenüber externen Arbeitsstoffen durch die eingeführte Vielseitigkeit der Platte muss gegen viele externe Faktoren beständig sein, in denen es verwendet wird, z. B. Temperatur, chemische Arbeitsstoffe oder Strahlung; —die Präzision der Platte in der Produktion wird Nanomarker, die eine signifikante (auch nach Größe) ermöglichen, die Präzision der Positionierung der Testvorbereitung und verbesserte Kalibrierung der Mikroskope für Korrelationsbildgebung zu erhöhen; —zusätzlich wird das Nanomarkersystem auch auf der refraktiven Oberfläche des Korrelationsbeobachtungssystems eingeführt, wodurch die Genauigkeit der Probenpositionierung deutlich erhöht werden kann, einschließlich der Quantifizierung der Abweichung der Orthogonität der Griffeinstellung. — es wird ein Verfahren zur Festlegung und Berechnung von Korrekturfaktoren für die Stichprobenpositionierung entwickelt. Die neue Lösung kann die Präzision der Probenpositionierung mehrmals oder sogar durch eine Reihenfolge der Größe erhöhen. Die eingeführten Innovationen werden die Qualität des gesamten Systems deutlich verbessern k (German)
7 December 2021
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Identifiers
POIR.02.03.02-18-0019/17
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