Field emission scanning electron microscope with Schottky cathode and high-empty coating system (Q3152811)
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Project Q3152811 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Field emission scanning electron microscope with Schottky cathode and high-empty coating system |
Project Q3152811 in Spain |
Statements
396,024.8 Euro
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495,031.0 Euro
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80.0 percent
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1 January 2016
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30 June 2018
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UNIVERSIDAD DE MURCIA
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37°59'32.57"N, 1°7'49.94"W
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30030
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El microscopio que se solicita es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo, de alto vacío y alta resolución, deberá disponer de tal configuración que permita trabajar con aplicaciones de microscopia de barrido con muestras recubiertas y sin recubrir, realizar estudios topográficos y analíticos. _x000D_ Debe constar de: microscopio electrónico de barrido con cátodo de emisión de campo tipo Schottky, sistema de vacío totalmente libre de aceite, detectores de electrones secundarios in lens y Everhart-Thornley, detectores de electrones retrodispersados in lens, cámara de muestras con precámara y platina motorizada en al menos 5 ejes, cámara de infrarrojos para controlar las muestras, panel de control con diales rotativos, teclado y joystick, ordenador de altas prestaciones, software de control del microscopio permitirá trabajar con diferentes cuentas de usuario y distintos privilegios, acceso remoto al equipo._x000D_ La incorporación a la Sección de Microscopia de este equipo permitirá el trabajo de un extenso número de grupos de investigación en distintas aplicaciones (estudios de muestras semiconductivas, estudios analíticos de materiales sensibles, mapping de distribución de elementos, muestras de museos, etc.). Supone una apuesta de gran impacto en nuestra Región tanto para la universidad y organismos públicos como para el sector productivo, como queda demostrado en los grupos y empresas que avalan esta propuesta. (Spanish)
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The requested microscope is a high-resolution, high-vacuum field-emission scanning electron microscope, with such a configuration as to work with scanning microscopy applications with coated and uncoated samples, and to carry out topographic and analytical studies. _x000D_ must consist of: scanning electron microscope with Schottky type field emission cathode, totally oil-free vacuum system, secondary electron detectors in lens and Everhart-Thornley, back-dispersed electron detectors in lens, sample chamber with pre-camera and motorised platinum on at least 5 axes, infrared camera to control samples, control panel with rotary dials, keyboard and joystick, high performance computer, microscope control software will allow you to work with different user accounts and different privileges, remote access to the equipment._x000D_ The addition to the Microscopy Section of this equipment will allow the work of a large number of research groups in different applications (semiconductive sample studies, analytical studies of sensitive materials, mapping of elements distribution, museum samples, etc.). It is a commitment of great impact in our Region both for the university and public bodies and for the productive sector, as demonstrated in the groups and companies that endorse this proposal. (English)
12 October 2021
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Le microscope demandé est un microscope électronique à balayage à haute résolution à haute pression à haute pression, dont la configuration permet de travailler avec des applications de microscopie à balayage à l’aide d’échantillons revêtus et non couchés et d’effectuer des études topographiques et analytiques. _x000D_ doit consister en: microscope électronique à balayage avec cathode d’émission de champ Schottky, système de vide totalement exempt d’huile, détecteurs d’électrons secondaires dans l’objectif et Everhart-Thornley, détecteurs d’électrons dispersés à dos dans l’objectif, chambre d’échantillon avec pré-caméra et platine motorisé sur au moins 5 axes, caméra infrarouge pour contrôler les échantillons, panneau de commande avec cadrans rotatifs, clavier et joystick, ordinateur haute performance, logiciel de contrôle de microscope vous permettra de travailler avec différents comptes d’utilisateurs et différents privilèges, accès à distance à l’équipement._x000D_ L’ajout à la section Microscopie de cet équipement permettra le travail d’un grand nombre de groupes de recherche dans différentes applications (études d’échantillons semiconducteurs, études analytiques de matériaux sensibles, cartographie de la distribution des éléments, échantillons de musée, etc.). Il s’agit d’un engagement de grande envergure dans notre Région, tant pour les organismes universitaires et publics que pour le secteur productif, comme le montrent les groupes et les entreprises qui approuvent cette proposition. (French)
2 December 2021
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Murcia
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Identifiers
UNMU15-CE-3702
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