No label defined (Q3680784)
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Project Q3680784 in France
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | No label defined |
Project Q3680784 in France |
Statements
597,589.08 Euro
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1,736,262.79 Euro
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34.42 percent
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30 September 2019
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UNIVERSITE DE ROUEN-NORMANDIE
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76821
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Dans le contexte du développement du mix-énergétique (optimiser le photovoltaïque, les diodes à émission lumineuse, la thermoélectricité, ...) et de la fiabilité des composants (comment vieillissent ces composants optique, électrique, ...), il est nécessaire pour ces études de travailler avec une Station Dual Beam instrumentée pour l'étude des propriétés de transport électrique et mesure in situ (MEB colonne FIB et SEM, avec GIS, Système EBSD/EDS, Système de mesure 4 points et mesure EBIC, ablation laser rapide de grand volumes) et également d'instrumenter les mesures dites de cathodoluminescence. Ces propriétés mesurées sont alors couplées aux analyses à très fine échelle obtenues par les techniques du laboratoire GPM, unique au monde dans leur domaine, telle la Sonde Atomique Tomographique.Le GPM est spécialisé, sur l'ensemble des laboratoires de la Vallée de la Seine dans l'analyse çhimique et structurale aux fines échelles, subnanométriques. L'étude des matériaux à l'échelle atomique est aujourd'hui incontournable notamment lorsque l'on pense aux matériaux eux-mêmes nanostructurés (thermoélectrique,, cellule photovoltaïque, nanostructure pour l'émission lumineuse, nanocomposant électronique....) mais aussi lorsque l'on s'intéresse aux mécanismes fins à l'origine des propriétés de matériaux plus massifs parfois vieillis en milieux agressifs (chercher les ségrégations dans un joint de grains, étudier le front de croissance d'une couche d'oxyde (phénomènes aux interfaces), identifier des nanoaparticules ou une phase rare dans un matériau.... Pour cela le GPM possède une plateforme unique pour ces études. Toutefois, la mesure des propriétés de ces nanostructures nécessite aujourd'hui des « nanolaboratoires » : il faut mesurer les propriétés d'un grain unique, mesurer des propriétés de transport d'une nanostructure unique, extraire un nanocomposant d'un système complexe (nanofils, nanocouches, nanostructures, ...) pour l'étudier en microscopie électronique en transmission, ... toutes ces expériences, complémentaires des techniques plus classique, peuvent être réalisée au sein d'un microscope Dual Beam instrumenté en conséquence.Ainsi, et de manière complémentaire aux instruments existant une telle station sera couplée aux Sondes Atomiques et MET du laboratoire GPM pour l'étude des nanostructures qui alimenteront notre quotidien de demain. Le laboratoire pourra ainsi relier les observations structurales et chimiques aux mesures des propriétés physiques, approche qu'il ne peut pas faire aujourd'hui.Cette station et les équipements associés auront deux grandes approches : 1) la préparation d'échantillons nanométriques pour des études par MET et SAT. 2) Dans le cadre de nanostructures pour le photovoltaique, remission lumineuse, la nanoélectronique, la thermoélectricité..., des analyses de propriétés électriques ou électro-optiques locales à très haute résolution par la méthode EBIC (electron beam induced current) ou la cathodoluminescence peuvent être mesurées avant l'étude structurale ou chimique du composant. Ce lien propriétés physiques/structures à ces échelles est d'une grande pertinence aujourd'hui et nécessite un environnement comme la plateforme du GPM. (French)
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Identifiers
17P04687
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