No label defined (Q3104485)

From EU Knowledge Graph
Revision as of 15:53, 14 September 2021 by DG Regio (talk | contribs) (‎Created a new Item: import item from Slovakia)
(diff) ← Older revision | Latest revision (diff) | Newer revision → (diff)
Jump to navigation Jump to search
Project in Slovakia 3924
Language Label Description Also known as
English
No label defined
Project in Slovakia 3924

    Statements

    0 references
    8,875,851.12 Euro
    0 references
    10,442,177.79 Euro
    0 references
    0.85 percent
    0 references
    1 December 2019
    0 references
    1 May 2023
    0 references
    Slovenská technická univerzita v Bratislave
    0 references

    48°8'54.96"N, 17°6'27.90"E
    0 references
    Generálnym strategickým ciežom predkladaného návrhu výskumného projektu s názvom „Vedeckovýskumné centrum excelentnosti SlovakION pre materiálový a interdisciplinárny výskum“ je vytvorenie udržatežného excelentného výskumno-vývojového, inovačného a inštitucionálno-riadiaceho prostredia. Hlavná aktivita žiadateža sa bude zameriava na realizáciu VaV úloh najmä v prioritných oblastiach RIS3: „Materiálový výskum a nanotechnológie“ s previazaním aj na oblas „Informačné a komunikačné technológie“, ktorá je nevyhnutná pre úspešné naplnenie ciežov a aktivít projektu, či už v rámci:a) podpornej oblasti výskumu a vývoja vo vyššie uvedených oblastiach, napr. konkrétne pri realizácii meracích systémov Time-of-Flight ERDA a ich integrácie do urýchžovacieho systému Tandetron 6MV. Jadrová a výpočtová elektronika tvorí nevyhnutné pozadie pre úspešnú realizáciu fyzikálnych úloh vyplývajúcich z merania.b) interdisciplinárneho výskumu za účelom transferu know-how z iných vedných oblastí, ktoré ponúkajú sofistikované metódy spracovania a analýzy dát a ktoré nie sú štandardne rozšírené v materiálových vedách. Našim dominantným záujmom v takejto interdisciplinárnej stratégii je štúdium signálu ako takého. Pôvodne navrhnuté metódy pre astrofyziku majú uplatnenie v štúdiu kváziperiodických nano-prvkov na povrchoch materiálov, alebo nepotrebujú ekvidistantné dáta čo je obmedzujúca podmienka Fourierovej analýzy v prípade mikroskopie a pod.. Ciežom je osvoji si špecifické metódy používané v iných vedných oblastiach ako je analýza svetelných kriviek akrečných procesov (astrofyzika) alebo štúdium EEG signálu z mozgu (neurovedy) a dosta sa tak o krok vpred čo sa týka analýzy elektrónovej alebo AFM mikroskopie. (Slovak)
    0 references

    Identifiers

    313011W085
    0 references