INTELLIGENT SENSING FOR NANOMETROLOGY IN REAL TIME USING ELECTRONS (Q3152196)
Jump to navigation
Jump to search
Project Q3152196 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | INTELLIGENT SENSING FOR NANOMETROLOGY IN REAL TIME USING ELECTRONS |
Project Q3152196 in Spain |
Statements
37,626.35 Euro
0 references
46,706.0 Euro
0 references
80.56 percent
0 references
1 January 2019
0 references
30 September 2022
0 references
UNIVERSIDAD DE CADIZ
0 references
11003
0 references
EXISTE UNA PREVALENCIA CRECIENTE DE CONJUNTOS DE DATOS EN CIENCIA DE MATERIALES QUE SON DEMASIADO GRANDES PARA EL ANALISIS DETALLADO DE TODOS ELLOS. POR EJEMPLO, EN EL CONTEXTO DE LA CARACTERIZACION DE MATERIALES USANDO MICROSCOPIA ELECTRONICA, LOS NUEVOS SENSORES BASADOS EN DETECTORES DE MATRIZ DE PIXELES (EMPAD EN INGLES) ESTAN REVOLUCIONANDO LA FORMA DE MEDIR MUESTRAS DE NANOMATERIALES CON ELECTRONES, PERO CONLLEVAN A LA GENERACION DE CONJUNTOS DE DATOS DE IMAGENES QUE SON CADA VEZ MAS VOLUMINOSOS. ADEMAS SON DEMASIADO GRANDES PARA SU PROCESAMIENTO EN TIEMPO REAL. EN CASI TODOS LOS CASOS, SOLO SE ALMACENA UN PEQUEÑO CONJUNTO SELECCIONADO MANUALMENTE DEL VOLUMEN DE INFORMACION TOTAL GENERADO, Y SE PROCESA UN SUBCONJUNTO AUN MAS PEQUEÑO._x000D_ _x000D_ EL GRAN POTENCIAL DE LOS ACTUALES EMPAD COMO SENSORES PARA LA MICROSCOPIA ELECTRONICA SE VE OBSTACULIZADO POR EL HECHO DE QUE GENERAN CONJUNTOS DE DATOS EN BRUTO MUY GRANDES QUE SOLO SE PUEDEN PROCESAR A POSTERIORI, CON RECURSOS COMPUTACIONALES COSTOSOS Y MUCHA INTERVENCION HUMANA. NANOEYE QUIERE ATACAR EL PROBLEMA DE LA GENERACION DE BIG DATA EN EL LUGAR DONDE SE GENERAN LOS DATOS, ES DECIR, IMPLEMENTANDO METODOLOGIAS EFICIENTES PARA REDUCIR LA CANTIDAD DE DATOS SUMINISTRADOS POR LOS SENSORES._x000D_ _x000D_ NANOEYE DESARROLLARA UNA TECNOLOGIA FACILITADORA PARA MICROSCOPIOS ELECTRONICOS QUE CONTRIBUYA A LA GENERACION EFICIENTE DE INFORMACION UTIL (NO SOLO DATOS BRUTOS) EN TIEMPO REAL. EL PROYECTO ES MULTIDISCIPLINARIO E INCLUYE EL DESARROLLO DE NUEVOS DISPOSITIVOS QUE INVOLUCRAN MICROELECTRONICA. LA NUEVA IDEA ES POTENCIAR EL USO DE SENSORES MATRICIALES EN TECNOLOGIA CMOS, DE BAJO COSTE, QUE PERMITEN LA MEDICION DE ENERGIA EN LOS PIXELES Y EL PROCESAMIENTO ULTRA RAPIDO DE LAS IMAGENES EN EL PROPIO SENSOR. LA ESPECIFICIDAD DE LOS DETECTORES QUE SE PROPONEN EN NANOEYE ES QUE CONFIGURADO POR EL USUARIO PERMITIRAN EL PROCESAMIENTO DE IMAGENES EN TIEMPO REAL, PROPORCIONANDO CAPACIDADES DE DETECCION QUE NO SE PUEDEN LOGRAR UTILIZANDO DETECTORES CONVENCIONALES._x000D_ _x000D_ NANOEYE TIENE COMO OBJETIVO DESARROLLAR EMPAD DE VANGUARDIA QUE OFRECERAN NUEVAS HERRAMIENTAS METODOLOGICAS A TECNOLOGIAS EMERGENTES Y DE VANGUARDIA EN EL CAMPO DE LA CARACTERIZACION A ESCALA ATOMICA DE NANOMATERIALES. LAS APLICACIONES INICIALES ESTAN PREVISTAS PARA LA MICROSCOPIA ELECTRONICA IN SITU Y 4D STEM: (1) IMAGEN DE CAMPOS ELECTROMAGNETICOS CON CONTRASTE DE FASE DIFERENCIAL MEJORADO; (2) OPTIMIZACION DE IMAGENES DE ATOMOS LIGEROS; (3) MAPEO CRISTALOGRAFICO AUTOMATIZADO DE MATERIALES MULTIFASICOS; (4) MAPEO ELEMENTAL DE PERDIDA DE ENERGIA DE ELECTRONES CON SUSTRACCION DE FONDO EN TIEMPO REAL. (5) MEJORA DE CONTRASTE PARA MATERIALES BLANDOS._x000D_ _x000D_ EL PROYECTO ES TRANSVERSAL DEBIDO AL USO GENERALIZADO DE LA MICROSCOPIA ELECTRONICA COMO HERRAMIENTA DE CARACTERIZACION EN LAS NANOCIENCIAS, TANTO PARA MATERIALES COMO PARA MUESTRAS BIOLOGICAS Y ORGANICAS. LA TECNOLOGIA QUE SE DESARROLLARA SE PUEDE APLICAR NO SOLO AL MICROSCOPIO ELECTRONICO SINO TAMBIEN A OTRAS TECNICAS DE CARACTERIZACION BASADAS EN HACES, Y POR LO TANTO CON GRAN POTENCIAL DE IMPACTO._x000D_ _x000D_ TENIENDO EN CUENTA EL ALTO COSTE DE LOS EMPAD QUE SE COMERCIALIZAN ACTUALMENTE, EL BAJO COSTO DEL EMPAD PROPUESTO FABRICADO EN TECNOLOGIA CMOS ESTANDAR PUEDE REPRESENTAR UNA OPORTUNIDAD PARA INGRESAR AL SECTOR DE EMPAD A TRAVES DE LICENCIAS O EBT. (Spanish)
0 references
THERE IS A GROWING PREVALENCE IN MATERIALS SCIENCE DATA SETS THAT ARE MUCH TOO LARGE FOR HUMAN-DIRECTED DETAILED ANALYSIS OF INDIVIDUAL MEASUREMENTS. FOR INSTANCE, WITHIN THE CONTEXT OF MATERIALS CHARACTERIZATION USING ELECTRON MICROSCOPY, NEW SENSORS BASED ON PIXEL ARRAY DETECTORS (EMPADS) ARE REVOLUTIONIZING THE WAY OF MEASURING SAMPLES WITH ELECTRONS, BUT THEY COME AT THE PRIZE OF A GROWING PREVALENCE OF HUGE DATASETS OF IMAGES THAT ARE MUCH TOO LARGE FOR REAL TIME PROCESSING. IN ALMOST ALL CASES, ONLY A SMALL, MANUALLY SELECTED SUBSET OF THE FULLY GENERATED INFORMATION VOLUME IS RECORDED AND AN EVEN SMALLER SUBSET OF THIS IS PROCESSED. _x000D_ _x000D_ THE HUGE POTENTIAL OF CURRENT EMPADS AS ROUTINE SENSORS FOR ELECTRON MICROSCOPY IS HINDERED BY THE FACT THAT THEY GENERATE VERY LARGE DATA SETS OF RAW DATA THAT CAN ONLY BE PROCESSED OFFLINE, WITH COSTLY RESOURCES AND MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE WANTS TO ATTACK THE PROBLEM OF BIG DATA GENERATION AT THE LOCATION WHERE THE DATA IS GENERATED, I.E., BY IMPLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIES FOR REDUCING THE AMOUNT OF DATA DELIVERED BY THE SENSORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE IS ABOUT DEVELOPING A FACILITATING TECHNOLOGY FOR ELECTRON MICROSCOPES THAT CONTRIBUTE TO THE EFFICIENT GENERATION OF USEFUL INFORMATION (NOT JUST RAW DATA) IN REAL TIME. THE PROJECT IS MULTIDISCIPLINARY AND INCLUDE THE DEVELOPMENT OF NEW DEVICES INVOLVING MICROELECTRONICS. THE NEW IDEA IS TO EMPOWER COST-EFFECTIVE TWO-DIMENSIONAL CMOS-BASED PIXEL ARRAYS THAT ALLOWS ULTRA-FAST READOUT, ENERGY MEASUREMENT AND ON-CHIP PROCESSING. THE UNIQUE CAPABILITY OF THE DETECTORS IS THAT IT WILL PERMIT USER-SELECTED REAL-TIME IMAGE PROCESSING, PROVIDING SENSING CAPABILITIES THAT CANNOT BE ACHIEVED USING CONVENTIONAL DETECTORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS THAT WILL ADD NEW METHODOLOGICAL TOOLS TO EMERGING AND CUTTING-EDGE TECHNOLOGIES IN THE FIELD OF ATOMIC-SCALE CHARACTERIZATION OF NANOMATERIALS. INITIAL APPLICATIONS ARE ENVISAGED FOR IN SITU AND 4D STEM ELECTRON MICROSCOPY TO INCLUDE: (1) IMPROVED DIFFERENTIAL PHASE CONTRAST IMAGING OF ELECTROMAGNETIC FIELDS; (2) OPTIMIZED LIGHT ATOM IMAGING; (3) AUTOMATED CRYSTALLOGRAPHIC MAPPING OF MULTI-PHASE MATERIALS; (4) ELECTRON ENERGY-LOSS ELEMENTAL MAPPING WITH REAL-TIME BACKGROUND SUBTRACTION. (5) CONTRAST ENHANCEMENT FOR SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ THE PROJECT IS TRANSVERSAL DUE TO THE WIDESPREAD USE OF ELECTRON MICROSCOPY AS A CHARACTERIZATION TOOL IN THE NANOSCIENCES, BOTH FOR MATERIALS AND BIOLOGICAL AND ORGANIC SAMPLES. THE TECHNOLOGY THAT WILL BE DEVELOPED MAY BE APPLIED NOT ONLY TO ELECTRON MICROSCOPY BUT ALSO TO OTHER BEAM-BASED CHARACTERIZATION TECHNIQUES, AND THEREFORE WITH GREAT POTENTIAL OF IMPACT._x000D_ _x000D_ TAKING INTO ACCOUNT THE VERY HIGH COST OF EMPADS THAT ARE CURRENTLY MARKETED, THE LOW COST OF THE PROPOSED EMPAD FABRICATED IN STANDARD CMOS TECHNOLOGY MAY REPRESENT AN OPPORTUNITY TO ENTER THE SECTOR OF EMPADS THROUGH LICENSES OR AN EBT. (English)
0.475517316113749
0 references
IL Y A UNE PRÉVALENCE CROISSANTE D’ENSEMBLES DE DONNÉES SCIENTIFIQUES MATÉRIELLES QUI SONT TROP IMPORTANTS POUR UNE ANALYSE DÉTAILLÉE DE TOUS CES ENSEMBLES. PAR EXEMPLE, DANS LE CONTEXTE DE LA CARACTÉRISATION DES MATÉRIAUX PAR MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE, LES NOUVEAUX CAPTEURS BASÉS SUR DES DÉTECTEURS À MATRICE DE PIXELS (EMPAD) RÉVOLUTIONNENT LA FAÇON DONT LES ÉCHANTILLONS DE NANOMATÉRIAUX SONT MESURÉS À L’AIDE D’ÉLECTRONS, MAIS CONDUISENT À LA GÉNÉRATION D’ENSEMBLES DE DONNÉES D’IMAGES DE PLUS EN PLUS VOLUMINEUX. EN OUTRE, ILS SONT TROP GRANDS POUR LE TRAITEMENT EN TEMPS RÉEL. Dans le cas de toutes les maisons, un seul petit joint est stocké, encore plus petit._x000D_ _x000D__x000D_ La grande somme d’argent versée en tant que capteurs pour la microscopie ELECTRONICA est entravée par le fait qu’ils s’impliquent dans de très grandes quantités de données qui ne peuvent être traitées que par postTERIORI, avec des conséquences concurrentielles coûteuses et beaucoup d’INTERVENTION HUMANE. NANOEYE VOIR LE PROBLÈME DE GÉNÉRATION DE BIG DATA DANS LA PLACE WHERE DATA GÉNERATE, EST DÉCENT, MISE EN OEUVRE DES Méthodologies efficaces pour réduire la quantité de DATAS SUBMITTED PAR SENSORES._x000D_ _x000D_ NANOEYE développera un facilitateur technologique pour les microscopies ELECTRONIQUES QUE LA CONTRIBUTION À LA Génération EFFICIENTE DE L’INFORMATION UTIL (NOUVELLEment BUT DATA) LE PROJET EST MULTIDISCIPLINAIRE ET COMPREND LE DÉVELOPPEMENT DE NOUVEAUX DISPOSITIFS IMPLIQUANT LA MICROÉLECTRONIQUE. LA NOUVELLE IDÉE EST D’AMÉLIORER L’UTILISATION DE CAPTEURS À FAIBLE COÛT DANS LA TECHNOLOGIE CMOS, QUI PERMETTENT LA MESURE DE L’ÉNERGIE DANS LES PIXELS ET LE TRAITEMENT ULTRA-RAPIDE DES IMAGES DANS LE CAPTEUR LUI-MÊME. La SPÉCIFICITÉ DES DÉTECTEURS prodigués à NANOEYE EST QUE L’UTILISATEUR RÉFÉRENT À LA PROCESSATION D’IMAGEMENTS DANS LE TEMPS réel, PROPOSANT LES CAPACITÉS DE LA DÉTECTION DES DÉTECTEURS FÉDÉRAUX._x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE Avoir un DEVELOPPEMENT OBJECTIF de VANGUARDIE qui offrira de nouvelles OUTILS METodologiques AUX TECHNOLOGIES EMERGENTES ET D’avant-garde DANS LA CHARACTERISATION À L’ESCAL ATOMIQUE DES NANOMATERIALS. LES PREMIÈRES APPLICATIONS SONT PRÉVUES POUR LA MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE SUR PLACE ET LA TIGE 4D: (1) L’IMAGERIE DE CHAMPS ÉLECTROMAGNÉTIQUES AVEC UN CONTRASTE DE PHASE DIFFÉRENTIEL AMÉLIORÉ; (2) OPTIMISATION DES IMAGES D’ATOME DE LUMIÈRE; (3) LA CARTOGRAPHIE AUTOMATISÉE CRISTALOGRAFICO DES MATÉRIAUX MULTIPHASIQUES; (4) CARTOGRAPHIE ÉLÉMENTAIRE DE PERTE D’ÉNERGIE D’ÉLECTRON AVEC SOUSTRACTION DE FOND EN TEMPS RÉEL. (5) Meilleur CONTRACT POUR LES MATÉRIALS DE BLANDE._x000D_ _x000D_ Le PROJET EST TRANSVERSAL en raison de l’utilisation généralisée de la microscopie ELECTRONIQUE comme outil de caractérisation dans les NANOCIENCES, TANT POUR LES MATÉRIALS POUR LES TRAVAILS BODIFIQUES ET ORGANIQUES. La TECHNOLOGIE à développer peut s’appliquer non seulement à la microscopie électronique, mais pas seulement à d’autres techniques techniques de CHARACTERISATION BASED IN DOES, ET POUR LE GRAND POTENTIAL D’IMPACT._x000D_ _x000D_ compte tenu du coût élevé du marché actuel, le coût plus faible de la TECHNOLOGIE proposée par l’employé TECHNOLOGIE TECHNOLOGIE AVEC REPRÉSENTER une opportunité d’INTRODUCTION LE SECTEUR DE COMPAGNIE EN LICENCE OU EBT. (French)
2 December 2021
0 references
ES GIBT EINE ZUNEHMENDE PRÄVALENZ VON MATERIAL-SCIENCE-DATENSÄTZEN, DIE FÜR EINE DETAILLIERTE ANALYSE ALL DIESER DATEN ZU GROSS SIND. BEISPIELSWEISE REVOLUTIONIEREN DIE NEUEN SENSOREN AUF BASIS VON PIXELMATRIXDETEKTOREN (EMPAD) IM RAHMEN DER MATERIALCHARAKTERISIERUNG MITTELS ELEKTRONISCHER MIKROSKOPIE DIE ART UND WEISE, WIE NANOMATERIALPROBEN MIT ELEKTRONEN GEMESSEN WERDEN, ABER ZUR ERZEUGUNG VON ZUNEHMEND SPERRIGEN BILDDATENSÄTZEN. DARÜBER HINAUS SIND SIE FÜR DIE ECHTZEIT-VERARBEITUNG ZU GROSS. Bei allen Häusern wird nur ein kleines Gelenk gespeichert, noch kleiner._x000D_ _x000D__x000D_ Der große Geldbetrag, der als Sensoren für die Mikroskopie ELECTRONICA bezahlt wird, wird dadurch behindert, dass sie in sehr großen Datenmengen beteiligt werden, die nur per postTERIORI verarbeitet werden können, mit kostspieligen Wettbewerbsfolgen und viel HUMAN INTERVENTION. NANOEYE WANT, um das PROBLEM der BIG DATA GENERATION in der PLACE, wo DATA GENERATE, ist DECENT, IMPLEMENTING Effucient Methodologien zur Reduzierung der Menge von DATAS SUBMITTED BY SENSORES._x000D_ _x000D_ NANOEYE wird einen Technologie-Facilitator für ELECTRONISCHE Mikroskopien entwickeln, die CONTRIBUTION an die EFFICIENT GENERATION OF UTIL INFORMATIONEN (NICHT NUR BUT DATA) IN REAL TIME. DAS PROJEKT IST MULTIDISZIPLINÄR UND UMFASST DIE ENTWICKLUNG NEUER GERÄTE MIT MIKROELEKTRONIK. DIE NEUE IDEE IST ES, DEN EINSATZ KOSTENGÜNSTIGER MATRIXSENSOREN IN DER CMOS-TECHNOLOGIE ZU VERBESSERN, DIE DIE MESSUNG VON ENERGIE IN DEN PIXELN UND DIE ULTRASCHNELLE VERARBEITUNG DER BILDER IM SENSOR SELBST ERMÖGLICHEN. Die SPEZIFIKATION DER DETECTOREN, die in NANOEYE genannt werden, ist, dass der Benutzer sich bereit erklärt hat, das PROCESSING DER IMAGEMENTE IN REAL TIME, PROPOSING Detektions-Kapitalitäten ohne affektive DETECTOREN._x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ VANGUARDIEN, die neue metodologische TOOLs für EMERGENT und Avantgarde TECHNOLOGIEN in der CHARACTERISATION bieten wird, um die ATOMISCHEN ESCAL der NANOMATERIALEN. ERSTE ANWENDUNGEN FÜR DIE ELEKTRONISCHE MIKROSKOPIE VOR ORT UND 4D-STIEL SIND GEPLANT: (1) BILDGEBUNG ELEKTROMAGNETISCHER FELDER MIT VERBESSERTEM DIFFERENTIALPHASENKONTRAST; (2) OPTIMIERUNG VON LICHTATOMBILDERN; (3) AUTOMATISIERTE CRISTALOGRAFICO KARTIERUNG VON MULTIPHASISCHEN MATERIALIEN; (4) ELEMENTARE ELEKTRONENENERGIEVERLUSTKARTIERUNG MIT ECHTZEIT-HINTERGRUNDSUBTRAKTION. (5) Best CONTRACT FOR BLAND MATERIALS._x000D_ _x000D_ Der PROJEKT ist aufgrund der allgemeinen Verwendung der ELECTRONIC-Mikroskopie als Caracterisations-Tool in NANOCIENCES, TANT FOR MATERIALS AS FOR BODIFIC und ORGANIC WORKINGS. Die zu entwickelnde TECHNOLOGIE kann nicht nur auf die elektronische Mikroskopie angewendet werden, sondern nicht nur auf andere technische Techniken der CHARACTERISATION BASED IN DOES, UND FÜR DIE GREAT POTENTIAL OF IMPACT._x000D_ _x000D_ unter Berücksichtigung der hohen Kosten des derzeitigen Marktes, die niedrigeren Kosten der Mitarbeiter proposed TECHNOLOGY TECHNOLOGIE, die wir sind, um eine Chance zur INTRODUCTION, den SECTOR DER GESCHÄFT IN DER GESCHÄFTLICHEN TECHNOLOGIE. (German)
9 December 2021
0 references
ER IS EEN TOENEMENDE PREVALENTIE VAN MATERIAALWETENSCHAP DATASETS DIE TE GROOT ZIJN VOOR GEDETAILLEERDE ANALYSE VAN ALLE VAN HEN. BIJVOORBEELD, IN DE CONTEXT VAN MATERIAALKARAKTERISATIE MET BEHULP VAN ELEKTRONISCHE MICROSCOPIE, DE NIEUWE SENSOREN OP BASIS VAN PIXEL MATRIX DETECTOREN (EMPAD) ZIJN EEN REVOLUTIE IN DE MANIER WAAROP NANOMATERIAAL MONSTERS WORDEN GEMETEN MET ELEKTRONEN, MAAR LEIDEN TOT HET GENEREREN VAN STEEDS OMVANGRIJKERE BEELDDATASETS. BOVENDIEN ZIJN ZE TE GROOT VOOR REAL-TIME VERWERKING. In het geval van alle huizen wordt slechts één kleine joint opgeslagen, nog kleiner._x000D_ _x000D__x000D_Het grote bedrag dat als sensoren voor de microscopie ELECTRONICA wordt betaald, wordt belemmerd door het feit dat ze betrokken raken in zeer grote hoeveelheden gegevens die alleen door postTERIORI kunnen worden verwerkt, met dure concurrentiegevolgen en veel MENSELIJKE INTERVENTIE. NANOEYE zal een technologie facilitator voor ELECTRONISCHE microscopieën ontwikkelen._x000D_ _x000D_ NANOEYE zal een technologie facilitator ontwikkelen voor ELECTRONISCHE microscopieën. aan de EFFICIENT GENERATIE VAN UTILINFORMATIE (NIET ALLEEN MAAR GEGEVENS) IN REAL TIJD. HET PROJECT IS MULTIDISCIPLINAIR EN OMVAT DE ONTWIKKELING VAN NIEUWE APPARATEN MET MICRO-ELEKTRONICA. HET NIEUWE IDEE IS OM HET GEBRUIK VAN GOEDKOPE MATRIXSENSOREN IN CMOS-TECHNOLOGIE TE VERBETEREN, DIE HET MOGELIJK MAKEN ENERGIE IN DE PIXELS TE METEN EN DE ULTRASNELLE VERWERKING VAN DE BEELDEN IN DE SENSOR ZELF. De SPECIFICITEIT VAN DE DETECTOREN die in NANOEYE worden voorgesteld, is dat de gebruiker zich heeft teruggetrokken om de toepassing van de IMAGEMENTEN in echte tijd, PROPOSING detectional CAPACITIES zonder affectionele DETECTORS._x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D__x000D_ _x000D_ _x000D__x000D_ ONTWIKKELING VAN VANGUARDIA die nieuwe metodologische TOOLS zal aanbieden aan EMERGENT EN TECHNOLOGIES IN DE CHARACTERISATIE AAN HET ATOMISCHE ESCAL VAN NANOMATERIALS. INITIËLE TOEPASSINGEN ZIJN GEPLAND VOOR ON-SITE ELEKTRONISCHE MICROSCOPIE EN 4D STAM: (1) BEELDVORMING VAN ELEKTROMAGNETISCHE VELDEN MET VERBETERD DIFFERENTIAALFASECONTRAST; (2) OPTIMALISATIE VAN LICHTATOOMBEELDEN; (3) GEAUTOMATISEERDE CRISTALOGRAFICO MAPPING VAN MEERFASISCHE MATERIALEN; (4) ELEMENTAIRE ELEKTRONENENERGIE VERLIES MAPPING MET REAL-TIME ACHTERGROND AFTREKKEN. (5) Beste CONTRACT VOOR BLAND MATERIALS._x000D_ _x000D_ Het PROJECT IS TRANSVERSAL vanwege het veralgemeende gebruik van de ELECTRONIC-microscopie als caracterisatiemiddel in NANOCIENCES, TANT VOOR MATERIALS ALS VOOR BODIFISCHE EN ORGANISCHE WERKINGEN. De te ontwikkelen TECHNOLOGIE kan niet alleen worden toegepast op de elektronische mictroscopie, maar niet alleen op andere technische technieken van CHARACTERISATIE BASED IN DOES, EN VOOR DE GROTE POTENTIAL VAN IMPACT._x000D_ _x000D_ rekening houdend met de hoge kosten van de huidige markt, de lagere kosten van de door de werknemer voorgestelde TECHNOLOGIE TECHNOLOGIE WIJ ZIJN TE REPRESENTEN een mogelijkheid voor INTRODUCTIE DE SECTOR VAN COMPANY IN LICENCE OF EBT. (Dutch)
17 December 2021
0 references
C'È UNA CRESCENTE PREVALENZA DI SERIE DI DATI SULLA SCIENZA DEI MATERIALI CHE SONO TROPPO GRANDI PER UN'ANALISI DETTAGLIATA DI TUTTI LORO. AD ESEMPIO, NEL CONTESTO DELLA CARATTERIZZAZIONE DEI MATERIALI MEDIANTE MICROSCOPIA ELETTRONICA, I NUOVI SENSORI BASATI SU RILEVATORI A MATRICE DI PIXEL (EMPAD) STANNO RIVOLUZIONANDO IL MODO IN CUI I CAMPIONI DI NANOMATERIALI VENGONO MISURATI CON GLI ELETTRONI, MA PORTANO ALLA GENERAZIONE DI SET DI DATI DI IMMAGINI SEMPRE PIÙ INGOMBRANTI. INOLTRE, SONO TROPPO GRANDI PER L'ELABORAZIONE IN TEMPO REALE. Nel caso di tutte le case, viene memorizzato un solo piccolo giunto, ancora più piccolo._x000D_ _x000D__x000D_ La grande quantità di denaro pagato come sensori per la microscopia ELECTRONICA è ostacolata dal fatto che vengono coinvolte in grandi quantità di dati che possono essere elaborati solo da postTERIORI, con costose conseguenze competitive e un sacco di INTERVENZIONE UMANA. NANOEYE vuole prendere il PROBLEM DELLA GENERAZIONE DI GENERAZIONE DEI DATI GENERATI NANOEYE DEI DATI DI GENERATO, È DECENTE, IMPLEMENTARE Metodologie Effucient per la Riduzione della Quantità dei DATI SUBMITATI DA SENSORES._x000D_ _x000D_ NANOEYE svilupperà un facilitatore tecnologico per le microscopie ELECTRONICI CHE CONTRIBUZIONE A la GENERAZIONE EFFICIENTE DELLE INFORMAZIONI UTILI (NON SOLO MA DATI) IN TEMPO REALE. IL PROGETTO È MULTIDISCIPLINARE E PREVEDE LO SVILUPPO DI NUOVI DISPOSITIVI CHE COINVOLGONO LA MICROELETTRONICA. LA NUOVA IDEA È QUELLA DI MIGLIORARE L'UTILIZZO DI SENSORI A MATRICE A BASSO COSTO NELLA TECNOLOGIA CMOS, CHE CONSENTONO LA MISURAZIONE DELL'ENERGIA NEI PIXEL E L'ELABORAZIONE ULTRAVELOCE DELLE IMMAGINI NEL SENSORE STESSO. La SPECIFICITÀ DEI DETETTORI proposti in NANOEYE è l'USER REFERRED to PERMITARE IL TRATTAMENTO DEI IMAGEMENTI NEL TEMPO REALE, PROPOSIZIONE DI CAPACITI DI RICERCAZIONE SENZA DETECTORI Affettuosi._x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE HAVE AS OBJECTIVE lo SVILUPPO DI VANGUARDIA che offrirà nuovi TECNOLOGIE DI EMERGENTI E D'avanguardia NANOMATERIALI NANOMATERIALI ALL'ESCALTO ATOMICO DI NANOMATERIALI. SONO PREVISTE APPLICAZIONI INIZIALI PER LA MICROSCOPIA ELETTRONICA IN LOCO E IL GAMBO 4D: (1) IMAGING DI CAMPI ELETTROMAGNETICI CON CONTRASTO DI FASE DIFFERENZIALE MIGLIORATO; (2) OTTIMIZZAZIONE DELLE IMMAGINI DELL'ATOMO DI LUCE; (3) MAPPATURA AUTOMATIZZATA CRISTALOGRAFICO DI MATERIALI MULTIFASICI; (4) MAPPATURA ELEMENTARE DELLA PERDITA DI ENERGIA DEGLI ELETTRONI CON SOTTRAZIONE DI FONDO IN TEMPO REALE. (5) Migliore CONTRATTO PER MATERIALI BLAND._x000D_ _x000D_ Il PROGETTO È TRASVERSALE dovuto all'uso generalizzato della microscopia ELECTRONICA come strumento di caracterizzazione nelle NANOCIENCES, TANT PER MATERIALE COME PER LAVORO BODIFICA E ORGANICHE. La TECNOLOGIA da sviluppare può essere applicata non solo alla mictroscopia elettronica, ma non solo ad altre tecniche tecniche di CARATTERIZZAZIONE BASED IN DOES, E PER IL GRANDE POTENTIALE DI IMPATTO._x000D_ _x000D_ tenendo presente l'elevato costo del mercato attuale, il minor costo del Dipendente proposto TECNOLOGIA TECHNOLOGY WE SONO REPRESENTARE un'opportunità di INTRODUZIONE DEL SETTORE DI COMPIAMENTO IN LICENCE O EBT. (Italian)
16 January 2022
0 references
ΥΠΆΡΧΕΙ ΑΥΞΑΝΌΜΕΝΟΣ ΕΠΙΠΟΛΑΣΜΌΣ ΣΤΑ ΣΎΝΟΛΑ ΔΕΔΟΜΈΝΩΝ ΤΗΣ ΕΠΙΣΤΉΜΗΣ ΤΩΝ ΥΛΙΚΏΝ ΤΑ ΟΠΟΊΑ ΕΊΝΑΙ ΥΠΕΡΒΟΛΙΚΆ ΜΕΓΆΛΑ ΓΙΑ ΛΕΠΤΟΜΕΡΉ ΑΝΆΛΥΣΗ ΜΕΜΟΝΩΜΈΝΩΝ ΜΕΤΡΉΣΕΩΝ ΚΑΤΕΥΘΥΝΌΜΕΝΗ ΑΠΌ ΤΟΝ ΆΝΘΡΩΠΟ. ΓΙΑ ΠΑΡΆΔΕΙΓΜΑ, ΣΤΟ ΠΛΑΊΣΙΟ ΤΟΥ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΜΟΎ ΥΛΙΚΏΝ ΜΕ ΤΗ ΧΡΉΣΗ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΉΣ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΊΑΣ, ΝΈΟΙ ΑΙΣΘΗΤΉΡΕΣ ΠΟΥ ΒΑΣΊΖΟΝΤΑΙ ΣΕ ΑΝΙΧΝΕΥΤΈΣ ΣΥΣΤΟΙΧΙΏΝ ΕΙΚΟΝΟΣΤΟΙΧΕΊΩΝ (EMPADS) ΦΈΡΝΟΥΝ ΕΠΑΝΆΣΤΑΣΗ ΣΤΟΝ ΤΡΌΠΟ ΜΈΤΡΗΣΗΣ ΤΩΝ ΔΕΙΓΜΆΤΩΝ ΜΕ ΗΛΕΚΤΡΌΝΙΑ, ΑΛΛΆ ΈΡΧΟΝΤΑΙ ΣΤΟ ΈΠΑΘΛΟ ΤΗΣ ΑΥΞΑΝΌΜΕΝΗΣ ΕΠΙΚΡΆΤΗΣΗΣ ΤΕΡΆΣΤΙΩΝ ΣΥΝΌΛΩΝ ΔΕΔΟΜΈΝΩΝ ΕΙΚΌΝΩΝ ΠΟΥ ΕΊΝΑΙ ΠΟΛΎ ΜΕΓΆΛΑ ΓΙΑ ΤΗΝ ΕΠΕΞΕΡΓΑΣΊΑ ΣΕ ΠΡΑΓΜΑΤΙΚΌ ΧΡΌΝΟ. ΣΕ ΌΛΕΣ ΣΧΕΔΌΝ ΤΙΣ ΠΕΡΙΠΤΏΣΕΙΣ, ΚΑΤΑΓΡΆΦΕΤΑΙ ΜΌΝΟ ΈΝΑ ΜΙΚΡΌ, ΧΕΙΡΟΚΊΝΗΤΑ ΕΠΙΛΕΓΜΈΝΟ ΥΠΟΣΎΝΟΛΟ ΤΟΥ ΠΛΉΡΩΣ ΠΑΡΑΓΌΜΕΝΟΥ ΌΓΚΟΥ ΠΛΗΡΟΦΟΡΙΏΝ ΚΑΙ ΥΠΟΒΆΛΛΕΤΑΙ ΣΕ ΕΠΕΞΕΡΓΑΣΊΑ ΈΝΑ ΑΚΌΜΗ ΜΙΚΡΌΤΕΡΟ ΥΠΟΣΎΝΟΛΟ ΑΥΤΟΎ. _x000D_ _x000D_ η ΑΝΘΡΩΠΙΝΗ ΑΠΟΤΕΛΕΣΜΑΤΙΚΟΤΗΤΑ ΤΩΝ CURRENT EMPADS ΩΣ ROUTINE SENSORS ΓΙΑ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ μικροσκοπία παρεμποδίζεται από το γεγονός ότι τα δεδομένα αυτά είναι πολύ σημαντικά για τα τρέχοντα δεδομένα που μπορούν να υποστούν μόνο, με τις καλύτερες προσφορές και με τη MUCH ΑΝΘΡΩΠΙΝΗ ΠΑΡΕΜΒΑΣΗ. Η NANOEYE θέλει να επισυνάψει το πρόγραμμα της μεγάλης γενίκευσης των ΔΕΔΟΜΕΝΩΝ στην περιοχή στην οποία τα δεδομένα έχουν ληφθεί, δηλαδή, με την εφαρμογή των εκτελεστικών μεθοδολογιών για τη μείωση του ποσού των στοιχείων που καθορίζονται από τις SENSORS._x000D_ _x000D_ Η NANOEYE ΑΝΑΠΤΥΞΗ ΑΝΑΠΤΥΞΗ ΕΓΚΑΤΑΣΤΑΣΗ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ ΓΙΑ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΕΣ ΜΙΚΡΟΠΟΙΗΣΕΙΣ ΠΟΥ ΕΛΕΓΧΟΝΤΑΙ ΣΤΗΝ ΕΠΙΧΕΙΡΗΣΙΑΚΗ ΓΕΝΙΚΗ ΕΝΗΜΕΡΩΣΗ ΧΡΗΣΙΜΟΠΟΙΗΣΗΣ (ΝΑ ΜΗ ΧΡΗΣΙΜΟΠΟΙΕΙΤΑΙ ΝΑ ΕΛΕΓΧΟΥΝ ΤΑ ΠΡΑΓΜΑΤΟΠΟΙΗΤΙΚΑ ΔΕΔΟΜΕΝΑ) σε πραγματικό χρόνο. ΤΟ ΈΡΓΟ ΕΊΝΑΙ ΠΟΛΥΕΠΙΣΤΗΜΟΝΙΚΌ ΚΑΙ ΠΕΡΙΛΑΜΒΆΝΕΙ ΤΗΝ ΑΝΆΠΤΥΞΗ ΝΈΩΝ ΣΥΣΚΕΥΏΝ ΠΟΥ ΠΕΡΙΛΑΜΒΆΝΟΥΝ ΜΙΚΡΟΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΉ. Η ΝΈΑ ΙΔΈΑ ΕΊΝΑΙ ΝΑ ΕΝΔΥΝΑΜΩΘΟΎΝ ΟΙΚΟΝΟΜΙΚΆ ΑΠΟΔΟΤΙΚΈΣ ΔΙΣΔΙΆΣΤΑΤΕΣ ΣΥΣΤΟΙΧΊΕΣ ΕΙΚΟΝΟΣΤΟΙΧΕΊΩΝ ΠΟΥ ΒΑΣΊΖΟΝΤΑΙ ΣΕ CMOS ΠΟΥ ΕΠΙΤΡΈΠΟΥΝ ΕΞΑΙΡΕΤΙΚΆ ΓΡΉΓΟΡΗ ΑΝΆΓΝΩΣΗ, ΜΈΤΡΗΣΗ ΕΝΈΡΓΕΙΑΣ ΚΑΙ ΕΠΕΞΕΡΓΑΣΊΑ ON-CHIP. Η ΜΟΝΑΔΙΚΗ ΙΚΑΝΟΠΟΙΗΣΗ ΤΟΥΣ ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟΥ ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟΥ ΠΟΥ ΘΑ ΑΝΑΦΕΡΕΙ ΤΟ ΧΡΗΣΤΗ-αποτελουμένο πραγματικό χρόνο ΑΝΤΙΚΕΙΜΕΝΟΥ ΕΠΕΞΕΡΓΑΣΙΑ, ΠΑΡΟΧΗ ΤΩΝ ΙΚΑΝΟΤΗΤΩΝ ΤΩΝ ΝΑΝΟΕΙΔΩΝ ΤΩΝ ΚΑΤΗΓΟΡΙΩΝ ΠΟΥ ΧΡΗΣΙΜΟΠΟΙΟΥΝΤΑΙ ΣΥΓΚΕΝΤΡΩΤΙΚΟΙ ΔΙΑΤΑΞΕΙΣ._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS ΣΤΗΝ ΑΝΑΠΤΥΞΗ ΚΡΑΤΟΥΣ-ΩΘΗΤΟΥ ΤΕΧΝΗΣ αυτό θα προσθέσει ΝΕΑ ΜΕΘΟΔΟΛΟΓΙΚΑ ΕΡΓΑΛΕΙΑ ΣΤΗΝ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΚΩΝ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΩΝ ΣΤΗΝ ΑΤΟΜΙΚΗ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΗ ΑΤΟΜΙΚΗΣ-ΚΑΛΛΙΕΡΓΕΙΑΣ. ΟΙ ΑΡΧΙΚΈΣ ΕΦΑΡΜΟΓΈΣ ΓΙΑ IN SITU ΚΑΙ 4D ΜΊΣΧΟ ΗΛΕΚΤΡΟΝΊΩΝ ΜΙΚΡΟΣΚΟΠΊΑ ΓΙΑ ΝΑ ΠΕΡΙΛΑΜΒΆΝΟΥΝ: (1) ΒΕΛΤΙΩΜΈΝΗ ΑΠΕΙΚΌΝΙΣΗ ΑΝΤΊΘΕΣΗΣ ΔΙΑΦΟΡΙΚΉΣ ΦΆΣΗΣ ΤΩΝ ΗΛΕΚΤΡΟΜΑΓΝΗΤΙΚΏΝ ΠΕΔΊΩΝ. (2) ΒΕΛΤΙΣΤΟΠΟΙΗΜΈΝΗ ΑΠΕΙΚΌΝΙΣΗ ΑΤΌΜΩΝ ΦΩΤΌΣ· (3) ΑΥΤΟΜΑΤΟΠΟΙΗΜΈΝΗ ΚΡΥΣΤΑΛΛΟΓΡΑΦΙΚΉ ΧΑΡΤΟΓΡΆΦΗΣΗ ΠΟΛΥΦΑΣΙΚΏΝ ΥΛΙΚΏΝ· (4) ΣΤΟΙΧΕΙΑΚΉ ΧΑΡΤΟΓΡΆΦΗΣΗ ΑΠΏΛΕΙΑΣ ΕΝΈΡΓΕΙΑΣ ΗΛΕΚΤΡΟΝΊΩΝ ΜΕ ΑΦΑΊΡΕΣΗ ΥΠΟΒΆΘΡΟΥ ΣΕ ΠΡΑΓΜΑΤΙΚΌ ΧΡΌΝΟ. (5) ΣΥΜΒΑΣΗ ΣΥΜΒΑΣΗΣ ΥΛΙΚΩΝ ΥΛΙΚΩΝ._x000D_ _x000D_ Το ΕΡΓΟ ΕΙΝΑΙ ΜΕΤΑΒΙΒΑΤΙΚΟ ΔΙΚΑΙΩΜΑ ΓΙΑ ΤΗ ΧΡΗΣΗ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗΣ ΜΙΚΡΟΠΟΙΗΣΗΣ ΩΣ ΕΡΓΑΛΕΙΟ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΟΥ ΣΤΗΝ ΝΑΝΟΞΕΝΗ, ΒΙΟΜΗΧΑΝΙΑ ΚΑΙ ΒΙΟΛΟΓΙΚΑ ΚΑΙ ΟΡΓΑΝΙΚΑ ΜΗΧΑΝΙΚΑ. Η ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑ που θα ΑΝΑΠΤΥΞΕΙ ΝΑ ΕΦΑΡΜΟΖΕΤΑΙ ΝΑ ΕΦΑΡΜΟΖΟΝΤΑΙ ΜΟΝΟ στην ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗ μικροσκοπία, αλλά και σε άλλες ΤΕΧΝΙΚΕΣ ΧΑΡΑΚΤΗΡΙΣΤΙΚΕΣ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΕΣ, και ΕΚΤΙΜΩΝΤΑΣ ΜΕ ΜΕΓΑΛΗ ΑΠΟΤΕΛΕΣΜΑΤΙΚΗ ΕΠΙΠΤΩΣΕΙΣ._x000D_ _x000D_ ΛΑΜΒΑΝΟΝΤΑΣ ΥΠΟΨΗ ΤΟ ΠΛΗΡΟΦΟΡΙΚΟ ΤΩΝ ΜΠΑΝΑΔΩΝ που ΕΦΑΡΜΟΖΟΝΤΑΙ, το ΧΑΜΗΛΟ ΚΟΣΤΟΣ του ΠΡΟΤΑΜΕΝΟΥ ΕΦΑΡΜΟΓΗΣ που ΑΝΑΦΕΡΕΤΑΙ σε ΠΡΟΤΥΠΟ ΤΕΧΝΟΛΟΓΙΑΣ μπορουν να ΑΝΤΙΠΡΟΣΩΠΕΥΟΝΤΑΙ ΑΝΤΙΠΡΟΣΩΠΕΙΕΣ για την ΕΠΙΚΟΙΝΩΝΙΑ ΤΟΥ ΤΟΜΕΑ των ΠΙΣΤΩΤΙΚΩΝ ΠΙΣΤΩΣΕΩΝ ή ΑΝΤΙΠΡΟΣΩΠΩΝ. (Greek)
17 August 2022
0 references
DER ER EN STIGENDE PRÆVALENS I MATERIALEVIDENSKABELIGE DATASÆT, DER ER ALT FOR STORE TIL EN MENNESKESTYRET DETALJERET ANALYSE AF INDIVIDUELLE MÅLINGER. I FORBINDELSE MED MATERIALEKARAKTERISERING VED HJÆLP AF ELEKTRONMIKROSKOPI ER NYE SENSORER BASERET PÅ PIXELARRAYDETEKTORER (EMPADS) F.EKS. VED AT REVOLUTIONERE MÅDEN AT MÅLE PRØVER MED ELEKTRONER PÅ, MEN DE KOMMER TIL PRISEN FOR EN STIGENDE FOREKOMST AF ENORME DATASÆT AF BILLEDER, DER ER ALT FOR STORE TIL REALTIDSBEHANDLING. I NÆSTEN ALLE TILFÆLDE REGISTRERES KUN EN LILLE MANUELT UDVALGT DELMÆNGDE AF DEN FULDT GENEREREDE INFORMATIONSMÆNGDE, OG EN ENDNU MINDRE DELMÆNGDE HERAF BEHANDLES. _x000D_ _x000D_ KONGE POTENTIAL OF CURRENT EMPADS AS ROUTINE SENSORS FOR ELECTRON mikroskopi er hindret af den FACT, som de GENERATE MEGET LARGE DATA SETS af RAW DATA det er KAN KUN PROCESSED OFFLINE, MED COSTLY RESOURCES OG MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE ønsker at gøre brug af de store datablade, som DATA'en er i besiddelse af, I.E., med henblik på gennemførelse af EFFICIENT METODOLOGIER til genforhandling af DATA-direktivet, som er blevet godkendt af SENSORS._x000D_ _x000D_ _x000D_ for ELECTRON MICROSCOPES, der er knyttet til EFFICIENT GENERATION of USEFUL INFORMATION (IKKE JUST RAW DATA) i REAL TIME. PROJEKTET ER TVÆRFAGLIGT OG OMFATTER UDVIKLING AF NYE APPARATER, DER OMFATTER MIKROELEKTRONIK. DEN NYE IDÉ ER AT STYRKE OMKOSTNINGSEFFEKTIVE TODIMENSIONELLE CMOS-BASEREDE PIXEL ARRAYS, DER MULIGGØR ULTRA-HURTIG UDLÆSNING, ENERGIMÅLING OG ON-CHIP BEHANDLING. Den UNIQUE CAPABILITY AF DETEKTORER er, at det vil være muligt at gøre brug af REAL-TIME IMAGE PROCESSING._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS i DEVELOPING STATE-OF-THE-THE-ART EMPADS DETECTORS._x000D_ _x000D_ NÆNOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-OF-THE-THE-ART EMPADS vil tilføje nye METHODOLOGICAL TOOLS TIL EMERGING OG CUTTING-EDGE TEKNOLOGIER I FIELD AF ATOMIC-SCALE KARACTERISATION AF NANOMATERIALS. INDLEDENDE ANVENDELSER AF IN SITU- OG 4D-STAMMEELEKTRONMIKROSKOPI SKAL OMFATTE: (1) FORBEDRET DIFFERENTIAL FASE KONTRAST BILLEDDANNELSE AF ELEKTROMAGNETISKE FELTER; (2) OPTIMERET LYSATOM BILLEDDANNELSE; 3) AUTOMATISERET KRYSTALLOGRAFISK KORTLÆGNING AF FLERFASEDE MATERIALER; (4) ELEKTRONENERGITAB ELEMENTAL KORTLÆGNING MED REAL-TIME BAGGRUND SUBTRAKTION. (5) KONTRAST ENHANCEMENT TIL SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ PROJEKTET er TRANSVERSAL DU TIL UDVIKLING AF ELECTRON mikroskopi som en KARACTERISATION TOOL I NANOSCIENCES, BATERIALER OG ORGANISKE SAMPLES. Den TECHNOLOGY, som vil blive uddelt kan ikke kun anvendes til ELECTRON mikroskopi, men kun til andre BEAM-BASED KARAKTISKERING TEKHNIQUEr, og hvis der er store forekomster af IMPACT._x000D_ _x000D_ _x000D_ TAKON HØJDE HØJE VEDTAGET den LOW COST af den beskyttede EMPAD FABRICATED I STANDARD CMOS TECHNOLOGY MAY REPRÆSENT EN OPPORTUNITET TIL SECTOR af EMPADS THROUGH LICENSES ELLER EN EBT. (Danish)
17 August 2022
0 references
MATERIAALITIETEELLISISSÄ TIETOAINEISTOISSA, JOTKA OVAT AIVAN LIIAN SUURIA IHMISEN SUORITTAMAA YKSILÖLLISTEN MITTAUSTEN YKSITYISKOHTAISTA ANALYSOINTIA VARTEN, ON YHÄ YLEISEMPÄÄ. ESIMERKIKSI ELEKTRONIMIKROSKOPIAA HYÖDYNTÄVÄN MATERIAALIEN KARAKTERISOIMISEN YHTEYDESSÄ UUDET PIKSELIMATRIISIILMAISIMIIN (EMPADS) PERUSTUVAT ANTURIT MULLISTAVAT TAPAA MITATA NÄYTTEITÄ ELEKTRONIEN AVULLA, MUTTA NE SAAVAT PALKINTONA VALTAVIEN KUVIEN, JOTKA OVAT AIVAN LIIAN SUURIA REAALIAIKAISEEN KÄSITTELYYN, YLEISTYMISEN. LÄHES KAIKISSA TAPAUKSISSA KIRJATAAN VAIN PIENI, MANUAALISESTI VALITTU OSAJOUKKO TÄYSIN LUODUSTA TIETOMÄÄRÄSTÄ JA VIELÄ PIENEMPI OSAJOUKKO KÄSITELLÄÄN. _x000D_ _x000D_ valtava POTENTIAL CURRENT EMPADS kuten ROUTINE SENSORS ELECTRON-mikroskopian on estänyt sen, että he eivät pääse RAW DATA: lle, jotka voivat vain olla prosessoituja FLINE, jotka ovat COSTLY RESOURCES JA MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE haluaa ATTACK: lle BIG DATA GENERATIONin esityksen, jonka mukaan DATA on GENERATED, I.E., joka on TÄYTÄNTÖÖN HYVÄKSYTTÄVÄT TEHTÄVÄT MÄÄRÄT SENSORS: n RAJOITUKSEN MÄÄRÄT._x000D_ _x000D_ NANOEYE on ABOUT DEVELOPING ELECTRON MICROSCOPES TEHNOLOGIA KOSKEVAT TIEDOT KOSKEVAT KOSKEVAT TIEDOT (EI JUST RAW DATA) REAL TIME. HANKE ON MONIALAINEN, JA SIIHEN KUULUU UUSIEN MIKROELEKTRONIIKKALAITTEIDEN KEHITTÄMINEN. UUSI IDEA ON MAHDOLLISTAA KUSTANNUSTEHOKKAAT KAKSIULOTTEISET CMOS-PIKSELIMATRIISIT, JOTKA MAHDOLLISTAVAT ULTRANOPEAN LUKEMISEN, ENERGIAN MITTAUKSEN JA SIRUNKÄSITTELYN. DETECTORS: n UNIQUE CAPABILITY SÄÄNNÖKSÄ KÄYTETTÄVÄ KÄYTTÖ-SELECTED REAL-TIME PROCESSING, PROVIDING SENSING CAPABILITIES TÄMÄN KÄYTTÄMINEN KÄYTETTÄVÄ KÄYTETTÄVÄ KOSKEVAT TIEDOT._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS tämä UUTISET UUTISET METHODOLOGICAL TOOLS TOOLSEN JA CUTTING-EDGE TECHNOLOGIES at the FIELD OF ATOMIC-SCALE CHARACTERISATION OF NANOMATERIALS. IN SITU- JA 4D-RUNKOELEKTRONIMIKROSKOPIAAN ON TARKOITUS SOVELTAA ENSIMMÄISIÄ SOVELLUKSIA, JOIHIN KUULUVAT: (1) PARANNETTU DIFFERENTIAALIVAIHE KONTRASTI KUVANTAMINEN SÄHKÖMAGNEETTISTEN KENTTIEN; (2) OPTIMOITU VALOATOMIN KUVANTAMINEN; (3) MONIVAIHEISTEN MATERIAALIEN AUTOMAATTINEN KITEGRAFINEN KARTOITUS; (4) ELEKTRONIN ENERGIAN MENETYS ELEMENTAALINEN KARTOITUS REAALIAIKAINEN TAUSTA VÄHENNYS. (5) SOPIMUKSEN KOSKEVA KOSKEVAT MATERIAALIT._x000D_ _x000D_ PROJECT on TRANSVERSAL DUE ELECTRON-mikroskopian käyttöön, joka on NANOSCIENCES-, BOTH FOR MATERIALS- ja BIOLOGICAL- JA ORGANIC SAMPLES -ohjelmisto. TEHNOLOGIA TÄMÄN TÄYTÄNTÖÖNPANOPÄÄTÖKSEN EI ON VAIN ELECTRON-mikroskopian, joka koskee kaikkia muita BEAM-BASED CHARACTERISATION TECHNIQUES:ia, JA TÄYTÄNTÖÖN IMPACTin suureen POTENTIALIA._x000D_ _x000D_ TAKING INTO TOIMEKSIIN KOSKEVAT KÄYTETTYJÄT TÄMÄT, jotka ovat CURRENTLY MARKETED, LOW COST PROPOSED EMPAD FABRICATED in STANDARD CMOS TECHNOLOGIA TECHNOLOGIA TEKHNOLOGIA KÄYTTÖJÄRJESTELMÄ TARJOITTAJA JA EBT. (Finnish)
17 August 2022
0 references
HEMM PREVALENZA DEJJEM TIKBER FIS-SETTIJIET TAD-DEJTA TAX-XJENZA TAL-MATERJALI LI HUMA KBAR WISQ GĦALL-ANALIŻI DETTALJATA TAL-KEJL INDIVIDWALI DIRETTA MILL-BNIEDEM. PEREŻEMPJU, FIL-KUNTEST TA ‘MATERJALI KARATTERIZZAZZJONI BL-UŻU MIKROSKOPIJA ELETTRON, SENSURI ĠODDA BBAŻATI FUQ DITEKTERS PIXEL ARRAY (EMPADS) QED JIRREVOLUZZJONAW IL-MOD TA’ KEJL KAMPJUNI BL-ELETTRONI, IŻDA DAWN JAQGĦU FIL-PREMJU TA ‘PREVALENZA DEJJEM TIKBER TA’ SETTIJIET TA ‘DATA ENORMI TA’ STAMPI LI HUMA KBAR WISQ GĦALL-IPPROĊESSAR F’ĦIN REALI. FI KWAŻI L-KAŻIJIET KOLLHA, HUWA RREĠISTRAT BISS SUBSETT ŻGĦIR, MAGĦŻUL MANWALMENT TAL-VOLUM TA’ INFORMAZZJONI ĠĠENERAT B’MOD SĦIĦ U SUBSETT SAĦANSITRA IŻGĦAR TA’ DAN JIĠI PPROĊESSAT. _x000D_ _x000D_ il POTENTIAL HUGE TA ‘EMPADS CURRENTI AS SENSORS ROUTINE għall-mikroskopija ELETTRON IS mxekkla BY IL-FATT LI GĦANDHOM JAGĦMEL DATA VERY DATA TA’ DATA PRIMA DATA LI KIF BISS BE PROĊESSAT OFFLINE, MA RIŻORSI KONTALI U INTERVENZJONI HUMAN MUCH. NANOEYE WANTS LI ATTACK IL-PROBLEM TAL-ĠENERAZZJONI DATA BIG GĦANDHOM TIEGĦU DATA MILL-ĠENERALI, I.E., BY IMPLIMENTAZZJONI METHODOLOĠIJIET TA’ IMPLIMENTAZZJONI GĦALL-AMOUNT TA’ DATA DELIVETI BY IL-SENSORS._x000D_ _ _x000D_ NANOEYE IS ABOUT DEVELOPING a TAĊĊIFIKA TEKNOLOĠIJA GĦALL-ELECTRON MICROSCOPES LI KONTRIBUTA GĦALL-ĠENERAZZJONI EFFIĊJENTI TAL-INFORMAZZJONI MINGĦAJR (MHUX DATA JUST RAW) F’TIME REAL. IL-PROĠETT HUWA MULTIDIXXIPLINARI U JINKLUDI L-IŻVILUPP TA’ APPARAT ĠDID LI JINVOLVI L-MIKROELETTRONIKA. L-IDEA L-ĠDIDA HIJA LI TINGĦATA S-SETGĦA B’MOD KOSTEFFETTIV B’ŻEWĠ DIMENSJONIJIET TA’ ARRANĠAMENTI PIXEL IBBAŻATI FUQ CMOS LI TIPPERMETTI QARI ULTRA-VELOĊI, KEJL TAL-ENERĠIJA U PPROĊESSAR FUQ IĊ-ĊIPPA. Il-CAPABILITÀ UNIĊJALI TA’ DETTORJONIJIET TA’ DETECTORJI TA’ DETECTORJI PROVDIĊI LI GĦANDHOM GĦANDHOM JIEĦDU REAL-MEZZJONALI PROVDIZZJONIJIET TA’ QASAM TA’ TAGĦRIF KONĊENTIJIET._x000D_ NANOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS _x000D_ NANOEYE STATE-OF-THE-ART EMPADS liema se ADD TOOLS METHODOLOĠIĊI EW GĦANDHOM EMERGING U TEKNOLOĠIJI KUTTING-EDGE FIL-FIELD TA ‘KARRACTERIZZAZZJONI ATOMIC-SCALE TA’ NANOMATERIALS. HUMA PREVISTI APPLIKAZZJONIJIET INIZJALI GĦALL-MIKROSKOPIJA TAL-ELETTRONI IN SITU U 4D BIEX JINKLUDU: (1) IMMAĠNI TAL-KUNTRAST TAL-FAŻI DIFFERENZJALI MTEJBA TAL-KAMPI ELETTROMANJETIĊI; (2) IMMAĠNI BL-ATOMU TAD-DAWL OTTIMIZZAT; (3) L-IMMAPPJAR KRISTALLOGRAFIKU AWTOMATIZZAT TA’ MATERJALI MULTIFAŻI; (4) L-IMMAPPJAR ELEMENTALI TAT-TELF TAL-ENERĠIJA TAL-ELETTRONI BI TNAQQIS FL-ISFOND F’ĦIN REALI. (5) ENHANCEMENT KONTRAST GĦALL-MATERIALS SOFT._x000D_ _x000D_ IL-PROJECT GĦANDU TRANŻVERVA L-UŻU WIDESPREAD TAL-mikroskopija ELECTRON KIF TIEĦU KARRACTERISAZZJONI FIN-NANOSCIENCES, BOTH GĦALL-MATERIALS U SAMPLES BIOLOGICI U ORGANIKI. Il TEKNOLOĠIJA LI GĦANDHOM JIŻVILUPPAT MHUX BISS il-mikroskopija ELETTRON TAGĦHOM LI GĦANDHOM OĦRA KHARACTERIZZAZZJONI BEAM-BASED EKONTIKA, U TIEGĦU MILL-ĠDID TAL-IMPATT._x000D_ _x000D_ TIEGĦU FIL-QASAM GĦOLJA GĦOLJA TAL-EMPADS LI TAGĦMEL KORRENTI, il-LOW COST TAL-APPOSTA PROPOSTA FABRICATED F’OKS STANDARD TECHNOLOGY MAY RAPPREŻENTI TA ‘OPPORTUNITÀ GĦANDHOM GĦANDHOM TIEGĦU LIĊENTI THROUGH JEW AN EBT. (Maltese)
17 August 2022
0 references
ARVIEN BIEŽĀK MATERIĀLU ZINĀTNES DATU KOPĀS IR PĀRĀK LIELS, LAI CILVĒKU VIRZĪTU DETALIZĒTU ANALĪZI PAR ATSEVIŠĶIEM MĒRĪJUMIEM. PIEMĒRAM, MATERIĀLU RAKSTUROŠANAS KONTEKSTĀ, IZMANTOJOT ELEKTRONU MIKROSKOPIJU, JAUNI SENSORI, KURU PAMATĀ IR PIKSEĻU MASĪVU DETEKTORI (EMPADS), IR REVOLUCIONIZĒ PARAUGU MĒRĪŠANAS VEIDU AR ELEKTRONIEM, BET TIE NONĀK PIE TĀ, KA ARVIEN VAIRĀK IZPLATĀS MILZĪGAS ATTĒLU DATU KOPAS, KAS IR PĀRĀK LIELAS REĀLĀ LAIKA APSTRĀDEI. GANDRĪZ VISOS GADĪJUMOS TIEK REĢISTRĒTA TIKAI NELIELA MANUĀLI IZVĒLĒTA PILNĪBĀ ĢENERĒTĀS INFORMĀCIJAS APJOMA APAKŠKOPA, UN TIEK APSTRĀDĀTA VĒL MAZĀKA ŠĪS INFORMĀCIJAS APAKŠKOPA. _x000D_ _x000D_ CURRENT EMPADS kā ROUTINE SENSORS HUGE POTENTIAL FOR ELECTRON mikroskopija ir traucēja, jo tas ir tas, ka šo Ģeneratīvo ĻAJAS DATU DATU DIENAS TIKAI AIZSTRĀDĒŠANA, AR KAS RESOURCES UN MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE WANTS ATTIECĪBU BIG DATU ĢENERĀCIJAS LOKĀ, kur DATU ĢENERATED, I.E., BY IMPLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIES PAR DATA DELIVERED AMOUNT BY SENSORS._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE ir ABOUT DEVELOPING A FACILITATING TECHNOLOĢIJA PAR ELECTRON MICROSCOPES, ka sazinājās ar FIFCIENT GENERATION of USEFUL INFORMĀCIJA (NOT JUST RAW DATA) REAL TIME. PROJEKTS IR DAUDZNOZARU UN IETVER JAUNU IERĪČU IZSTRĀDI, IESAISTOT MIKROELEKTRONIKU. JAUNĀ IDEJA IR DOT IESPĒJU RENTABLU DIVDIMENSIJU CMOS BALSTĪTU PIKSEĻU MASĪVI, KAS ĻAUJ ULTRA-ĀTRU NOLASĪŠANU, ENERĢIJAS MĒRĪŠANU UN MIKROSHĒMU APSTRĀDI. DETECTORU UNIQUE CAPABILITY ir tas, ka tas būs PERMIT USER-SELECTED REAL-TIME PROCESSING, PROVIDING SENSING CAPABILITIES THAT CANNOT BE ACHIEVED USING CONVENTIONAL DETECTORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS tas būs pievienot jaunas METODOLOĢISKAS TOOLES, lai EMERGING UN CUTTING-EDGE TECHNOLOGIES FIELD ATOMIKAS-SCALE CHARACTERISATION of NANOMATERIALS. SĀKOTNĒJIE PIETEIKUMI IR PAREDZĒTI IN SITU UN 4D CILMES ELEKTRONU MIKROSKOPIJAI, LAI IEKĻAUTU: (1) UZLABOTA ELEKTROMAGNĒTISKO LAUKU DIFERENCIĀLFĀZES KONTRASTA ATTĒLVEIDOŠANA; (2) OPTIMIZĒTA GAISMAS ATOMU ATTĒLVEIDOŠANA; (3) AUTOMATIZĒTA DAUDZFĀŽU MATERIĀLU KRISTALOGRĀFISKĀ KARTĒŠANA; (4) ELEKTRONU ENERĢIJAS ZUDUMU ELEMENTU KARTĒŠANA AR REĀLLAIKA FONA ATSKAITĪŠANU. (5) LĪGUMSLĒDZĒJUMS SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ PROJEKTS ir TRANSVERSĀLIS PIEDĀVĀJUMS VĒRTĪBAS LIETOŠANAI ELEKTRON mikroskopijā kā HARACTERIZĀCIJAS TOOLĀCIJAS NANOSCIENCES, MATERIATU UN BIOLOĢIJAS UN ORGANISKĀS SAMPLES. TECHNOLOĢIJAS KAS BŪS ATTIECĪBĀM VAR PAR NELIETOT tikai ELECTRON mikroskopijā, kas tiek veikta, lai veiktu citu BEAM-BASED CHARACTERISATION TECHNIQUES, un tālāk ar IMPACT POTENTIAL._x000D_ _x000D_ TAKING INTO ACCOUNT TERY HIGHH COST OF EMPADS THAT ARE CURRENTLY MARKETED, aizsargātā EMPAD FABRICATED STANDARD CMOS TECHNOLOGY VAR PĀRSTĀVJU ATBALSTS ATBALSTS, lai iekļautu EMPADS THROUGH LICENSES vai EBT. (Latvian)
17 August 2022
0 references
V SÚBOROCH ÚDAJOV O MATERIÁLOCH SA ZVYŠUJE PREVALENCIA, KTORÁ JE PRÍLIŠ VEĽKÁ NA TO, ABY BOLO MOŽNÉ VYKONAŤ PODROBNÚ ANALÝZU JEDNOTLIVÝCH MERANÍ ZAMERANÚ NA ČLOVEKA. NAPRÍKLAD V KONTEXTE CHARAKTERIZÁCIE MATERIÁLOV POMOCOU ELEKTRÓNOVEJ MIKROSKOPIE NOVÉ SNÍMAČE ZALOŽENÉ NA DETEKTOROCH PIXELOVÉHO POĽA (EMPADS) MENIA SPÔSOB MERANIA VZORIEK ELEKTRÓNMI, ALE PRICHÁDZAJÚ NA CENU RASTÚCEJ PREVALENCIE OBROVSKÝCH SÚBOROV ÚDAJOV OBRAZOV, KTORÉ SÚ PRÍLIŠ VEĽKÉ NA SPRACOVANIE V REÁLNOM ČASE. TAKMER VO VŠETKÝCH PRÍPADOCH SA ZAZNAMENÁ LEN MALÁ, RUČNE VYBRANÁ PODMNOŽINA PLNE GENEROVANÉHO OBJEMU INFORMÁCIÍ A SPRACUJE SA EŠTE MENŠIA PODMNOŽINA TOHTO OBJEMU. _x000D_ _x000D_ HUGE POTENTIAL OF CURRENT EMPADS AS ROUTINE SENSORS FOR ELECTRON microscopy je zabránený tým, že sa zväčšujú veľké množstvo údajov o malom dni, ktoré môžu byť iba spracované, s COSTLY RESOURCES a MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE chce, aby sa dosiahol PROBLÉM veľkého DATA GENERÁCIE V LOCÁCIU, KTORÉ DATA je GENERÁCIA, I.E., BY IMPLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIES for REDUCing the AMOUNT of DATA DELIVERED BY SENSORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE JE ABO DEVELOPING A FACILITATING TECHNOLOGIA PRE ELEKTRONOVÉ MICROSCOPY, ktoré sa dohodli na EFFICIENTOVEJ VEREJNOSTI USEFUL INFORMÁCIE (NIE JUST RAW DATA) v reálnom čase. PROJEKT JE MULTIDISCIPLINÁRNY A ZAHŔŇA VÝVOJ NOVÝCH ZARIADENÍ ZAHŔŇAJÚCICH MIKROELEKTRONIKU. NOVOU MYŠLIENKOU JE POSILNIŤ NÁKLADOVO EFEKTÍVNE DVOJROZMERNÉ PIXELOVÉ POLIA ZALOŽENÉ NA CMOS, KTORÉ UMOŽŇUJÚ ULTRARÝCHLE ČÍTANIE, MERANIE ENERGIE A SPRACOVANIE NA ČIPE. UNIQUE CAPABILITY DETECTORS je, že to bude PERMIT USER-SELECTED REAL-TIME IMAGE PROCESSING, PROVIDING SENSING CAPABILITIES, že CANNOT byť ACHIEVED USING CONVENTIONAL DETECTORS._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS ktoré by pridali NOVÉ METHODOLOGICKÉ TOOLY na EMERGING A CUTTING-EDGE TECHNOLOGICKÉ TECHNOLOGIE V OBLASTI ATOMICKÉHO OCHRANY NANOMATERIÁLOV. PREDPOKLADÁ SA, ŽE PRVOTNÉ APLIKÁCIE IN SITU A 4D ELEKTRÓNOVEJ MIKROSKOPIE ZAHŔŇAJÚ: (1) ZLEPŠENÉ KONTRASTNÉ ZOBRAZOVANIE DIFERENCIÁLNEJ FÁZY ELEKTROMAGNETICKÝCH POLÍ; (2) OPTIMALIZOVANÉ ZOBRAZOVANIE ATÓMOV SVETLA; (3) AUTOMATIZOVANÉ KRYŠTALOGRAFICKÉ MAPOVANIE VIACFÁZOVÝCH MATERIÁLOV; (4) ELEMENTÁRNE MAPOVANIE STRATY ELEKTRÓNOVEJ ENERGIE S ODČÍTANÍM POZADIA V REÁLNOM ČASE. (5) CONTRAST ENHANCEMENT PRE SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ PROJEKT je TransVERSAL DUE TO THE WIDESPREAD USE ELECTRON mikroskopia AS CHARACTERISATION TOOL in the NANOSCIENCES, BOTH FOR MATERIALS A BIOLOGICKÉ A ORGANICKÉ SAMPLESY. TECHNOLOGIA, ktorá by bola vyvinutá MÔŽE byť aplikovaná len na ELECTRON mikroskopiu, ale aj na iné BEAM-BASED CHARACTERISATION TECHNIQUES, a potom s veľkým potenciálom IMPACT._x000D_ _x000D_ _x000D_ TAKUJÚC DO ÚČELY VYSOKÝCH VYSOKOVÝCH VÝROBKOV, že sú URNENTLY MARKETED, LOW COST of PROPOSED EMPAD FABRICATED IN STANDARD CMOS TECHNOLOGY MÔŽU PODPORUJÚCEHO SEKTORU EMPADY THROUGH LICENSES alebo EBT. (Slovak)
17 August 2022
0 references
TÁ LEITHEADÚLACHT AG DUL I MÉID I DTACAIR SONRAÍ EOLAÍOCHTA ÁBHAR ATÁ I BHFAD RÓMHÓR D’ANAILÍS MHIONSONRAITHE ATÁ DÍRITHE AR AN DUINE AR THOMHAIS AONAIR. MAR SHAMPLA, I GCOMHTHÉACS THRÉITHRIÚ ÁBHAR LENA N-ÚSÁIDTEAR MICREASCÓPACHT LEICTREON, TÁ BRAITEOIRÍ NUA ATÁ BUNAITHE AR BHRATHADÓIRÍ EAGAIR PICTEILÍNÍ (EMPADS) AG ATHRÚ Ó BHONN AN BEALACH CHUN SAMPLAÍ A THOMHAS LE LEICTREOIN, ACH TÁ SIAD AG DUL I MÉID DE THACAIR SONRAÍ OLLMHÓRA ÍOMHÁNNA ATÁ I BHFAD RÓMHÓR LE HAGHAIDH PRÓISEÁIL FÍOR-AMA. I MBEAGNACH GACH CÁS, NÍ THAIFEADTAR ACH FOTHACAR BEAG, A ROGHNAÍODH DE LÁIMH DEN MHÉID FAISNÉISE A GHINTEAR GO HIOMLÁN AGUS DÉANTAR FOTHACAR NÍOS LÚ DE SEO A PHRÓISEÁIL. _x000D_ _x000D_ _x000D_ POTENTIAL _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ POTENTIAL _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ POTENT _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ POTENT _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_POTENT _x000D_ _x000D_ _x000D_ POTENT _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_Pótáil _x000D_Pótáil LE hAGHAIDH SEO A DHÉANAMHÁIL A DHÉANAMHÁIL LE hAGHAIDHAS A DHÉANAS A DHÉANADH A DHÉANAMH A DHÉANAMH A DHÉANAMHÁIL A DHÉANAMHOLADHÓIRÍOIRÍ Tabhair faoi deara go bhfuil sé de cheart ag an gCúirt, I.E., I.E., A BHFUIL MAIDIR LE DHÉANAMH LE hAGHAIDH GINEARÁLTA SAOR IN AISCE._x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ a chur ar neamhní TECHNOLOGY FOR MICROSCOPES ELECTRON GO RIALTAS LE FAISNÉISE FAISNÉISE (NACH JUST RAW DATA) I TIME RÉIGIÚNACH. TÁ AN TIONSCADAL ILDISCIPLÍNEACH AGUS ÁIRÍTEAR LEIS FORBAIRT GLÉASANNA NUA A BHAINEANN LE MICRILEICTREONAIC. IS É AN SMAOINEAMH NUA NÁ EAGAIR PHICTEILÍNÍ DHÁTHOISEACH ATÁ BUNAITHE AR CMOS A CHUMHACHTÚ A CHEADAÍONN LÉAMH AMACH, TOMHAS FUINNIMH AGUS PRÓISEÁIL AR SHLIS ULTRA-TAPA. Is é an CAPABILITY AONTAIS NA STIÚRTHÓIRÍ SEO A DHÉANAMH ÚSÁID-SELECTED REAL-TIME IM PROCESSING, PROVIDING CAPABILIES SENSING leis an úsáid a bhaint as STIÚRTHÓIRÍ CONVENTIONAL._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS ag DEVOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS WILL [EN] Fógraí meabhraithe nua a chur le chéile agus a chur le chéile i gcaibidlí neamh-rúnda na n-údarás náisiúnta. TÁ SÉ BEARTAITHE IARRATAIS TOSAIGH A DHÉANAMH AR MHICREASCÓPACHT GAS LEICTREOIN IN SITU AGUS 4D LENA N-ÁIRÍTEAR: (1) ÍOMHÁÚ FEABHSAITHE CODARSNACHTA CÉIM DHIFREÁLACH RÉIMSÍ LEICTREAMAIGHNÉADACHA; (2) ÍOMHÁÚ ADAMH SOLAIS OPTAMAITHE; (3) MAPÁIL CRIOSTALAGRAFACH UATHOIBRITHE AR ÁBHAIR ILCHÉIME; (4) LEICTREON CAILLTEANAS FUINNIMH MAPÁIL EILIMINTEACH LE FÍOR-AMA DEALÚ CÚLRA. (5) _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ ISTEACH A DHÉANAMH AR AN RÉIGIÚN A DHÉANAMH AR AN úsáid a bhaintear as Leas-Uachtarán na Comhairle, chuig an Aire Gnóthaí Eachtracha agus Trádála. An TECHNOLOGY NACH BHFUIL A DHÉANAMH A DHÉANAMH NÁ DHÉANAMH LE hAGHAIDH IOMPAIR._x000D_x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ a chur san áireamh go hiomlán ar fud an domhain, foireann CHÉAD CHOMHAIRLE OIBRITHE OIBRITHE I gCMOanna STANDARDA LE hAGHAIDH LÁITHREÁN TEICNIÚIL LE hAGHAIDH STIÚRTHÓIREACHT EMPADS THROUGHEANNA NÓ AN EBT. (Irish)
17 August 2022
0 references
V SOUBORECH ÚDAJŮ O MATERIÁLOVÝCH VĚDÁCH SE ZVYŠUJE PREVALENCE, KTERÉ JSOU PŘÍLIŠ VELKÉ PRO PODROBNOU ANALÝZU JEDNOTLIVÝCH MĚŘENÍ ZAMĚŘENOU NA ČLOVĚKA. NAPŘÍKLAD V SOUVISLOSTI S CHARAKTERIZACÍ MATERIÁLŮ POMOCÍ ELEKTRONOVÉ MIKROSKOPIE, NOVÉ SENZORY ZALOŽENÉ NA DETEKTORECH PIXELOVÝCH POLE (EMPADS) MĚNÍ ZPŮSOB MĚŘENÍ VZORKŮ ELEKTRONY, ALE JSOU OCENĚNY ROSTOUCÍ PREVALENCÍ OBROVSKÝCH DATOVÝCH SOUBORŮ OBRAZŮ, KTERÉ JSOU PŘÍLIŠ VELKÉ NA ZPRACOVÁNÍ V REÁLNÉM ČASE. TÉMĚŘ VE VŠECH PŘÍPADECH JE ZAZNAMENÁNA POUZE MALÁ RUČNĚ ZVOLENÁ PODMNOŽINA PLNĚ GENEROVANÉHO OBJEMU INFORMACÍ A ZPRACOVÁVÁ SE JEŠTĚ MENŠÍ PODMNOŽINA. _x000D_ _x000D_ Huge POTENTIAL CURRENT EMPADS AS ROUTINE SENSORS pro ELECTRON mikroskopii je bráněno tím, že jejich generální velmi malé DATA SETS RAW DATA, že může být pouze navržena OFFLINE, s největšími RESOURCES a MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE chce, aby se dostal k návrhu velkého DATA GENERACE v souvislosti s tím, kde je datum, kdy je datum, kdy je datován, I.E., které se zabývají EFFICIENT METHODOLOGIES, aby se zaměřili na to, co se stalo s tím, co se stalo._x000D_ _x000D_ Nanoeye is a invellopoping a FACILITATING TECHNOLOGIE PRO ELECTRON MICROSCOPY, které se týkají EFFICIENT GENERACE USEFUL INFORMACE (není jen RAW DATA) v reálném čase. PROJEKT JE MULTIDISCIPLINÁRNÍ A ZAHRNUJE VÝVOJ NOVÝCH ZAŘÍZENÍ ZAHRNUJÍCÍCH MIKROELEKTRONIKU. NOVÁ MYŠLENKA SPOČÍVÁ V POSÍLENÍ NÁKLADOVĚ EFEKTIVNÍCH DVOUROZMĚRNÝCH PIXELOVÝCH POLÍ ZALOŽENÝCH NA CMOS, KTERÁ UMOŽŇUJÍ ULTRARYCHLÉ ČTENÍ, MĚŘENÍ ENERGIE A ZPRACOVÁNÍ NA ČIPU. UNIQUE CAPABILITY DETECTORS je, že bude PERMIT USER-SELECTED REAL-TIME IMAGE PROCESSING CAPABILITIES, které mohou být použity použití CONVENTIONAL DETECTORS._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS v DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS přidat nové METHODOLOGICKÉ TOOLS pro EMERGING A CUTTING-EDGE TECHNOLOGIES ve FIELD ATOMIC-SCALE CHARACTERISATION NANOMATERIALS. POČÁTEČNÍ APLIKACE SE PŘEDPOKLÁDAJÍ PRO MIKROSKOPII ELEKTRONŮ IN SITU A 4D KMENE TAK, ABY ZAHRNOVALA: (1) VYLEPŠENÉ DIFERENCIÁLNÍ FÁZOVÉ KONTRASTNÍ ZOBRAZOVÁNÍ ELEKTROMAGNETICKÝCH POLÍ; (2) OPTIMALIZOVANÉ ZOBRAZOVÁNÍ ATOMŮ SVĚTLA; (3) AUTOMATIZOVANÉ KRYSTALOGRAFICKÉ MAPOVÁNÍ VÍCEFÁZOVÝCH MATERIÁLŮ; (4) ELEMENTÁRNÍ MAPOVÁNÍ ZTRÁT ENERGIE ELEKTRONŮ S ODEČTENÍM POZADÍ V REÁLNÉM ČASE. (5) KONTRASTNÍ ENHANCEMENT PRO SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ PROJEKT JE TRANSVERSAL DUE to WIDESPREAD POUŽITÍ ELECTRONNÍ mikroskopie jako CHARACTERISATION TOOL IN NANOSCIENCES, BOTH FOR MATERIALS A BIOLOGICKÉ A ORGANICKÉ SAMPLES. TECHNOLOGIE, která bude odložena, nemusí být použita pouze k elektonární mikroskopii, ale k dalším technologiím CHARACTERISATION, a to s velkým potenciálem IMPACT._x000D_ _x000D_ _x000D nejnižší cena PROPOSED EMPAD FABRICATED V STANDARD CMOS TECHNOLOGY MAY REPRESENT OPPORTUNITY k VÍCE SEKTOR EMPADS THROUGH LICENSES NEBO EBT. (Czech)
17 August 2022
0 references
Há uma crescente prevalência em conjuntos de dados científicos de materiais que são muito grandes para a análise detalhada de medições individuais guiadas pelo ser humano. Por exemplo, no contexto da caracterização dos materiais com recurso à microscopia de electrões, os novos sensores baseados em detectores de argamassa de pixel (EMPADS) estão a revolucionar o modo de medição das amostras com electrómetros, mas chegam ao preço de uma crescente prevenção de grandes dados de imagens que são demasiado grandes para processamento em tempo real. Em quase todos os casos, apenas é registada uma pequena amostra, selecionada de forma manual, do volume de informação totalmente gerado e é processada uma pequena amostra deste volume. _x000D_ _x000D_ O POTENCIAL ENORME DE EMPADOS ACTUAIS COMO SENSORES ROUTINOS PARA A MICROSCOPIA ELETRÓNICA É INCLUÍDO PELO FACTO DE GERAR MUITO GRANDES DADOS DE DADOS EM BRUTO QUE PODEM SÓ SER TRANSFORMADOS EM FLINE, COM RECURSOS CUSTOSOS E MUITO INTERVENÇÃO HUMANA. NANOEYE WANTS TO ATTACK THE PROBLEM OF BIG DATA GENERATION AT THE LOCATION WHERE THE DATA IS GENERATED, I.E., BY IMPLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIES FOR REDUCING THE AMOUNT OF DATA DELIVERED BY THE SENSORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE IS ABOUT DEVELOPING A FACILITATING TECHNOLOGY FOR ELECTRON MICROSCOPES THAT CONTRIBUTE TO THE EFFICIENT GENERATION OF USEFUL INFORMATION (NOT JUST RAW DATA) IN REAL TIME. O PROJECTO É MULTIDISCIPLINAR E INCLUI O DESENVOLVIMENTO DE NOVOS DISPOSITIVOS QUE ENVOLVEM MICROELECTRÓNICA. A nova ideia consiste em potenciar a eficácia em termos de custos com duas bases CMOS-DIMENSIONAIS que permitam a recuperação ultrarrápida, a medição da energia e o processamento contínuo. A CAPACIDADE ÚNICA DOS DETETORES consiste em PERMITIR O TRATAMENTO DE IMAGENS EM TEMPO REAL SELECIONADAS PELO UTILIZADOR, FORNECENDO CAPACIDADES DE DETEÇÃO QUE NÃO PODEM SER ALCANÇADAS COM OS DETETORES CONVENCIONAIS._x000D_ _x000D_ A NANOEYE APELA AO DESENVOLVIMENTO DE EMPADS ESTADOS-DE-ALVO QUE ADICIONARÃO NOVOS FERRAMENTOS METODOLOGICOS À EMERGÊNCIA E TECNOLOGIAS DE CORTE NO DOMÍNIO DA CARACTERIZAÇÃO ATÓMICA DOS NANOMATERIAIS. APLICAÇÕES INICIAIS ESTÃO PREVISTAS PARA A MICROSCÓPIA DE ELETRONS SITU E 4D INCLUINDO: 1) MELHORAR A IMAGEM DOS CAMPOS ELECTROMAGNÉTICOS POR CONTRATO DE FASE DIFERENCIAL; 2) IMAGEM DE LUZ ATOM OPTIMIZADA; 3) APERFEIÇOAMENTO CRISTALLOGRAFICO AUTOMÁTICO DE MATERIAIS MULTIFASE; (4) ELETRON ENERGY-LOSS ELEMENTAL MAPPING WITH REAL-TIME BACKGROUND SUBTRACTION. (5) MELHORIA DO CONTRATO PARA MATERIAIS SOFT._x000D_ _x000D_ O PROJECTO É TRANSVERSAL DEVIDO À UTILIZAÇÃO ALARGADA DA MICROSCÓPIA DE ELÉTRON COMO FERRAMENTA DE CARACTERIZAÇÃO NAS NANOSCIENCAS, NAS MATERIAIS E NAS AMOSTRAS BIOLÓGICAS E ORGÂNICAS. A tecnologia que será desenvolvida pode ser aplicada não apenas à microscopia de electrões, mas também a outras técnicas de caracterização por feixes e, por conseguinte, com grande potencial de impacto.x000D_ _x000D_ Tendo em conta o custo muito elevado dos equipamentos actualmente comercializados, o baixo custo do EMPAD proposto, falsificado na tecnologia CMOS normalizada, pode constituir uma oportunidade para entrar no sector das embalagens através de licenças ou de uma barreira. (Portuguese)
17 August 2022
0 references
ÜHA ENAM ESINEB MATERJALITEADUSLIKKE ANDMEKOGUMEID, MIS ON LIIGA SUURED INIMSUUNAS TOIMUVAKS ÜKSIKMÕÕTMISTE ÜKSIKASJALIKUKS ANALÜÜSIKS. NÄITEKS SEOSES MATERJALIDE ISELOOMUSTAMISEGA ELEKTRONMIKROSKOOPIA ABIL MUUDAVAD UUED PIKSLIMASSIIVI DETEKTORITEL (EMPADS) PÕHINEVAD SENSORID PROOVIDE MÕÕTMISE VIISI ELEKTRONIDEGA, KUID NENDE VÄÄRTUS ON ÜHA SUUREM HULK TOHUTUID KUJUTISTE ANDMEKOGUSID, MIS ON REAALAJAS TÖÖTLEMISEKS LIIGA SUURED. PEAAEGU KÕIGIL JUHTUDEL SALVESTATAKSE AINULT VÄIKE KÄSITSI VALITUD TÄIELIKULT GENEREERITUD TEABEMAHU ALAMHULK JA TÖÖDELDAKSE VEELGI VÄIKSEMAT OSA SELLEST. _x000D_ _x000D_ HUGE POTENTIAL KURENTSIVÕTJAD AS ROUTINE SENSORS FOR ELECTRON mikroskoopia on takistatud, et see on raskendatud, et te ei ole ainus, kes on ainus, et oleks võimalik, et kõik on olemas, et oleks võimalik, et kõik on olemas. NANOEYE TÄHELEPANU VÕTNUD KÄSITLEVA TEADMISEKS HÄÄLETAMISEKS, kus DATA on GENERATUD, I.E., BY I.E., kes on SENSORSide DELIVERERITUD DATA DELIVERITE VÕTJU VÕTNUD VÕTJAD._x000D_ _x000D_ NANOEYE IS ABOUT DEVELOPING ELECTRON MICROSCOPES’i TEKHNOLOOGIA TEADMISEKS KOHTUASI TEADMISEKS TEADMISEKS TEADMISEKS KASUTAMISE TEADMISEKS (MITTE JUST RAW DATA) REAL AEG. PROJEKT ON MULTIDISTSIPLINAARNE JA HÕLMAB MIKROELEKTROONIKAGA SEOTUD UUTE SEADMETE VÄLJATÖÖTAMIST. UUS IDEE ON SUURENDADA KULUTÕHUSATE KAHEMÕÕTMELISTE CMOS-PÕHISTE PIKSLITE MASSIIVE, MIS VÕIMALDAVAD ÜLIKIIRET LUGEMIST, ENERGIAMÕÕTMIST JA KIIBIPÕHIST TÖÖTLEMIST. TEADMISEKS KÕRGE KASUTAMINE KASUTATAVAD KASUTUSED KASUTATAKSE KASUTATAKSE KASUTATAKSE KASUTATAVAD KASUTATAVAD KASUTATAVAD KASUTATAVAD KASUTATAVAD KASUTUSED._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS TÄHENDAMINE STATE-OF-THE-ART RÕHUTAB, et ei ole võimalik, et NANOMATERIALISED TEHNOLOLOOGIAES TEHNOLOOGIA TEHNOLOOGIA LIIKMÄÄRUSED EMERGINGU JA TEADMISEKS TEHNOLOOGIALE TEHNOLOOGIALE TEADMISEKS TEADMISEKS TEHNOLOOGIAD. IN SITU JA 4D VARRE ELEKTRONMIKROSKOOPIA ESIALGSED RAKENDUSED HÕLMAVAD JÄRGMIST: (1) ELEKTROMAGNETVÄLJADE PAREM DIFERENTSIAALKONTRASTIDE KUVAMINE; (2) OPTIMEERITUD VALGUSAATOMKUJUNDAMINE; (3) MITMEFAASILISTE MATERJALIDE AUTOMATISEERITUD KRISTALLOGRAAFILINE KAARDISTAMINE; (4) ELEKTRONIDE ENERGIAKADU ELEMENTAARNE KAARDISTAMINE REAALAJAS FOONI LAHUTAMISEGA. (5) LEPINGU MATERIALSID._x000D_ _x000D_ _x000D_ PROJEKT on TRANSVERSALUS ELECTRONi mikroskoopia WideSPREADUSE KASUTAMINE NANOSCIENCES, BOTH MATERIALISED JA BIOLOGIALISED JA ORGANIA SAMPLES. TEKHNOLOOGIA, et mitte ainult ELECTRONi mikroskoopiale, mitte ainult mitte ainult ELECTRONi mikroskoopiale, mitte ainult mitte ainult ELECTRONi mikroskoopiale, MUUDE MUUDE KASUTATAVAD KOHUSTUSLIKID JA TEADMISEKS IMPACT._x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ VERY KÕRGE KÕIGE KÕIGE KÕIGE TEADMISEKS KÕRGE KÕIGE TEADMISEKS, TEHNOLOOGIA VÕI TÖÖTLEVA TÖÖDOKONNA VÕI TÖÖTLEVA TÖÖKOHTA VÕI TÖÖVÕTMISE VÕI TÖÖVÕTMISE VÕI TÖÖVÕTMISE VÕI TÖÖVÕTMISE VÕI TÖÖVÕTMISE VÕI TÖÖTAVAD. (Estonian)
17 August 2022
0 references
EGYRE GYAKORIBBAK AZ ANYAGTUDOMÁNYI ADATKÉSZLETEK, AMELYEK TÚL NAGYOK AZ EGYÉNI MÉRÉSEK EMBER ÁLTAL IRÁNYÍTOTT RÉSZLETES ELEMZÉSÉHEZ. PÉLDÁUL AZ ANYAGOK ELEKTRONMIKROSZKÓPPAL TÖRTÉNŐ JELLEMZÉSÉVEL ÖSSZEFÜGGÉSBEN A PIXELTÖMB-DETEKTOROKON (EMPADS) ALAPULÓ ÚJ ÉRZÉKELŐK FORRADALMASÍTJÁK A MINTÁK ELEKTRONOKKAL TÖRTÉNŐ MÉRÉSÉNEK MÓDJÁT, DE A VALÓS IDEJŰ FELDOLGOZÁSHOZ TÚL NAGY MÉRETŰ KÉPEK EGYRE NÖVEKVŐ ELŐFORDULÁSÁNAK JUTALMÁT JELENTIK. SZINTE MINDEN ESETBEN A TELJES MÉRTÉKBEN GENERÁLT INFORMÁCIÓMENNYISÉGNEK CSAK EGY KIS, KÉZZEL KIVÁLASZTOTT RÉSZHALMAZÁT RÖGZÍTIK, ÉS ENNEK MÉG KISEBB RÉSZÉT DOLGOZZÁK FEL. _x000D_ _x000D_ az ELECTRON mikroszkópia számára a KÖRÖLT EMPA-k MAGYAR TÖRTÉNŐ ELLENŐRZÉSÉNEK akadályozták, hogy a RAW-DATA-nak csak akkor legyen lezárva, ha a KÖVETKEZŐ KÖVETKEZTETÉSEK ÉS MUCH HUMAN INTERVENCIÓK KÖVETKEZTETÉSÉNEK. NANOEYE A BIG DATA GENERATION PROBLEM-et a LOCATION-ban, ahol az adatok GENERATED, azaz, az EGYESÜLT MÓDOSÍTÁSOK VÉGREHAJTÁSÁT VONATKOZÓ KÖVETKEZŐ MÓDOSÍTÁSOKRA VONATKOZÓ ELŐZETES MÓDOSÍTÁSOK A SENSORS-ok segítségével._x000D_ _x000D_ _x000D_ A NANOEYE egy FACILITATING FELTÉTELE az ELECTRON MICROSCOPES TECHNOLÓGIája, amely a használati információknak (NEM csak RAW DATA) a valós értéken történő egységesítéséhez kapcsolódik. A PROJEKT MULTIDISZCIPLINÁRIS, ÉS MAGÁBAN FOGLALJA A MIKROELEKTRONIKÁT IS MAGÁBAN FOGLALÓ ÚJ ESZKÖZÖK KIFEJLESZTÉSÉT. AZ ÚJ ÖTLET AZ, HOGY KÉPESSÉ TEGYÜK A KÖLTSÉGHATÉKONY KÉTDIMENZIÓS CMOS-ALAPÚ PIXEL TÖMBÖKET, AMELYEK LEHETŐVÉ TESZIK AZ ULTRAGYORS LEOLVASÁST, AZ ENERGIAMÉRÉST ÉS AZ ON-CHIP FELDOLGOZÁST. A DETECTORS EGYESÜLT ÁLTALÁNOS FELHASZNÁLÁSA A KÖLTSÉGVETÉSI FELHASZNÁLÁSI FELTÉTELEKRE VONATKOZÓ REAL-TIME IMAGE PROCESSING, PROVIDING CAPABILITITIÁLIS EGYESÜLT KÖVETKEZŐ KÖVETKEZTETÉSEK ELŐZETES FELHASZNÁLÁSI FELHASZNÁLÁSA._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-THE-THEART EMPADS ez az anyag a NANOMATERIAL-ok ATOMATIKAI KARACTERISÁCIÓK FEJEZETÉNEK FEJEZETÉNEK TECHNOLÓGIÁKÉNEK ÉRTÉKELÉSÉNEK EMERGÉSZÍTÉSÉNEK ÉS FUTTING-EGYEZETÉNEK MÓDOSÍTÁSA. AZ IN SITU ÉS A 4D SZÁR ELEKTRONMIKROSZKÓPIA KEZDETI ALKALMAZÁSAI A KÖVETKEZŐK: (1) JAVÍTOTT DIFFERENCIÁLFÁZIS KONTRASZTOS KÉPALKOTÁS ELEKTROMÁGNESES TEREK; (2) OPTIMALIZÁLT FÉNYATOM KÉPALKOTÁS; (3) A TÖBBFÁZISÚ ANYAGOK AUTOMATIZÁLT KRISTÁLYRAJZI FELTÉRKÉPEZÉSE; (4) ELEKTRONENERGIA-VESZTESÉG ELEMI FELTÉRKÉPEZÉS VALÓS IDEJŰ HÁTTÉR KIVONÁSSAL. (5) SZERZŐDÉS AZ ELECTRON mikroszkópia MEGJEGYZÉSÉNEK A NANOSCIENCEKBEN KÖVETELMÉNYES MŰKÖDÉSI KÖVETKEZTETÉSI KÖVETELMÉNYEK A NANOSCIENCEKBEN, A MATERIALS ÉS BIOLOGIKAI ÉS ORGANIKAI TÁMOGATÁSOKRA VONATKOZÓ KÖVETELMÉNYESÍTÉSE. A TECHNOLÓGÁK EGYÜTTES MŰKÖDÉSI KÖVETKEZTETÉSE NEM ELEKTRON mikroszkópos vizsgálatra kerül sor más, már elfogadott KARACTERISATION TECHNIQU-k között, és ezáltal az IMPACT._x000D_ _x000D_ _x000D_ A KÖVETKEZŐ KÖVETELMÉNYEK KÖVETKEZŐ KÖVETELMÉNYEK KÖVETELMÉNYÉNEK KÖVETKEZTETÉSÉNEK, a TECHNOLOGIA MAGYARORSZÁG MEGJEGYZÉSÉNEK KÖVETKEZTETÉSÉNEK KÖVETKEZTETÉSÉNEK VONATKOZÓ KÖVETKEZTETÉSÉNEK KÖVETKEZTETÉSÉNEK KÖVETKEZTETÉSÉNEK VONATKOZÓ KÖVETKEZTETÉSÉNEK VONATKOZÓ KÖVETELMÉNYEKRE VONATKOZÓ KÖVETKEZTETÉSEK VÉGREHAJTÁSA. (Hungarian)
17 August 2022
0 references
НАЛИЦЕ Е НАРАСТВАЩО РАЗПРОСТРАНЕНИЕ В НАБОРИТЕ ОТ ДАННИ ЗА МАТЕРИАЛНАТА НАУКА, КОИТО СА ТВЪРДЕ ГОЛЕМИ ЗА РЪКОВОДЕН ОТ ЧОВЕКА ПОДРОБЕН АНАЛИЗ НА ИНДИВИДУАЛНИТЕ ИЗМЕРВАНИЯ. НАПРИМЕР, В КОНТЕКСТА НА ХАРАКТЕРИЗИРАНЕТО НА МАТЕРИАЛИТЕ С ИЗПОЛЗВАНЕ НА ЕЛЕКТРОННА МИКРОСКОПИЯ, НОВИТЕ СЕНЗОРИ, БАЗИРАНИ НА ДЕТЕКТОРИ НА МАСИВИ ОТ ПИКСЕЛИ (EMPADS), РЕВОЛЮЦИОНИЗИРАТ НАЧИНА НА ИЗМЕРВАНЕ НА ПРОБИТЕ С ЕЛЕКТРОНИ, НО ТЕ СА НАЧЕЛО НА НАРАСТВАЩОТО РАЗПРОСТРАНЕНИЕ НА ОГРОМНИ НАБОРИ ОТ ДАННИ ОТ ИЗОБРАЖЕНИЯ, КОИТО СА ТВЪРДЕ ГОЛЕМИ ЗА ОБРАБОТКА В РЕАЛНО ВРЕМЕ. В ПОЧТИ ВСИЧКИ СЛУЧАИ СЕ ЗАПИСВА САМО МАЛКА, РЪЧНО ИЗБРАНА ПОДМНОЖЕСТВО ОТ НАПЪЛНО ГЕНЕРИРАНИЯ ИНФОРМАЦИОНЕН ОБЕМ И СЕ ОБРАБОТВА ОЩЕ ПО-МАЛКА ПОДГРУПА ОТ НЕГО. _x000D_ _x000D_Голямата ПОТВЪРЖДАВАНЕ НА КУРЕНЕРИТЕ ЗА РЪТИНЕН СЕНСОРИ ЗА ЕЛЕКТРОНна микроскопия е възпрепятствано от факта, че те GENERATE VERY LARGE DATA се състои от RAW DATA, че може само да бъде закрит, с COSTLY RESOURCES и MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE Искаше да се направи преглед на защитата на големи DATA GENERATION в LOCATION, където ДАТА е обединена, I.E., чрез ИЗПЪЛНЕНИЕ ЕФФИЦИЕНТ МЕТОДОЛОГИИ за редуване на AMOUNT на DATA DELIVERED BY SENSORS._x000D_ _x000D__x000D__x000D__x000D__x000D__x000D__x000D__x000D__x000D__x000D_ NANOEYE ИЗРАЗЯВАНЕ FACILITATING TECHNOLOGY за ELECTRON MICROSCOPES, КОНТРИБУТ ЗА ЕФФИЦИЕНТ ОБЩЕСТВЕН ИНФОРМАЦИЯ НА УСЛУГНА ИНФОРМАЦИЯ (НЕ RAW DATA) В реалния период. ПРОЕКТЪТ Е МУЛТИДИСЦИПЛИНАРЕН И ВКЛЮЧВА РАЗРАБОТВАНЕТО НА НОВИ УСТРОЙСТВА, ВКЛЮЧВАЩИ МИКРОЕЛЕКТРОНИКА. НОВАТА ИДЕЯ Е ДА СЕ ДАДЕ ВЪЗМОЖНОСТ НА ИКОНОМИЧЕСКИ ЕФЕКТИВНИ ДВУИЗМЕРНИ CMOS-БАЗИРАНИ ПИКСЕЛНИ МАСИВИ, КОИТО ПОЗВОЛЯВАТ УЛТРА-БЪРЗО ОТЧИТАНЕ, ИЗМЕРВАНЕ НА ЕНЕРГИЯТА И ОБРАБОТКА НА ЧИПОВЕ. UNIQUE CAPABILITY OF THE DETECTORS е, че той ще бъде РЕМЕНТ ПОТРЕБИТЕЛЕН ПОТРЕБИТЕЛЕН ИМАЦИОНЕН ПРОЦЕСОР, ДОКУМЕНТ ЗА СЪОБЩЕНИЕ НА СЪОБЩЕНИЕТО НА РЕЗЕРВИРАНЕТО ПОТВЪРЖДАВАНЕ КОНТЕКЦИОНАЛНИ ДАННИ._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS AT DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS това ще добави нови методологии, за да се въртят и да се изравнят технологиите във филма на атомно-скелетната шарактеристика на НАНОМАТЕРИАЛИ. ПРЕДВИЖДА СЕ НАЧАЛНИ ПРИЛОЖЕНИЯ ЗА IN SITU И 4D СТВОЛОВИ ЕЛЕКТРОННИ МИКРОСКОПИ, КОИТО ДА ВКЛЮЧВАТ: (1) ПОДОБРЕНА ДИФЕРЕНЦИАЛНА ФАЗА КОНТРАСТНО ИЗОБРАЗЯВАНЕ НА ЕЛЕКТРОМАГНИТНИ ПОЛЕТА; (2) ОПТИМИЗИРАНО ИЗОБРАЖЕНИЕ НА СВЕТЛИННИЯ АТОМ; (3) АВТОМАТИЗИРАНО КРИСТАЛОГРАФСКО КАРТОГРАФИРАНЕ НА МНОГОФАЗНИ МАТЕРИАЛИ; (4) ЕЛЕКТРОН ЕНЕРГИЙНО-ЗАГУБА ЕЛЕМЕНТ КАРТОГРАФИРАНЕ С ИЗВАЖДАНЕ НА ФОН В РЕАЛНО ВРЕМЕ. (5) ДОКЛАД ЗА ПРОЕКТ ЗА СОФТ МАТЕРИАЛИ._x000D_ _x000D_ ПРОЕКТ Е ТРАНЗЕРСАЛЕН ДЪЛГОД НА ПИСМАНЕТО НА ЕЛЕКТРОННА микроскопия като CHARACTERISATION TOOL в NANOSCIENCES, BOTH FOR MATERIALS AND BIOLOGICAL AND ORGANIC SAMPLES. ТЕХНОЛОГИЯта, която ще бъде разработена, може да не бъде използвана само за микроскопия, но освен това, за да не е необходимо да се използват ТЕХНИКЕРИЗАЦИИРАНИ ТЕХНИКЕРИЗАЦИИРАНЕ, и там с голямо количество импактни._x000D_ _x000D_ _x000D_ ВЗЕМАТ ВНИМАНИЕ ВНИМАНИЕТО ВНИМАНИЕ ВНИМАНИЕ ВНИМАНИЕТО ВНИМАНИЕТО НА ТЕХНОЛОГИИТЕ, които се появяват, най-близкият ЕМПАД ТЕХНОЛОГИЧЕН ТЕХНОЛОГИЧЕН СЪОТВЕТСТВИЕ НА ПРЕДСТАВЯНЕТО НА ПРОИЗВОДСТВОТО НА СЕКТОРИТЕ НА СПЕЦИАЛНОСТТА НА ТЕХНОЛОГИТЕ ТЕХНОЛОГИИ ИЛИ ЕБТ. (Bulgarian)
17 August 2022
0 references
DAUGĖJA MEDŽIAGŲ MOKSLO DUOMENŲ RINKINIŲ, KURIE YRA PERNELYG DIDELI, KAD BŪTŲ GALIMA ATLIKTI IŠSAMIĄ ATSKIRŲ MATAVIMŲ ANALIZĘ. PAVYZDŽIUI, ATSIŽVELGIANT Į MEDŽIAGŲ APIBŪDINIMĄ NAUDOJANT ELEKTRONŲ MIKROSKOPĄ, NAUJI JUTIKLIAI, PAGRĮSTI PIKSELIŲ MATRICOS DETEKTORIAIS (EMPADS), IŠ ESMĖS KEIČIA MĖGINIŲ MATAVIMO ELEKTRONAIS BŪDĄ, TAČIAU JIE PASIEKIA VIS DIDĖJANTĮ DIDŽIULIŲ DUOMENŲ RINKINIŲ, KURIE YRA PERNELYG DIDELI, KAD JUOS BŪTŲ GALIMA APDOROTI REALIU LAIKU, SKAIČIŲ. BEVEIK VISAIS ATVEJAIS REGISTRUOJAMAS TIK NEDIDELIS RANKINIU BŪDU PARINKTAS VISIŠKAI SUGENERUOTOS INFORMACIJOS APIMTIES POAIBIS IR APDOROJAMAS DAR MAŽESNIS JO POGRUPIS. _x000D_ _x000D_ didžiuliai CURRENT EMPADS POTENTIAL kaip ROUTINE SENSORS, skirti ELECTRON mikroskopijai, trukdė Faktui, KAD GENERATE VERY VARGE DUOMENŲ DUOMENŲ, KURIUOS TIK TIK BŪTI SU PROCESSED OFFLINE, su COSTLY RESOURCES ir MUCH HUMAN INTERVENTION. NNOEYE nori, kad DUOMENŲ DUOMENŲ GENERACIJA DUOMENŲ, I.E., BY IMPLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIES DUOMENŲ DUOMENŲ ĮGYVENDINIMO PRIEŽIŪRA._x000D_ _x000D_ ELECTRON MICROSCOPES TECHNOLOGIJA, KARTĄ PATVIRTINDAMOS ĮSIPAREIGOJIMĄ NAUDOJIMO INFORMACIJA (NE tik RAW DATA) REAL TIME. PROJEKTAS YRA DAUGIADISCIPLINIS IR APIMA NAUJŲ PRIETAISŲ, KURIUOSE NAUDOJAMA MIKROELEKTRONIKA, KŪRIMĄ. NAUJOJI IDĖJA YRA SUTEIKTI EKONOMIŠKAS DVIMATIS CMOS PAGRĮSTAS PIKSELIŲ MASYVUS, KURIE LEIDŽIA ITIN GREITĄ SKAITYMĄ, ENERGIJOS MATAVIMĄ IR APDOROJIMĄ LUSTE. IQUE CAPABABILITY OF THE DETECTORS yra tai, kad ji bus PERMITY VARTOTI VARTOTOJŲ DUOMENYS. _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ papildysime naujas metodines priemones, skirtas NANOMATERIALŲ ATOMIKOS-SCALE KARAKTERIAZACIJOS MEDŽIAGŲ IR VALSTYBIŲ TECHNOLOGIJŲ MEDŽIAGŲ MEDŽIAGŲ MEDŽIAGŲ MEDŽIAGŲ. NUMATOMA, KAD IN SITU IR 4D KAMIENINIŲ ELEKTRONŲ MIKROSKOPIJA BUS NAUDOJAMA PIRMĄ KARTĄ: (1) PATOBULINTAS ELEKTROMAGNETINIŲ LAUKŲ DIFERENCINĖS FAZĖS KONTRASTINIS VAIZDAS; (2) OPTIMIZUOTAS ŠVIESOS ATOMŲ VAIZDAVIMAS; (3) AUTOMATIZUOTAS DAUGIAFAZIŲ MEDŽIAGŲ KRISTALOGRAFINIS KARTOGRAFAVIMAS; (4) ELEKTRONŲ ENERGIJOS NUOSTOLIŲ ELEMENTINIS KARTOGRAFAVIMAS SU REALAUS LAIKO FONO ATIMTIMI. (5) PROJEKTAS SĄRAŠAS PROGRAMINĖS MATERIALŲ._x000D_ _x000D_ PROJEKTAS yra TRANSVERSAL DUE to the WIDESPREAD use of ELECTRON microscopy as A CHARACTERISATION TOOL in the NANOSCIENCES, BOTH for MATERIALS IR BIOLOGICAL IR ORGANICAL SAMPLES. TECHNOLOGIJA, KURI BŪTI DĖL DĖL ELEKTRON mikroskopijos, kad būtų galima naudoti tik ELECTRON mikroskopiją, bet taip, kad ji būtų naudojama visoms kitoms medžiagoms, kurioms yra taikomi KARAKTAI, IR JŪSŲ PATEIKTI POTENTIALOJE IMPACT._x000D_ _x000D_ ĮSIPAREIGOJIMO ĮSIPAREIGOJIMĄ, MAŽINO VALSTYBĖS VALSTYBĖS VALSTYBĖS VALSTYBĖS MOKYKLOS TECHNOLOGIJOS GYVENDINIMO RESPUBLIKOS APSAUGOS ĮSIPAREIGOJIMAS Į EMPATŲ SEKTORĮ „THROUGH LICENSES ARBA EBT“. (Lithuanian)
17 August 2022
0 references
SVE JE VEĆA PREVALENCIJA U SKUPOVIMA PODATAKA O ZNANOSTI O MATERIJALIMA KOJI SU PREVELIKI ZA DETALJNU ANALIZU POJEDINAČNIH MJERENJA USMJERENU NA ČOVJEKA. NA PRIMJER, U KONTEKSTU KARAKTERIZACIJE MATERIJALA POMOĆU ELEKTRONSKE MIKROSKOPIJE, NOVI SENZORI TEMELJENI NA DETEKTORIMA PIKSELA (EMPADS) REVOLUCIONIRAJU NAČIN MJERENJA UZORAKA ELEKTRONIMA, ALI DOLAZE NA NAGRADU SVE VEĆE PREVALENCIJE OGROMNIH SKUPOVA PODATAKA SLIKA KOJE SU PREVELIKE ZA OBRADU U STVARNOM VREMENU. U GOTOVO SVIM SLUČAJEVIMA BILJEŽI SE SAMO MALI, RUČNO ODABRANI PODSKUP POTPUNO GENERIRANOG VOLUMENA INFORMACIJA I OBRAĐUJE SE JOŠ MANJI PODSKUP TOGA. _x000D_ _x000D_ HUGE POTENTIAL CURRENT EMPADS AS ROUTINE SENSORS za ELECTRON mikroskopiju je ometao BY FACT da je njihov OPĆI VELIKI DARGE DATA SETS RAW DATA da mogu SAMO biti PROCESSED OFFLINE, S COSTLY RESOURCES I MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE ľeli da učvrstite PROBLEM BIG DATA GENERATION na LOKACIJA gdje je DATA je OPĆI, I.E., BY UMPLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIES za REDUCING AMOUNT DATA DELIVERED BY SENSORS._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE JE O DEVELOPING U OBZIR FACILITATING TEHNOLOGIJA za ELECTRON MICROSCOPES da je uslužan UČITELJI GENERACIJA USEFUL INFORMACIJE (NOT JUST RAW DATA) u stvarnom vremenu. PROJEKT JE MULTIDISCIPLINARAN I UKLJUČUJE RAZVOJ NOVIH UREĐAJA KOJI UKLJUČUJU MIKROELEKTRONIKU. NOVA IDEJA JE OSNAŽIVANJE ISPLATIVIH DVODIMENZIONALNIH CMOS-BASED PIKSELA NIZOVA KOJI OMOGUĆUJU ULTRA-BRZO OČITAVANJE, MJERENJE ENERGIJE I OBRADU NA ČIPU. KAPABILNOST UNIQUE DETECTORA je da će to biti ljubazan USER-SELECTED REAL-TIME IMAGE PROCESSING, PROVIDING SENSING CAPABILITIES da se ne mogu naći USING CONVENTIONAL DETECTORS._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS na DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS to će dodati nove METHODOLOGICIČKE toole za EMERGING I CUTTING-EDGE TECHNOLOGIES u FIELD ATOMIC-SCALE CHARACTERISATION of NANOMATERIALS. POČETNE PRIMJENE PREDVIĐENE SU ZA IN SITU I 4D MATIČNU ELEKTRONSKU MIKROSKOPIJU KOJA UKLJUČUJE: (1) POBOLJŠANA DIFERENCIJALNA FAZA KONTRASTA SLIKA ELEKTROMAGNETSKIH POLJA; (2) OPTIMIZIRANO SVJETLOSNO SNIMANJE ATOMA; (3) AUTOMATIZIRANO KRISTALOGRAFSKO MAPIRANJE VIŠEFAZNIH MATERIJALA; (4) ELEKTRIČNI GUBITAK ENERGIJE-GUBITAK ELEMENTARNOG MAPIRANJA S REALNOM VREMENU ODUZIMANJE POZADINE. (5) UGOVORNOST ZA SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ PROJEKT je TRANSVERSAL DUE na WIDESPREAD Uporabu ELECTRON mikroskopije kao CHARACTERISATION TOOL u NANOSCIENCES, BOTH ZA MATERIJALI I BIOLOGICI I ORGANSKI SAMPLES. TEHNOLOGIJA koja će biti skraćena, ne samo da će se koristiti za mikroskopija ELECTRON-a, ali također i za druge tehnikološke tehnike, i one s velikim položajem IMPACT-a._x000D__x000D_x000D_ Uključivanje u vrlo visoku cijenu EMPADS-a koji su se vjerojatno okupili, the LOW COST PROPOSED EMPAD FABRICATED U STANDARDNI CMOS TECHNOLOGY MOJE PREDSTAVNIČKI OBAVIJESTI U SEKTORU EMPADS THROUGH LICENS ILI EBT. (Croatian)
17 August 2022
0 references
DET FINNS EN VÄXANDE FÖREKOMST I MATERIALVETENSKAPLIGA DATAMÄNGDER SOM ÄR ALLDELES FÖR STORA FÖR MÄNNISKORIKTAD DETALJERAD ANALYS AV ENSKILDA MÄTNINGAR. TILL EXEMPEL, INOM RAMEN FÖR MATERIALKARAKTERISERING MED HJÄLP AV ELEKTRONMIKROSKOPI, NYA SENSORER BASERADE PÅ PIXEL ARRAY DETEKTORER (EMPADS) REVOLUTIONERAR SÄTTET ATT MÄTA PROVER MED ELEKTRONER, MEN DE KOMMER TILL PRISET AV EN VÄXANDE FÖREKOMST AV ENORMA DATASET AV BILDER SOM ÄR ALLDELES FÖR STORA FÖR REALTIDSBEARBETNING. I NÄSTAN ALLA FALL REGISTRERAS ENDAST EN LITEN, MANUELLT VALD DELMÄNGD AV DEN FULLT GENERERADE INFORMATIONSVOLYMEN OCH EN ÄNNU MINDRE DELMÄNGD AV DENNA BEHANDLAS. _x000D_ _x000D_ den stora POTENTIAL OF CURRENT EMPADS SOM ROUTINE SENSORS FÖR ELECTRON mikroskopi är hindrad av FAKTA SOM GENERATE VERY LARGE DATA SER AV RAW DATA SOM ENDAST TILLÄMPAS AVFLINE, MED COSTLY RESOURCES OCH MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE WANTS ATT ATTATTA PROBLEMET av stor DATA GENERATION vid LOCATION där DATA ÄR GENERATED, I.E., Genom GENOLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIER FÖR REDUCERING AV DATA DELIVERED AV SENSORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE ÄR FÖR UTVECKLING En FACILITATING TECHNOLOGY FÖR ELECTRON MICROSCOPES SOM KONTROLLER TILL DEN EFFEKTIVA GENERATION AV UTVECKLINGEN (NOT JUST RAW DATA) I REAL TIME. PROJEKTET ÄR TVÄRVETENSKAPLIGT OCH OMFATTAR UTVECKLING AV NY UTRUSTNING FÖR MIKROELEKTRONIK. DEN NYA IDÉN ÄR ATT GE KOSTNADSEFFEKTIVA TVÅDIMENSIONELLA CMOS-BASERADE PIXELMATRISER SOM MÖJLIGGÖR ULTRASNABB AVLÄSNING, ENERGIMÄTNING OCH ON-CHIP-BEARBETNING. DETECTORS FÖRBJUDES KAPABILITET ÄR DETECTORS SOM ÄR DETECTORS SOM ÄR MEDVETNA OM ATT ANVÄNDAS REAL-TIME IMAGE PROCESSING, PROVIDING SENSINGKAPABILITITIER SOM ÄR MEDVETNA OM DETECTORS._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS TILL UTVECKLINGSSTATE-OF-THE-ART EMPADS detta kommer att läggas till nya METHODOLOGICAL TOOLS FÖR EMERGING OCH CUTTING-EDGE TECHNOLOGIER I FIELD AV ATOMIC-SCALE CHARACTERISATION AV NANOMATERIALER. INLEDANDE TILLÄMPNINGAR PLANERAS FÖR IN SITU- OCH 4D-STAMELEKTRONMIKROSKOPI SOM OMFATTAR FÖLJANDE: (1) FÖRBÄTTRAD DIFFERENTIALFASKONTRASTAVBILDNING AV ELEKTROMAGNETISKA FÄLT; (2) OPTIMERAD LJUSATOMAVBILDNING; (3) AUTOMATISERAD KRISTALLOGRAFISK KARTLÄGGNING AV FLERFASIGA MATERIAL. (4) ELEKTRONENERGIFÖRLUST ELEMENTÄR KARTLÄGGNING MED REALTIDSBAKGRUND SUBTRAKTION. (5) CONTRAST ENHANCEMENT FÖR SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ PROJEKT ÄR TRANSVERSAL DUE till WIDESPREAD ANVÄNDNING AV ELECTRON mikroskopi som en CHARACTERISATION TOOL I NANOSCIENCES, BOTH FÖR MATERIALS OCH BIOLOGICAL OCH ORGANISKA SAMPLES. Den TECHNOLOGY SOM kommer att utvecklas kan inte ENDAST TILL ELEKTRON mikroskopi MEN ALSO TO ANDER BEAM-BASED CHARACTERISATION TECHNIQUES, och de som har stora POTENTIAL AV IMPACT._x000D_ _x000D_ TAKING INTO ACCOUNT THEVERY HIGHOST OF EMPADS SOM ÄR CURRENTLY MARKETED, den låga kostnaden för de godkända EMPAD FABRICATED I STANDARD CMOS TECHNOLOGY MAY REPRESENT EN OPPORTUNITY to EN SECTOR OF EMPADS THROUGH LICENSES ELLER EN EBT. (Swedish)
17 August 2022
0 references
EXISTĂ O PREVALENȚĂ DIN CE ÎN CE MAI MARE ÎN SETURILE DE DATE ȘTIINȚIFICE ALE MATERIALELOR CARE SUNT MULT PREA MARI PENTRU ANALIZA DETALIATĂ A MĂSURĂTORILOR INDIVIDUALE, DIRIJATĂ DE OM. DE EXEMPLU, ÎN CONTEXTUL CARACTERIZĂRII MATERIALELOR FOLOSIND MICROSCOPIA ELECTRONICĂ, SENZORII NOI BAZAȚI PE DETECTOARE DE MATRICE PIXELI (EMPADS) REVOLUȚIONEAZĂ MODUL DE MĂSURARE A PROBELOR CU ELECTRONI, DAR VIN LA PREVALENȚA CRESCÂNDĂ A UNOR SETURI URIAȘE DE DATE DE IMAGINI CARE SUNT MULT PREA MARI PENTRU PRELUCRAREA ÎN TIMP REAL. ÎN APROAPE TOATE CAZURILE, SE ÎNREGISTREAZĂ DOAR UN SUBSET MIC, SELECTAT MANUAL AL VOLUMULUI DE INFORMAȚII GENERAT INTEGRAL ȘI UN SUBSET ȘI MAI MIC AL ACESTUIA ESTE PROCESAT. _x000D_ _x000D_ POTENTIALUL HUG al EMPADS CURRENT AS ROUTINE SENSORS PENTRU microscopia ELECTRON este împiedicat de faptul că ei au obținut date reale de date ale datelor care pot fi supuse numai în cazul în care se poate obține numai din surse proprii, cu rezerve și cu o intervenție omenească. NANOEYE WANOEYE WANOEYE WANOEYE WANTS TOATE PROBLEMUL BIG DATA GENERARE LA LOCAȚIA CARE DATA este GENERAT, I.E., Prin IMPLEMENTARE Eficient METHODOLOGIES PENTRU REDUCAREA DATELOR DE DATE DE LA SENSORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE se referă la dezvoltarea unei afectiuni TECHNOLOGIE PENTRU MICROSCOPE ELECTRON CĂ CONTRIBUTE GENERAREA EFICIENTĂ DE INFORMAȚII UTILIZARE (NU TUST DATE) ÎN TIMP REAL. PROIECTUL ESTE MULTIDISCIPLINAR ȘI INCLUDE DEZVOLTAREA DE NOI DISPOZITIVE CARE IMPLICĂ MICROELECTRONICĂ. NOUA IDEE ESTE DE A CAPACITA REȚELE BIDIMENSIONALE BIDIMENSIONALE DE PIXELI BAZATE PE CMOS DIN PUNCTUL DE VEDERE AL COSTURILOR, CARE PERMIT CITIREA ULTRARAPIDĂ, MĂSURAREA ENERGIEI ȘI PRELUCRAREA PE CIP. CAPABILITATEA UNICĂ A DETECTORILOR ESTE CĂ va PERMIT UTILIZAREA REAL-SELECTATE UTILIZATORI, PROVIDING SENSING CAPABILITĂȚI care nu pot fi utilizate în DETECTORII CONVENȚIONALE._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS la DEVELOPING STATE-OF-the-ART EMPADS acest lucru va adăuga noi instrumente metogologice pentru EMERGING ȘI CUTTING-EDGE TECHNOLOGIES în FIELDUL DE CHARACTERIZARE ATOMIC-SCALE a NANOMATERIALE. APLICAȚIILE INIȚIALE SUNT PREVĂZUTE PENTRU MICROSCOPIA ELECTRONICĂ IN SITU ȘI 4D PENTRU A INCLUDE: (1) ÎMBUNĂTĂȚIREA IMAGINII CONTRASTULUI DE FAZĂ DIFERENȚIALĂ A CÂMPURILOR ELECTROMAGNETICE; (2) IMAGISTICA ATOMILOR DE LUMINĂ OPTIMIZAȚI; (3) CARTOGRAFIEREA CRISTALOGRAFICĂ AUTOMATĂ A MATERIALELOR MULTIFAZATE; (4) CARTOGRAFIEREA ELEMENTARĂ A PIERDERII DE ENERGIE A ELECTRONILOR CU SCĂDEREA DE FOND ÎN TIMP REAL. (5) ENHANCEMENTUL CONTRASTRUCTULUI PENTRU MATERIALE SOFT._x000D_ _x000D_ PROJECTUL ESTE DUE TRANSVERSAL LA UTILIZAREA VERGETIEI DE microscopie ELECTRONĂ ca un obiectiv de CHARACTERIZARE ÎN NANOSCIENȚE, pentru MATERIALS ȘI SAMPLE BIOLOGIC ȘI ORGANICĂ. Tehnologia care va fi pusă în aplicare poate să nu fie aplicată numai la microscopia ELECTRON, ci doar la alte tehnologii de CHARACTERIZARE BAS-BASED, și înainte de a obține cea mai mare poziție a IMPACTACTULUI._x000D_ _x000D_ _x000D_ _x000D_ ținând cont de numărul mare de EMPADS care sunt comercializate în mod regulat, LOW COSTUL FABRICATULUI PROPOZAT EMPAD în CMOS STANDARD TECHNOLOGY poate reevalua o OPPORTUNITATE pentru a intra în sectia de EMPADS prin intermediul unor LICENȚE SAU UN EBT. (Romanian)
17 August 2022
0 references
VSE VEČJA RAZŠIRJENOST PODATKOVNIH NIZOV ZNANOSTI O MATERIALIH JE VELIKO PREVELIKA ZA PODROBNO ANALIZO POSAMEZNIH MERITEV, KI JO USMERJA ČLOVEK. NA PRIMER, V KONTEKSTU KARAKTERIZACIJE MATERIALOV Z UPORABO ELEKTRONSKE MIKROSKOPIJE NOVI SENZORJI, KI TEMELJIJO NA DETEKTORJIH NIZOV SLIKOVNIH PIK (EMPADS), REVOLUCIONIRAJO NAČIN MERJENJA VZORCEV Z ELEKTRONI, VENDAR PRIHAJAJO NA RAČUN VSE VEČJE RAZŠIRJENOSTI OGROMNIH PODATKOVNIH NIZOV SLIK, KI SO VELIKO PREVELIKI ZA OBDELAVO V REALNEM ČASU. V SKORAJ VSEH PRIMERIH SE ZABELEŽI LE MAJHNA, ROČNO IZBRANA PODMNOŽICA V CELOTI USTVARJENE INFORMACIJSKE KOLIČINE IN OBDELA SE ŠE MANJŠA PODMNOŽICA TEGA. _x000D_ _x000D_ HUGE POTENTIAL KUPENIH EMPADS AS ROUTINE SENSORS ZA ELEKTRON mikroskopijo je ovirano s FACT, da bi dobili zelo veliko število PODATKIH PODATKOV RAW PODATKOV, ki jih je mogoče samo, da se ZAČASNO ZAŠTEVAJO, Z STROŠNIH PREDSTAVNIH IN MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE PODATKOV ZA PROBLEM BIG DATA GENERATION na LOCATION Kjer je DATA GENERATED, I.E., Z IMPLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIES ZA PODROČJE PODATKOV DELIVNIH PODATKOV._x000D_ _x000D_ _x000D_ NANOEYE JE NAMENJENO IZDEVAJO FACILITATING TEHNOLOGIJA ZA ELEKTRON MICROSCOPES, ki se nanašajo na UČINKOVNO GENERacijo UPORABE INFORMACIJE (NI PODATKOV) V REAL TIME. PROJEKT JE MULTIDISCIPLINAREN IN VKLJUČUJE RAZVOJ NOVIH NAPRAV, KI VKLJUČUJEJO MIKROELEKTRONIKO. NOVA IDEJA JE OPOLNOMOČENJE STROŠKOVNO UČINKOVITIH DVODIMENZIONALNIH SLIKOVNIH PIK NA OSNOVI CMOS, KI OMOGOČAJO ULTRA HITRO ODČITAVANJE, MERJENJE ENERGIJE IN OBDELAVO NA ČIPIH. UNIQUE CAPABILITY of the DETECTORS JE TO, da bi se UPOŠTEVAJO UPORABE REAL-TIME IMAGE PROCESSING, PROVIDING SENSING CAPABILITIES, ki jih je treba upoštevati pri uporabi CONVENTIONAL DETECTORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS NANOEYE AIMS na DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS da bi dobili novo METODOLOGIJO TOOLIČNIH TOOLS za EMERGING IN CUTTING-EDGE TEHNOLOGIJI V FIELDU ATOMSKO-SCALE CHARACTERIATION OF NANOMATERIALS. ZA MIKROSKOPIJO IN SITU IN 4D STEBLA SO PREDVIDENE ZAČETNE UPORABE, KI VKLJUČUJEJO: (1) IZBOLJŠANO SLIKANJE DIFERENCIALNEGA FAZNEGA KONTRASTA ELEKTROMAGNETNIH POLJ; (2) OPTIMIRANO SLIKANJE Z ATOMOM SVETLOBE; (3) AVTOMATIZIRANO KRISTALNO KARTIRANJE VEČFAZNIH MATERIALOV; (4) ELEMENTARNO KARTIRANJE IZGUBE ENERGIJE ELEKTRONOV Z ODŠTEVANJEM OZADJA V REALNEM ČASU. (5) POGODBENICE ZA SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ PROJEKT, ki je TRANSVERZERALNA UPORABA ELEKTRONske mikroskopije v NANOSCIENCES, BOTH ZA MATERIALS IN BIOLOGIČNE IN ORGANIČNE SAMPLES. TEHNOLOGIJA, ki bi jo lahko izdelali, ne bi bili pripravljeni sami, da bi se ELECTRON mikroskopija, ne da bi se še naprej ukvarjali z drugimi tehnikami, ki bi jih lahko uporabili, in TEHNIKAMI, ki bi jih lahko uporabili za IMPACT._x000D_ _x000D_ _x000D_ TAKUJE VEČH IZKLJUČENEGA COSTA EMPADOV, ki so se stalno trgovale, LOW COST OF PROPOSED EMPAD FABRICATED V STANDARD SUTHNOLOGIJA TEHNOLOGIJA PRIPRAVLJENJE OPPORTUNITIJE, da bi dobili SEKTOR EMPADS THROUGH LICENSES ALI EBT. (Slovenian)
17 August 2022
0 references
ROŚNIE CZĘSTOŚĆ WYSTĘPOWANIA ZBIORÓW DANYCH Z ZAKRESU NAUK MATERIAŁOWYCH, KTÓRE SĄ ZBYT DUŻE DLA UKIERUNKOWANEJ PRZEZ CZŁOWIEKA SZCZEGÓŁOWEJ ANALIZY INDYWIDUALNYCH POMIARÓW. NA PRZYKŁAD, W KONTEKŚCIE CHARAKTERYSTYKI MATERIAŁÓW ZA POMOCĄ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ, NOWE CZUJNIKI OPARTE NA DETEKTORACH TABLIC PIKSELI (EMPADS) REWOLUCJONIZUJĄ SPOSÓB POMIARU PRÓBEK ELEKTRONAMI, ALE SĄ NAGRODĄ ROSNĄCEJ ROZPOWSZECHNIENIA OGROMNYCH ZBIORÓW DANYCH OBRAZÓW, KTÓRE SĄ ZBYT DUŻE DLA PRZETWARZANIA W CZASIE RZECZYWISTYM. W PRAWIE WSZYSTKICH PRZYPADKACH REJESTROWANY JEST TYLKO MAŁY, RĘCZNIE WYBRANY PODZBIÓR W PEŁNI WYGENEROWANEJ OBJĘTOŚCI INFORMACJI I PRZETWARZANY JEST JESZCZE MNIEJSZY PODZBIÓR TEGO PODZBIORU. _x000D_ _x000D_ HUGE POTENTIAL CURRENT EMPADS AS ROUTINE SENSORS FOR ELECTRON microscopy JEST utrudniony przez FACT, że OGÓLNE DANYCH DANYCH DANYCH DANYCH DANYCH, Które mogą być TYLKO PROCESOWANE OFFLINE, Z KOSZTYWNYmi źródłami i MUCH HUMAN INTERVENTION. NANOEYE chce wziąć udział w PROBLEM BIG DATA GENERATION W LOCACJI, gdzie dane są OGÓLNE, I.E., WYMPLEMENTING EFFICIENT METHODOLOGIES FOR REDUCING THE AMOUNT OF DATA DELIVERED BY THE SENSORS._x000D_ _x000D_ NANOEYEE O DOSTĘPUJĄCYCH FACILITATING TECHNOLOGIA DLA MICROSCOPÓW ELEKTRONOWYCH, KTÓRYCH KONTRYBUJĄCYCH GENERACJI INFORMACJI UŻYTKOWNIKA (NIE JUST RAW DANYCH) W czasie rzeczywistym. PROJEKT MA CHARAKTER MULTIDYSCYPLINARNY I OBEJMUJE ROZWÓJ NOWYCH URZĄDZEŃ Z WYKORZYSTANIEM MIKROELEKTRONIKI. NOWA IDEA POLEGA NA WZMOCNIENIU OPŁACALNYCH DWUWYMIAROWYCH MATRYC PIKSELI OPARTYCH NA CMOS, KTÓRE UMOŻLIWIAJĄ ULTRASZYBKI ODCZYT, POMIAR ENERGII I PRZETWARZANIE NA CHIPIE. UNIQUE CAPABILITY OF THE DETECTORS jest to, że będzie PERMIT USER-SELECTED REAL-TIME IMAGE PROCESSING, PROVIDING SENSING CAPABILITIES, CANNOT BE ACHIEVED USING CONVENTIONAL DETECTORS._x000D_ _x000D_ NANOEYE AIMS W DEVELOPING STATE-OF-THE-ART EMPADS to, że doda nowe narzędzia METOLOGICZNE do EMERGING I CUTTING-EDGE TECHNOLOGIES W FIELD CHARACTERization ATOMIC-SCALE NANOMATERIAŁÓW. PRZEWIDUJE SIĘ WSTĘPNE ZASTOSOWANIA DLA MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ IN SITU I 4D MACIERZYSTEJ, OBEJMUJĄCE: (1) ULEPSZONE OBRAZOWANIE KONTRASTU FAZY RÓŻNICOWEJ PÓL ELEKTROMAGNETYCZNYCH; (2) ZOPTYMALIZOWANE OBRAZOWANIE ATOMÓW ŚWIATŁA; (3) AUTOMATYCZNE ODWZOROWANIE KRYSTALOGRAFICZNE MATERIAŁÓW WIELOFAZOWYCH; (4) ODWZOROWANIE ELEMENTÓW STRAT ENERGII ELEKTRONÓW Z ODEJMOWANIEM TŁA W CZASIE RZECZYWISTYM. (5) CONTRAST ENHANCEMENT FOR SOFT MATERIALS._x000D_ _x000D_ PROJEKT JEST TRANSVERSALNY DUE DO WIDESPREADU UŻYTKOWANIA mikroskopii ELECTRON, AS A CHARACTERISATION TOOL IN THE NANOSCIENCES, BOTH FOR MATERIALS I BIOLOGICZNE SAMPLES. TECHNOLOGIA, Która zostanie rozwiązana, może być stosowana nie tylko do mikroskopii ELECTRON, ale tylko do innych TECHNIKTERIZACJI CHARACTERISACJI BEAM-BASED, ORAZ Z GREAT POTENTIALNYCH IMPACT._x000D_ _x000D_ TAKING INTO COUNT THE BERY HIGH HIGHOST OF EMPADS THATENTLY MARKETED, LOW COST PROPOSED EMPAD FABRICATED IN STANDARD CMOS TECHNOLOGY MAY REPRESENT AN OPPORTUNITY TO THE SECTOR OF EMPADS THROUGH LICENSES LUB AN EBT. (Polish)
17 August 2022
0 references
Cádiz
0 references
20 December 2023
0 references
Identifiers
PGC2018-101538-A-I00
0 references