Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. (Q81354)
Jump to navigation
Jump to search
Project Q81354 in Poland
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. |
Project Q81354 in Poland |
Statements
254,991.5 zloty
0 references
299,990.0 zloty
0 references
85.0 percent
0 references
2 January 2018
0 references
30 April 2019
0 references
CORRESCOPY MICHAŁ DYKAS
0 references
Numer_referencyjny_programu_pomocowego: SA.42799(2015/X), pomoc_de_minimis: §42 rozporządzenia Ministra Infrastruktury i Rozwoju z dnia 10 lipca 2015 r. w sprawie udzielania przez Polską Agencję Rozwoju Przedsiębiorczości pomocy finansowej w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014–2020.Projekt zakłada opracowanie i przebadanie nowego wyrobu - nanokalibracyjnej płytki wzorcowej (dla systemu korelacyjnej obserwacji powierzchni w mikro- i nanoskali oraz optymalizacje systemu korelacyjnej obserwacji do współpracy z opracowanymi próbkami. Finalny produkt będzie miał cechy innowacyjne wyróżniające go od obecnie znanych rozwiązań tj. -funkcjonalność, poprzez uniwersalność płytki wzorcowej użytkownik może zastosować jedną i tą samą płytkę wzorcową w wielu urządzeniach mikroskopowych (wykorzystujących np. światło czy wiązkę elektronową); -zwiększona odporność produktu na czynniki zewnętrzne, poprzez wprowadzoną uniwersalność płytki, musi ona być odporna na wiele czynników zewnętrznych w których będzie używana, np. temperaturę, środki chemiczne, czy działanie promieniowania; -precyzyjność płytki, przy produkcji wykonane zostaną nanomarkery, które pozwalają na znaczące (nawet o rząd wielkości) zwiększenie precyzji ustalania położenia badanego preparatu oraz ulepszoną kalibrację mikroskopów pod kątem obrazowania korelacyjnego; -dodatkowo, wprowadzony będzie także układ nanomarkerów na powierzchni refencyjnej uchwytu systemu korelacyjnej obserwacji, pozwalający znacząco zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki, w tym także ilościowo ocenić odchylenie ortogonalności ustawienia uchwytu. -opracowana zostanie procedura wprowadzania nastaw i obliczania współczynników korekcyjnych pozycjonowania próbki. Nowe rozwiązanie może zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki kilkukrotnie, a nawet o rząd wielkości. Wprowadzone innowacje będą skutkować znacznym podniesieniem jakości całego systemu k (Polish)
0 references
Reference number of the aid programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 of the Regulation of the Minister of Infrastructure and Development of 10 July 2015 on the granting by the Polish Agency for Enterprise Development financial assistance under the Operational Programme Intelligent Development 2014-2020.The project assumes the development and testing of a new product – a nanocalibration calibration plate (for the correlated system of surface observation in micro- and nanoscales and optimisation of the correlation system of observation to cooperate with the samples developed. The final product will have innovative features that distinguish it from currently known solutions i.e. —functionality, through the versatility of the reference plate, the user can use one and the same reference plate in many microscopic devices (using e.g. light or electron beam); —increased resistance of the product to external factors, through the introduction of the versatility of the plate, it must be resistant to many external factors in which it will be used, e.g. temperature, chemicals or radiation; —the precision of the plate, in production, will be made nanomarkers, which allow for a significant (even an order of size) increase the precision of the positioning of the test preparation and improved calibration of microscopes for correlation imaging; —in addition, a system of nanomarkers will also be introduced on the reef surface of the handle of the correlation observation system, which allows to significantly increase the precision of the positioning of the sample, including quantifying the deviation of the orthogonality of the positioning of the handle. —a procedure for setting up and calculating the corrective factors for the positioning of the sample will be developed. The new solution can increase the precision of positioning the sample several times, or even by an order of magnitude. The innovations introduced will result in a significant improvement in the quality of the whole system k (English)
14 October 2020
0 references
Reference_Aid_programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Article 42 du règlement du ministre des infrastructures et du développement du 10 juillet 2015 relatif à l’octroi d’une aide financière par l’Agence polonaise pour le développement de l’entreprise dans le cadre du programme opérationnel «Croissance intelligente» 2014-2020. Le projet comporte la mise au point et la mise à l’essai d’un nouveau produit — une plaque de référence pour la nanoétalonnage (pour un système d’observation de corrélation des surfaces à l’échelle micro et nanométrique et l’optimisation du système d’observation de corrélation pour la coopération avec les échantillons préparés). Le produit final aura des caractéristiques innovantes qui le distinguent des solutions actuellement connues, à savoir: —fonctionnalité, grâce à la polyvalence de la plaque de référence, l’utilisateur peut utiliser une seule et même plaque standard dans plusieurs dispositifs microscopiques (en utilisant par exemple la lumière ou le faisceau d’électrons); —la résistance accrue du produit aux agents externes, par la polyvalence introduite de la plaque, doit être résistante à de nombreux facteurs externes dans lesquels il sera utilisé, par exemple la température, les agents chimiques ou le rayonnement; —la précision de la plaque, en production, sera faite nanomarqueurs, ce qui permettra d’augmenter significativement (même par ordre de taille) la précision du positionnement de la préparation d’essai et l’étalonnage amélioré des microscopes pour l’imagerie de corrélation; —en outre, le système de nanomarqueurs sera également introduit sur la surface réfractive de la poignée du système d’observation de corrélation, ce qui permettra d’augmenter de manière significative la précision du positionnement de l’échantillon, y compris en quantifiant l’écart de l’orthogonité du réglage de la poignée. — une procédure de fixation et de calcul des facteurs de correction de positionnement de l’échantillon sera mise au point. La nouvelle solution peut augmenter la précision du positionnement de l’échantillon plusieurs fois, voire par ordre de taille. Les innovations introduites amélioreront considérablement la qualité de l’ensemble du système k (French)
30 November 2021
0 references
Referenz_Aid_Programm: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: § 42 der Verordnung des Ministers für Infrastruktur und Entwicklung vom 10. Juli 2015 über die finanzielle Unterstützung der polnischen Agentur für Unternehmensentwicklung im Rahmen des Operationellen Programms „Intelligentes Wachstum“ 2014-2020. Das Projekt umfasst die Entwicklung und Erprobung eines neuen Produkts – eine Referenzplatte für Nanokalibrierung (für ein System der Korrelationsbeobachtung von Oberflächen in Mikro- und Nanoskalen und Optimierungen des Korrelationsbeobachtungssystems für die Zusammenarbeit mit den vorbereiteten Proben). Das Endprodukt wird innovative Merkmale aufweisen, die es von den derzeit bekannten Lösungen unterscheiden, d. h. —Funktionalität, durch die Vielseitigkeit der Referenzplatte, kann der Benutzer eine und die gleiche Standardplatte in mehreren mikroskopischen Geräten (mit z. B. Licht- oder Elektronenstrahl) verwenden; —die erhöhte Beständigkeit des Produkts gegenüber externen Arbeitsstoffen durch die eingeführte Vielseitigkeit der Platte muss gegen viele externe Faktoren beständig sein, in denen es verwendet wird, z. B. Temperatur, chemische Arbeitsstoffe oder Strahlung; —die Präzision der Platte in der Produktion wird Nanomarker, die eine signifikante (auch nach Größe) ermöglichen, die Präzision der Positionierung der Testvorbereitung und verbesserte Kalibrierung der Mikroskope für Korrelationsbildgebung zu erhöhen; —zusätzlich wird das Nanomarkersystem auch auf der refraktiven Oberfläche des Korrelationsbeobachtungssystems eingeführt, wodurch die Genauigkeit der Probenpositionierung deutlich erhöht werden kann, einschließlich der Quantifizierung der Abweichung der Orthogonität der Griffeinstellung. — es wird ein Verfahren zur Festlegung und Berechnung von Korrekturfaktoren für die Stichprobenpositionierung entwickelt. Die neue Lösung kann die Präzision der Probenpositionierung mehrmals oder sogar durch eine Reihenfolge der Größe erhöhen. Die eingeführten Innovationen werden die Qualität des gesamten Systems deutlich verbessern k (German)
7 December 2021
0 references
Referentie_Aid_programma: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 van de Regeling van de minister van Infrastructuur en Ontwikkeling van 10 juli 2015 betreffende de verlening van financiële bijstand door het Poolse Agentschap voor Ondernemingsontwikkeling in het kader van het Operationeel Programma voor slimme groei 2014-2020. Het project omvat de ontwikkeling en het testen van een nieuw product — een nanokalibratiereferentieplaat (voor een systeem van correlatieobservatie van oppervlakken op micro- en nanoschaal en optimalisering van het correlatieobservatiesysteem voor samenwerking met de voorbereide monsters). Het eindproduct zal innovatieve kenmerken hebben die het onderscheiden van de momenteel bekende oplossingen, d.w.z. —functionaliteit, door de veelzijdigheid van de referentieplaat, kan de gebruiker één en dezelfde standaardplaat gebruiken in veelvoudige microscopische apparaten (met bijvoorbeeld licht of elektronenstraal); —de verhoogde weerstand van het product tegen externe agentia, door de geïntroduceerde veelzijdigheid van de plaat, moet bestand zijn tegen vele externe factoren waarin het zal worden gebruikt, bv. temperatuur, chemische agentia of straling; —de precisie van de plaat, in productie, zal nanomarkers worden gemaakt, die voor significante (zelfs in volgorde van grootte) toestaan verhogingsprecisie van de positionering van de testvoorbereiding en verbeterde kalibrering van microscopen voor correlatiebeeldvorming; bovendien zal het nanomarkersysteem ook op het brekingsoppervlak van de handvat van het correlatieobservatiesysteem worden geïntroduceerd, waardoor de precisie van de steekproefpositionering aanzienlijk kan worden verhoogd, inclusief het kwantificeren van de afwijking van de orthogoniteit van de handgreepinstelling. — er zal een procedure voor het instellen en berekenen van correctiefactoren voor de plaatsbepaling van de steekproef worden ontwikkeld. De nieuwe oplossing kan de precisie van monster positionering meerdere malen verhogen, of zelfs door een orde van grootte. De ingevoerde innovaties zullen de kwaliteit van het hele systeem aanzienlijk verbeteren k (Dutch)
16 December 2021
0 references
Riferimento_Aid_programma: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 del Regolamento del Ministro delle Infrastrutture e dello Sviluppo del 10 luglio 2015 relativo alla fornitura di assistenza finanziaria da parte dell'Agenzia polacca per lo sviluppo delle imprese nell'ambito del programma operativo per la crescita intelligente 2014-2020. Il progetto prevede lo sviluppo e la sperimentazione di un nuovo prodotto — una piastra di riferimento per la nanocalibrazione (per un sistema di osservazione della correlazione delle superfici su micro e nanoscala e ottimizzazioni del sistema di osservazione di correlazione per la cooperazione con i campioni preparati. Il prodotto finale avrà caratteristiche innovative che lo distinguono dalle soluzioni attualmente note, vale a dire —funzionalità, attraverso la versatilità della piastra di riferimento, l'utente può utilizzare una stessa piastra standard in più dispositivi microscopici (utilizzando ad esempio fascio di luce o di elettroni); —la maggiore resistenza del prodotto agli agenti esterni, attraverso la versatilità introdotta della piastra, deve essere resistente a molti fattori esterni in cui sarà utilizzato, ad esempio temperatura, agenti chimici o radiazioni; —la precisione della lastra, in produzione, sarà fatta nanomarcatori, che consentono un significativo (anche per ordine di dimensioni) aumentare la precisione del posizionamento della preparazione della prova e una migliore taratura dei microscopi per la rappresentazione di correlazione; —in aggiunta, il sistema nanomarcatore sarà introdotto anche sulla superficie di rifrazione della maniglia del sistema di osservazione di correlazione, consentendo di aumentare significativamente la precisione del posizionamento del campione, compresa la quantificazione della deviazione dell'ortogonità dell'impostazione dell'impugnatura. — sarà messa a punto una procedura per la fissazione e il calcolo dei fattori di correzione del posizionamento del campione. La nuova soluzione può aumentare la precisione del posizionamento del campione più volte, o anche da un ordine di dimensioni. Le innovazioni introdotte miglioreranno significativamente la qualità dell'intero sistema k (Italian)
15 January 2022
0 references
Reference_Aid_programa: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Artículo 42 del Reglamento del Ministro de Infraestructuras y Desarrollo, de 10 de julio de 2015, relativo a la prestación de asistencia financiera por parte de la Agencia Polaca de Desarrollo Empresarial en el marco del Programa Operativo de Crecimiento Inteligente 2014-2020. El proyecto implica el desarrollo y ensayo de un nuevo producto, una placa de referencia de nanocalibración (para un sistema de observación de correlación de superficies en micro y nanoescala y optimización del sistema de observación de correlación para la cooperación con las muestras preparadas). El producto final tendrá características innovadoras que lo distinguirán de las soluciones actualmente conocidas, es decir, —funcionalidad, a través de la versatilidad de la placa de referencia, el usuario puede utilizar una misma placa estándar en múltiples dispositivos microscópicos (por ejemplo, luz o haz de electrones); —la mayor resistencia del producto a los agentes externos, a través de la versatilidad introducida de la placa, debe ser resistente a muchos factores externos en los que se utilizará, por ejemplo, temperatura, agentes químicos o radiación; —la precisión de la placa, en producción, se hará nanomarcadores, lo que permite aumentar significativamente (incluso por orden de tamaño) la precisión del posicionamiento de la preparación del ensayo y la calibración mejorada de los microscopios para la obtención de imágenes de correlación; —además, el sistema nanomarcador también se introducirá en la superficie refractiva del mango del sistema de observación de correlación, lo que permitirá aumentar significativamente la precisión del posicionamiento de la muestra, incluida la cuantificación de la desviación de la ortogonidad del ajuste de la manija. — se desarrollará un procedimiento para establecer y calcular los factores de corrección de posicionamiento de la muestra. La nueva solución puede aumentar la precisión del posicionamiento de la muestra varias veces, o incluso por un orden de tamaño. Las innovaciones introducidas mejorarán significativamente la calidad de todo el sistema k (Spanish)
19 January 2022
0 references
Støtteprogrammets referencenummer: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 i bekendtgørelse fra ministeren for infrastruktur og udvikling af 10. juli 2015 om ydelse af finansiel støtte fra det polske agentur for virksomhedsudvikling under det operationelle program for intelligent udvikling 2014-2020. Projektet forudsætter udvikling og afprøvning af et nyt produkt â EUR en nanokalibreringsplade (til det korrelerede system for overfladeobservation i mikro- og nanoskalaer og optimering af korrelationsobservationssystemet for at samarbejde med de udviklede prøver. Det endelige produkt vil have innovative egenskaber, der adskiller det fra aktuelt kendte løsninger, dvs. âEURfunctionality, ved hjælp af referencepladens alsidighed kan brugeren bruge en og samme referenceplade i mange mikroskopiske anordninger (ved hjælp af f.eks. lys eller elektronstråle). âEUREURøget modstand af produktet over for eksterne faktorer, gennem indførelsen af alsidigheden af pladen, skal det være modstandsdygtigt over for mange eksterne faktorer, hvor det vil blive brugt, f.eks. temperatur, kemikalier eller stråling; âEURpræcisionen af pladen, i produktionen, vil blive gjort nanomarkører, som giver mulighed for en betydelig (selv en rækkefølge af størrelse) øge præcisionen af placeringen af testpræparatet og forbedret kalibrering af mikroskoper til korrelationsbilleddannelse; derudover vil der også blive indført et system af nanomarkører på reefoverfladen af håndtaget af korrelationsobservationssystemet, hvilket gør det muligt at øge præcisionen af prøvens positionering betydeligt, herunder kvantificere afvigelsen af retningen af grebets placering. âEURa procedure for oprettelse og beregning af de korrigerende faktorer for placeringen af prøven vil blive udviklet. Den nye løsning kan øge præcisionen af at placere prøven flere gange, eller endda i størrelsesordenen. De nyskabelser, der indføres, vil medføre en betydelig forbedring af hele systemets kvalitet. (Danish)
26 July 2022
0 references
Αριθμός αναφοράς του προγράμματος ενίσχυσης: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Άρθρο 42 του Κανονισμού του Υπουργού Υποδομών και Ανάπτυξης της 10ης Ιουλίου 2015 σχετικά με τη χορήγηση χρηματοδοτικής συνδρομής από τον πολωνικό Οργανισμό για την Ανάπτυξη των Επιχειρήσεων στο πλαίσιο του Επιχειρησιακού Προγράμματος Ευφυής Ανάπτυξη 2014-2020.Το έργο προϋποθέτει την ανάπτυξη και δοκιμή ενός νέου προϊόντος â EUR â EUR "μια πλάκα βαθμονόμησης νανοβαθμονόμησης (για το συσχετιζόμενο σύστημα επιφανειακής παρατήρησης σε μικρο- και νανοκλίμακες και βελτιστοποίηση του συστήματος συσχέτισης της παρατήρησης για τη συνεργασία με τα δείγματα που αναπτύχθηκαν. Το τελικό προϊόν θα έχει καινοτόμα χαρακτηριστικά που το διακρίνουν από τις επί του παρόντος γνωστές λύσεις, δηλαδή τη âEURfunctionality, μέσω της ευελιξίας της πλάκας αναφοράς, ο χρήστης μπορεί να χρησιμοποιήσει μία και την ίδια πλάκα αναφοράς σε πολλές μικροσκοπικές συσκευές (με τη χρήση π.χ. φωτεινής ή ηλεκτρονιακής δέσμης)· αύξηση της αντίστασης του προϊόντος σε εξωτερικούς παράγοντες, μέσω της εισαγωγής της ευελιξίας της πλάκας, πρέπει να είναι ανθεκτικό σε πολλούς εξωτερικούς παράγοντες στους οποίους θα χρησιμοποιηθεί, π.χ. θερμοκρασία, χημικές ουσίες ή ακτινοβολία? η ακρίβεια της πλάκας, στην παραγωγή, θα γίνει νανοδείκτες, οι οποίοι επιτρέπουν μια σημαντική (ακόμη και μια σειρά μεγέθους) αυξάνουν την ακρίβεια της τοποθέτησης του παρασκευάσματος δοκιμής και βελτιωμένη βαθμονόμηση των μικροσκόπια για την απεικόνιση συσχέτισης? επιπλέον, ένα σύστημα νανοδείκτες θα εισαχθεί επίσης στην επιφάνεια του υφάλου της λαβής του συστήματος παρατήρησης συσχέτισης, η οποία επιτρέπει να αυξηθεί σημαντικά η ακρίβεια της τοποθέτησης του δείγματος, συμπεριλαμβανομένης της ποσοτικοποίησης της απόκλισης της ορθογωνικότητας της θέσης της λαβής. Η νέα λύση μπορεί να αυξήσει την ακρίβεια της τοποθέτησης του δείγματος αρκετές φορές, ή ακόμη και κατά μια τάξη μεγέθους. Οι καινοτομίες που εισάγονται θα οδηγήσουν σε σημαντική βελτίωση της ποιότητας του όλου συστήματος k (Greek)
26 July 2022
0 references
Referentni broj programa potpore: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Članak 42. Uredbe ministra infrastrukture i razvoja od 10. srpnja 2015. o dodjeli financijske pomoći poljske agencije za razvoj poduzetništva u okviru Operativnog programa Inteligentni razvoj 2014.-2020. Projekt pretpostavlja razvoj i testiranje novog proizvoda â EUR nanokalibracijske kalibracijske ploče (za korelacijski sustav površinskog promatranja u mikro- i nano razini i optimizaciju korelacijskog sustava promatranja kako bi se surađivalo s razvijenim uzorcima. Konačni proizvod imat će inovativne značajke koje ga razlikuju od trenutačno poznatih rješenja, tj. âEURfunkcionalnost, kroz svestranost referentne ploče, korisnik može koristiti jednu te istu referentnu ploču u mnogim mikroskopskim uređajima (pomoću npr. svjetlosnog ili elektronskog snopa); âEURinpovećana otpornost proizvoda na vanjske čimbenike, kroz uvođenje svestranosti ploče, to mora biti otporan na mnoge vanjske čimbenike u kojima će se koristiti, npr. temperatura, kemikalije ili zračenje; âEURthe preciznost ploče, u proizvodnji, će biti nanomarkeri, koji omogućuju značajan (čak i redoslijed veličine) povećati preciznost pozicioniranja pripreme testa i poboljšanu kalibraciju mikroskopa za korelacijske slike; osim toga, sustav nanomarkera će se također uvesti na grebenu površinu ručke korelacijskog sustava promatranja, što omogućuje značajno povećanje preciznosti pozicioniranja uzorka, uključujući kvantifikaciju odstupanja od ortogonalnosti pozicioniranja ručke. â EURA postupak za postavljanje i izračunavanje korektivnih faktora za pozicioniranje uzorka će se razviti. Novo rješenje može povećati preciznost pozicioniranja uzorka nekoliko puta, ili čak po redu veličine. Uvedene inovacije rezultirat će značajnim poboljšanjem kvalitete cijelog sustava k (Croatian)
26 July 2022
0 references
Numărul de referință al programului de ajutor: SA.42799 (2015/X), help_de_minimis: §42 din Regulamentul Ministrului Infrastructurii și Dezvoltării din 10 iulie 2015 privind acordarea de către Agenția poloneză pentru dezvoltarea întreprinderilor a asistenței financiare în cadrul Programului Operațional Dezvoltare Inteligentă 2014-2020.Proiectul presupune dezvoltarea și testarea unui nou produs â EUR o placă de calibrare nanocalibrare (pentru sistemul corelat de observare a suprafeței în micro- și nanoscale și optimizarea sistemului de corelare de observare pentru a coopera cu probele dezvoltate. Produsul final va avea caracteristici inovatoare care îl diferențiază de soluțiile cunoscute în prezent, și anume funcționalitatea, prin versatilitatea plăcii de referință, utilizatorul poate utiliza una și aceeași placă de referință în multe dispozitive microscopice (folosind, de exemplu, lumina sau fasciculul de electroni); rezistența crescută a produsului la factorii externi, prin introducerea versatilității plăcii, trebuie să fie rezistentă la mulți factori externi în care va fi utilizat, de exemplu temperatura, substanțele chimice sau radiațiile; â EURprecizia plăcii, în producție, se va face nanomarkeri, care permit o semnificativă (chiar și o ordine de mărime) crește precizia de poziționare a preparatului de testare și o calibrare îmbunătățită a microscoapelor pentru corelație imagistică; în plus, un sistem de nanomarkeri va fi, de asemenea, introdus pe suprafața recifului mânerului sistemului de observare a corelației, care permite creșterea semnificativă a preciziei poziționării eșantionului, inclusiv cuantificarea abaterii ortogonalității poziționării mânerului. Se va dezvolta o procedură pentru stabilirea și calcularea factorilor corectori pentru poziționarea eșantionului. Noua soluție poate crește precizia poziționării eșantionului de mai multe ori sau chiar cu un ordin de mărime. Inovațiile introduse vor duce la o îmbunătățire semnificativă a calității întregului sistem k (Romanian)
26 July 2022
0 references
Referenčné číslo programu pomoci: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: § 42 Nariadenia ministra infraštruktúry a rozvoja z 10. júla 2015 o poskytnutí finančnej pomoci poľskou agentúrou pre rozvoj podnikov v rámci operačného programu Inteligentný rozvoj 2014 – 2020. Projekt predpokladá vývoj a testovanie nového produktu â EUR a nanokalibračnej kalibračnej dosky (pre korelačný systém pozorovania povrchu v mikro- a nanoúrovniach a optimalizáciu korelačného systému pozorovania pre spoluprácu s vyvinutými vzorkami. Konečný výrobok bude mať inovatívne vlastnosti, ktoré ho odlíšia od v súčasnosti známych riešení, t. j. â EURfunctionality, prostredníctvom všestrannosti referenčnej dosky, používateľ môže použiť jednu a tú istú referenčnú dosku v mnohých mikroskopických prístrojoch (napr. pomocou svetelného alebo elektrónového lúča); zvýšená odolnosť výrobku voči vonkajším faktorom, zavedením všestrannosti dosky, musí byť odolný voči mnohým vonkajším faktorom, v ktorých sa bude používať, napr. teplota, chemikálie alebo žiarenie; presnosť dosky, vo výrobe, budú vyrobené nanomarkery, ktoré umožňujú významné (aj poradie veľkosti) zvýšiť presnosť polohovania testovacieho prípravku a lepšiu kalibráciu mikroskopov pre korelačné zobrazovanie; okrem toho, systém nanomarkerov bude tiež zavedený na povrchu útesu rukoväte korelačného pozorovacieho systému, ktorý umožňuje výrazne zvýšiť presnosť polohovania vzorky, vrátane kvantifikácie odchýlky ortogonality umiestnenie rukoväte. â EURa postup pre nastavenie a výpočet korekčných faktorov pre umiestnenie vzorky bude vyvinutý. Nové riešenie môže zvýšiť presnosť polohovania vzorky niekoľkokrát, alebo dokonca rádovo. Zavedené inovácie povedú k výraznému zlepšeniu kvality celého systému k (Slovak)
26 July 2022
0 references
Numru ta’ referenza tal-programm ta’ għajnuna: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 tar-Regolament tal-Ministru għall-Infrastruttura u l-Iżvilupp tal-10 ta’ Lulju 2015 dwar l-għoti mill-Aġenzija Pollakka għall-Iżvilupp tal-Intrapriżi ta’ assistenza finanzjarja taħt il-Programm Operazzjonali għall-Iżvilupp Intelliġenti 2014–2020.Il-proġett jassumi l-iżvilupp u l-ittestjar ta’ prodott ġdid â EUR â EUR â pjanċa kalibrazzjoni nanokalibrar (għas-sistema korrelatata ta ‘osservazzjoni tal-wiċċ fil-mikro- u nanoskali u l-ottimizzazzjoni tas-sistema ta’ korrelazzjoni ta ‘osservazzjoni biex jikkooperaw mal-kampjuni żviluppati. Il-prodott finali se jkollu karatteristiċi innovattivi li jiddistingwuh minn soluzzjonijiet attwalment magħrufa jiġifieri â EUR funzjonalità, permezz tal-versatilità tal-pjanċa ta ‘referenza, l-utent jista’ juża waħda u l-istess pjanċa ta ‘referenza fl-apparati mikroskopiċi ħafna (bl-użu eż. dawl jew elettron raġġ); reżistenza miżjuda tal-prodott għal fatturi esterni, permezz tal-introduzzjoni tal-versatilità tal-pjanċa, għandha tkun reżistenti għal ħafna fatturi esterni li fihom se tintuża, eż. temperatura, kimiċi jew radjazzjoni; preċiżjoni tal-pjanċa, fil-produzzjoni, se ssir nanomarkaturi, li jippermettu għal sinifikanti (anke ordni ta ‘daqs) tiżdied il-preċiżjoni tal-pożizzjonament tal-preparazzjoni tat-test u kalibrazzjoni mtejba ta’ mikroskopji għall-immaġini korrelazzjoni; barra minn hekk, sistema ta ‘nanomarkaturi se jiġu introdotti wkoll fuq il-wiċċ sikka tal-manku tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelazzjoni, li jippermetti li tiżdied b’mod sinifikanti l-preċiżjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun, inkluż kwantifikazzjoni tad-devjazzjoni tal-ortogonalità tal-pożizzjonament tal-manku. proċedura â EURa għall-istabbiliment u l-kalkolu tal-fatturi korrettivi għall-pożizzjonament tal-kampjun se jiġu żviluppati. Is-soluzzjoni l-ġdida tista’ żżid il-preċiżjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun diversi drabi, jew saħansitra b’ordni ta’ kobor. L-innovazzjonijiet introdotti se jirriżultaw f’titjib sinifikanti fil-kwalità tas-sistema kollha k (Maltese)
26 July 2022
0 references
Número de referência do programa de ajuda: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Artigo 42.º do Regulamento do Ministro das Infraestruturas e do Desenvolvimento, de 10 de julho de 2015, relativo à concessão de assistência financeira pela Agência Polaca para o Desenvolvimento Empresarial no âmbito do Programa Operacional Desenvolvimento Inteligente 2014-2020.O projeto pressupõe o desenvolvimento e ensaio de um novo produto âEUR uma placa de calibração de nanocalibração (para o sistema correlacionado de observação da superfície em micro e nanoescalas e otimização do sistema de correlação de observação para cooperar com as amostras desenvolvidas. O produto final terá características inovadoras que o distinguem das soluções atualmente conhecidas, ou seja, a «funcionalidade», através da versatilidade da placa de referência, o utilizador pode utilizar uma mesma placa de referência em muitos dispositivos microscópicos (utilizando, por exemplo, feixes de luz ou de elétrons); aumento da resistência do produto a fatores externos, através da introdução da versatilidade da placa, deve ser resistente a muitos fatores externos em que será utilizado, por exemplo, temperatura, produtos químicos ou radiação; a precisão da placa, na produção, será feita nanomarcadores, que permitem um aumento significativo (mesmo uma ordem de tamanho) a precisão do posicionamento da preparação do teste e melhor calibração dos microscópios para a imagem de correlação; além disso, um sistema de nanomarcadores também será introduzido na superfície de recife do manípulo do sistema de observação de correlação, o que permite aumentar significativamente a precisão do posicionamento da amostra, incluindo quantificar o desvio da ortogonalidade do posicionamento da alça. A nova solução pode aumentar a precisão de posicionamento da amostra várias vezes, ou mesmo por uma ordem de magnitude. As inovações introduzidas resultarão numa melhoria significativa da qualidade de todo o sistema k (Portuguese)
26 July 2022
0 references
Tukiohjelman viitenumero: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Infrastruktuuri- ja kehitysministerin 10. heinäkuuta 2015 antaman asetuksen 42 § Puolan yrityskehitysviraston myöntämästä rahoitustuesta älykkään kehittämisen toimintaohjelman 2014–2020 puitteissa. Hankkeen lähtökohtana on uuden tuotteen kehittäminen ja testaaminen nanokalibrointilevyn (mikro- ja nanomittakaavan pintahavainnointijärjestelmän korrelaatiojärjestelmän ja havaintojen korrelaatiojärjestelmän optimoimiseksi yhteistyössä kehitettyjen näytteiden kanssa) kehittäminen ja testaaminen. Lopputuotteessa on innovatiivisia ominaisuuksia, jotka erottavat sen tällä hetkellä tunnetuista ratkaisuista eli toimivuudesta vertailulevyn monipuolisuuden ansiosta käyttäjä voi käyttää yhtä ja samaa vertailulevyä monissa mikroskooppisissa laitteissa (esim. valoa tai elektronisuihkua käyttäen); tuotteen lisääntynyt kestävyys ulkoisille tekijöille, lisäämällä levyn monipuolisuutta, sen on oltava vastustuskykyinen monille ulkoisille tekijöille, kuten lämpötilalle, kemikaaleille tai säteilylle; âEURthe tarkkuus levyn, tuotannossa, tehdään nanomarkkereita, jotka mahdollistavat merkittävän (jopa järjestyksessä koko) lisätä tarkkuutta paikannus testivalmiste ja parannettu kalibrointi mikroskoopit korrelaatio kuvantaminen; âEURin lisäksi järjestelmä nanomarkkerit otetaan käyttöön myös riutan pinnalla kahva korrelaatiohavaintojärjestelmä, jonka avulla voidaan merkittävästi lisätä tarkkuutta paikannuksen näytteen, mukaan lukien kvantifiointi poikkeama ortogonalisuuden asemointi kahva. âEURa menettely perustaa ja laskea korjauskertoimia asemointi näyte kehitetään. Uusi liuos voi lisätä näytteen asemoinnin tarkkuutta useita kertoja tai jopa suuruusluokaltaan. Käyttöön otetut innovaatiot parantavat merkittävästi koko järjestelmän laatua k (Finnish)
26 July 2022
0 references
Referenčna številka programa pomoči: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Člen 42 Uredbe ministra za infrastrukturo in razvoj z dne 10. julija 2015 o dodelitvi finančne pomoči s strani poljske agencije za razvoj podjetništva v okviru Operativnega programa Inteligentni razvoj 2014–2020.Projekt predvideva razvoj in testiranje novega izdelka, ki je kalibracijska plošča za nanokalibracijo (za korelirani sistem površinskega opazovanja v mikro- in nanoravni in optimizaciji korelacijskega sistema opazovanja za sodelovanje z razvitimi vzorci. Končni izdelek bo imel inovativne lastnosti, ki ga razlikujejo od trenutno znanih rešitev, tj. â EURfunkcionalnost, prek vsestranskosti referenčne plošče, lahko uporabnik uporablja eno in isto referenčno ploščo v številnih mikroskopskih napravah (npr. s svetlobnim ali elektronskim žarkom); povečana odpornost izdelka na zunanje dejavnike, z uvedbo vsestranskosti plošče, mora biti odporna na številne zunanje dejavnike, v katerih se bo uporabljal, npr. temperatura, kemikalije ali sevanje; natančnost plošče, v proizvodnji, bodo nanomarkerji, ki omogočajo znatno (celo velikost) povečanje natančnosti pozicioniranja preskusne priprave in izboljšano umerjanje mikroskopov za korelacijsko slikanje; poleg tega bo sistem nanomarkerjev uveden tudi na površini grebena ročaja sistema korelacijskega opazovanja, ki omogoča bistveno povečanje natančnosti pozicioniranja vzorca, vključno s količinsko opredelitvijo odklona ortogonalnosti pozicioniranja ročaja. â EURa postopek za vzpostavitev in izračun korekcijskih faktorjev za pozicioniranje vzorca bo razvit. Nova raztopina lahko večkrat poveča natančnost pozicioniranja vzorca ali celo za red velikosti. Uvedene inovacije bodo znatno izboljšale kakovost celotnega sistema. (Slovenian)
26 July 2022
0 references
Referenční číslo programu podpory: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 Nařízení ministra infrastruktury a rozvoje ze dne 10. července 2015 o poskytnutí finanční pomoci Polské agentury pro rozvoj podnikání v rámci Operačního programu Inteligentní rozvoj 2014–2020.Projekt předpokládá vývoj a testování nového produktu › nanokalibrační kalibrační deska (pro korelační systém pozorování povrchu v mikro- a nanoměřítkách a optimalizaci korelačního systému pozorování pro spolupráci s vypracovanými vzorky. Konečný výrobek bude mít inovativní vlastnosti, které jej odlišují od v současnosti známých řešení, tj. "funkčnost, díky univerzálnosti referenční tabulky může uživatel použít jednu a tutéž referenční desku v mnoha mikroskopických zařízeních (např. pomocí světelného nebo elektronového svazku); „zvýšená odolnost výrobku vůči vnějším faktorům zavedením univerzálnosti desky musí být odolná vůči mnoha vnějším faktorům, ve kterých bude používán, např. teplotě, chemikáliím nebo zářením; „přesnost desky při výrobě bude vyrobena nanomarkery, které umožňují významné (dokonce i pořadí velikostí) zvýšení přesnosti polohování zkušební přípravy a lepší kalibraci mikroskopů pro korelační zobrazování; › Kromě toho bude také zaveden systém nanomarkerů na povrchu útesu rukojeti korelačního pozorovacího systému, který umožňuje výrazně zvýšit přesnost umístění vzorku, včetně kvantifikace odchylky ortogonality umístění rukojeti. â EURa Postup pro nastavení a výpočet korekčních faktorů pro umístění vzorku bude vyvinut. Nové řešení může zvýšit přesnost umístění vzorku několikrát, nebo dokonce řádově. Zavedené inovace povedou k výraznému zlepšení kvality celého systému k (Czech)
26 July 2022
0 references
Pagalbos programos nuorodos numeris: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: 2015 m. liepos 10 d. Infrastruktūros ir plėtros ministro potvarkio dėl Lenkijos įmonių plėtros agentūros finansinės paramos skyrimo pagal Pažangios plėtros 2014–2020 m. veiksmų programą 42 straipsnis. Projekte numatoma sukurti ir išbandyti naują produktą â EUR nanokalibracijos kalibracinę plokštelę (susijusią paviršiaus stebėjimo mikro- ir nanoskalėse sistemą ir optimizuoti stebėjimo koreliacinę sistemą, siekiant bendradarbiauti su sukurtais pavyzdžiais. Galutiniam gaminiui bus būdingos naujoviškos savybės, kuriomis jis skiriasi nuo šiuo metu žinomų sprendimų, t. y. ā EUR â EURfunctionality, per etaloninę plokštelę naudotojas gali naudoti vieną ir tą pačią etaloninę plokštelę daugelyje mikroskopinių prietaisų (pvz., šviesos ar elektronų pluošto); âdidesnis gaminio atsparumas išoriniams veiksniams, įvedant plokštelės universalumą, jis turi būti atsparus daugeliui išorinių veiksnių, kuriuose jis bus naudojamas, pvz., temperatūros, cheminių medžiagų ar radiacijos; â plokštelės preciziškumas, gamyboje, bus pagamintas nanomarkeriai, kurie leidžia žymiai (net dydžio tvarka) padidinti bandomojo paruošimo padėties tikslumą ir pagerinti mikroskopų kalibravimą koreliacijos vizualizavimo; â EUR be to, iš nanomarkers sistema taip pat bus įvesta ant rifų paviršiaus koreliacijos stebėjimo sistemos rankena, kuri leidžia žymiai padidinti mėginio padėties nustatymo tikslumą, įskaitant kiekybiškai įvertinti rankenos padėties ortogonališkumo nuokrypį. â bus sukurta procedūra, skirta nustatyti ir apskaičiuoti korekcinius veiksnius mėginio padėties nustatymui. Naujasis sprendimas gali padidinti mėginio padėties nustatymo tikslumą kelis kartus arba net dydžio tvarka. Dėl įdiegtų naujovių labai pagerės visos sistemos kokybė k (Lithuanian)
26 July 2022
0 references
Atbalsta programmas atsauces numurs: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Infrastruktūras un attīstības ministra 2015. gada 10. jūlija noteikumu par Polijas Uzņēmumu attīstības aģentūras finansiālā atbalsta piešķiršanu saskaņā ar darbības programmu “Saprātīga attīstība 2014.-2020. gadam” 42.punktu. Projektā paredzēts izstrādāt un testēt jaunu produktu nanokalibrācijas kalibrēšanas plāksni (korelētajai virsmas novērošanas sistēmai mikro- un nanomērogās un novērošanas korelācijas sistēmas optimizācijai, lai sadarbotos ar izstrādātajiem paraugiem. Galaproduktam būs inovatīvas iezīmes, kas atšķirs to no pašlaik zināmiem risinājumiem, t. i., â EURfunctionality, caur daudzpusību atsauces plāksnes, lietotājs var izmantot vienu un to pašu atsauces plati daudzās mikroskopiskās ierīcēs (izmantojot, piemēram, gaismas vai elektronu staru); â EUR palielināt izturību produkta ārējiem faktoriem, ieviešot daudzpusību plāksnes, tai jābūt izturīgai pret daudziem ārējiem faktoriem, kuros tas tiks izmantots, piemēram, temperatūra, ķimikālijas vai radiācija; â EUR plāksnītes precizitāte, ražošanā, tiks veikti nanomarķieri, kas ļauj ievērojami (pat pēc lieluma) palielināt precizitāti pozicionēšanas testa preparāta un uzlabota kalibrēšana mikroskopus korelācijas attēlveidošanas; turklāt nanomarķieru sistēma tiks ieviesta arī uz korelācijas novērošanas sistēmas roktura rifa virsmas, kas ļauj ievērojami palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti, tostarp kvantitatīvi nosakot roktura pozicionēšanas ortogonalitātes novirzi. Tiek izstrādāta procedūra, lai izveidotu un aprēķinātu koriģējošos faktorus parauga pozicionēšanai. Jaunais risinājums var palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti vairākas reizes vai pat pēc lieluma. Ieviestie jauninājumi ievērojami uzlabos visas sistēmas kvalitāti k (Latvian)
26 July 2022
0 references
Референтен номер на програмата за помощ: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 от Наредбата на министъра на инфраструктурата и развитието от 10 юли 2015 г. за предоставяне на финансова помощ от Полската агенция за развитие на предприятията по Оперативна програма „Интелигентно развитие“ 2014—2020 г. Проектът предвижда разработването и изпитването на нов продукт â EUR нанокалибрационна калибрационна плоча (за корелирана система за наблюдение на повърхността в микро- и наномащаб и оптимизиране на корелационната система за наблюдение, за да сътрудничи с разработените проби. Крайният продукт ще има иновативни характеристики, които го отличават от известните понастоящем решения, т.е. функционалност, благодарение на гъвкавостта на референтната плоча, потребителят може да използва една и съща референтна плоча в много микроскопични устройства (напр. светлинен или електронен лъч); âEURповишена устойчивост на продукта на външни фактори, чрез въвеждането на гъвкавостта на плочата, тя трябва да бъде устойчива на много външни фактори, при които ще се използва, например температура, химикали или радиация; прецизността на плочата в производството ще бъде направена наномаркери, които позволяват значително (дори и по размер) увеличаване на прецизността на позиционирането на тестовия препарат и подобрено калибриране на микроскопите за корелационни изображения; в допълнение, система от наномаркери също ще бъде въведена на повърхността на рифа на дръжката на системата за корелация наблюдение, което позволява значително да се увеличи точността на позиционирането на пробата, включително количествено определяне на отклонението на ортогоналността на позиционирането на дръжката. â EURa процедура за създаване и изчисляване на коригиращите фактори за позициониране на пробата ще бъде разработена. Новото решение може да увеличи точността на позициониране на пробата няколко пъти или дори по порядък. Въведените иновации ще доведат до значително подобряване на качеството на цялата система k (Bulgarian)
26 July 2022
0 references
A támogatási program hivatkozási száma: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: A Lengyel Vállalkozásfejlesztési Ügynökség által a 2014–2020 közötti időszakra vonatkozó Intelligens Fejlesztés Operatív Program keretében nyújtandó pénzügyi támogatásról szóló, 2015. július 10-i infrastrukturális és fejlesztési miniszter rendeletének 42. §-a.A projekt egy új termék kifejlesztését és tesztelését feltételezi (a mikro- és nanoméretű, korrelált felületmegfigyelési rendszerhez és a megfigyelési korrelációs rendszer optimalizálásához, hogy együttműködjön a mintákkal. A végtermék olyan innovatív jellemzőkkel fog rendelkezni, amelyek megkülönböztetik a jelenleg ismert megoldásoktól, azaz a funkcionálisságtól, a referencialemez sokoldalúsága révén a felhasználó számos mikroszkopikus eszközön (például fény- vagy elektronsugár használatával) ugyanazt a referencialemezt használhatja; a termék külső tényezőkkel szembeni fokozott ellenállása a lemez sokoldalúságának bevezetésével ellenállónak kell lennie számos olyan külső tényezővel szemben, amelyben használni fogják, pl. hőmérséklet, vegyi anyagok vagy sugárzás; a lemez pontosságát a gyártás során nanomarkerekké teszik, amelyek jelentős (még méretrendben is) növelik a vizsgálati készítmény helymeghatározásának pontosságát és a korrelációs képalkotáshoz szükséges mikroszkópok jobb kalibrálását; emellett a korrelációmegfigyelési rendszer fogantyújának zátonyfelületén nanomarkerek rendszerét is bevezetik, amely lehetővé teszi a minta helymeghatározásának pontosságát, beleértve a fogantyú ortogonitásának eltérését. A minta elhelyezésére szolgáló korrekciós tényezők meghatározására és kiszámítására szolgáló eljárást kidolgozzák. Az új megoldás több alkalommal, vagy akár nagyságrenddel is növelheti a minta pozícionálásának pontosságát. A bevezetett innovációk az egész rendszer minőségének jelentős javulását eredményezik k (Hungarian)
26 July 2022
0 references
Uimhir thagartha an chláir cabhrach: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 de Rialachán an Aire Bonneagair agus Forbartha an 10 Iúil 2015 maidir le deonú cúnaimh airgeadais ag Gníomhaireacht na Polainne um Fhorbairt Fiontair faoin gClár Oibríochtúil Forbairt Chliste 2014-2020.Glacann an tionscadal leis go bhforbrófar agus go dtástáiltear táirge nua â EUR EUR pláta calabrúcháin nanacalabraithe (le haghaidh an chórais chomhghaolaithe um breathnadóireacht dromchla i micreascálaí agus nanascálaí agus barrfheabhsú an chórais chomhghaoil breathnóireachta chun comhoibriú leis na samplaí forbartha. Beidh gnéithe nuálacha ag an táirge deiridh a dhéanann idirdhealú idir é agus réitigh atá ar eolas faoi láthair i.e. â EUREURfunctionality, trí solúbthacht an phláta tagartha, is féidir leis an úsáideoir ceann amháin agus an pláta tagartha céanna a úsáid i go leor gléasanna micreascópacha (ag baint úsáide as e.g. bhíoma solais nó leictreon); â EUREURméadaithe friotaíocht an táirge le fachtóirí seachtracha, trí thabhairt isteach an solúbthacht an pláta, caithfidh sé a bheith resistant a fachtóirí seachtracha go leor ina mbeidh sé a úsáid, m.sh. teocht, ceimiceáin nó radaíocht; âEURAn cruinneas an pláta, i dtáirgeadh a bheidh, a dhéanamh nanamarkers, a cheadaíonn do suntasach (fiú ordú méide) méadú ar an cruinneas an suíomh ar an ullmhúchán tástála agus calabrú feabhsaithe micreascóip le haghaidh íomháithe comhghaoil; ina theannta sin, Beidh córas nanamharcóirí a thabhairt isteach freisin ar an dromchla reef an láimhseáil an chórais breathnóireachta comhghaoil, a cheadaíonn chun méadú suntasach ar an cruinneas an suíomh ar an sampla, lena n-áirítear cainníochtú an diall an orthogonality an suíomh ar an handle. Is féidir leis an réiteach nua an cruinneas a bhaineann leis an sampla a shuíomh a mhéadú arís agus arís eile, nó fiú le hordú méide. Beidh feabhas suntasach ar chaighdeán an chórais iomlán k mar thoradh ar na nuálaíochtaí a tugadh isteach (Irish)
26 July 2022
0 references
Stödprogrammets referensnummer: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 i förordningen från ministern för infrastruktur och utveckling av den 10 juli 2015 om beviljande av ekonomiskt stöd från den polska byrån för företagsutveckling inom ramen för det operativa programmet Intelligent utveckling 2014–2020.Projektet förutsätter utveckling och testning av en ny produkt â EUR en kalibreringsplatta för nanokalibrering (för det korrelerade systemet för ytobservation i mikro- och nanoskala och optimering av korrelationssystemet för observation för att samarbeta med de prov som tagits fram. Slutprodukten kommer att ha innovativa egenskaper som skiljer den från nuvarande kända lösningar, dvs. â EURfunktionalitet, genom referensplattans mångsidighet kan användaren använda en och samma referensplatta i många mikroskopiska anordningar (t.ex. med hjälp av ljus- eller elektronstråle). ökad motståndskraft hos produkten mot yttre faktorer, genom införandet av plattans mångsidighet, måste den vara resistent mot många yttre faktorer där den kommer att användas, t.ex. temperatur, kemikalier eller strålning. â EUR precisionen av plattan, i produktionen, kommer att göras nanomarkörer, som möjliggör en betydande (även en storleksordning) öka precisionen i placeringen av testberedningen och förbättrad kalibrering av mikroskop för korrelationsavbildning; dessutom kommer ett system av nanomarkörer också att införas på revytan av handtaget på korrelationsobservationssystemet, vilket gör det möjligt att avsevärt öka precisionen i provets positionering, inklusive kvantifiering av avvikelsen i ortogonaliteten hos handtagets positionering. â EURa förfarande för att inrätta och beräkna de korrigerande faktorerna för placering av provet kommer att utvecklas. Den nya lösningen kan öka precisionen i positioneringen av provet flera gånger, eller till och med med en storleksordning. De innovationer som införs kommer att resultera i en betydande förbättring av hela systemets kvalitet k (Swedish)
26 July 2022
0 references
Abiprogrammi viitenumber: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Infrastruktuuri- ja arenguministri 10. juuli 2015. a määruse (Poola ettevõtluse arendamise ameti poolt finantsabi andmise kohta rakenduskava „Intelligentne areng 2014–2020“raames) § 42. Projekt eeldab nanokalibreerimise kalibreerimisplaadi väljatöötamist ja katsetamist (mikro- ja nanotasandite pinnavaatlussüsteemi korrelatsioonisüsteemi jaoks ning vaatluse korrelatsioonisüsteemi optimeerimiseks, et teha koostööd välja töötatud proovidega. Lõpptootel on uuenduslikud omadused, mis eristavad seda praegu teadaolevatest lahendustest, st funktsionaalsus, tänu referentsplaadi mitmekülgsusele saab kasutaja kasutada üht ja sama võrdlusplaati paljudes mikroskoopilistes seadmetes (kasutades näiteks valgust või elektronkiirt); toote suurem vastupidavus välistele teguritele, kehtestades plaadi mitmekülgsuse, peab olema vastupidav paljudele välisteguritele, milles seda kasutatakse, nt temperatuur, kemikaalid või kiirgus; tootmises tehakse plaadi täpsus nanomarkeriteks, mis võimaldavad oluliselt (isegi suuruse järjekorras) suurendada katsepreparaadi positsioneerimise täpsust ja parandada korrelatsioonipildis kasutatavate mikroskoopide kalibreerimist; lisaks võetakse korrelatsioonivaatlussüsteemi käepideme rifipinnale kasutusele nanomarkerite süsteem, mis võimaldab oluliselt suurendada proovi positsioneerimise täpsust, sealhulgas määrata kindlaks käepideme asendi ortogonaalsuse kõrvalekalle. Tuleb välja töötada proovi positsioneerimise parandustegurite kehtestamise ja arvutamise kord. Uus lahus võib suurendada proovi positsioneerimise täpsust mitu korda või isegi suurusjärgus. Kasutusele võetud uuendused toovad kaasa kogu süsteemi kvaliteedi märkimisväärse paranemise k (Estonian)
26 July 2022
0 references
WOJ.: PODKARPACKIE, POW.: strzyżowski
0 references
Identifiers
POIR.02.03.02-18-0019/17
0 references