Field emission scanning electron microscope with Schottky cathode and high-empty coating system (Q3152811)
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Project Q3152811 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Field emission scanning electron microscope with Schottky cathode and high-empty coating system |
Project Q3152811 in Spain |
Statements
396,024.8 Euro
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495,031.0 Euro
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80.0 percent
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1 January 2016
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30 June 2018
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UNIVERSIDAD DE MURCIA
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37°59'32.57"N, 1°7'49.94"W
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30030
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El microscopio que se solicita es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo, de alto vacío y alta resolución, deberá disponer de tal configuración que permita trabajar con aplicaciones de microscopia de barrido con muestras recubiertas y sin recubrir, realizar estudios topográficos y analíticos. _x000D_ Debe constar de: microscopio electrónico de barrido con cátodo de emisión de campo tipo Schottky, sistema de vacío totalmente libre de aceite, detectores de electrones secundarios in lens y Everhart-Thornley, detectores de electrones retrodispersados in lens, cámara de muestras con precámara y platina motorizada en al menos 5 ejes, cámara de infrarrojos para controlar las muestras, panel de control con diales rotativos, teclado y joystick, ordenador de altas prestaciones, software de control del microscopio permitirá trabajar con diferentes cuentas de usuario y distintos privilegios, acceso remoto al equipo._x000D_ La incorporación a la Sección de Microscopia de este equipo permitirá el trabajo de un extenso número de grupos de investigación en distintas aplicaciones (estudios de muestras semiconductivas, estudios analíticos de materiales sensibles, mapping de distribución de elementos, muestras de museos, etc.). Supone una apuesta de gran impacto en nuestra Región tanto para la universidad y organismos públicos como para el sector productivo, como queda demostrado en los grupos y empresas que avalan esta propuesta. (Spanish)
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The requested microscope is a high-resolution, high-vacuum field-emission scanning electron microscope, with such a configuration as to work with scanning microscopy applications with coated and uncoated samples, and to carry out topographic and analytical studies. _x000D_ must consist of: scanning electron microscope with Schottky type field emission cathode, totally oil-free vacuum system, secondary electron detectors in lens and Everhart-Thornley, back-dispersed electron detectors in lens, sample chamber with pre-camera and motorised platinum on at least 5 axes, infrared camera to control samples, control panel with rotary dials, keyboard and joystick, high performance computer, microscope control software will allow you to work with different user accounts and different privileges, remote access to the equipment._x000D_ The addition to the Microscopy Section of this equipment will allow the work of a large number of research groups in different applications (semiconductive sample studies, analytical studies of sensitive materials, mapping of elements distribution, museum samples, etc.). It is a commitment of great impact in our Region both for the university and public bodies and for the productive sector, as demonstrated in the groups and companies that endorse this proposal. (English)
12 October 2021
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Le microscope demandé est un microscope électronique à balayage à haute résolution à haute pression à haute pression, dont la configuration permet de travailler avec des applications de microscopie à balayage à l’aide d’échantillons revêtus et non couchés et d’effectuer des études topographiques et analytiques. _x000D_ doit consister en: microscope électronique à balayage avec cathode d’émission de champ Schottky, système de vide totalement exempt d’huile, détecteurs d’électrons secondaires dans l’objectif et Everhart-Thornley, détecteurs d’électrons dispersés à dos dans l’objectif, chambre d’échantillon avec pré-caméra et platine motorisé sur au moins 5 axes, caméra infrarouge pour contrôler les échantillons, panneau de commande avec cadrans rotatifs, clavier et joystick, ordinateur haute performance, logiciel de contrôle de microscope vous permettra de travailler avec différents comptes d’utilisateurs et différents privilèges, accès à distance à l’équipement._x000D_ L’ajout à la section Microscopie de cet équipement permettra le travail d’un grand nombre de groupes de recherche dans différentes applications (études d’échantillons semiconducteurs, études analytiques de matériaux sensibles, cartographie de la distribution des éléments, échantillons de musée, etc.). Il s’agit d’un engagement de grande envergure dans notre Région, tant pour les organismes universitaires et publics que pour le secteur productif, comme le montrent les groupes et les entreprises qui approuvent cette proposition. (French)
2 December 2021
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Das gewünschte Mikroskop ist ein hochauflösendes, hochvakuumes Feld-Emissions-Scanning-Elektronenmikroskop, das so konfiguriert ist, dass er mit Scanmikroskopieanwendungen mit beschichteten und unbeschichteten Proben arbeitet und topographische und analytische Studien durchführt. _x000D_ muss bestehen aus: Scannenelektronenmikroskop mit Schottky Feldemissionskathode, völlig ölfreies Vakuumsystem, sekundäre Elektronendetektoren in Linse und Everhart-Thornley, hinterdispergierte Elektronendetektoren in Linse, Probenkammer mit Vorkamera und motorisiertem Platin auf mindestens 5 Achsen, Infrarotkamera zur Steuerung von Proben, Bedienfeld mit Drehzifferblättern, Tastatur und Joystick, Hochleistungscomputer, Mikroskop-Steuersoftware ermöglicht es Ihnen, mit unterschiedlichen Benutzerkonten und verschiedenen Rechten, Fernzugriff auf das Gerät zu arbeiten._x000D_ Die Ergänzung zum Mikroskopiebereich dieser Ausrüstung ermöglicht die Arbeit einer Vielzahl von Forschungsgruppen in verschiedenen Anwendungen (semileitende Probenstudien, analytische Studien sensibler Materialien, Kartierung von Elementenverteilung, Museumsproben usw.). Es ist ein Engagement von großer Wirkung in unserer Region sowohl für die Universität und die öffentlichen Einrichtungen als auch für den produktiven Sektor, wie in den Gruppen und Unternehmen, die diesen Vorschlag befürworten, gezeigt wird. (German)
9 December 2021
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De gevraagde microscoop is een hoge resolutie, hoog-vacuüm veld-emissie aftasten elektronenmicroscoop, met een dergelijke configuratie om te werken met scanmicroscopie toepassingen met gecoate en ongecoate monsters, en om topografische en analytische studies uit te voeren. _x000D_ moet bestaan uit: scanelektronenmicroscoop met Schottky-veldemissie kathode, volledig olievrij vacuümsysteem, secundaire elektronendetectoren in lens en Everhart-Thornley, back-dispersed elektronendetectoren in lens, monsterkamer met precamera en gemotoriseerd platina op ten minste 5 assen, infraroodcamera om monsters te controleren, bedieningspaneel met draaiknoppen, toetsenbord en joystick, computer met hoge prestaties, microscoop controle software zal u toelaten om te werken met verschillende gebruikersaccounts en verschillende privileges, externe toegang tot de apparatuur._x000D_ De toevoeging aan de Microscopie sectie van deze apparatuur zal het werk van een groot aantal onderzoeksgroepen in verschillende toepassingen (semiconductive sample studies, analytische studies van gevoelige materialen, het in kaart brengen van elementen distributie, museum monsters, enz.). Het is een verbintenis van grote invloed in onze regio, zowel voor de universiteiten en overheidsinstanties als voor de productiesector, zoals blijkt uit de groepen en bedrijven die dit voorstel steunen. (Dutch)
17 December 2021
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Il microscopio richiesto è un microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione e ad alta emissione sotto vuoto, con una configurazione tale da funzionare con applicazioni di microscopia a scansione con campioni rivestiti e non rivestiti, e per effettuare studi topografici e analitici. _x000D_ deve essere costituito da: microscopio elettronico a scansione con catodo di emissione di campo Schottky, sistema di vuoto totalmente privo di olio, rivelatori di elettroni secondari in lente e Everhart-Thornley, rilevatori di elettroni retrodispersi in lente, camera campione con pre-camera e platino motorizzato su almeno 5 assi, telecamera a infrarossi per il controllo dei campioni, pannello di controllo con quadranti rotanti, tastiera e joystick, computer ad alte prestazioni, software di controllo microscopio vi permetterà di lavorare con diversi account utente e diversi privilegi, accesso remoto all'apparecchiatura._x000D_ L'aggiunta alla sezione Microscopia di questa apparecchiatura permetterà il lavoro di un gran numero di gruppi di ricerca in diverse applicazioni (studi di campioni semiconduttori, studi analitici di materiali sensibili, mappatura della distribuzione di elementi, campioni museali, ecc.). È un impegno di grande impatto nella nostra Regione sia per l'università e gli enti pubblici che per il settore produttivo, come dimostrato dai gruppi e dalle imprese che sostengono questa proposta. (Italian)
16 January 2022
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Murcia
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Identifiers
UNMU15-CE-3702
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