Replacement and Update of the Quanta 200 Sweep Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz (Q3150620)
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Project Q3150620 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Replacement and Update of the Quanta 200 Sweep Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz |
Project Q3150620 in Spain |
Statements
660,400.0 Euro
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825,500.0 Euro
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80.0 percent
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1 January 2018
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31 December 2020
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UNIVERSIDAD DE CADIZ
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36°31'43.28"N, 6°11'24.79"W
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11028
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Se solicita la sustitución del microscopio de barrido Quanta 200 de la División de Microscopía Electrónica de los SC-ICYT UCA, por un equipo de tipo haz doble (Dual Beam), con cañón de electrones de emisión de campo y cañón de iones Ga+, que permita actualizar sus capacidades y completar el catálogo de servicios incorporando un aspecto esencial en cualquier instalación moderna de microscopía electrónica: la preparación de muestras electrón-transparentes mediante técnicas de Haces de Iones Focalizados. _x000D_ Con esta acción, crucial para la DME-UCA, se pretende: (1) Dar continuidad a los servicios que se vienen prestando en las técnicas de microscopía electrónica de barrido; (2) Incorporar nuevas técnicas, bien desarrolladas y con amplio espectro de aplicaciones, tales como la Difracción de Electrones Retrodispersados o la Tomografía en Barrido mediante la aproximación corte-visualización; (3) Ofrecer un servicio de preparación de muestras para microscopía de Transmisión (TEM), Barrido-Transmisión (STEM) de materiales y dispositivos que contribuya a potenciar las actuales capacidades de los microscopios de última generación de los que dispone la unidad; (4) Desarrollar un servicio de caracterización singular incorporando al equipo solicitado, otro optimizado en la UCA para estudios de Catodoluminiscencia en SEM._x000D_ El equipamiento solicitado contribuirá decisivamente a consolidar y potenciar las capacidades de servicio de la DME-UCA , a nivel nacional, como nodo de la ICTS ELECMI. (Spanish)
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This proposal aims at replacing the FEI Quanta 200 Scanning Transmission Microscope at the Electron Microscopy Division of the University of Cádiz by a Dual Beam, or Cross Beam, station which allows upgrading the current capabilities of this Facility and, at the same time, incorporating new analytical tools. Among the later, the goal would be adding to the basic electron imaging and TEM/STEM lamella preparation capabilities of this type of equipment those of 3D structural and composition reconstruction by FIB tomography, EDS and EBSD. The proposed solution involves a station wit FEG electron gun and Ga+ ion source._x000D_ Apart from incorporating a technique which is present in most modern, top level, EM Facilities and contributing to enlarging the service portfolio, the major goals of this key proposal for DME-UCA are the following: 1) To guarantee an on-going, high quality, service to DME-UCA users requiring Scanning Electron Microscopy analysis; 2) Incorporating new techniques currently unavailable at DME-UCA, such as Electron Backscattered Diffraction or FIB tomography; 3) Opening a new service of electron-transparent STEM sample preparation of materials and devices by FIB; 4) Developing an unique characterization service by incorporating to the proposed Dual Beam other already developed by DME-UCA researchers for Cathodeluminescence experiments in an Scanning Microscope._x000D_ The new equipment would consolidate the position of DME-UCA at both national and international levels. (English)
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Le remplacement du microscope à balayage Quanta 200 de la division de microscopie électronique SC-ICYT UCA est demandé par un équipement à double faisceau (Dual Beam), par un pistolet électronique à émission de champ et un canon à ion Ga+, afin de mettre à jour ses capacités et de compléter le catalogue de services intégrant un aspect essentiel dans toute installation de microscopie électronique moderne: la préparation d’échantillons transparents aux électrons à l’aide de techniques focalisées de fabrication d’ion. _x000D_ avec cette action, cruciale pour le DME-UCA, est destinée à: (1) Poursuivre les services fournis dans le cadre des techniques de microscopie électronique à balayage; (2) Incorporer de nouvelles techniques bien développées avec un large éventail d’applications, telles que la diffraction d’électrons rétrodispersés ou la tomographie de balayage par l’approche de la vue de coupe; (3) fournir un service de préparation d’échantillons pour la microscopie de transmission (TEM), le balayage-transmission (STEM) de matériaux et d’appareils qui contribuent à améliorer les capacités actuelles des microscopes de pointe disponibles pour l’unité; (4) Développer un service de caractérisation unique intégrant les équipements demandés, un autre optimisé à l’UCA pour les études de catodoluminescence dans SEM._x000D_ Les équipements demandés contribueront de manière décisive à consolider et à renforcer les capacités de service du DME-UCA, au niveau national, en tant que nœud du ICTS ELECMI. (French)
2 December 2021
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Die Ersetzung des Quanta 200-Scanmikroskops der SC-ICYT UCA Electronic Microscopy Division wird durch eine Dual-Strahl-Ausrüstung (Dual Beam) durch Feldemissionselektronenpistole und Ga+ Ionenlauf gefordert, um seine Fähigkeiten zu aktualisieren und den Servicekatalog zu vervollständigen, der einen wesentlichen Aspekt in jeder modernen elektronischen Mikroskopie-Installation enthält: die Herstellung von elektronentransparenten Proben mit fokalisierten Ionen Making-Techniken. _x000D_ mit dieser Aktion, die für den DME-UCA entscheidend ist, soll: (1) Fortsetzung der Dienstleistungen, die in elektronischen Scan-Mikroskopietechniken erbracht werden; (2) Inkorporiert neue, gut entwickelte Techniken mit einer breiten Palette von Anwendungen, wie retrodispersierte Elektronenbeugung oder Kehrtomographie durch Schnitt-Ansatz; (3) Geben Sie einen Probevorbereitungsdienst für Transmissionsmikroskopie (TEM), Sweep-Transmission (STEM) von Materialien und Geräten, die zur Verbesserung der aktuellen Fähigkeiten der dem Gerät zur Verfügung stehenden hochmodernen Mikroskope beitragen; (4) Entwicklung eines einzigartigen Charakterisierungsdienstes, der die angeforderte Ausrüstung enthält, eine weitere optimierte UCA für Catodolumineszenzstudien in SEM._x000D_ Die angeforderte Ausrüstung wird entscheidend zur Konsolidierung und Verbesserung der Servicekapazitäten des DME-UCA auf nationaler Ebene als Knoten des ICTS ELECMI beitragen. (German)
9 December 2021
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De vervanging van de Quanta 200 scanmicroscoop van de SC-ICYT UCA Electronic Microscopy Division wordt gevraagd door een dual beam apparatuur (Dual Beam), met veldemissie elektronenpistool en Ga+ ionenloop, om de mogelijkheden ervan te actualiseren en de servicecatalogus te voltooien met een essentieel aspect in elke moderne elektronische microscopie-installatie: de voorbereiding van elektronen-transparante monsters met behulp van gefocusseerde Ion Making technieken. _x000D_ met deze actie, cruciaal voor de DME-UCA, is bedoeld om: (1) voortzetting van de diensten die worden verleend in elektronische scanmicroscopietechnieken; (2) Incorporeren van nieuwe, goed ontwikkelde technieken met een breed scala van toepassingen, zoals retrodispersed elektronen diffractie of vegen tomografie door cutting-view aanpak; (3) Verleen een steekproefvoorbereidingsdienst voor Transmissiemicroscopie (TEM), Sweep-Transmission (STEM) van materialen en apparaten die bijdragen aan het verbeteren van de huidige mogelijkheden van de state-of-the-art microscopen beschikbaar aan de eenheid; (4) Het ontwikkelen van een unieke karakteriseringsdienst waarin de gevraagde apparatuur is verwerkt, een andere geoptimaliseerd bij de UCA voor Catodoluminescentiestudies in SEM._x000D_ De gevraagde apparatuur zal een beslissende bijdrage leveren aan de consolidatie en verbetering van de servicemogelijkheden van de DME-UCA, op nationaal niveau, als knooppunt van ICTS ELECMI. (Dutch)
17 December 2021
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La sostituzione del microscopio a scansione Quanta 200 della Divisione Microscopia Elettronica SC-ICYT UCA è richiesta da un'apparecchiatura a doppio fascio (Dual Beam), con cannone elettroni ad emissione di campo e canna di ione Ga+, per aggiornare le sue capacità e completare il catalogo dei servizi integrando un aspetto essenziale in ogni moderna installazione di microscopia elettronica: la preparazione di campioni elettroni trasparenti utilizzando tecniche di Ion Making focalizzati. _x000D_ con questa azione, cruciale per il DME-UCA, ha lo scopo di: (1) Continuare i servizi forniti con tecniche di microscopia a scansione elettronica; (2) incorporare tecniche nuove e ben sviluppate con un'ampia gamma di applicazioni, come la diffrazione degli elettroni retrodispersa o la tomografia a tappeto mediante un approccio di taglio-visione; (3) fornire un servizio di preparazione di campioni per la microscopia di trasmissione (TEM), la trasmissione a spazzola (STEM) di materiali e dispositivi che contribuisca a migliorare le capacità attuali dei microscopi all'avanguardia a disposizione dell'unità; (4) Sviluppare un servizio di caratterizzazione unico che incorpora le apparecchiature richieste, un altro ottimizzato presso l'UCA per gli studi di catodoluminescenza in SEM._x000D_ L'apparecchiatura richiesta contribuirà in modo decisivo a consolidare e migliorare le capacità di servizio della DME-UCA, a livello nazionale, come nodo dell'ICTS ELECMI. (Italian)
16 January 2022
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Puerto Real
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Identifiers
EQC2018-004113-P
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