The development of a new device, the nano-scale reference plate for a system for monitoring surface observations in micro- and nanoscale. (Q81354)
Jump to navigation
Jump to search
Project in Poland financed by DG Regio
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | The development of a new device, the nano-scale reference plate for a system for monitoring surface observations in micro- and nanoscale. |
Project in Poland financed by DG Regio |
Statements
254,991.5 zloty
0 references
368,987.7 zloty
0 references
85.0 percent
0 references
2 January 2018
0 references
30 April 2019
0 references
CORRESCOPY MICHAŁ DYKAS
0 references
Numer_referencyjny_programu_pomocowego: SA.42799(2015/X), pomoc_de_minimis: §42 rozporządzenia Ministra Infrastruktury i Rozwoju z dnia 10 lipca 2015 r. w sprawie udzielania przez Polską Agencję Rozwoju Przedsiębiorczości pomocy finansowej w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014–2020.Projekt zakłada opracowanie i przebadanie nowego wyrobu - nanokalibracyjnej płytki wzorcowej (dla systemu korelacyjnej obserwacji powierzchni w mikro- i nanoskali oraz optymalizacje systemu korelacyjnej obserwacji do współpracy z opracowanymi próbkami. Finalny produkt będzie miał cechy innowacyjne wyróżniające go od obecnie znanych rozwiązań tj. -funkcjonalność, poprzez uniwersalność płytki wzorcowej użytkownik może zastosować jedną i tą samą płytkę wzorcową w wielu urządzeniach mikroskopowych (wykorzystujących np. światło czy wiązkę elektronową); -zwiększona odporność produktu na czynniki zewnętrzne, poprzez wprowadzoną uniwersalność płytki, musi ona być odporna na wiele czynników zewnętrznych w których będzie używana, np. temperaturę, środki chemiczne, czy działanie promieniowania; -precyzyjność płytki, przy produkcji wykonane zostaną nanomarkery, które pozwalają na znaczące (nawet o rząd wielkości) zwiększenie precyzji ustalania położenia badanego preparatu oraz ulepszoną kalibrację mikroskopów pod kątem obrazowania korelacyjnego; -dodatkowo, wprowadzony będzie także układ nanomarkerów na powierzchni refencyjnej uchwytu systemu korelacyjnej obserwacji, pozwalający znacząco zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki, w tym także ilościowo ocenić odchylenie ortogonalności ustawienia uchwytu. -opracowana zostanie procedura wprowadzania nastaw i obliczania współczynników korekcyjnych pozycjonowania próbki. Nowe rozwiązanie może zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki kilkukrotnie, a nawet o rząd wielkości. Wprowadzone innowacje będą skutkować znacznym podniesieniem jakości całego systemu k (Polish)
0 references
Identifiers
POIR.02.03.02-18-0019/17
0 references