Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. (Q81354): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed label, description and/or aliases in 2 languages: Changing unique label-description pair) |
(Removed claim: financed by (P890): Directorate-General for Regional and Urban Policy (Q8361), Removing unnecessary financed by statement) |
||
| Property / financed by | |||
| Property / financed by: Directorate-General for Regional and Urban Policy / rank | |||
Revision as of 04:57, 29 October 2020
Project Q81354 in Poland
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. |
Project Q81354 in Poland |
Statements
254,991.5 zloty
0 references
299,990.0 zloty
0 references
85.0 percent
0 references
2 January 2018
0 references
30 April 2019
0 references
CORRESCOPY MICHAŁ DYKAS
0 references
Numer_referencyjny_programu_pomocowego: SA.42799(2015/X), pomoc_de_minimis: §42 rozporządzenia Ministra Infrastruktury i Rozwoju z dnia 10 lipca 2015 r. w sprawie udzielania przez Polską Agencję Rozwoju Przedsiębiorczości pomocy finansowej w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014–2020.Projekt zakłada opracowanie i przebadanie nowego wyrobu - nanokalibracyjnej płytki wzorcowej (dla systemu korelacyjnej obserwacji powierzchni w mikro- i nanoskali oraz optymalizacje systemu korelacyjnej obserwacji do współpracy z opracowanymi próbkami. Finalny produkt będzie miał cechy innowacyjne wyróżniające go od obecnie znanych rozwiązań tj. -funkcjonalność, poprzez uniwersalność płytki wzorcowej użytkownik może zastosować jedną i tą samą płytkę wzorcową w wielu urządzeniach mikroskopowych (wykorzystujących np. światło czy wiązkę elektronową); -zwiększona odporność produktu na czynniki zewnętrzne, poprzez wprowadzoną uniwersalność płytki, musi ona być odporna na wiele czynników zewnętrznych w których będzie używana, np. temperaturę, środki chemiczne, czy działanie promieniowania; -precyzyjność płytki, przy produkcji wykonane zostaną nanomarkery, które pozwalają na znaczące (nawet o rząd wielkości) zwiększenie precyzji ustalania położenia badanego preparatu oraz ulepszoną kalibrację mikroskopów pod kątem obrazowania korelacyjnego; -dodatkowo, wprowadzony będzie także układ nanomarkerów na powierzchni refencyjnej uchwytu systemu korelacyjnej obserwacji, pozwalający znacząco zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki, w tym także ilościowo ocenić odchylenie ortogonalności ustawienia uchwytu. -opracowana zostanie procedura wprowadzania nastaw i obliczania współczynników korekcyjnych pozycjonowania próbki. Nowe rozwiązanie może zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki kilkukrotnie, a nawet o rząd wielkości. Wprowadzone innowacje będą skutkować znacznym podniesieniem jakości całego systemu k (Polish)
0 references
Reference number of the aid programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 of the Regulation of the Minister of Infrastructure and Development of 10 July 2015 on the granting by the Polish Agency for Enterprise Development financial assistance under the Operational Programme Intelligent Development 2014-2020.The project assumes the development and testing of a new product – a nanocalibration calibration plate (for the correlated system of surface observation in micro- and nanoscales and optimisation of the correlation system of observation to cooperate with the samples developed. The final product will have innovative features that distinguish it from currently known solutions i.e. —functionality, through the versatility of the reference plate, the user can use one and the same reference plate in many microscopic devices (using e.g. light or electron beam); —increased resistance of the product to external factors, through the introduction of the versatility of the plate, it must be resistant to many external factors in which it will be used, e.g. temperature, chemicals or radiation; —the precision of the plate, in production, will be made nanomarkers, which allow for a significant (even an order of size) increase the precision of the positioning of the test preparation and improved calibration of microscopes for correlation imaging; —in addition, a system of nanomarkers will also be introduced on the reef surface of the handle of the correlation observation system, which allows to significantly increase the precision of the positioning of the sample, including quantifying the deviation of the orthogonality of the positioning of the handle. —a procedure for setting up and calculating the corrective factors for the positioning of the sample will be developed. The new solution can increase the precision of positioning the sample several times, or even by an order of magnitude. The innovations introduced will result in a significant improvement in the quality of the whole system k (English)
14 October 2020
0 references
Identifiers
POIR.02.03.02-18-0019/17
0 references