ERDF — CNRS — Alloc cofin — Nicolas CHERY (Q3673350): Difference between revisions
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FEDER — CNRS — Alloc COFIN — Nicolas CHERY | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
CIMAP está equipado con un microscopio JEOL ARM 200 con doble corrección de Cs (sonido y objetivo) y tiene como objetivo desarrollar análisis cuantitativos sobre MET y STEM con detector de ángulo amplio EDS y GIF combinado con modelado energético para determinar estructuras estables, composición local y propiedades de los materiales funcionales, en particular sus aleaciones basadas en nitruros III-V. Damilano_LEDs visibles). Los diversos métodos de análisis de imágenes de RR se evaluarán y adaptarán a las heteroestructuras (In,Ga)N. En paralelo, se utilizarán métodos de análisis químico local como la espectroscopia de pérdida de energía de electrones (EELS) y la espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS) junto con la exploración de imágenes MET (STEM) para apoyar enfoques cuantitativos basados en la determinación de deformaciones locales. El microscopio CIMAP tiene una mejor resolución espacial que 0,8 Å y está equipado con una pistola FEG en frío para una mejor resolución energética que 300 meV, nos permitirá lograr resultados únicos: Se discuten los estudios en los que se puede obtener la posición atómica con una precisión del orden de 1 pm, esencial para modelar las propiedades de las heteroestructuras. También podremos contar los átomos en una columna atómica, especialmente los átomos extraños (composición de la aleación: ejemplo de distribución de d In átomos en InGaN). Con la posibilidad de trabajar a 80 keV y en modo STEM, los artefactos debidos a la irradiación del microscopio se reducirán significativamente y con una sonda de resolución razonable sitios activos para entender la posible ubicación de la emisión. Estos desarrollos requieren una combinación muy estrecha de experiencia y modelado en un esfuerzo bastante a largo plazo, por lo que un trabajo de tesis es muy apropiado. Los métodos desarrollados se integrarán en las herramientas existentes en MET, como el Micrografo Digital, para estar a disposición de los equipos de usuarios (Spanish) | |||||||||||||||
| Property / summary: CIMAP está equipado con un microscopio JEOL ARM 200 con doble corrección de Cs (sonido y objetivo) y tiene como objetivo desarrollar análisis cuantitativos sobre MET y STEM con detector de ángulo amplio EDS y GIF combinado con modelado energético para determinar estructuras estables, composición local y propiedades de los materiales funcionales, en particular sus aleaciones basadas en nitruros III-V. Damilano_LEDs visibles). Los diversos métodos de análisis de imágenes de RR se evaluarán y adaptarán a las heteroestructuras (In,Ga)N. En paralelo, se utilizarán métodos de análisis químico local como la espectroscopia de pérdida de energía de electrones (EELS) y la espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS) junto con la exploración de imágenes MET (STEM) para apoyar enfoques cuantitativos basados en la determinación de deformaciones locales. El microscopio CIMAP tiene una mejor resolución espacial que 0,8 Å y está equipado con una pistola FEG en frío para una mejor resolución energética que 300 meV, nos permitirá lograr resultados únicos: Se discuten los estudios en los que se puede obtener la posición atómica con una precisión del orden de 1 pm, esencial para modelar las propiedades de las heteroestructuras. También podremos contar los átomos en una columna atómica, especialmente los átomos extraños (composición de la aleación: ejemplo de distribución de d In átomos en InGaN). Con la posibilidad de trabajar a 80 keV y en modo STEM, los artefactos debidos a la irradiación del microscopio se reducirán significativamente y con una sonda de resolución razonable sitios activos para entender la posible ubicación de la emisión. Estos desarrollos requieren una combinación muy estrecha de experiencia y modelado en un esfuerzo bastante a largo plazo, por lo que un trabajo de tesis es muy apropiado. Los métodos desarrollados se integrarán en las herramientas existentes en MET, como el Micrografo Digital, para estar a disposición de los equipos de usuarios (Spanish) / rank | |||||||||||||||
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| Property / summary: CIMAP está equipado con un microscopio JEOL ARM 200 con doble corrección de Cs (sonido y objetivo) y tiene como objetivo desarrollar análisis cuantitativos sobre MET y STEM con detector de ángulo amplio EDS y GIF combinado con modelado energético para determinar estructuras estables, composición local y propiedades de los materiales funcionales, en particular sus aleaciones basadas en nitruros III-V. Damilano_LEDs visibles). Los diversos métodos de análisis de imágenes de RR se evaluarán y adaptarán a las heteroestructuras (In,Ga)N. En paralelo, se utilizarán métodos de análisis químico local como la espectroscopia de pérdida de energía de electrones (EELS) y la espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS) junto con la exploración de imágenes MET (STEM) para apoyar enfoques cuantitativos basados en la determinación de deformaciones locales. El microscopio CIMAP tiene una mejor resolución espacial que 0,8 Å y está equipado con una pistola FEG en frío para una mejor resolución energética que 300 meV, nos permitirá lograr resultados únicos: Se discuten los estudios en los que se puede obtener la posición atómica con una precisión del orden de 1 pm, esencial para modelar las propiedades de las heteroestructuras. También podremos contar los átomos en una columna atómica, especialmente los átomos extraños (composición de la aleación: ejemplo de distribución de d In átomos en InGaN). Con la posibilidad de trabajar a 80 keV y en modo STEM, los artefactos debidos a la irradiación del microscopio se reducirán significativamente y con una sonda de resolución razonable sitios activos para entender la posible ubicación de la emisión. Estos desarrollos requieren una combinación muy estrecha de experiencia y modelado en un esfuerzo bastante a largo plazo, por lo que un trabajo de tesis es muy apropiado. Los métodos desarrollados se integrarán en las herramientas existentes en MET, como el Micrografo Digital, para estar a disposición de los equipos de usuarios (Spanish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 14 January 2022
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Revision as of 23:46, 13 January 2022
Project Q3673350 in France
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | ERDF — CNRS — Alloc cofin — Nicolas CHERY |
Project Q3673350 in France |
Statements
44,149.00 Euro
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95,149.0 Euro
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46.4 percent
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1 December 2015
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31 May 2019
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CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE
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49°12'0.97"N, 0°20'57.37"W
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14052
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Développement des techniques de microscopie électronique en transmission ultra haute résolution appliquées aux hétérostructures III-N (In,Ga)N. Le CIMAP est équipé d un microscope JEOL ARM 200 avec double correction Cs (sonde et objectif) et veut développer des analyses quantitatives sur MET et STEM avec EDS détecteur grand angle et GIF conjugués à la modélisation énergétique pour déterminer les structures stables, la composition locale et les propriétés des matériaux fonctionnels, en particulier leurs alliages a base de nitrures III-V. L imagerie MET haute résolution sera utilisée pour déterminer les déformations locales à l échelle atomique en étroite collaboration avec les chercheurs réalisant la croissance (CRHEA_B. Damilano_LEDs visible). Les différentes méthodes d analyse des images HR seront évaluées et adaptées aux héterostructures (In,Ga)N. En parallèle, les méthodes d analyse chimique locales telles que la spectroscopie de perte d énergie des électrons (EELS) et la spectroscopie de Rayons X en dispersion d énergie (EDS) seront utilisées conjointement avec l imagerie MET à balayage (STEM) pour conforter les démarches quantitatives basées sur la détermination des déformations locales. Le microscope du CIMAP a une résolution spatiale meilleure que 0.8Å et est équipé d un canon FEG à froid pour une résolution en énergie meilleure que 300 meV, il nous permettra d obtenir des résultats uniques: On aborder des études où la position atomique peut être obtenue avec une précision de l ordre de 1 pm, essentielles pour modéliser les propriétés des héterostructures. On va aussi pouvoir compter les atomes dans une colonne atomique, particulièrement des atomes étrangers (composition d alliage: exemple distribution des atomes d In dans InGaN ). Avec la possibilité de travailler à 80 keV et en mode STEM, on va diminuer considérablement les artefacts dus à l irradiation au microscope et avec une résolution raisonnable sonder les sites actifs pour comprendre la possible localisation de l émission. Ces développements exigent une conjugaison expérience et modélisation très étroite dans un effort d assez longue haleine, donc un travail de thèse est de très bonne adéquation. Les méthodes développées seront intégrées dans les outils déjà existants en MET comme Digital Micrograph pour être à la disposition des équipes utilisatrices (French)
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Development of ultra-high resolution transmission electron microscopy techniques applied to heterostructures III-N (In,Ga)N. CIMAP is equipped with a JEOL ARM 200 microscope with dual Cs correction (sound and objective) and aims to develop quantitative analyses on MET and STEM with EDS wide-angle detector and GIF combined with energy modelling to determine stable structures, local composition and properties of functional materials, in particular their alloys based on III-V nitrides. High-resolution MET imaging will be used to determine local atomic-scale deformations in close collaboration with growth researchers (CRHEAB. Damilano_LEDs visible). The various HR image analysis methods will be evaluated and adapted to heterostructures (In,Ga)N. In parallel, local chemical analysis methods such as electron energy loss spectroscopy (EELS) and energy dispersion X-ray spectroscopy (EDS) will be used in conjunction with scanning MET imaging (STEM) to support quantitative approaches based on the determination of local deformations. The CIMAP microscope has a better spatial resolution than 0.8 Å and is equipped with a cold FEG gun for a better energy resolution than 300 meV, it will allow us to achieve unique results: Studies where the atomic position can be obtained with an accuracy of the order of 1 pm, essential for modeling the properties of heterostructures is discussed. We will also be able to count the atoms in an atomic column, especially foreign atoms (alloy composition: example distribution of d In atoms in InGaN). With the possibility of working at 80 keV and in STEM mode, artifacts due to microscope irradiation will be significantly reduced and with a reasonable resolution probe active sites to understand the possible location of the emission. These developments require a very narrow combination of experience and modeling in a rather long-term effort, so a thesis work is very appropriate. The methods developed will be integrated into existing tools in MET like Digital Micrograph to be available to user teams (English)
18 November 2021
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Entwicklung von hochauflösenden Elektronenmikroskopietechniken für III-N-Heterostrukturen (In,Ga)N. Das CIPAC ist mit einem JEOL ARM 200 Mikroskop mit doppelter Cs-Korrektur (Sonde und Objektiv) ausgestattet und will quantitative Analysen auf MET und STEM mit EDS Weitwinkel- und GIF-Detektor in Verbindung mit Energiemodellierung entwickeln, um stabile Strukturen, lokale Zusammensetzung und Eigenschaften funktionaler Materialien zu bestimmen, insbesondere ihre Legierungen basieren auf III-V-Nitriden. Die hochauflösende MET-Bildgebung wird verwendet, um lokale Atomverformungen in enger Zusammenarbeit mit Forschern zu bestimmen, die das Wachstum realisieren (HCR). Damilano_LEDs sichtbar). Die verschiedenen Methoden zur Analyse von HR-Bildern werden für Heterostrukturen (In,Ga)N ausgewertet und angepasst. Gleichzeitig werden lokale chemische Analysemethoden wie die Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) und die Spektroskopie von Röntgenstrahlen in Energiedispersion (EDS) zusammen mit der MET-Scanning-Bildgebung (STEM) eingesetzt, um quantitative Verfahren auf der Grundlage der Bestimmung der lokalen Deformationen zu unterstützen. Das Mikroskop des CIMAP hat eine bessere räumliche Auflösung als 0,8 Å und ist mit einem FEG-Kaltkanon für eine bessere Energieauflösung als 300 meV ausgestattet und ermöglicht es uns, einzigartige Ergebnisse zu erzielen: Es werden Untersuchungen behandelt, bei denen die Atomposition mit einer Genauigkeit von 1 pm erreicht werden kann, die für die Modellierung der Eigenschaften von Heterostrukturen wesentlich sind. Man kann auch Atome in einer Atomsäule zählen, insbesondere Fremdatome (Legierungszusammensetzung: Beispiel Verteilung von In-Atomen in InGaN). Mit der Möglichkeit, bei 80 keV und im MINT-Modus zu arbeiten, werden die Artefakte aufgrund der Bestrahlung unter dem Mikroskop erheblich reduziert und mit einer angemessenen Auflösung die aktiven Standorte untersucht, um die mögliche Lokalisierung der Sendung zu verstehen. Diese Entwicklungen erfordern eine sehr enge Kombination von Erfahrung und Modellierung in einem ziemlich langen Atem, so dass eine Dissertationsarbeit sehr gut geeignet ist. Die entwickelten Methoden werden in bereits bestehende MET-Tools wie Digital Micrograph integriert, um den Anwenderteams zur Verfügung zu stehen. (German)
1 December 2021
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Ontwikkeling van ultrahoge resolutie transmissie elektronenmicroscopie technieken toegepast op heterostructuren III-N (In,Ga)N. CIMAP is uitgerust met een JEOL ARM 200 microscoop met dubbele Cs correctie (geluid en objectief) en is gericht op het ontwikkelen van kwantitatieve analyses op MET en STEM met EDS groothoek detector en GIF gecombineerd met energie modellering om stabiele structuren, lokale samenstelling en eigenschappen van functionele materialen te bepalen, in het bijzonder hun legeringen op basis van III-V nitrides. High-resolution MET imaging zal worden gebruikt om lokale atomaire-schaal deformaties te bepalen in nauwe samenwerking met groeionderzoekers (CRHEAB. Damilano_LED’s zichtbaar). De verschillende HR-beeldanalysemethoden worden geëvalueerd en aangepast aan heterostructuren (In,Ga)N. Tegelijkertijd worden lokale chemische analysemethoden zoals elektronenenergieverliesspectroscopie (EELS) en energiedispersiespectroscopie (EDS) gebruikt in combinatie met scanning MET imaging (STEM) ter ondersteuning van kwantitatieve benaderingen op basis van de bepaling van lokale vervormingen. De CIMAP microscoop heeft een betere ruimtelijke resolutie dan 0,8 Å en is uitgerust met een koud FEG-pistool voor een betere energieresolutie dan 300 meV, waardoor we unieke resultaten kunnen behalen: Studies waarbij de atomaire positie kan worden verkregen met een nauwkeurigheid van de orde van 1 pm, essentieel voor het modelleren van de eigenschappen van heterostructuren wordt besproken. We zullen ook in staat zijn om de atomen te tellen in een atoomkolom, vooral buitenlandse atomen (legering samenstelling: voorbeeld distributie van d In atomen in InGaN). Met de mogelijkheid om op 80 keV en in STEM-modus te werken, zullen artefacten als gevolg van microscoopstraling aanzienlijk worden verminderd en met een redelijke resolutiesonde actieve locaties om de mogelijke locatie van de emissie te begrijpen. Deze ontwikkelingen vereisen een zeer smalle combinatie van ervaring en modellering op een vrij lange termijn inspanning, dus een proefwerk is zeer geschikt. De ontwikkelde methoden zullen worden geïntegreerd in bestaande instrumenten in MET zoals Digital Micrograph om beschikbaar te zijn voor gebruikersteams (Dutch)
6 December 2021
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Sviluppo di tecniche di microscopia elettronica di trasmissione ad altissima risoluzione applicate alle eterostrutture III-N (In,Ga)N. Il CIMAP è dotato di un microscopio JEOL ARM 200 con correzione dual Cs (suono e obiettivo) e mira a sviluppare analisi quantitative su MET e STEM con rivelatore a grandangolo EDS e GIF abbinato alla modellazione energetica per determinare strutture stabili, composizione locale e proprietà dei materiali funzionali, in particolare le leghe basate su nitruri III-V. L'imaging MET ad alta risoluzione sarà utilizzato per determinare le deformazioni locali su scala atomica in stretta collaborazione con i ricercatori in crescita (CRHEAB. Damilano_LED visibili). I vari metodi di analisi delle immagini HR saranno valutati e adattati alle eterostrutture (In,Ga)N. In parallelo, i metodi di analisi chimica locale come la spettroscopia di perdita di energia elettronica (EELS) e la spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) saranno utilizzati in combinazione con la scansione MET imaging (STEM) per supportare approcci quantitativi basati sulla determinazione delle deformazioni locali. Il microscopio CIMAP ha una risoluzione spaziale migliore di 0,8 Å ed è dotato di una pistola FEG fredda per una risoluzione energetica migliore di 300 meV, ci permetterà di ottenere risultati unici: Studi in cui la posizione atomica può essere ottenuta con una precisione dell'ordine di 1 pm, essenziale per modellare le proprietà delle eterostrutture è discusso. Saremo anche in grado di contare gli atomi in una colonna atomica, in particolare atomi estranei (composizione in lega: esempio di distribuzione di d In atomi in InGaN). Con la possibilità di lavorare a 80 keV e in modalità STEM, gli artefatti dovuti all'irradiazione del microscopio saranno significativamente ridotti e con una ragionevole risoluzione dei siti attivi della sonda per comprendere la possibile posizione dell'emissione. Questi sviluppi richiedono una combinazione molto ristretta di esperienza e modellazione in uno sforzo piuttosto a lungo termine, per cui un lavoro di tesi è molto appropriato. I metodi sviluppati saranno integrati in strumenti esistenti in MET come Digital Micrograph per essere disponibili ai team di utenti (Italian)
13 January 2022
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CIMAP está equipado con un microscopio JEOL ARM 200 con doble corrección de Cs (sonido y objetivo) y tiene como objetivo desarrollar análisis cuantitativos sobre MET y STEM con detector de ángulo amplio EDS y GIF combinado con modelado energético para determinar estructuras estables, composición local y propiedades de los materiales funcionales, en particular sus aleaciones basadas en nitruros III-V. Damilano_LEDs visibles). Los diversos métodos de análisis de imágenes de RR se evaluarán y adaptarán a las heteroestructuras (In,Ga)N. En paralelo, se utilizarán métodos de análisis químico local como la espectroscopia de pérdida de energía de electrones (EELS) y la espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS) junto con la exploración de imágenes MET (STEM) para apoyar enfoques cuantitativos basados en la determinación de deformaciones locales. El microscopio CIMAP tiene una mejor resolución espacial que 0,8 Å y está equipado con una pistola FEG en frío para una mejor resolución energética que 300 meV, nos permitirá lograr resultados únicos: Se discuten los estudios en los que se puede obtener la posición atómica con una precisión del orden de 1 pm, esencial para modelar las propiedades de las heteroestructuras. También podremos contar los átomos en una columna atómica, especialmente los átomos extraños (composición de la aleación: ejemplo de distribución de d In átomos en InGaN). Con la posibilidad de trabajar a 80 keV y en modo STEM, los artefactos debidos a la irradiación del microscopio se reducirán significativamente y con una sonda de resolución razonable sitios activos para entender la posible ubicación de la emisión. Estos desarrollos requieren una combinación muy estrecha de experiencia y modelado en un esfuerzo bastante a largo plazo, por lo que un trabajo de tesis es muy apropiado. Los métodos desarrollados se integrarán en las herramientas existentes en MET, como el Micrografo Digital, para estar a disposición de los equipos de usuarios (Spanish)
14 January 2022
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Identifiers
15P03533
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