Replacement and Update of the Quanta 200 Sweep Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz (Q3150620): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed label, description and/or aliases in fr: translated_label) |
(Created claim: summary (P836): Le remplacement du microscope à balayage Quanta 200 de la division de microscopie électronique SC-ICYT UCA est demandé par un équipement à double faisceau (Dual Beam), par un pistolet électronique à émission de champ et un canon à ion Ga+, afin de mettre à jour ses capacités et de compléter le catalogue de services intégrant un aspect essentiel dans toute installation de microscopie électronique moderne: la préparation d’échantillons transparent...) |
||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Le remplacement du microscope à balayage Quanta 200 de la division de microscopie électronique SC-ICYT UCA est demandé par un équipement à double faisceau (Dual Beam), par un pistolet électronique à émission de champ et un canon à ion Ga+, afin de mettre à jour ses capacités et de compléter le catalogue de services intégrant un aspect essentiel dans toute installation de microscopie électronique moderne: la préparation d’échantillons transparents aux électrons à l’aide de techniques focalisées de fabrication d’ion. _x000D_ avec cette action, cruciale pour le DME-UCA, est destinée à: (1) Poursuivre les services fournis dans le cadre des techniques de microscopie électronique à balayage; (2) Incorporer de nouvelles techniques bien développées avec un large éventail d’applications, telles que la diffraction d’électrons rétrodispersés ou la tomographie de balayage par l’approche de la vue de coupe; (3) fournir un service de préparation d’échantillons pour la microscopie de transmission (TEM), le balayage-transmission (STEM) de matériaux et d’appareils qui contribuent à améliorer les capacités actuelles des microscopes de pointe disponibles pour l’unité; (4) Développer un service de caractérisation unique intégrant les équipements demandés, un autre optimisé à l’UCA pour les études de catodoluminescence dans SEM._x000D_ Les équipements demandés contribueront de manière décisive à consolider et à renforcer les capacités de service du DME-UCA, au niveau national, en tant que nœud du ICTS ELECMI. (French) | |||||||||||||||
| Property / summary: Le remplacement du microscope à balayage Quanta 200 de la division de microscopie électronique SC-ICYT UCA est demandé par un équipement à double faisceau (Dual Beam), par un pistolet électronique à émission de champ et un canon à ion Ga+, afin de mettre à jour ses capacités et de compléter le catalogue de services intégrant un aspect essentiel dans toute installation de microscopie électronique moderne: la préparation d’échantillons transparents aux électrons à l’aide de techniques focalisées de fabrication d’ion. _x000D_ avec cette action, cruciale pour le DME-UCA, est destinée à: (1) Poursuivre les services fournis dans le cadre des techniques de microscopie électronique à balayage; (2) Incorporer de nouvelles techniques bien développées avec un large éventail d’applications, telles que la diffraction d’électrons rétrodispersés ou la tomographie de balayage par l’approche de la vue de coupe; (3) fournir un service de préparation d’échantillons pour la microscopie de transmission (TEM), le balayage-transmission (STEM) de matériaux et d’appareils qui contribuent à améliorer les capacités actuelles des microscopes de pointe disponibles pour l’unité; (4) Développer un service de caractérisation unique intégrant les équipements demandés, un autre optimisé à l’UCA pour les études de catodoluminescence dans SEM._x000D_ Les équipements demandés contribueront de manière décisive à consolider et à renforcer les capacités de service du DME-UCA, au niveau national, en tant que nœud du ICTS ELECMI. (French) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Le remplacement du microscope à balayage Quanta 200 de la division de microscopie électronique SC-ICYT UCA est demandé par un équipement à double faisceau (Dual Beam), par un pistolet électronique à émission de champ et un canon à ion Ga+, afin de mettre à jour ses capacités et de compléter le catalogue de services intégrant un aspect essentiel dans toute installation de microscopie électronique moderne: la préparation d’échantillons transparents aux électrons à l’aide de techniques focalisées de fabrication d’ion. _x000D_ avec cette action, cruciale pour le DME-UCA, est destinée à: (1) Poursuivre les services fournis dans le cadre des techniques de microscopie électronique à balayage; (2) Incorporer de nouvelles techniques bien développées avec un large éventail d’applications, telles que la diffraction d’électrons rétrodispersés ou la tomographie de balayage par l’approche de la vue de coupe; (3) fournir un service de préparation d’échantillons pour la microscopie de transmission (TEM), le balayage-transmission (STEM) de matériaux et d’appareils qui contribuent à améliorer les capacités actuelles des microscopes de pointe disponibles pour l’unité; (4) Développer un service de caractérisation unique intégrant les équipements demandés, un autre optimisé à l’UCA pour les études de catodoluminescence dans SEM._x000D_ Les équipements demandés contribueront de manière décisive à consolider et à renforcer les capacités de service du DME-UCA, au niveau national, en tant que nœud du ICTS ELECMI. (French) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 2 December 2021
| |||||||||||||||
Revision as of 16:40, 2 December 2021
Project Q3150620 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Replacement and Update of the Quanta 200 Sweep Microscope of the Electronic Microscopy Division of the University of Cadiz |
Project Q3150620 in Spain |
Statements
660,400.0 Euro
0 references
825,500.0 Euro
0 references
80.0 percent
0 references
1 January 2018
0 references
31 December 2020
0 references
UNIVERSIDAD DE CADIZ
0 references
36°31'43.28"N, 6°11'24.79"W
0 references
11028
0 references
Se solicita la sustitución del microscopio de barrido Quanta 200 de la División de Microscopía Electrónica de los SC-ICYT UCA, por un equipo de tipo haz doble (Dual Beam), con cañón de electrones de emisión de campo y cañón de iones Ga+, que permita actualizar sus capacidades y completar el catálogo de servicios incorporando un aspecto esencial en cualquier instalación moderna de microscopía electrónica: la preparación de muestras electrón-transparentes mediante técnicas de Haces de Iones Focalizados. _x000D_ Con esta acción, crucial para la DME-UCA, se pretende: (1) Dar continuidad a los servicios que se vienen prestando en las técnicas de microscopía electrónica de barrido; (2) Incorporar nuevas técnicas, bien desarrolladas y con amplio espectro de aplicaciones, tales como la Difracción de Electrones Retrodispersados o la Tomografía en Barrido mediante la aproximación corte-visualización; (3) Ofrecer un servicio de preparación de muestras para microscopía de Transmisión (TEM), Barrido-Transmisión (STEM) de materiales y dispositivos que contribuya a potenciar las actuales capacidades de los microscopios de última generación de los que dispone la unidad; (4) Desarrollar un servicio de caracterización singular incorporando al equipo solicitado, otro optimizado en la UCA para estudios de Catodoluminiscencia en SEM._x000D_ El equipamiento solicitado contribuirá decisivamente a consolidar y potenciar las capacidades de servicio de la DME-UCA , a nivel nacional, como nodo de la ICTS ELECMI. (Spanish)
0 references
This proposal aims at replacing the FEI Quanta 200 Scanning Transmission Microscope at the Electron Microscopy Division of the University of Cádiz by a Dual Beam, or Cross Beam, station which allows upgrading the current capabilities of this Facility and, at the same time, incorporating new analytical tools. Among the later, the goal would be adding to the basic electron imaging and TEM/STEM lamella preparation capabilities of this type of equipment those of 3D structural and composition reconstruction by FIB tomography, EDS and EBSD. The proposed solution involves a station wit FEG electron gun and Ga+ ion source._x000D_ Apart from incorporating a technique which is present in most modern, top level, EM Facilities and contributing to enlarging the service portfolio, the major goals of this key proposal for DME-UCA are the following: 1) To guarantee an on-going, high quality, service to DME-UCA users requiring Scanning Electron Microscopy analysis; 2) Incorporating new techniques currently unavailable at DME-UCA, such as Electron Backscattered Diffraction or FIB tomography; 3) Opening a new service of electron-transparent STEM sample preparation of materials and devices by FIB; 4) Developing an unique characterization service by incorporating to the proposed Dual Beam other already developed by DME-UCA researchers for Cathodeluminescence experiments in an Scanning Microscope._x000D_ The new equipment would consolidate the position of DME-UCA at both national and international levels. (English)
0 references
Le remplacement du microscope à balayage Quanta 200 de la division de microscopie électronique SC-ICYT UCA est demandé par un équipement à double faisceau (Dual Beam), par un pistolet électronique à émission de champ et un canon à ion Ga+, afin de mettre à jour ses capacités et de compléter le catalogue de services intégrant un aspect essentiel dans toute installation de microscopie électronique moderne: la préparation d’échantillons transparents aux électrons à l’aide de techniques focalisées de fabrication d’ion. _x000D_ avec cette action, cruciale pour le DME-UCA, est destinée à: (1) Poursuivre les services fournis dans le cadre des techniques de microscopie électronique à balayage; (2) Incorporer de nouvelles techniques bien développées avec un large éventail d’applications, telles que la diffraction d’électrons rétrodispersés ou la tomographie de balayage par l’approche de la vue de coupe; (3) fournir un service de préparation d’échantillons pour la microscopie de transmission (TEM), le balayage-transmission (STEM) de matériaux et d’appareils qui contribuent à améliorer les capacités actuelles des microscopes de pointe disponibles pour l’unité; (4) Développer un service de caractérisation unique intégrant les équipements demandés, un autre optimisé à l’UCA pour les études de catodoluminescence dans SEM._x000D_ Les équipements demandés contribueront de manière décisive à consolider et à renforcer les capacités de service du DME-UCA, au niveau national, en tant que nœud du ICTS ELECMI. (French)
2 December 2021
0 references
Puerto Real
0 references
Identifiers
EQC2018-004113-P
0 references