ERDF — CNRS — Alloc cofin — Nicolas CHERY (Q3673350): Difference between revisions
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(Created claim: summary (P836): Développement des techniques de microscopie électronique en transmission ultra haute résolution appliquées aux hétérostructures III-N (In,Ga)N. Le CIMAP est équipé d un microscope JEOL ARM 200 avec Doppelkorrektur Cs (sonde et objectif) et veut développer des analysis quantitatives sur MET et STEM avec EDS détecteur grand angle et GIF conjugués à la modélisation énergétique pour déterminer les structures stables, la composition locale et les pro...) |
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Développement des techniques de microscopie électronique en transmission ultra haute résolution appliquées aux hétérostructures III-N (In,Ga)N. Le CIMAP est équipé d un microscope JEOL ARM 200 avec Doppelkorrektur Cs (sonde et objectif) et veut développer des analysis quantitatives sur MET et STEM avec EDS détecteur grand angle et GIF conjugués à la modélisation énergétique pour déterminer les structures stables, la composition locale et les propriétés des matériaux fonctionnels, en particulier leurs alliages a base de nitrures III-V. L imagerie MET haute résolution sera utilisée pour déterminer les déformations locales à l échelle atomique en Étroite cooperation avec les chercheurs réalisant la croissance (CRHEA_B. Damilano_LEDs sichtbar). Les différentes méthodes d analysis des images HR seront évaluées et adaptées aux héterostructures (In,Ga)N. En parallèle, les méthodes d analyse chimique locales telles que la spectroscopie de perte d énergie des électrons (EELS) et la spectroscopie de Rayons X en dispersion d énergie (EDS) seront utilisées Conjointement avec l imagerie MET à balayage (STEM) pour conforter les démarches quantitatives basées sur la détermination des déformations locales. Le microscope du CIMAP a une résolution spatiale meilleure que 0,8 Å et est équipé d un canon FEG à froid pour une résolution en énergie meilleure que 300 meV, il nous permettra d obtenir des résultats uniques: Auf aborder des études où la position atomique peut être obtenue avec une précision de l ordre de 13 pm, essentielles pour modéliser les propriétés des héterostructures. Auf va aussi pouvoir compter les atomes dans une colonne atomique, particulièrement des atomes étrangers (Komposition d alliage: exemple distribution des atomes d In dans InGaN). Avec la possibilité de travailler à 80 keV et en mode STEM, auf va diminuer considérablement les artefacts dus à l Bestrahlung au microscope et avec une résolution raisonnable sonder les sites actifs pour comprendre la possible localization de l émission. CES développements exigent une conjugaison expérience et modélization très Étroite dans un effort d assez longue haleine, donc un travail de thèse est de très bonne adéquation. Les méthodes développées seront intégrées dans les outils déjà existants en MET comme Digital Micrograph pour être à la disposition des équipes utilisatrices (German) | |||||||||||||||
| Property / summary: Développement des techniques de microscopie électronique en transmission ultra haute résolution appliquées aux hétérostructures III-N (In,Ga)N. Le CIMAP est équipé d un microscope JEOL ARM 200 avec Doppelkorrektur Cs (sonde et objectif) et veut développer des analysis quantitatives sur MET et STEM avec EDS détecteur grand angle et GIF conjugués à la modélisation énergétique pour déterminer les structures stables, la composition locale et les propriétés des matériaux fonctionnels, en particulier leurs alliages a base de nitrures III-V. L imagerie MET haute résolution sera utilisée pour déterminer les déformations locales à l échelle atomique en Étroite cooperation avec les chercheurs réalisant la croissance (CRHEA_B. Damilano_LEDs sichtbar). Les différentes méthodes d analysis des images HR seront évaluées et adaptées aux héterostructures (In,Ga)N. En parallèle, les méthodes d analyse chimique locales telles que la spectroscopie de perte d énergie des électrons (EELS) et la spectroscopie de Rayons X en dispersion d énergie (EDS) seront utilisées Conjointement avec l imagerie MET à balayage (STEM) pour conforter les démarches quantitatives basées sur la détermination des déformations locales. Le microscope du CIMAP a une résolution spatiale meilleure que 0,8 Å et est équipé d un canon FEG à froid pour une résolution en énergie meilleure que 300 meV, il nous permettra d obtenir des résultats uniques: Auf aborder des études où la position atomique peut être obtenue avec une précision de l ordre de 13 pm, essentielles pour modéliser les propriétés des héterostructures. Auf va aussi pouvoir compter les atomes dans une colonne atomique, particulièrement des atomes étrangers (Komposition d alliage: exemple distribution des atomes d In dans InGaN). Avec la possibilité de travailler à 80 keV et en mode STEM, auf va diminuer considérablement les artefacts dus à l Bestrahlung au microscope et avec une résolution raisonnable sonder les sites actifs pour comprendre la possible localization de l émission. CES développements exigent une conjugaison expérience et modélization très Étroite dans un effort d assez longue haleine, donc un travail de thèse est de très bonne adéquation. Les méthodes développées seront intégrées dans les outils déjà existants en MET comme Digital Micrograph pour être à la disposition des équipes utilisatrices (German) / rank | |||||||||||||||
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| Property / summary: Développement des techniques de microscopie électronique en transmission ultra haute résolution appliquées aux hétérostructures III-N (In,Ga)N. Le CIMAP est équipé d un microscope JEOL ARM 200 avec Doppelkorrektur Cs (sonde et objectif) et veut développer des analysis quantitatives sur MET et STEM avec EDS détecteur grand angle et GIF conjugués à la modélisation énergétique pour déterminer les structures stables, la composition locale et les propriétés des matériaux fonctionnels, en particulier leurs alliages a base de nitrures III-V. L imagerie MET haute résolution sera utilisée pour déterminer les déformations locales à l échelle atomique en Étroite cooperation avec les chercheurs réalisant la croissance (CRHEA_B. Damilano_LEDs sichtbar). Les différentes méthodes d analysis des images HR seront évaluées et adaptées aux héterostructures (In,Ga)N. En parallèle, les méthodes d analyse chimique locales telles que la spectroscopie de perte d énergie des électrons (EELS) et la spectroscopie de Rayons X en dispersion d énergie (EDS) seront utilisées Conjointement avec l imagerie MET à balayage (STEM) pour conforter les démarches quantitatives basées sur la détermination des déformations locales. Le microscope du CIMAP a une résolution spatiale meilleure que 0,8 Å et est équipé d un canon FEG à froid pour une résolution en énergie meilleure que 300 meV, il nous permettra d obtenir des résultats uniques: Auf aborder des études où la position atomique peut être obtenue avec une précision de l ordre de 13 pm, essentielles pour modéliser les propriétés des héterostructures. Auf va aussi pouvoir compter les atomes dans une colonne atomique, particulièrement des atomes étrangers (Komposition d alliage: exemple distribution des atomes d In dans InGaN). Avec la possibilité de travailler à 80 keV et en mode STEM, auf va diminuer considérablement les artefacts dus à l Bestrahlung au microscope et avec une résolution raisonnable sonder les sites actifs pour comprendre la possible localization de l émission. CES développements exigent une conjugaison expérience et modélization très Étroite dans un effort d assez longue haleine, donc un travail de thèse est de très bonne adéquation. Les méthodes développées seront intégrées dans les outils déjà existants en MET comme Digital Micrograph pour être à la disposition des équipes utilisatrices (German) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 November 2021
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Revision as of 22:27, 26 November 2021
Project Q3673350 in France
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | ERDF — CNRS — Alloc cofin — Nicolas CHERY |
Project Q3673350 in France |
Statements
44,149.00 Euro
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95,149.0 Euro
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46.4 percent
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1 December 2015
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31 May 2019
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CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE
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49°12'0.97"N, 0°20'57.37"W
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14052
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Développement des techniques de microscopie électronique en transmission ultra haute résolution appliquées aux hétérostructures III-N (In,Ga)N. Le CIMAP est équipé d un microscope JEOL ARM 200 avec double correction Cs (sonde et objectif) et veut développer des analyses quantitatives sur MET et STEM avec EDS détecteur grand angle et GIF conjugués à la modélisation énergétique pour déterminer les structures stables, la composition locale et les propriétés des matériaux fonctionnels, en particulier leurs alliages a base de nitrures III-V. L imagerie MET haute résolution sera utilisée pour déterminer les déformations locales à l échelle atomique en étroite collaboration avec les chercheurs réalisant la croissance (CRHEA_B. Damilano_LEDs visible). Les différentes méthodes d analyse des images HR seront évaluées et adaptées aux héterostructures (In,Ga)N. En parallèle, les méthodes d analyse chimique locales telles que la spectroscopie de perte d énergie des électrons (EELS) et la spectroscopie de Rayons X en dispersion d énergie (EDS) seront utilisées conjointement avec l imagerie MET à balayage (STEM) pour conforter les démarches quantitatives basées sur la détermination des déformations locales. Le microscope du CIMAP a une résolution spatiale meilleure que 0.8Å et est équipé d un canon FEG à froid pour une résolution en énergie meilleure que 300 meV, il nous permettra d obtenir des résultats uniques: On aborder des études où la position atomique peut être obtenue avec une précision de l ordre de 1 pm, essentielles pour modéliser les propriétés des héterostructures. On va aussi pouvoir compter les atomes dans une colonne atomique, particulièrement des atomes étrangers (composition d alliage: exemple distribution des atomes d In dans InGaN ). Avec la possibilité de travailler à 80 keV et en mode STEM, on va diminuer considérablement les artefacts dus à l irradiation au microscope et avec une résolution raisonnable sonder les sites actifs pour comprendre la possible localisation de l émission. Ces développements exigent une conjugaison expérience et modélisation très étroite dans un effort d assez longue haleine, donc un travail de thèse est de très bonne adéquation. Les méthodes développées seront intégrées dans les outils déjà existants en MET comme Digital Micrograph pour être à la disposition des équipes utilisatrices (French)
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Development of ultra-high resolution transmission electron microscopy techniques applied to heterostructures III-N (In,Ga)N. CIMAP is equipped with a JEOL ARM 200 microscope with dual Cs correction (sound and objective) and aims to develop quantitative analyses on MET and STEM with EDS wide-angle detector and GIF combined with energy modelling to determine stable structures, local composition and properties of functional materials, in particular their alloys based on III-V nitrides. High-resolution MET imaging will be used to determine local atomic-scale deformations in close collaboration with growth researchers (CRHEAB. Damilano_LEDs visible). The various HR image analysis methods will be evaluated and adapted to heterostructures (In,Ga)N. In parallel, local chemical analysis methods such as electron energy loss spectroscopy (EELS) and energy dispersion X-ray spectroscopy (EDS) will be used in conjunction with scanning MET imaging (STEM) to support quantitative approaches based on the determination of local deformations. The CIMAP microscope has a better spatial resolution than 0.8 Å and is equipped with a cold FEG gun for a better energy resolution than 300 meV, it will allow us to achieve unique results: Studies where the atomic position can be obtained with an accuracy of the order of 1 pm, essential for modeling the properties of heterostructures is discussed. We will also be able to count the atoms in an atomic column, especially foreign atoms (alloy composition: example distribution of d In atoms in InGaN). With the possibility of working at 80 keV and in STEM mode, artifacts due to microscope irradiation will be significantly reduced and with a reasonable resolution probe active sites to understand the possible location of the emission. These developments require a very narrow combination of experience and modeling in a rather long-term effort, so a thesis work is very appropriate. The methods developed will be integrated into existing tools in MET like Digital Micrograph to be available to user teams (English)
18 November 2021
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Développement des techniques de microscopie électronique en transmission ultra haute résolution appliquées aux hétérostructures III-N (In,Ga)N. Le CIMAP est équipé d un microscope JEOL ARM 200 avec Doppelkorrektur Cs (sonde et objectif) et veut développer des analysis quantitatives sur MET et STEM avec EDS détecteur grand angle et GIF conjugués à la modélisation énergétique pour déterminer les structures stables, la composition locale et les propriétés des matériaux fonctionnels, en particulier leurs alliages a base de nitrures III-V. L imagerie MET haute résolution sera utilisée pour déterminer les déformations locales à l échelle atomique en Étroite cooperation avec les chercheurs réalisant la croissance (CRHEA_B. Damilano_LEDs sichtbar). Les différentes méthodes d analysis des images HR seront évaluées et adaptées aux héterostructures (In,Ga)N. En parallèle, les méthodes d analyse chimique locales telles que la spectroscopie de perte d énergie des électrons (EELS) et la spectroscopie de Rayons X en dispersion d énergie (EDS) seront utilisées Conjointement avec l imagerie MET à balayage (STEM) pour conforter les démarches quantitatives basées sur la détermination des déformations locales. Le microscope du CIMAP a une résolution spatiale meilleure que 0,8 Å et est équipé d un canon FEG à froid pour une résolution en énergie meilleure que 300 meV, il nous permettra d obtenir des résultats uniques: Auf aborder des études où la position atomique peut être obtenue avec une précision de l ordre de 13 pm, essentielles pour modéliser les propriétés des héterostructures. Auf va aussi pouvoir compter les atomes dans une colonne atomique, particulièrement des atomes étrangers (Komposition d alliage: exemple distribution des atomes d In dans InGaN). Avec la possibilité de travailler à 80 keV et en mode STEM, auf va diminuer considérablement les artefacts dus à l Bestrahlung au microscope et avec une résolution raisonnable sonder les sites actifs pour comprendre la possible localization de l émission. CES développements exigent une conjugaison expérience et modélization très Étroite dans un effort d assez longue haleine, donc un travail de thèse est de très bonne adéquation. Les méthodes développées seront intégrées dans les outils déjà existants en MET comme Digital Micrograph pour être à la disposition des équipes utilisatrices (German)
26 November 2021
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Identifiers
15P03533
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