ACQUISITION OF A FIELD EMISSION TRACKING ELECTRON MICROSCOPE (FESEM), WITH FOCUSED GALLIUM ION (FIB) AND RX MICROANALYSIS (EDX) (Q3136850): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed an Item: Edited by the infer coords bot - inferring coordinates from location) |
(Changed an Item: Edited by the materialized bot - inferring region from the coordinates) |
||
| Property / contained in NUTS | |||
| Property / contained in NUTS: Tarragona / rank | |||
Normal rank | |||
Revision as of 12:46, 10 October 2021
Project Q3136850 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | ACQUISITION OF A FIELD EMISSION TRACKING ELECTRON MICROSCOPE (FESEM), WITH FOCUSED GALLIUM ION (FIB) AND RX MICROANALYSIS (EDX) |
Project Q3136850 in Spain |
Statements
413,000.0 Euro
0 references
826,000.0 Euro
0 references
50.0 percent
0 references
1 January 2018
0 references
31 December 2020
0 references
UNIVERSIDAD ROVIRA I VIRGILI
0 references
41°7'2.06"N, 1°15'16.60"E
0 references
43148
0 references
La actuación consiste en la adquisición de un microscopio electrónico de barrido de alta resolución acoplado a un cañón de iones de galio focalizados. El FESEM/FIB/EDX permite la observación y medida de estructuras de unos cuantos nanómetros, el depósito y decapado selectivo, la tomografía 3D, microfabricación, preparación de lamelas para TEM y microanálisis elemental._x000D_ El equipo se instalará en el SRCiT de la URV, en substitución de un SEM-EDX convencional ya obsoleto, por lo que el espacio dispone de las infraestructuras auxiliares básicas necesarias. _x000D_ Muchos de los grupos e instituciones que apoyan la propuesta, son usuarios de FESEM, FIB i/o FESEM-FIB en otros centros. La dificultad en encontrar ventanas temporales de uso en otros centros, adecuadas a su ritmo y necesidades, es una de las razones que impulsa a estos grupos a realizar esta solicitud. Por tanto, la actuación supondrá un impacto incremental en la excelencia de la productividad científica y la internacionalización de las colaboraciones._x000D_ En la propuesta se detallan el impacto técnico que la actuación supondrá para cada uno de los grupos. En esencia, dado que su investigación se realiza en la escala nanométrica, sus observaciones y medidas requieren más resolución que la ofrecida por un SEM convencional. Con este equipo, estos grupos de investigación y empresas obtendrán el análisis de la composición elemental de las secciones transversales o la tomografía 3D que necesitan para ser competitivos. (Spanish)
0 references
The proposal presents the acquisition of a high resolution scanning electron microscope coupled to a focused Ga+ Ion Beam. The FESEM / FIB / EDX allows observation and measurement of few nanometers structures, selective deposition and pickling, 3D tomography, microfabrication, preparation of TEM lamellas and elemental microanalysis._x000D_ _x000D_ The equipment will be installed at the SRCiT of the URV, replacing a already obsolete conventional SEM-EDX. Facilities has already the basic auxiliary infrastructure for its proper installation. _x000D_ Many of the groups and institutions supporting the equipment are users of FESEM, FIB and / or FESEM-FIB in other centers. The difficulty in getting use time slots in other centers, adjusted to their needs, is one of the reasons that drives these groups to make this request. Therefore, the performance will suppose an incremental impact on the excellence of the scientific productivity and the internationalization of the collaborations. This proposal details the added value and the impact to each of the research groups and institutions. In essence, given that its research is carried out on the nanometer scale, its observations and measurements require more resolution than the one offered by a conventional SEM. With the FESEM/FIB, our research groups and companies will obtain the analysis of the elemental composition of the cross sections or the 3D tomography they need to be highly competitive. (English)
0 references
Tarragona
0 references
Identifiers
EQC2018-005278-P
0 references