Acquisition of Atomic Forces Microscopy (AFM) and Tunnel Effect Microscopy (STM) equipment (Q3161751): Difference between revisions
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Revision as of 17:43, 10 October 2021
Project Q3161751 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Acquisition of Atomic Forces Microscopy (AFM) and Tunnel Effect Microscopy (STM) equipment |
Project Q3161751 in Spain |
Statements
262,352.5 Euro
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308,650.0 Euro
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85.0 percent
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1 January 2019
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31 December 2021
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UNIVERSIDAD DE LA LAGUNA
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28°29'8.77"N, 16°18'57.38"W
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38023
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La presente solicitud va dirigida a la sustitución un equipo de microscopía de fuerzas atómicas y de efecto túnel que cuenta ya con unos 25 años de uso ininterrumpido y que presenta notables deficiencias. Se trata de la sustitución de un equipo de AFM/STM basado en la estación electrónica de control NanoSocpe IIE. _x000D_ Se pretende adquirir el conjunto de elementos y módulos necesarios para configurar un nuevo equipo de tecnología de última generación para microscopía de fuerzas atómicas, pero capaz de crecer y desarrollar todas las modalidades más avanzadas de estas técnicas._x000D_ El equipo solicitado quedará integrado dentro del Servicio de Microscopía de Fuerzas Atómicas (SMFA) perteneciente a los Servicios Generales de Apoyo a la Investigación (SEGAI) de la Universidad de La Laguna y bajo su custodia y reglamentación._x000D_ El equipo solicitado incluye un portamuestras de fácil acceso para muestras de hasta varios centímetros, un sistema óptico integrado automático y programable de posicionamiento en la muestra para medidas secuenciales, un scanner del tipo ¿close-loop¿ de muy alta estabilidad de hasta 90x90x10 micras (XYZ), la posibilidad de medir muy bajas corrientes punta-muestra (de hasta 100fA), altas velocidades de barrido de sonda (de hasta varias decenas de Hz), la caracterización de propiedades mecánicas en la nanoescala simultáneas a la topografía para módulos elásticos de hasta 100GPa, la espectroscopía de fuerzas y AFM en líquidos. (Spanish)
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This application aims to replace an existing STM/AFM equipment with an uninterrupted use during the last 25 years which presents in this moment remarkable deficiencies. It consists in the replacement of an STM/AFM equipment based on a Nanoscope IIE controller. _x000D_ The objective is to acquire a set of the necessary elements and moduli to configure a new equipment of the latest technology to carry out atomic force microscopy measurements. In addition, the growth and development of this system with the new most advanced modes of this technique will be possible in the future._x000D_ The requested equipment will be integrated into the Atomic Force Microscopy Service, belonging to the General Services for Research Support of the University of La Laguna. The system will be under the custody and regulation of this service._x000D_ Among the remarkable elements of the requested systems are included the following characteristics: an easy-access sample holder that supports samples of some centimetres, the integration of an automatic and programmable optic system for the position on the sample which permits sequential measurements, a high-stability close-loop scanner of 90x90x10 microns (XYZ), the possibility of measuring very low sample-tip currents (up to 100 fA), high scanning speeds (up to some tens of Hz), the characterization of nanomechanic properties for elastic moduli up to 100 GPa simultaneously to the acquisition of the topographic maps, force spectroscopy and AFM in liquids. (English)
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San Cristóbal de La Laguna
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Identifiers
EQC2019-005647-P
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