X-ray diffractometer (Q3171581): Difference between revisions
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| Property / coordinate location | |||||||||||
41°17'9.96"N, 1°58'56.71"E
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Normal rank | |||||||||||
Revision as of 14:54, 9 October 2021
Project Q3171581 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | X-ray diffractometer |
Project Q3171581 in Spain |
Statements
57,999.5 Euro
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115,999.0 Euro
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50.0 percent
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1 January 2019
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31 December 2020
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INSTITUTO DE CIENCIAS FOTONICAS
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41°17'9.96"N, 1°58'56.71"E
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08056
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Este proyecto se refiere a la adquisición de un difractómetro de rayos X (DRX) monocromático de alta resolución para la caracterización de materiales y nanocristales. La difracción de rayos X ampliará las capacidades del ICFO en el desarrollo de nanomateriales fotónicos y optoelectrónicos avanzados para aplicaciones de células solares, fotodetectores y emisores de luz. Este sistema proporcionará información importante sobre la estructura, la cristalinidad y la fase de los materiales que se sintetizan en el ICFO. Disponer esta técnica en el ICFO nos permitirá acelerar drásticamente nuestra investigación, ya que nos permitirá caracterizar completamente los nanocristales y los materiales que sintetizamos y hacemos crecer en el ICFO sin tiempo muerto y mejorará enormemente la producción científica._x000D_ El sistema se instalará en el espacio compartido del ICFO y estará disponible para todos sus grupos de investigación, que será utilizado esencialmente por grupos que emplean o desarrollan materiales para aplicaciones fotónicas, desde materiales de cambio de fase hasta fotodetectores, células solares y superficies e interfaces funcionales. El equipo afectará drásticamente las actividades de investigación del ICFO en el campo de los materiales para la fotónica._x000D_ El responsable científico es un IP con más de 15 años de experiencia en el desarrollo de materiales para aplicaciones fotónicas y aporta una gran experiencia en el uso del instrumento y la interpretación de los resultados. (Spanish)
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This Project refers to the aquisitionacquisition of a high resolution monochromatic X-ray Diffractometer for the characterization of materials and nanocrystals. X-ray Diffraction will expand ICFO¿s capabilities into the development of advanced photonic and optoelectronic nanomaterials for solar cell, photodetector and light emitting applications. This system will provide important information on the structure, crystallinity and phase of materials that are synthesized at ICFO. Having this technique at ICFO will allow us to accelerate drastically our research as it will allow us to fully characterize the nanocrystals and materials we synthesize and grow at ICFO without deadtime and will dramatically improve scientific output._x000D_ The system will be installed in ICFO¿s shared facility space and will be available to all research groups at ICFO that are interested in using it. The equipment will be used essentially by all groups at ICFO that employ or develop materials for photonic applications from phase change materials to photodetectors, solar cells and functional surfaces and interfaces. The equipment will impact drastically ICFO¿s research activities in the field of materials for photonics._x000D_ The scientific responsible is a PI with more than 15 years experience in the development of materials for photonic applications and brings strong expertise in the use of the tool and interpretation of the results. (English)
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Castelldefels
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Identifiers
EQC2019-005797-P
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