Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. (Q81354): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed an Item) |
(Changed label, description and/or aliases in pt) |
||||||||||||||
| (29 intermediate revisions by 2 users not shown) | |||||||||||||||
| label / en | label / en | ||||||||||||||
Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. | |||||||||||||||
| label / fr | label / fr | ||||||||||||||
Développement d’un nouveau produit — plaque standard de nanocalibrage pour le système d’observation de surface de corrélation à l’échelle micro et nanométrique. | |||||||||||||||
| label / de | label / de | ||||||||||||||
Entwicklung eines neuen Produkts – Nanokalibrierungs-Standardplatte für das System der Korrelationsoberflächenbeobachtung im Mikro- und Nanobereich. | |||||||||||||||
| label / nl | label / nl | ||||||||||||||
Ontwikkeling van een nieuw product — nanokalibratie standaardplaat voor het systeem van correlatieoppervlakte observatie in micro- en nanoschaal. | |||||||||||||||
| label / it | label / it | ||||||||||||||
Sviluppo di un nuovo prodotto — piastra standard di nanocalibrazione per il sistema di osservazione superficiale di correlazione in micro e nanoscala. | |||||||||||||||
| label / es | label / es | ||||||||||||||
Desarrollo de un nuevo producto — placa estándar de nanocalibración para el sistema de observación de superficie de correlación en micro y nanoescala. | |||||||||||||||
| label / da | label / da | ||||||||||||||
Udvikling af et nyt produkt — nanokalibrering standard plade til systemet af korrelationsoverflade observation i mikro- og nanoskala. | |||||||||||||||
| label / el | label / el | ||||||||||||||
Ανάπτυξη νέου προϊόντος — τυποποιημένη πλάκα νανοβαθμονόμησης για το σύστημα παρατήρησης επιφάνειας συσχέτισης σε μικρο- και νανοκλίμακα. | |||||||||||||||
| label / hr | label / hr | ||||||||||||||
Razvoj novog proizvoda – nanokalibracijska standardna ploča za sustav promatranja korelacijskih površina u mikro- i nanorazini. | |||||||||||||||
| label / ro | label / ro | ||||||||||||||
Dezvoltarea unui nou produs – placă standard de nanocalibrare pentru sistemul de observare a suprafeței de corelare în micro- și nanoscară. | |||||||||||||||
| label / sk | label / sk | ||||||||||||||
Vývoj nového produktu – nanokalibračná štandardná platňa pre systém korelačného pozorovania povrchu v mikro- a nanoúrovni. | |||||||||||||||
| label / mt | label / mt | ||||||||||||||
L-iżvilupp ta’ prodott ġdid — pjanċa standard tan-nanokalibrazzjoni għas-sistema ta’ osservazzjoni tal-wiċċ ta’ korrelazzjoni fil-mikroskala u n-nanoskala. | |||||||||||||||
| label / pt | label / pt | ||||||||||||||
Desenvolvimento de um novo produto – uma placa de referência de nanocalibração para um sistema correlativo de observação da superfície em micro e nanoescalas. | |||||||||||||||
| label / fi | label / fi | ||||||||||||||
Uuden tuotteen – nanokalibroinnin standardilevyn kehittäminen korrelaatiopinnan havainnointijärjestelmälle mikro- ja nanomittakaavassa. | |||||||||||||||
| label / sl | label / sl | ||||||||||||||
Razvoj novega izdelka – nanokalibracijske standardne plošče za sistem opazovanja korelacijske površine v mikro- in nanomerilu. | |||||||||||||||
| label / cs | label / cs | ||||||||||||||
Vývoj nového produktu – nanokalibrační standardní deska pro systém korelačního pozorování povrchu v mikro- a nanoměřítku. | |||||||||||||||
| label / lt | label / lt | ||||||||||||||
Naujo produkto – nanokalibracijos standartinė plokštelė, skirta koreliacijos paviršiaus stebėjimo sistemai mikro- ir nanoskalėse, kūrimas. | |||||||||||||||
| label / lv | label / lv | ||||||||||||||
Jauna produkta izstrāde — nanokalibrācijas standarta plāksne korelācijas virsmas novērošanas sistēmai mikro- un nanomērogā. | |||||||||||||||
| label / bg | label / bg | ||||||||||||||
Разработване на нов продукт — стандартна нанокалибрационна плоча за системата за корелация на повърхностно наблюдение в микро- и наномащаб. | |||||||||||||||
| label / hu | label / hu | ||||||||||||||
Új termék kifejlesztése – nanokalibrációs szabványlemez mikro- és nanoméretű felületmegfigyelési rendszerhez. | |||||||||||||||
| label / ga | label / ga | ||||||||||||||
Forbairt táirge nua — nanocalibration pláta caighdeánach don chóras breathnadóireachta dromchla comhghaoil i micrea- agus nanascála. | |||||||||||||||
| label / sv | label / sv | ||||||||||||||
Utveckling av en ny produkt – nanokalibrering standardplatta för systemet för korrelation ytobservation i mikro- och nanoskala. | |||||||||||||||
| label / et | label / et | ||||||||||||||
Uue toote – nanokalibreerimise standardplaadi väljatöötamine korrelatsiooni pinnavaatluse süsteemi jaoks mikro- ja nanoskaalas. | |||||||||||||||
| description / en | description / en | ||||||||||||||
Project in Poland | Project Q81354 in Poland | ||||||||||||||
| description / pl | description / pl | ||||||||||||||
Projekt w Polsce | Projekt Q81354 w Polsce | ||||||||||||||
| description / bg | description / bg | ||||||||||||||
Проект Q81354 в Полша | |||||||||||||||
| description / hr | description / hr | ||||||||||||||
Projekt Q81354 u Poljskoj | |||||||||||||||
| description / hu | description / hu | ||||||||||||||
Projekt Q81354 Lengyelországban | |||||||||||||||
| description / cs | description / cs | ||||||||||||||
Projekt Q81354 v Polsku | |||||||||||||||
| description / da | description / da | ||||||||||||||
Projekt Q81354 i Polen | |||||||||||||||
| description / nl | description / nl | ||||||||||||||
Project Q81354 in Polen | |||||||||||||||
| description / et | description / et | ||||||||||||||
Projekt Q81354 Poolas | |||||||||||||||
| description / fi | description / fi | ||||||||||||||
Projekti Q81354 Puolassa | |||||||||||||||
| description / fr | description / fr | ||||||||||||||
Projet Q81354 en Pologne | |||||||||||||||
| description / de | description / de | ||||||||||||||
Projekt Q81354 in Polen | |||||||||||||||
| description / el | description / el | ||||||||||||||
Έργο Q81354 στην Πολωνία | |||||||||||||||
| description / ga | description / ga | ||||||||||||||
Tionscadal Q81354 sa Pholainn | |||||||||||||||
| description / it | description / it | ||||||||||||||
Progetto Q81354 in Polonia | |||||||||||||||
| description / lv | description / lv | ||||||||||||||
Projekts Q81354 Polijā | |||||||||||||||
| description / lt | description / lt | ||||||||||||||
Projektas Q81354 Lenkijoje | |||||||||||||||
| description / mt | description / mt | ||||||||||||||
Proġett Q81354 fil-Polonja | |||||||||||||||
| description / pt | description / pt | ||||||||||||||
Projeto Q81354 na Polônia | |||||||||||||||
| description / ro | description / ro | ||||||||||||||
Proiectul Q81354 în Polonia | |||||||||||||||
| description / sk | description / sk | ||||||||||||||
Projekt Q81354 v Poľsku | |||||||||||||||
| description / sl | description / sl | ||||||||||||||
Projekt Q81354 na Poljskem | |||||||||||||||
| description / es | description / es | ||||||||||||||
Proyecto Q81354 en Polonia | |||||||||||||||
| description / sv | description / sv | ||||||||||||||
Projekt Q81354 i Polen | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | Property / EU contribution | ||||||||||||||
| 56,684.61 Euro
| ||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / budget: 368,987.7 zloty / rank | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / budget: 88,557.048 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / budget: 88,557.048 Euro / qualifier | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / budget: 88,557.048 Euro / qualifier | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 85.0 percent / rank | |||||||||||||||
| Property / financed by | |||||||||||||||
| Property / financed by: Directorate-General for Regional and Urban Policy / rank | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: Wiśniowa / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: Wiśniowa / qualifier | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Reference number of the aid programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 of the Regulation of the Minister of Infrastructure and Development of 10 July 2015 on the granting by the Polish Agency for Enterprise Development financial assistance under the Operational Programme Intelligent Development 2014-2020.The project assumes the development and testing of a new product – a nanocalibration calibration plate (for the correlated system of surface observation in micro- and nanoscales and optimisation of the correlation system of observation to cooperate with the samples developed. The final product will have innovative features that distinguish it from currently known solutions i.e. —functionality, through the versatility of the reference plate, the user can use one and the same reference plate in many microscopic devices (using e.g. light or electron beam); —increased resistance of the product to external factors, through the introduction of the versatility of the plate, it must be resistant to many external factors in which it will be used, e.g. temperature, chemicals or radiation; —the precision of the plate, in production, will be made nanomarkers, which allow for a significant (even an order of size) increase the precision of the positioning of the test preparation and improved calibration of microscopes for correlation imaging; —in addition, a system of nanomarkers will also be introduced on the reef surface of the handle of the correlation observation system, which allows to significantly increase the precision of the positioning of the sample, including quantifying the deviation of the orthogonality of the positioning of the handle. —a procedure for setting up and calculating the corrective factors for the positioning of the sample will be developed. The new solution can increase the precision of positioning the sample several times, or even by an order of magnitude. The innovations introduced will result in a significant improvement in the quality of the whole system k (English) | |||||||||||||||
| Property / summary: Reference number of the aid programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 of the Regulation of the Minister of Infrastructure and Development of 10 July 2015 on the granting by the Polish Agency for Enterprise Development financial assistance under the Operational Programme Intelligent Development 2014-2020.The project assumes the development and testing of a new product – a nanocalibration calibration plate (for the correlated system of surface observation in micro- and nanoscales and optimisation of the correlation system of observation to cooperate with the samples developed. The final product will have innovative features that distinguish it from currently known solutions i.e. —functionality, through the versatility of the reference plate, the user can use one and the same reference plate in many microscopic devices (using e.g. light or electron beam); —increased resistance of the product to external factors, through the introduction of the versatility of the plate, it must be resistant to many external factors in which it will be used, e.g. temperature, chemicals or radiation; —the precision of the plate, in production, will be made nanomarkers, which allow for a significant (even an order of size) increase the precision of the positioning of the test preparation and improved calibration of microscopes for correlation imaging; —in addition, a system of nanomarkers will also be introduced on the reef surface of the handle of the correlation observation system, which allows to significantly increase the precision of the positioning of the sample, including quantifying the deviation of the orthogonality of the positioning of the handle. —a procedure for setting up and calculating the corrective factors for the positioning of the sample will be developed. The new solution can increase the precision of positioning the sample several times, or even by an order of magnitude. The innovations introduced will result in a significant improvement in the quality of the whole system k (English) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Reference number of the aid programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 of the Regulation of the Minister of Infrastructure and Development of 10 July 2015 on the granting by the Polish Agency for Enterprise Development financial assistance under the Operational Programme Intelligent Development 2014-2020.The project assumes the development and testing of a new product – a nanocalibration calibration plate (for the correlated system of surface observation in micro- and nanoscales and optimisation of the correlation system of observation to cooperate with the samples developed. The final product will have innovative features that distinguish it from currently known solutions i.e. —functionality, through the versatility of the reference plate, the user can use one and the same reference plate in many microscopic devices (using e.g. light or electron beam); —increased resistance of the product to external factors, through the introduction of the versatility of the plate, it must be resistant to many external factors in which it will be used, e.g. temperature, chemicals or radiation; —the precision of the plate, in production, will be made nanomarkers, which allow for a significant (even an order of size) increase the precision of the positioning of the test preparation and improved calibration of microscopes for correlation imaging; —in addition, a system of nanomarkers will also be introduced on the reef surface of the handle of the correlation observation system, which allows to significantly increase the precision of the positioning of the sample, including quantifying the deviation of the orthogonality of the positioning of the handle. —a procedure for setting up and calculating the corrective factors for the positioning of the sample will be developed. The new solution can increase the precision of positioning the sample several times, or even by an order of magnitude. The innovations introduced will result in a significant improvement in the quality of the whole system k (English) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 14 October 2020
| |||||||||||||||
| Property / summary: Reference number of the aid programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 of the Regulation of the Minister of Infrastructure and Development of 10 July 2015 on the granting by the Polish Agency for Enterprise Development financial assistance under the Operational Programme Intelligent Development 2014-2020.The project assumes the development and testing of a new product – a nanocalibration calibration plate (for the correlated system of surface observation in micro- and nanoscales and optimisation of the correlation system of observation to cooperate with the samples developed. The final product will have innovative features that distinguish it from currently known solutions i.e. —functionality, through the versatility of the reference plate, the user can use one and the same reference plate in many microscopic devices (using e.g. light or electron beam); —increased resistance of the product to external factors, through the introduction of the versatility of the plate, it must be resistant to many external factors in which it will be used, e.g. temperature, chemicals or radiation; —the precision of the plate, in production, will be made nanomarkers, which allow for a significant (even an order of size) increase the precision of the positioning of the test preparation and improved calibration of microscopes for correlation imaging; —in addition, a system of nanomarkers will also be introduced on the reef surface of the handle of the correlation observation system, which allows to significantly increase the precision of the positioning of the sample, including quantifying the deviation of the orthogonality of the positioning of the handle. —a procedure for setting up and calculating the corrective factors for the positioning of the sample will be developed. The new solution can increase the precision of positioning the sample several times, or even by an order of magnitude. The innovations introduced will result in a significant improvement in the quality of the whole system k (English) / qualifier | |||||||||||||||
readability score: 0.3289960694286547
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 du règlement du ministre des Infrastructures et du Développement du 10 juillet 2015 relatif à l’octroi d’une aide financière par l’Agence polonaise pour le développement des entreprises dans le cadre du programme opérationnel «Croissance intelligente» 2014-2020.Le projet suppose le développement et l’essai d’un nouveau produit — une plaque de référence de nanoétalonnage (pour le système d’observation corrélative des surfaces dans les micro- et nanoéchelles et l’optimisation du système d’observation corrélative pour la coopération avec les échantillons développés). Le produit final aura des caractéristiques innovantes qui le distinguent des solutions actuellement connues, c’est-à-dire. —fonctionnalité, grâce à l’universalité de la plaque standard, l’utilisateur peut utiliser une seule et même plaque standard dans de nombreux dispositifs microscopiques (en utilisant par exemple le faisceau de lumière ou d’électrons); —augmentation de la résistance du produit aux facteurs externes, en raison de l’universalité introduite de la plaque, il doit être résistant à de nombreux facteurs externes dans lesquels il sera utilisé, par exemple la température, les produits chimiques ou les rayonnements; —la précision de la plaque, pendant la production, des nanomarqueurs seront réalisés, ce qui permettra une augmentation significative (même d’un ordre de grandeur) de la précision du positionnement de la préparation d’essai et l’amélioration de l’étalonnage des microscopes pour l’imagerie par corrélation; en outre, un système de nanomarqueurs sera également introduit sur la surface de l’adhérence protectrice du système d’observation corrélative, permettant d’augmenter significativement la précision du positionnement de l’échantillon, y compris la quantification de l’écart de l’orthogonalité du réglage de la poignée. —la procédure de fixation et de calcul des coefficients correcteurs de positionnement de l’échantillon sera élaborée. La nouvelle solution peut augmenter la précision du positionnement de l’échantillon plusieurs fois, voire d’un ordre de grandeur. Les innovations introduites se traduiront par une amélioration significative de la qualité de l’ensemble du système k (French) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 du règlement du ministre des Infrastructures et du Développement du 10 juillet 2015 relatif à l’octroi d’une aide financière par l’Agence polonaise pour le développement des entreprises dans le cadre du programme opérationnel «Croissance intelligente» 2014-2020.Le projet suppose le développement et l’essai d’un nouveau produit — une plaque de référence de nanoétalonnage (pour le système d’observation corrélative des surfaces dans les micro- et nanoéchelles et l’optimisation du système d’observation corrélative pour la coopération avec les échantillons développés). Le produit final aura des caractéristiques innovantes qui le distinguent des solutions actuellement connues, c’est-à-dire. —fonctionnalité, grâce à l’universalité de la plaque standard, l’utilisateur peut utiliser une seule et même plaque standard dans de nombreux dispositifs microscopiques (en utilisant par exemple le faisceau de lumière ou d’électrons); —augmentation de la résistance du produit aux facteurs externes, en raison de l’universalité introduite de la plaque, il doit être résistant à de nombreux facteurs externes dans lesquels il sera utilisé, par exemple la température, les produits chimiques ou les rayonnements; —la précision de la plaque, pendant la production, des nanomarqueurs seront réalisés, ce qui permettra une augmentation significative (même d’un ordre de grandeur) de la précision du positionnement de la préparation d’essai et l’amélioration de l’étalonnage des microscopes pour l’imagerie par corrélation; en outre, un système de nanomarqueurs sera également introduit sur la surface de l’adhérence protectrice du système d’observation corrélative, permettant d’augmenter significativement la précision du positionnement de l’échantillon, y compris la quantification de l’écart de l’orthogonalité du réglage de la poignée. —la procédure de fixation et de calcul des coefficients correcteurs de positionnement de l’échantillon sera élaborée. La nouvelle solution peut augmenter la précision du positionnement de l’échantillon plusieurs fois, voire d’un ordre de grandeur. Les innovations introduites se traduiront par une amélioration significative de la qualité de l’ensemble du système k (French) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 du règlement du ministre des Infrastructures et du Développement du 10 juillet 2015 relatif à l’octroi d’une aide financière par l’Agence polonaise pour le développement des entreprises dans le cadre du programme opérationnel «Croissance intelligente» 2014-2020.Le projet suppose le développement et l’essai d’un nouveau produit — une plaque de référence de nanoétalonnage (pour le système d’observation corrélative des surfaces dans les micro- et nanoéchelles et l’optimisation du système d’observation corrélative pour la coopération avec les échantillons développés). Le produit final aura des caractéristiques innovantes qui le distinguent des solutions actuellement connues, c’est-à-dire. —fonctionnalité, grâce à l’universalité de la plaque standard, l’utilisateur peut utiliser une seule et même plaque standard dans de nombreux dispositifs microscopiques (en utilisant par exemple le faisceau de lumière ou d’électrons); —augmentation de la résistance du produit aux facteurs externes, en raison de l’universalité introduite de la plaque, il doit être résistant à de nombreux facteurs externes dans lesquels il sera utilisé, par exemple la température, les produits chimiques ou les rayonnements; —la précision de la plaque, pendant la production, des nanomarqueurs seront réalisés, ce qui permettra une augmentation significative (même d’un ordre de grandeur) de la précision du positionnement de la préparation d’essai et l’amélioration de l’étalonnage des microscopes pour l’imagerie par corrélation; en outre, un système de nanomarqueurs sera également introduit sur la surface de l’adhérence protectrice du système d’observation corrélative, permettant d’augmenter significativement la précision du positionnement de l’échantillon, y compris la quantification de l’écart de l’orthogonalité du réglage de la poignée. —la procédure de fixation et de calcul des coefficients correcteurs de positionnement de l’échantillon sera élaborée. La nouvelle solution peut augmenter la précision du positionnement de l’échantillon plusieurs fois, voire d’un ordre de grandeur. Les innovations introduites se traduiront par une amélioration significative de la qualité de l’ensemble du système k (French) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 30 November 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_Programm: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: § 42 der Verordnung des Ministers für Infrastruktur und Entwicklung vom 10. Juli 2015 über die Gewährung von Finanzhilfen durch die polnische Agentur für Unternehmensentwicklung im Rahmen des operationellen Programms „Intelligentes Wachstum“ 2014-2020.Das Projekt geht von der Entwicklung und Erprobung eines neuen Produkts aus – einer Nanokalibrierungs-Referenzplatte (für das System der korrelativen Beobachtung von Oberflächen in Mikro- und Nanoskalen und der Optimierung des korrelativen Beobachtungssystems für die Zusammenarbeit mit den entwickelten Proben). Das Endprodukt wird innovative Merkmale aufweisen, die es von derzeit bekannten Lösungen unterscheiden, d. h. —Funktionalität, durch die Universalität der Standardplatte, kann der Benutzer ein und dieselbe Standardplatte in vielen mikroskopischen Geräten verwenden (z. B. Licht- oder Elektronenstrahl); —erhöhte Beständigkeit des Produkts gegen äußere Faktoren, aufgrund der eingeführten Universalität der Platte, muss es gegen viele äußere Faktoren resistent sein, bei denen es verwendet wird, z. B. Temperatur, Chemikalien oder Strahlung; —Präzision der Platte, während der Produktion werden Nanomarker hergestellt, die eine signifikante (auch um eine Größenordnung) Erhöhung der Präzision der Positionierung der Testvorbereitung und eine verbesserte Kalibrierung von Mikroskopen für die Korrelationsbildgebung ermöglichen; darüber hinaus wird auch ein System von Nanomarkern auf der Oberfläche des Schutzgriffs des korrelativen Beobachtungssystems eingeführt, wodurch die Präzision der Positionierung der Probe signifikant erhöht werden kann, einschließlich der Quantifizierung der Abweichung der Orthogonalität der Griffeinstellung. —das Verfahren zur Festlegung und Berechnung der Korrekturkoeffizienten zur Probenpositionierung wird entwickelt. Die neue Lösung kann die Genauigkeit der Probenpositionierung um ein Vielfaches oder sogar um eine Größenordnung erhöhen. Die eingeführten Innovationen führen zu einer deutlichen Verbesserung der Qualität des gesamten Systems k (German) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_Programm: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: § 42 der Verordnung des Ministers für Infrastruktur und Entwicklung vom 10. Juli 2015 über die Gewährung von Finanzhilfen durch die polnische Agentur für Unternehmensentwicklung im Rahmen des operationellen Programms „Intelligentes Wachstum“ 2014-2020.Das Projekt geht von der Entwicklung und Erprobung eines neuen Produkts aus – einer Nanokalibrierungs-Referenzplatte (für das System der korrelativen Beobachtung von Oberflächen in Mikro- und Nanoskalen und der Optimierung des korrelativen Beobachtungssystems für die Zusammenarbeit mit den entwickelten Proben). Das Endprodukt wird innovative Merkmale aufweisen, die es von derzeit bekannten Lösungen unterscheiden, d. h. —Funktionalität, durch die Universalität der Standardplatte, kann der Benutzer ein und dieselbe Standardplatte in vielen mikroskopischen Geräten verwenden (z. B. Licht- oder Elektronenstrahl); —erhöhte Beständigkeit des Produkts gegen äußere Faktoren, aufgrund der eingeführten Universalität der Platte, muss es gegen viele äußere Faktoren resistent sein, bei denen es verwendet wird, z. B. Temperatur, Chemikalien oder Strahlung; —Präzision der Platte, während der Produktion werden Nanomarker hergestellt, die eine signifikante (auch um eine Größenordnung) Erhöhung der Präzision der Positionierung der Testvorbereitung und eine verbesserte Kalibrierung von Mikroskopen für die Korrelationsbildgebung ermöglichen; darüber hinaus wird auch ein System von Nanomarkern auf der Oberfläche des Schutzgriffs des korrelativen Beobachtungssystems eingeführt, wodurch die Präzision der Positionierung der Probe signifikant erhöht werden kann, einschließlich der Quantifizierung der Abweichung der Orthogonalität der Griffeinstellung. —das Verfahren zur Festlegung und Berechnung der Korrekturkoeffizienten zur Probenpositionierung wird entwickelt. Die neue Lösung kann die Genauigkeit der Probenpositionierung um ein Vielfaches oder sogar um eine Größenordnung erhöhen. Die eingeführten Innovationen führen zu einer deutlichen Verbesserung der Qualität des gesamten Systems k (German) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_Programm: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: § 42 der Verordnung des Ministers für Infrastruktur und Entwicklung vom 10. Juli 2015 über die Gewährung von Finanzhilfen durch die polnische Agentur für Unternehmensentwicklung im Rahmen des operationellen Programms „Intelligentes Wachstum“ 2014-2020.Das Projekt geht von der Entwicklung und Erprobung eines neuen Produkts aus – einer Nanokalibrierungs-Referenzplatte (für das System der korrelativen Beobachtung von Oberflächen in Mikro- und Nanoskalen und der Optimierung des korrelativen Beobachtungssystems für die Zusammenarbeit mit den entwickelten Proben). Das Endprodukt wird innovative Merkmale aufweisen, die es von derzeit bekannten Lösungen unterscheiden, d. h. —Funktionalität, durch die Universalität der Standardplatte, kann der Benutzer ein und dieselbe Standardplatte in vielen mikroskopischen Geräten verwenden (z. B. Licht- oder Elektronenstrahl); —erhöhte Beständigkeit des Produkts gegen äußere Faktoren, aufgrund der eingeführten Universalität der Platte, muss es gegen viele äußere Faktoren resistent sein, bei denen es verwendet wird, z. B. Temperatur, Chemikalien oder Strahlung; —Präzision der Platte, während der Produktion werden Nanomarker hergestellt, die eine signifikante (auch um eine Größenordnung) Erhöhung der Präzision der Positionierung der Testvorbereitung und eine verbesserte Kalibrierung von Mikroskopen für die Korrelationsbildgebung ermöglichen; darüber hinaus wird auch ein System von Nanomarkern auf der Oberfläche des Schutzgriffs des korrelativen Beobachtungssystems eingeführt, wodurch die Präzision der Positionierung der Probe signifikant erhöht werden kann, einschließlich der Quantifizierung der Abweichung der Orthogonalität der Griffeinstellung. —das Verfahren zur Festlegung und Berechnung der Korrekturkoeffizienten zur Probenpositionierung wird entwickelt. Die neue Lösung kann die Genauigkeit der Probenpositionierung um ein Vielfaches oder sogar um eine Größenordnung erhöhen. Die eingeführten Innovationen führen zu einer deutlichen Verbesserung der Qualität des gesamten Systems k (German) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 7 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 van de verordening van de minister van Infrastructuur en Ontwikkeling van 10 juli 2015 betreffende de toekenning van financiële bijstand door het Poolse Agentschap voor de ontwikkeling van ondernemingen in het kader van het operationele programma voor slimme groei 2014-2020.Het project veronderstelt de ontwikkeling en het testen van een nieuw product — een nanokalibratiereferentieplaat (voor het systeem van correlatieve observatie van oppervlakken in micro- en nanoschalen en optimalisering van het correlatieve observatiesysteem voor samenwerking met de ontwikkelde monsters). Het eindproduct zal innovatieve kenmerken hebben die het onderscheiden van momenteel bekende oplossingen, d.w.z. —functionaliteit, door de universaliteit van de standaardplaat, kan de gebruiker één en dezelfde standaardplaat gebruiken in vele microscopische apparaten (met behulp van bijvoorbeeld licht of elektronenstraal); —verhoogde weerstand van het product tegen externe factoren, als gevolg van de geïntroduceerde universaliteit van de plaat, moet het bestand zijn tegen vele externe factoren waarin het zal worden gebruikt, bijvoorbeeld temperatuur, chemicaliën of straling; —precisie van de plaat, tijdens de productie, nanomarkers zullen worden gemaakt, waardoor significante (zelfs door een orde van grootte) verhoging van de precisie van het plaatsen van de testvoorbereiding en verbeterde kalibratie van microscopen voor correlatiebeeldvorming mogelijk is; bovendien zal een systeem van nanomarkers ook worden geïntroduceerd op het oppervlak van de beschermende greep van het correlatieve observatiesysteem, waardoor de precisie van de positionering van het monster aanzienlijk wordt verhoogd, inclusief het kwantificeren van de afwijking van de orthogonaliteit van de handgreepinstelling. —de procedure voor het vaststellen en berekenen van de correctiecoëfficiënten voor de steekproefpositie zal worden ontwikkeld. De nieuwe oplossing kan de nauwkeurigheid van de steekproefpositie meerdere malen verhogen, of zelfs door een orde van grootte. De geïntroduceerde innovaties zullen resulteren in een aanzienlijke verbetering van de kwaliteit van het hele systeem k (Dutch) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 van de verordening van de minister van Infrastructuur en Ontwikkeling van 10 juli 2015 betreffende de toekenning van financiële bijstand door het Poolse Agentschap voor de ontwikkeling van ondernemingen in het kader van het operationele programma voor slimme groei 2014-2020.Het project veronderstelt de ontwikkeling en het testen van een nieuw product — een nanokalibratiereferentieplaat (voor het systeem van correlatieve observatie van oppervlakken in micro- en nanoschalen en optimalisering van het correlatieve observatiesysteem voor samenwerking met de ontwikkelde monsters). Het eindproduct zal innovatieve kenmerken hebben die het onderscheiden van momenteel bekende oplossingen, d.w.z. —functionaliteit, door de universaliteit van de standaardplaat, kan de gebruiker één en dezelfde standaardplaat gebruiken in vele microscopische apparaten (met behulp van bijvoorbeeld licht of elektronenstraal); —verhoogde weerstand van het product tegen externe factoren, als gevolg van de geïntroduceerde universaliteit van de plaat, moet het bestand zijn tegen vele externe factoren waarin het zal worden gebruikt, bijvoorbeeld temperatuur, chemicaliën of straling; —precisie van de plaat, tijdens de productie, nanomarkers zullen worden gemaakt, waardoor significante (zelfs door een orde van grootte) verhoging van de precisie van het plaatsen van de testvoorbereiding en verbeterde kalibratie van microscopen voor correlatiebeeldvorming mogelijk is; bovendien zal een systeem van nanomarkers ook worden geïntroduceerd op het oppervlak van de beschermende greep van het correlatieve observatiesysteem, waardoor de precisie van de positionering van het monster aanzienlijk wordt verhoogd, inclusief het kwantificeren van de afwijking van de orthogonaliteit van de handgreepinstelling. —de procedure voor het vaststellen en berekenen van de correctiecoëfficiënten voor de steekproefpositie zal worden ontwikkeld. De nieuwe oplossing kan de nauwkeurigheid van de steekproefpositie meerdere malen verhogen, of zelfs door een orde van grootte. De geïntroduceerde innovaties zullen resulteren in een aanzienlijke verbetering van de kwaliteit van het hele systeem k (Dutch) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 van de verordening van de minister van Infrastructuur en Ontwikkeling van 10 juli 2015 betreffende de toekenning van financiële bijstand door het Poolse Agentschap voor de ontwikkeling van ondernemingen in het kader van het operationele programma voor slimme groei 2014-2020.Het project veronderstelt de ontwikkeling en het testen van een nieuw product — een nanokalibratiereferentieplaat (voor het systeem van correlatieve observatie van oppervlakken in micro- en nanoschalen en optimalisering van het correlatieve observatiesysteem voor samenwerking met de ontwikkelde monsters). Het eindproduct zal innovatieve kenmerken hebben die het onderscheiden van momenteel bekende oplossingen, d.w.z. —functionaliteit, door de universaliteit van de standaardplaat, kan de gebruiker één en dezelfde standaardplaat gebruiken in vele microscopische apparaten (met behulp van bijvoorbeeld licht of elektronenstraal); —verhoogde weerstand van het product tegen externe factoren, als gevolg van de geïntroduceerde universaliteit van de plaat, moet het bestand zijn tegen vele externe factoren waarin het zal worden gebruikt, bijvoorbeeld temperatuur, chemicaliën of straling; —precisie van de plaat, tijdens de productie, nanomarkers zullen worden gemaakt, waardoor significante (zelfs door een orde van grootte) verhoging van de precisie van het plaatsen van de testvoorbereiding en verbeterde kalibratie van microscopen voor correlatiebeeldvorming mogelijk is; bovendien zal een systeem van nanomarkers ook worden geïntroduceerd op het oppervlak van de beschermende greep van het correlatieve observatiesysteem, waardoor de precisie van de positionering van het monster aanzienlijk wordt verhoogd, inclusief het kwantificeren van de afwijking van de orthogonaliteit van de handgreepinstelling. —de procedure voor het vaststellen en berekenen van de correctiecoëfficiënten voor de steekproefpositie zal worden ontwikkeld. De nieuwe oplossing kan de nauwkeurigheid van de steekproefpositie meerdere malen verhogen, of zelfs door een orde van grootte. De geïntroduceerde innovaties zullen resulteren in een aanzienlijke verbetering van de kwaliteit van het hele systeem k (Dutch) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 16 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 del Regolamento del Ministro delle Infrastrutture e dello Sviluppo del 10 luglio 2015 relativo alla concessione dell'assistenza finanziaria da parte dell'Agenzia polacca per lo sviluppo delle imprese nell'ambito del programma operativo di crescita intelligente 2014-2020.Il progetto assume lo sviluppo e la sperimentazione di un nuovo prodotto — una targa di riferimento per la nanocalibrazione (per il sistema di osservazione correlativa delle superfici in micro e nanoscale e ottimizzazione del sistema di osservazione correlato per la cooperazione con i campioni sviluppati). Il prodotto finale avrà caratteristiche innovative che lo contraddistinguono dalle soluzioni attualmente conosciute, vale a dire —funzionalità, attraverso l'universalità della piastra standard, l'utente può utilizzare una stessa piastra standard in molti dispositivi microscopici (utilizzando ad esempio luce o fascio di elettroni); —aumento della resistenza del prodotto a fattori esterni, a causa dell'universalità introdotta della piastra, deve essere resistente a molti fattori esterni in cui verrà utilizzato, ad esempio temperatura, sostanze chimiche o radiazioni; —precisione della piastra, durante la produzione, saranno realizzati nanomarcatori, che consentono un aumento significativo (anche di un ordine di grandezza) nella precisione di posizionamento della preparazione della prova e una migliore calibrazione dei microscopi per l'imaging di correlazione; inoltre, verrà introdotto un sistema di nanomarcatori anche sulla superficie dell'impugnatura protettiva del sistema di osservazione correlato, consentendo di aumentare significativamente la precisione del posizionamento del campione, compresa la quantificazione della deviazione dell'ortogonalità della regolazione della maniglia. —sarà sviluppata la procedura per la fissazione e il calcolo dei coefficienti correttori di posizionamento del campione. La nuova soluzione può aumentare la precisione del posizionamento del campione più volte, o anche di un ordine di grandezza. Le innovazioni introdotte si tradurranno in un significativo miglioramento della qualità dell'intero sistema k (Italian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 del Regolamento del Ministro delle Infrastrutture e dello Sviluppo del 10 luglio 2015 relativo alla concessione dell'assistenza finanziaria da parte dell'Agenzia polacca per lo sviluppo delle imprese nell'ambito del programma operativo di crescita intelligente 2014-2020.Il progetto assume lo sviluppo e la sperimentazione di un nuovo prodotto — una targa di riferimento per la nanocalibrazione (per il sistema di osservazione correlativa delle superfici in micro e nanoscale e ottimizzazione del sistema di osservazione correlato per la cooperazione con i campioni sviluppati). Il prodotto finale avrà caratteristiche innovative che lo contraddistinguono dalle soluzioni attualmente conosciute, vale a dire —funzionalità, attraverso l'universalità della piastra standard, l'utente può utilizzare una stessa piastra standard in molti dispositivi microscopici (utilizzando ad esempio luce o fascio di elettroni); —aumento della resistenza del prodotto a fattori esterni, a causa dell'universalità introdotta della piastra, deve essere resistente a molti fattori esterni in cui verrà utilizzato, ad esempio temperatura, sostanze chimiche o radiazioni; —precisione della piastra, durante la produzione, saranno realizzati nanomarcatori, che consentono un aumento significativo (anche di un ordine di grandezza) nella precisione di posizionamento della preparazione della prova e una migliore calibrazione dei microscopi per l'imaging di correlazione; inoltre, verrà introdotto un sistema di nanomarcatori anche sulla superficie dell'impugnatura protettiva del sistema di osservazione correlato, consentendo di aumentare significativamente la precisione del posizionamento del campione, compresa la quantificazione della deviazione dell'ortogonalità della regolazione della maniglia. —sarà sviluppata la procedura per la fissazione e il calcolo dei coefficienti correttori di posizionamento del campione. La nuova soluzione può aumentare la precisione del posizionamento del campione più volte, o anche di un ordine di grandezza. Le innovazioni introdotte si tradurranno in un significativo miglioramento della qualità dell'intero sistema k (Italian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 del Regolamento del Ministro delle Infrastrutture e dello Sviluppo del 10 luglio 2015 relativo alla concessione dell'assistenza finanziaria da parte dell'Agenzia polacca per lo sviluppo delle imprese nell'ambito del programma operativo di crescita intelligente 2014-2020.Il progetto assume lo sviluppo e la sperimentazione di un nuovo prodotto — una targa di riferimento per la nanocalibrazione (per il sistema di osservazione correlativa delle superfici in micro e nanoscale e ottimizzazione del sistema di osservazione correlato per la cooperazione con i campioni sviluppati). Il prodotto finale avrà caratteristiche innovative che lo contraddistinguono dalle soluzioni attualmente conosciute, vale a dire —funzionalità, attraverso l'universalità della piastra standard, l'utente può utilizzare una stessa piastra standard in molti dispositivi microscopici (utilizzando ad esempio luce o fascio di elettroni); —aumento della resistenza del prodotto a fattori esterni, a causa dell'universalità introdotta della piastra, deve essere resistente a molti fattori esterni in cui verrà utilizzato, ad esempio temperatura, sostanze chimiche o radiazioni; —precisione della piastra, durante la produzione, saranno realizzati nanomarcatori, che consentono un aumento significativo (anche di un ordine di grandezza) nella precisione di posizionamento della preparazione della prova e una migliore calibrazione dei microscopi per l'imaging di correlazione; inoltre, verrà introdotto un sistema di nanomarcatori anche sulla superficie dell'impugnatura protettiva del sistema di osservazione correlato, consentendo di aumentare significativamente la precisione del posizionamento del campione, compresa la quantificazione della deviazione dell'ortogonalità della regolazione della maniglia. —sarà sviluppata la procedura per la fissazione e il calcolo dei coefficienti correttori di posizionamento del campione. La nuova soluzione può aumentare la precisione del posizionamento del campione più volte, o anche di un ordine di grandezza. Le innovazioni introdotte si tradurranno in un significativo miglioramento della qualità dell'intero sistema k (Italian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 15 January 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programa: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 del Reglamento del Ministro de Infraestructuras y Desarrollo, de 10 de julio de 2015, relativo a la concesión de ayuda financiera por parte de la Agencia Polaca para el Desarrollo Empresarial en el marco del Programa Operativo de Crecimiento Inteligente 2014-2020. El proyecto asume el desarrollo y ensayo de un nuevo producto — una placa de referencia de nanocalibración (para el sistema de observación correlativa de superficies en micro y nanoescala y optimización del sistema de observación correlativa para la cooperación con las muestras desarrolladas). El producto final tendrá características innovadoras que lo distinguen de las soluciones actualmente conocidas, es decir. —funcionalidad, a través de la universalidad de la placa estándar, el usuario puede utilizar una y la misma placa estándar en muchos dispositivos microscópicos (usando, por ejemplo, luz o haz de electrones); —aumento de la resistencia del producto a factores externos, debido a la universalidad introducida de la placa, debe ser resistente a muchos factores externos en los que se utilizará, por ejemplo, temperatura, productos químicos o radiación; —precisión de la placa, durante la producción, se realizarán nanomarcadores, que permiten un aumento significativo (incluso por un orden de magnitud) en la precisión del posicionamiento de la preparación de la prueba y una mejor calibración de los microscopios para imágenes de correlación; además, también se introducirá un sistema de nanomarcadores en la superficie del agarre protector del sistema de observación correlativa, lo que permitirá aumentar significativamente la precisión del posicionamiento de la muestra, incluida la cuantificación de la desviación de la ortogonalidad del ajuste del mango. —se desarrollará el procedimiento para establecer y calcular los coeficientes correctores de posicionamiento de la muestra. La nueva solución puede aumentar la precisión del posicionamiento de la muestra varias veces, o incluso por un orden de magnitud. Las innovaciones introducidas darán lugar a una mejora significativa en la calidad de todo el sistema k (Spanish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programa: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 del Reglamento del Ministro de Infraestructuras y Desarrollo, de 10 de julio de 2015, relativo a la concesión de ayuda financiera por parte de la Agencia Polaca para el Desarrollo Empresarial en el marco del Programa Operativo de Crecimiento Inteligente 2014-2020. El proyecto asume el desarrollo y ensayo de un nuevo producto — una placa de referencia de nanocalibración (para el sistema de observación correlativa de superficies en micro y nanoescala y optimización del sistema de observación correlativa para la cooperación con las muestras desarrolladas). El producto final tendrá características innovadoras que lo distinguen de las soluciones actualmente conocidas, es decir. —funcionalidad, a través de la universalidad de la placa estándar, el usuario puede utilizar una y la misma placa estándar en muchos dispositivos microscópicos (usando, por ejemplo, luz o haz de electrones); —aumento de la resistencia del producto a factores externos, debido a la universalidad introducida de la placa, debe ser resistente a muchos factores externos en los que se utilizará, por ejemplo, temperatura, productos químicos o radiación; —precisión de la placa, durante la producción, se realizarán nanomarcadores, que permiten un aumento significativo (incluso por un orden de magnitud) en la precisión del posicionamiento de la preparación de la prueba y una mejor calibración de los microscopios para imágenes de correlación; además, también se introducirá un sistema de nanomarcadores en la superficie del agarre protector del sistema de observación correlativa, lo que permitirá aumentar significativamente la precisión del posicionamiento de la muestra, incluida la cuantificación de la desviación de la ortogonalidad del ajuste del mango. —se desarrollará el procedimiento para establecer y calcular los coeficientes correctores de posicionamiento de la muestra. La nueva solución puede aumentar la precisión del posicionamiento de la muestra varias veces, o incluso por un orden de magnitud. Las innovaciones introducidas darán lugar a una mejora significativa en la calidad de todo el sistema k (Spanish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programa: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 del Reglamento del Ministro de Infraestructuras y Desarrollo, de 10 de julio de 2015, relativo a la concesión de ayuda financiera por parte de la Agencia Polaca para el Desarrollo Empresarial en el marco del Programa Operativo de Crecimiento Inteligente 2014-2020. El proyecto asume el desarrollo y ensayo de un nuevo producto — una placa de referencia de nanocalibración (para el sistema de observación correlativa de superficies en micro y nanoescala y optimización del sistema de observación correlativa para la cooperación con las muestras desarrolladas). El producto final tendrá características innovadoras que lo distinguen de las soluciones actualmente conocidas, es decir. —funcionalidad, a través de la universalidad de la placa estándar, el usuario puede utilizar una y la misma placa estándar en muchos dispositivos microscópicos (usando, por ejemplo, luz o haz de electrones); —aumento de la resistencia del producto a factores externos, debido a la universalidad introducida de la placa, debe ser resistente a muchos factores externos en los que se utilizará, por ejemplo, temperatura, productos químicos o radiación; —precisión de la placa, durante la producción, se realizarán nanomarcadores, que permiten un aumento significativo (incluso por un orden de magnitud) en la precisión del posicionamiento de la preparación de la prueba y una mejor calibración de los microscopios para imágenes de correlación; además, también se introducirá un sistema de nanomarcadores en la superficie del agarre protector del sistema de observación correlativa, lo que permitirá aumentar significativamente la precisión del posicionamiento de la muestra, incluida la cuantificación de la desviación de la ortogonalidad del ajuste del mango. —se desarrollará el procedimiento para establecer y calcular los coeficientes correctores de posicionamiento de la muestra. La nueva solución puede aumentar la precisión del posicionamiento de la muestra varias veces, o incluso por un orden de magnitud. Las innovaciones introducidas darán lugar a una mejora significativa en la calidad de todo el sistema k (Spanish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 19 January 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Nummer_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 i bekendtgørelse af 10. juli 2015 fra ministeren for infrastruktur og udvikling om finansiel støtte fra det polske agentur for virksomhedsudvikling under det operationelle program for intelligent vækst 2014-2020. Projektet forudsætter udvikling og afprøvning af et nyt produkt — en nanokalibreringsreferenceplade (til systemet med korrelativ observation af overflader i mikro- og nanoskalaer og optimering af det korrelative observationssystem for samarbejde med de udviklede prøver). Det endelige produkt vil have innovative egenskaber, der adskiller det fra aktuelt kendte løsninger, dvs. —funktionalitet, gennem universaliteten af standardpladen, kan brugeren bruge en og samme standardplade i mange mikroskopiske enheder (ved hjælp af f.eks. lys- eller elektronstråle); —øget modstand af produktet over for eksterne faktorer, på grund af den indførte universalitet af pladen, skal det være modstandsdygtigt over for mange eksterne faktorer, hvor det vil blive anvendt, f.eks. temperatur, kemikalier eller stråling; —præcision af pladen, under produktionen, nanomarkører vil blive foretaget, hvilket giver mulighed for betydelig (selv efter en størrelsesorden) stigning i præcisionen af positioneringen af testpræparatet og forbedret kalibrering af mikroskoper til korrelationsbilleddannelse; derudover vil der også blive indført et system af nanomarkører på overfladen af det beskyttende greb i det korrelative observationssystem, hvilket gør det muligt væsentligt at øge præcisionen af placeringen af prøven, herunder kvantificering af afvigelsen af håndtagets ortogonalitet. —proceduren for fastsættelse og beregning af korrektionskoefficienter for stikprøvepositioner vil blive udviklet. Den nye løsning kan øge præcisionen af prøven positionering flere gange, eller endda ved en størrelsesorden. De nyskabelser, der indføres, vil resultere i en betydelig forbedring af hele systemets kvalitet k (Danish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Nummer_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 i bekendtgørelse af 10. juli 2015 fra ministeren for infrastruktur og udvikling om finansiel støtte fra det polske agentur for virksomhedsudvikling under det operationelle program for intelligent vækst 2014-2020. Projektet forudsætter udvikling og afprøvning af et nyt produkt — en nanokalibreringsreferenceplade (til systemet med korrelativ observation af overflader i mikro- og nanoskalaer og optimering af det korrelative observationssystem for samarbejde med de udviklede prøver). Det endelige produkt vil have innovative egenskaber, der adskiller det fra aktuelt kendte løsninger, dvs. —funktionalitet, gennem universaliteten af standardpladen, kan brugeren bruge en og samme standardplade i mange mikroskopiske enheder (ved hjælp af f.eks. lys- eller elektronstråle); —øget modstand af produktet over for eksterne faktorer, på grund af den indførte universalitet af pladen, skal det være modstandsdygtigt over for mange eksterne faktorer, hvor det vil blive anvendt, f.eks. temperatur, kemikalier eller stråling; —præcision af pladen, under produktionen, nanomarkører vil blive foretaget, hvilket giver mulighed for betydelig (selv efter en størrelsesorden) stigning i præcisionen af positioneringen af testpræparatet og forbedret kalibrering af mikroskoper til korrelationsbilleddannelse; derudover vil der også blive indført et system af nanomarkører på overfladen af det beskyttende greb i det korrelative observationssystem, hvilket gør det muligt væsentligt at øge præcisionen af placeringen af prøven, herunder kvantificering af afvigelsen af håndtagets ortogonalitet. —proceduren for fastsættelse og beregning af korrektionskoefficienter for stikprøvepositioner vil blive udviklet. Den nye løsning kan øge præcisionen af prøven positionering flere gange, eller endda ved en størrelsesorden. De nyskabelser, der indføres, vil resultere i en betydelig forbedring af hele systemets kvalitet k (Danish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Nummer_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 i bekendtgørelse af 10. juli 2015 fra ministeren for infrastruktur og udvikling om finansiel støtte fra det polske agentur for virksomhedsudvikling under det operationelle program for intelligent vækst 2014-2020. Projektet forudsætter udvikling og afprøvning af et nyt produkt — en nanokalibreringsreferenceplade (til systemet med korrelativ observation af overflader i mikro- og nanoskalaer og optimering af det korrelative observationssystem for samarbejde med de udviklede prøver). Det endelige produkt vil have innovative egenskaber, der adskiller det fra aktuelt kendte løsninger, dvs. —funktionalitet, gennem universaliteten af standardpladen, kan brugeren bruge en og samme standardplade i mange mikroskopiske enheder (ved hjælp af f.eks. lys- eller elektronstråle); —øget modstand af produktet over for eksterne faktorer, på grund af den indførte universalitet af pladen, skal det være modstandsdygtigt over for mange eksterne faktorer, hvor det vil blive anvendt, f.eks. temperatur, kemikalier eller stråling; —præcision af pladen, under produktionen, nanomarkører vil blive foretaget, hvilket giver mulighed for betydelig (selv efter en størrelsesorden) stigning i præcisionen af positioneringen af testpræparatet og forbedret kalibrering af mikroskoper til korrelationsbilleddannelse; derudover vil der også blive indført et system af nanomarkører på overfladen af det beskyttende greb i det korrelative observationssystem, hvilket gør det muligt væsentligt at øge præcisionen af placeringen af prøven, herunder kvantificering af afvigelsen af håndtagets ortogonalitet. —proceduren for fastsættelse og beregning af korrektionskoefficienter for stikprøvepositioner vil blive udviklet. Den nye løsning kan øge præcisionen af prøven positionering flere gange, eller endda ved en størrelsesorden. De nyskabelser, der indføres, vil resultere i en betydelig forbedring af hele systemets kvalitet k (Danish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_πρόγραμμα: SA.42799(2015/X), ενίσχυση_de_minimis: Άρθρο 42 του Κανονισμού του Υπουργού Υποδομών και Ανάπτυξης της 10ης Ιουλίου 2015 σχετικά με τη χορήγηση χρηματοδοτικής συνδρομής από τον Πολωνικό Οργανισμό για την Ανάπτυξη Επιχειρήσεων στο πλαίσιο του Επιχειρησιακού Προγράμματος Έξυπνης Ανάπτυξης 2014-2020.Το έργο προϋποθέτει την ανάπτυξη και δοκιμή νέου προϊόντος — πλάκας αναφοράς νανοβαθμονόμησης (για το σύστημα της συσχετικής παρατήρησης επιφανειών σε μικρο- και νανοκλίμακες και της βελτιστοποίησης του συσχετικού συστήματος παρατήρησης για τη συνεργασία με τα δείγματα που αναπτύχθηκαν). Το τελικό προϊόν θα έχει καινοτόμα χαρακτηριστικά που θα το διακρίνουν από τις επί του παρόντος γνωστές λύσεις, π.χ. —λειτουργικότητα, μέσω της καθολικότητας της τυποποιημένης πλάκας, ο χρήστης μπορεί να χρησιμοποιήσει ένα και το αυτό τυποποιημένο πιάτο σε πολλές μικροσκοπικές συσκευές (χρησιμοποιώντας π.χ. δέσμη φωτός ή ηλεκτρονίων). —αυξημένη αντοχή του προϊόντος σε εξωτερικούς παράγοντες, λόγω της καθολικότητας της πλάκας, πρέπει να είναι ανθεκτική σε πολλούς εξωτερικούς παράγοντες στους οποίους θα χρησιμοποιηθεί, π.χ. θερμοκρασία, χημικές ουσίες ή ακτινοβολία· —ακριβότητα της πλάκας, κατά τη διάρκεια της παραγωγής, νανοδείκτες, οι οποίοι επιτρέπουν σημαντική (ακόμη και κατά τάξη μεγέθους) αύξηση της ακρίβειας της τοποθέτησης του παρασκευάσματος της δοκιμής και βελτιωμένη βαθμονόμηση των μικροσκόπιων για απεικόνιση συσχέτισης· επιπλέον, θα εισαχθεί επίσης ένα σύστημα νανοδεικτών στην επιφάνεια της προστατευτικής πρόσφυσης του συσχετικού συστήματος παρατήρησης, επιτρέποντας τη σημαντική αύξηση της ακρίβειας της θέσης του δείγματος, συμπεριλαμβανομένου του ποσοτικού προσδιορισμού της απόκλισης της ορθογονικότητας της ρύθμισης της λαβής. —θα αναπτυχθεί η διαδικασία για τον καθορισμό και τον υπολογισμό των διορθωτικών συντελεστών προσδιορισμού του στίγματος του δείγματος. Η νέα λύση μπορεί να αυξήσει την ακρίβεια της τοποθέτησης του δείγματος αρκετές φορές, ή ακόμη και με μια τάξη μεγέθους. Οι καινοτομίες που εισάγονται θα οδηγήσουν σε σημαντική βελτίωση της ποιότητας ολόκληρου του συστήματος k (Greek) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_πρόγραμμα: SA.42799(2015/X), ενίσχυση_de_minimis: Άρθρο 42 του Κανονισμού του Υπουργού Υποδομών και Ανάπτυξης της 10ης Ιουλίου 2015 σχετικά με τη χορήγηση χρηματοδοτικής συνδρομής από τον Πολωνικό Οργανισμό για την Ανάπτυξη Επιχειρήσεων στο πλαίσιο του Επιχειρησιακού Προγράμματος Έξυπνης Ανάπτυξης 2014-2020.Το έργο προϋποθέτει την ανάπτυξη και δοκιμή νέου προϊόντος — πλάκας αναφοράς νανοβαθμονόμησης (για το σύστημα της συσχετικής παρατήρησης επιφανειών σε μικρο- και νανοκλίμακες και της βελτιστοποίησης του συσχετικού συστήματος παρατήρησης για τη συνεργασία με τα δείγματα που αναπτύχθηκαν). Το τελικό προϊόν θα έχει καινοτόμα χαρακτηριστικά που θα το διακρίνουν από τις επί του παρόντος γνωστές λύσεις, π.χ. —λειτουργικότητα, μέσω της καθολικότητας της τυποποιημένης πλάκας, ο χρήστης μπορεί να χρησιμοποιήσει ένα και το αυτό τυποποιημένο πιάτο σε πολλές μικροσκοπικές συσκευές (χρησιμοποιώντας π.χ. δέσμη φωτός ή ηλεκτρονίων). —αυξημένη αντοχή του προϊόντος σε εξωτερικούς παράγοντες, λόγω της καθολικότητας της πλάκας, πρέπει να είναι ανθεκτική σε πολλούς εξωτερικούς παράγοντες στους οποίους θα χρησιμοποιηθεί, π.χ. θερμοκρασία, χημικές ουσίες ή ακτινοβολία· —ακριβότητα της πλάκας, κατά τη διάρκεια της παραγωγής, νανοδείκτες, οι οποίοι επιτρέπουν σημαντική (ακόμη και κατά τάξη μεγέθους) αύξηση της ακρίβειας της τοποθέτησης του παρασκευάσματος της δοκιμής και βελτιωμένη βαθμονόμηση των μικροσκόπιων για απεικόνιση συσχέτισης· επιπλέον, θα εισαχθεί επίσης ένα σύστημα νανοδεικτών στην επιφάνεια της προστατευτικής πρόσφυσης του συσχετικού συστήματος παρατήρησης, επιτρέποντας τη σημαντική αύξηση της ακρίβειας της θέσης του δείγματος, συμπεριλαμβανομένου του ποσοτικού προσδιορισμού της απόκλισης της ορθογονικότητας της ρύθμισης της λαβής. —θα αναπτυχθεί η διαδικασία για τον καθορισμό και τον υπολογισμό των διορθωτικών συντελεστών προσδιορισμού του στίγματος του δείγματος. Η νέα λύση μπορεί να αυξήσει την ακρίβεια της τοποθέτησης του δείγματος αρκετές φορές, ή ακόμη και με μια τάξη μεγέθους. Οι καινοτομίες που εισάγονται θα οδηγήσουν σε σημαντική βελτίωση της ποιότητας ολόκληρου του συστήματος k (Greek) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_πρόγραμμα: SA.42799(2015/X), ενίσχυση_de_minimis: Άρθρο 42 του Κανονισμού του Υπουργού Υποδομών και Ανάπτυξης της 10ης Ιουλίου 2015 σχετικά με τη χορήγηση χρηματοδοτικής συνδρομής από τον Πολωνικό Οργανισμό για την Ανάπτυξη Επιχειρήσεων στο πλαίσιο του Επιχειρησιακού Προγράμματος Έξυπνης Ανάπτυξης 2014-2020.Το έργο προϋποθέτει την ανάπτυξη και δοκιμή νέου προϊόντος — πλάκας αναφοράς νανοβαθμονόμησης (για το σύστημα της συσχετικής παρατήρησης επιφανειών σε μικρο- και νανοκλίμακες και της βελτιστοποίησης του συσχετικού συστήματος παρατήρησης για τη συνεργασία με τα δείγματα που αναπτύχθηκαν). Το τελικό προϊόν θα έχει καινοτόμα χαρακτηριστικά που θα το διακρίνουν από τις επί του παρόντος γνωστές λύσεις, π.χ. —λειτουργικότητα, μέσω της καθολικότητας της τυποποιημένης πλάκας, ο χρήστης μπορεί να χρησιμοποιήσει ένα και το αυτό τυποποιημένο πιάτο σε πολλές μικροσκοπικές συσκευές (χρησιμοποιώντας π.χ. δέσμη φωτός ή ηλεκτρονίων). —αυξημένη αντοχή του προϊόντος σε εξωτερικούς παράγοντες, λόγω της καθολικότητας της πλάκας, πρέπει να είναι ανθεκτική σε πολλούς εξωτερικούς παράγοντες στους οποίους θα χρησιμοποιηθεί, π.χ. θερμοκρασία, χημικές ουσίες ή ακτινοβολία· —ακριβότητα της πλάκας, κατά τη διάρκεια της παραγωγής, νανοδείκτες, οι οποίοι επιτρέπουν σημαντική (ακόμη και κατά τάξη μεγέθους) αύξηση της ακρίβειας της τοποθέτησης του παρασκευάσματος της δοκιμής και βελτιωμένη βαθμονόμηση των μικροσκόπιων για απεικόνιση συσχέτισης· επιπλέον, θα εισαχθεί επίσης ένα σύστημα νανοδεικτών στην επιφάνεια της προστατευτικής πρόσφυσης του συσχετικού συστήματος παρατήρησης, επιτρέποντας τη σημαντική αύξηση της ακρίβειας της θέσης του δείγματος, συμπεριλαμβανομένου του ποσοτικού προσδιορισμού της απόκλισης της ορθογονικότητας της ρύθμισης της λαβής. —θα αναπτυχθεί η διαδικασία για τον καθορισμό και τον υπολογισμό των διορθωτικών συντελεστών προσδιορισμού του στίγματος του δείγματος. Η νέα λύση μπορεί να αυξήσει την ακρίβεια της τοποθέτησης του δείγματος αρκετές φορές, ή ακόμη και με μια τάξη μεγέθους. Οι καινοτομίες που εισάγονται θα οδηγήσουν σε σημαντική βελτίωση της ποιότητας ολόκληρου του συστήματος k (Greek) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 Uredbe ministra infrastrukture i razvoja od 10. srpnja 2015. o dodjeli financijske pomoći od strane poljske agencije za razvoj poduzetništva u okviru Operativnog programa za pametan rast 2014. – 2020. Projekt pretpostavlja razvoj i ispitivanje novog proizvoda – referentne ploče nanokalibracije (za sustav korelativnog promatranja površina u mikro- i nanoljesticama te optimizaciju sustava korelativnog promatranja za suradnju s razvijenim uzorcima). Konačni proizvod imat će inovativne značajke koje ga razlikuju od trenutačno poznatih rješenja, tj. —funkcionalnost, zahvaljujući univerzalnosti standardne ploče, korisnik može koristiti jednu te istu standardnu ploču u mnogim mikroskopskim uređajima (npr. svjetlosnim snopom ili snopom elektrona); —povećana otpornost proizvoda na vanjske čimbenike, zbog uvedene univerzalnosti ploče, mora biti otporna na mnoge vanjske čimbenike u kojima će se koristiti, npr. temperaturu, kemikalije ili zračenje; —preciznost ploče, tijekom proizvodnje, napravit će se nanomarkeri koji omogućuju značajno (čak i redoslijedom veličine) povećanje preciznosti pozicioniranja pripravka ispitivanja i poboljšanu kalibraciju mikroskopa za korelacijsko snimanje; osim toga, na površini zaštitnog prianjanja sustava za korelativno promatranje uvodi se i sustav nanomarkera, čime će se znatno povećati preciznost pozicioniranja uzorka, uključujući kvantifikaciju odstupanja ortogonalnosti namještanja ručke. —razvit će se postupak za postavljanje i izračun korekcijskih koeficijenata pozicioniranja uzorka. Novo rješenje može povećati preciznost pozicioniranja uzorka nekoliko puta, pa čak i redoslijedom veličine. Uvedene inovacije rezultirat će značajnim poboljšanjem kvalitete cijelog sustava k (Croatian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 Uredbe ministra infrastrukture i razvoja od 10. srpnja 2015. o dodjeli financijske pomoći od strane poljske agencije za razvoj poduzetništva u okviru Operativnog programa za pametan rast 2014. – 2020. Projekt pretpostavlja razvoj i ispitivanje novog proizvoda – referentne ploče nanokalibracije (za sustav korelativnog promatranja površina u mikro- i nanoljesticama te optimizaciju sustava korelativnog promatranja za suradnju s razvijenim uzorcima). Konačni proizvod imat će inovativne značajke koje ga razlikuju od trenutačno poznatih rješenja, tj. —funkcionalnost, zahvaljujući univerzalnosti standardne ploče, korisnik može koristiti jednu te istu standardnu ploču u mnogim mikroskopskim uređajima (npr. svjetlosnim snopom ili snopom elektrona); —povećana otpornost proizvoda na vanjske čimbenike, zbog uvedene univerzalnosti ploče, mora biti otporna na mnoge vanjske čimbenike u kojima će se koristiti, npr. temperaturu, kemikalije ili zračenje; —preciznost ploče, tijekom proizvodnje, napravit će se nanomarkeri koji omogućuju značajno (čak i redoslijedom veličine) povećanje preciznosti pozicioniranja pripravka ispitivanja i poboljšanu kalibraciju mikroskopa za korelacijsko snimanje; osim toga, na površini zaštitnog prianjanja sustava za korelativno promatranje uvodi se i sustav nanomarkera, čime će se znatno povećati preciznost pozicioniranja uzorka, uključujući kvantifikaciju odstupanja ortogonalnosti namještanja ručke. —razvit će se postupak za postavljanje i izračun korekcijskih koeficijenata pozicioniranja uzorka. Novo rješenje može povećati preciznost pozicioniranja uzorka nekoliko puta, pa čak i redoslijedom veličine. Uvedene inovacije rezultirat će značajnim poboljšanjem kvalitete cijelog sustava k (Croatian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 Uredbe ministra infrastrukture i razvoja od 10. srpnja 2015. o dodjeli financijske pomoći od strane poljske agencije za razvoj poduzetništva u okviru Operativnog programa za pametan rast 2014. – 2020. Projekt pretpostavlja razvoj i ispitivanje novog proizvoda – referentne ploče nanokalibracije (za sustav korelativnog promatranja površina u mikro- i nanoljesticama te optimizaciju sustava korelativnog promatranja za suradnju s razvijenim uzorcima). Konačni proizvod imat će inovativne značajke koje ga razlikuju od trenutačno poznatih rješenja, tj. —funkcionalnost, zahvaljujući univerzalnosti standardne ploče, korisnik može koristiti jednu te istu standardnu ploču u mnogim mikroskopskim uređajima (npr. svjetlosnim snopom ili snopom elektrona); —povećana otpornost proizvoda na vanjske čimbenike, zbog uvedene univerzalnosti ploče, mora biti otporna na mnoge vanjske čimbenike u kojima će se koristiti, npr. temperaturu, kemikalije ili zračenje; —preciznost ploče, tijekom proizvodnje, napravit će se nanomarkeri koji omogućuju značajno (čak i redoslijedom veličine) povećanje preciznosti pozicioniranja pripravka ispitivanja i poboljšanu kalibraciju mikroskopa za korelacijsko snimanje; osim toga, na površini zaštitnog prianjanja sustava za korelativno promatranje uvodi se i sustav nanomarkera, čime će se znatno povećati preciznost pozicioniranja uzorka, uključujući kvantifikaciju odstupanja ortogonalnosti namještanja ručke. —razvit će se postupak za postavljanje i izračun korekcijskih koeficijenata pozicioniranja uzorka. Novo rješenje može povećati preciznost pozicioniranja uzorka nekoliko puta, pa čak i redoslijedom veličine. Uvedene inovacije rezultirat će značajnim poboljšanjem kvalitete cijelog sustava k (Croatian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 din Regulamentul Ministrului Infrastructurii și Dezvoltării din 10 iulie 2015 privind acordarea de asistență financiară de către Agenția poloneză pentru dezvoltarea întreprinderilor în cadrul Programului Operațional Creștere Inteligentă 2014-2020.Proiectul presupune dezvoltarea și testarea unui nou produs – o placă de referință pentru nanocalibrare (pentru sistemul de observare corelativă a suprafețelor în micro- și nanoscale și optimizarea sistemului de observare corelativă pentru cooperarea cu eșantioanele dezvoltate). Produsul final va avea caracteristici inovatoare care îl diferențiază de soluțiile cunoscute în prezent, și anume. —funcționalitatea, prin universalitatea plăcii standard, utilizatorul poate utiliza una și aceeași placă standard în multe dispozitive microscopice (utilizând, de exemplu, lumina sau fasciculul de electroni); rezistența crescută a produsului la factorii externi, datorită universalității introduse a plăcii, trebuie să fie rezistentă la mulți factori externi în care va fi utilizat, de exemplu temperatura, substanțele chimice sau radiațiile; —precizia plăcii, în timpul producției, se vor realiza nanomarkeri, care permit o creștere semnificativă (chiar și printr-un ordin de mărime) a preciziei de poziționare a pregătirii încercării și o calibrare îmbunătățită a microscoapelor pentru imagistica de corelare; în plus, se va introduce, de asemenea, un sistem de nanomarkeri pe suprafața mânerului protector al sistemului de observare corelativă, permițând creșterea semnificativă a preciziei poziționării eșantionului, inclusiv cuantificarea abaterii ortogonalității reglării mânerului. —se va elabora procedura de stabilire și calculare a coeficienților corectori de poziționare a eșantioanelor. Noua soluție poate crește precizia poziționării eșantionului de mai multe ori sau chiar printr-un ordin de mărime. Inovațiile introduse vor avea ca rezultat o îmbunătățire semnificativă a calității întregului sistem k (Romanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 din Regulamentul Ministrului Infrastructurii și Dezvoltării din 10 iulie 2015 privind acordarea de asistență financiară de către Agenția poloneză pentru dezvoltarea întreprinderilor în cadrul Programului Operațional Creștere Inteligentă 2014-2020.Proiectul presupune dezvoltarea și testarea unui nou produs – o placă de referință pentru nanocalibrare (pentru sistemul de observare corelativă a suprafețelor în micro- și nanoscale și optimizarea sistemului de observare corelativă pentru cooperarea cu eșantioanele dezvoltate). Produsul final va avea caracteristici inovatoare care îl diferențiază de soluțiile cunoscute în prezent, și anume. —funcționalitatea, prin universalitatea plăcii standard, utilizatorul poate utiliza una și aceeași placă standard în multe dispozitive microscopice (utilizând, de exemplu, lumina sau fasciculul de electroni); rezistența crescută a produsului la factorii externi, datorită universalității introduse a plăcii, trebuie să fie rezistentă la mulți factori externi în care va fi utilizat, de exemplu temperatura, substanțele chimice sau radiațiile; —precizia plăcii, în timpul producției, se vor realiza nanomarkeri, care permit o creștere semnificativă (chiar și printr-un ordin de mărime) a preciziei de poziționare a pregătirii încercării și o calibrare îmbunătățită a microscoapelor pentru imagistica de corelare; în plus, se va introduce, de asemenea, un sistem de nanomarkeri pe suprafața mânerului protector al sistemului de observare corelativă, permițând creșterea semnificativă a preciziei poziționării eșantionului, inclusiv cuantificarea abaterii ortogonalității reglării mânerului. —se va elabora procedura de stabilire și calculare a coeficienților corectori de poziționare a eșantioanelor. Noua soluție poate crește precizia poziționării eșantionului de mai multe ori sau chiar printr-un ordin de mărime. Inovațiile introduse vor avea ca rezultat o îmbunătățire semnificativă a calității întregului sistem k (Romanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 din Regulamentul Ministrului Infrastructurii și Dezvoltării din 10 iulie 2015 privind acordarea de asistență financiară de către Agenția poloneză pentru dezvoltarea întreprinderilor în cadrul Programului Operațional Creștere Inteligentă 2014-2020.Proiectul presupune dezvoltarea și testarea unui nou produs – o placă de referință pentru nanocalibrare (pentru sistemul de observare corelativă a suprafețelor în micro- și nanoscale și optimizarea sistemului de observare corelativă pentru cooperarea cu eșantioanele dezvoltate). Produsul final va avea caracteristici inovatoare care îl diferențiază de soluțiile cunoscute în prezent, și anume. —funcționalitatea, prin universalitatea plăcii standard, utilizatorul poate utiliza una și aceeași placă standard în multe dispozitive microscopice (utilizând, de exemplu, lumina sau fasciculul de electroni); rezistența crescută a produsului la factorii externi, datorită universalității introduse a plăcii, trebuie să fie rezistentă la mulți factori externi în care va fi utilizat, de exemplu temperatura, substanțele chimice sau radiațiile; —precizia plăcii, în timpul producției, se vor realiza nanomarkeri, care permit o creștere semnificativă (chiar și printr-un ordin de mărime) a preciziei de poziționare a pregătirii încercării și o calibrare îmbunătățită a microscoapelor pentru imagistica de corelare; în plus, se va introduce, de asemenea, un sistem de nanomarkeri pe suprafața mânerului protector al sistemului de observare corelativă, permițând creșterea semnificativă a preciziei poziționării eșantionului, inclusiv cuantificarea abaterii ortogonalității reglării mânerului. —se va elabora procedura de stabilire și calculare a coeficienților corectori de poziționare a eșantioanelor. Noua soluție poate crește precizia poziționării eșantionului de mai multe ori sau chiar printr-un ordin de mărime. Inovațiile introduse vor avea ca rezultat o îmbunătățire semnificativă a calității întregului sistem k (Romanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: § 42 Nariadenia ministra infraštruktúry a rozvoja z 10. júla 2015 o poskytnutí finančnej pomoci Poľskej agentúry pre rozvoj podnikania v rámci operačného programu Inteligentný rast na roky 2014 – 2020. Projekt predpokladá vývoj a testovanie nového produktu – nanokalibračnej referenčnej platne (pre systém korelatívneho pozorovania povrchov v mikro- a nanoúrovni a optimalizáciu systému korelatívneho pozorovania pre spoluprácu s vyvinutými vzorkami). Finálny produkt bude mať inovatívne vlastnosti, ktoré ho odlišujú od aktuálne známych riešení, t. j. —funkčnosť, prostredníctvom univerzálnosti štandardnej dosky, môže používateľ použiť jednu a tú istú štandardnú dosku v mnohých mikroskopických zariadeniach (napr. pomocou svetelného alebo elektrónového lúča); —zvýšená odolnosť výrobku voči vonkajším faktorom, v dôsledku zavedenia univerzálnosti dosky, musí byť odolný voči mnohým vonkajším faktorom, v ktorých sa bude používať, napr. teplote, chemikáliám alebo žiareniu; —presnosť dosky počas výroby sa vykonajú nanomarkery, ktoré umožňujú výrazné (aj v rádovom poradí) zvýšenie presnosti polohovania testovacej prípravy a zlepšenú kalibráciu mikroskopov pre korelačné zobrazovanie; okrem toho sa na povrchu ochrannej priľnavosti korelatívneho pozorovacieho systému zavedie aj systém nanomarkerov, čo umožní výrazne zvýšiť presnosť polohovania vzorky vrátane kvantifikácie odchýlky ortogonality nastavenia rukoväte. —vyvinie sa postup na nastavenie a výpočet korekčných koeficientov určovania polohy vzorky. Nové riešenie môže zvýšiť presnosť polohovania vzorky niekoľkokrát, alebo dokonca rádovo. Zavedené inovácie budú mať za následok výrazné zlepšenie kvality celého systému k (Slovak) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: § 42 Nariadenia ministra infraštruktúry a rozvoja z 10. júla 2015 o poskytnutí finančnej pomoci Poľskej agentúry pre rozvoj podnikania v rámci operačného programu Inteligentný rast na roky 2014 – 2020. Projekt predpokladá vývoj a testovanie nového produktu – nanokalibračnej referenčnej platne (pre systém korelatívneho pozorovania povrchov v mikro- a nanoúrovni a optimalizáciu systému korelatívneho pozorovania pre spoluprácu s vyvinutými vzorkami). Finálny produkt bude mať inovatívne vlastnosti, ktoré ho odlišujú od aktuálne známych riešení, t. j. —funkčnosť, prostredníctvom univerzálnosti štandardnej dosky, môže používateľ použiť jednu a tú istú štandardnú dosku v mnohých mikroskopických zariadeniach (napr. pomocou svetelného alebo elektrónového lúča); —zvýšená odolnosť výrobku voči vonkajším faktorom, v dôsledku zavedenia univerzálnosti dosky, musí byť odolný voči mnohým vonkajším faktorom, v ktorých sa bude používať, napr. teplote, chemikáliám alebo žiareniu; —presnosť dosky počas výroby sa vykonajú nanomarkery, ktoré umožňujú výrazné (aj v rádovom poradí) zvýšenie presnosti polohovania testovacej prípravy a zlepšenú kalibráciu mikroskopov pre korelačné zobrazovanie; okrem toho sa na povrchu ochrannej priľnavosti korelatívneho pozorovacieho systému zavedie aj systém nanomarkerov, čo umožní výrazne zvýšiť presnosť polohovania vzorky vrátane kvantifikácie odchýlky ortogonality nastavenia rukoväte. —vyvinie sa postup na nastavenie a výpočet korekčných koeficientov určovania polohy vzorky. Nové riešenie môže zvýšiť presnosť polohovania vzorky niekoľkokrát, alebo dokonca rádovo. Zavedené inovácie budú mať za následok výrazné zlepšenie kvality celého systému k (Slovak) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: § 42 Nariadenia ministra infraštruktúry a rozvoja z 10. júla 2015 o poskytnutí finančnej pomoci Poľskej agentúry pre rozvoj podnikania v rámci operačného programu Inteligentný rast na roky 2014 – 2020. Projekt predpokladá vývoj a testovanie nového produktu – nanokalibračnej referenčnej platne (pre systém korelatívneho pozorovania povrchov v mikro- a nanoúrovni a optimalizáciu systému korelatívneho pozorovania pre spoluprácu s vyvinutými vzorkami). Finálny produkt bude mať inovatívne vlastnosti, ktoré ho odlišujú od aktuálne známych riešení, t. j. —funkčnosť, prostredníctvom univerzálnosti štandardnej dosky, môže používateľ použiť jednu a tú istú štandardnú dosku v mnohých mikroskopických zariadeniach (napr. pomocou svetelného alebo elektrónového lúča); —zvýšená odolnosť výrobku voči vonkajším faktorom, v dôsledku zavedenia univerzálnosti dosky, musí byť odolný voči mnohým vonkajším faktorom, v ktorých sa bude používať, napr. teplote, chemikáliám alebo žiareniu; —presnosť dosky počas výroby sa vykonajú nanomarkery, ktoré umožňujú výrazné (aj v rádovom poradí) zvýšenie presnosti polohovania testovacej prípravy a zlepšenú kalibráciu mikroskopov pre korelačné zobrazovanie; okrem toho sa na povrchu ochrannej priľnavosti korelatívneho pozorovacieho systému zavedie aj systém nanomarkerov, čo umožní výrazne zvýšiť presnosť polohovania vzorky vrátane kvantifikácie odchýlky ortogonality nastavenia rukoväte. —vyvinie sa postup na nastavenie a výpočet korekčných koeficientov určovania polohy vzorky. Nové riešenie môže zvýšiť presnosť polohovania vzorky niekoľkokrát, alebo dokonca rádovo. Zavedené inovácie budú mať za následok výrazné zlepšenie kvality celého systému k (Slovak) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programm: SA.42799(2015/X), għajnuna_de_minimis: §42 tar-Regolament tal-Ministru għall-Infrastruttura u l-Iżvilupp tal-10 ta’ Lulju 2015 dwar l-għoti ta’ assistenza finanzjarja mill-Aġenzija Pollakka għall-Iżvilupp tal-Intrapriżi taħt il-Programm Operazzjonali dwar it-Tkabbir Intelliġenti 2014–2020. Il-proġett jassumi l-iżvilupp u l-ittestjar ta’ prodott ġdid — pjanċa ta’ referenza tan-nanokalibrazzjoni (għas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva ta’ uċuħ f’mikroskali u nanoskali u l-ottimizzazzjoni tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva għall-kooperazzjoni mal-kampjuni żviluppati). Il-prodott finali se jkollu karatteristiċi innovattivi li jiddistingwuh minn soluzzjonijiet attwalment magħrufa, jiġifieri —funzjonalità, permezz tal-universalità tal-pjanċa standard, l-utent jista’ juża l-istess pjanċa standard f’ħafna apparati mikroskopiċi (bl-użu ta’ eż. dawl jew raġġ tal-elettroni); —reżistenza akbar tal-prodott għal fatturi esterni, minħabba l-universalità introdotta tal-pjanċa, trid tkun reżistenti għal ħafna fatturi esterni li fihom se tintuża, eż. it-temperatura, il-kimiċi jew ir-radjazzjoni; —il-preċiżjoni tal-pjanċa, matul il-produzzjoni, se jsiru nanomarkaturi, li jippermettu żieda sinifikanti (anki b’ordni ta’ kobor) fil-preċiżjoni tal-ippożizzjonar tal-preparazzjoni tat-test u kalibrazzjoni mtejba tal-mikroskopji għall-immaġni ta’ korrelazzjoni; barra minn hekk, se tiġi introdotta wkoll sistema ta’ nanomarkaturi fuq il-wiċċ tal-qabda protettiva tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva, li tippermetti li tiżdied b’mod sinifikanti l-preċiżjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun, inkluż il-kwantifikazzjoni tad-devjazzjoni tal-ortogonalità tas-setting tal-manku. —il-proċedura għall-iffissar u l-kalkolu tal-koeffiċjenti ta’ korrezzjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun se tiġi żviluppata. Is-soluzzjoni l-ġdida tista ‘żżid il-preċiżjoni tal-pożizzjoni tal-kampjun diversi drabi, jew saħansitra b’ordni ta’ kobor. L-innovazzjonijiet introdotti se jirriżultaw f’titjib sinifikanti fil-kwalità tas-sistema kollha k (Maltese) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programm: SA.42799(2015/X), għajnuna_de_minimis: §42 tar-Regolament tal-Ministru għall-Infrastruttura u l-Iżvilupp tal-10 ta’ Lulju 2015 dwar l-għoti ta’ assistenza finanzjarja mill-Aġenzija Pollakka għall-Iżvilupp tal-Intrapriżi taħt il-Programm Operazzjonali dwar it-Tkabbir Intelliġenti 2014–2020. Il-proġett jassumi l-iżvilupp u l-ittestjar ta’ prodott ġdid — pjanċa ta’ referenza tan-nanokalibrazzjoni (għas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva ta’ uċuħ f’mikroskali u nanoskali u l-ottimizzazzjoni tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva għall-kooperazzjoni mal-kampjuni żviluppati). Il-prodott finali se jkollu karatteristiċi innovattivi li jiddistingwuh minn soluzzjonijiet attwalment magħrufa, jiġifieri —funzjonalità, permezz tal-universalità tal-pjanċa standard, l-utent jista’ juża l-istess pjanċa standard f’ħafna apparati mikroskopiċi (bl-użu ta’ eż. dawl jew raġġ tal-elettroni); —reżistenza akbar tal-prodott għal fatturi esterni, minħabba l-universalità introdotta tal-pjanċa, trid tkun reżistenti għal ħafna fatturi esterni li fihom se tintuża, eż. it-temperatura, il-kimiċi jew ir-radjazzjoni; —il-preċiżjoni tal-pjanċa, matul il-produzzjoni, se jsiru nanomarkaturi, li jippermettu żieda sinifikanti (anki b’ordni ta’ kobor) fil-preċiżjoni tal-ippożizzjonar tal-preparazzjoni tat-test u kalibrazzjoni mtejba tal-mikroskopji għall-immaġni ta’ korrelazzjoni; barra minn hekk, se tiġi introdotta wkoll sistema ta’ nanomarkaturi fuq il-wiċċ tal-qabda protettiva tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva, li tippermetti li tiżdied b’mod sinifikanti l-preċiżjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun, inkluż il-kwantifikazzjoni tad-devjazzjoni tal-ortogonalità tas-setting tal-manku. —il-proċedura għall-iffissar u l-kalkolu tal-koeffiċjenti ta’ korrezzjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun se tiġi żviluppata. Is-soluzzjoni l-ġdida tista ‘żżid il-preċiżjoni tal-pożizzjoni tal-kampjun diversi drabi, jew saħansitra b’ordni ta’ kobor. L-innovazzjonijiet introdotti se jirriżultaw f’titjib sinifikanti fil-kwalità tas-sistema kollha k (Maltese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programm: SA.42799(2015/X), għajnuna_de_minimis: §42 tar-Regolament tal-Ministru għall-Infrastruttura u l-Iżvilupp tal-10 ta’ Lulju 2015 dwar l-għoti ta’ assistenza finanzjarja mill-Aġenzija Pollakka għall-Iżvilupp tal-Intrapriżi taħt il-Programm Operazzjonali dwar it-Tkabbir Intelliġenti 2014–2020. Il-proġett jassumi l-iżvilupp u l-ittestjar ta’ prodott ġdid — pjanċa ta’ referenza tan-nanokalibrazzjoni (għas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva ta’ uċuħ f’mikroskali u nanoskali u l-ottimizzazzjoni tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva għall-kooperazzjoni mal-kampjuni żviluppati). Il-prodott finali se jkollu karatteristiċi innovattivi li jiddistingwuh minn soluzzjonijiet attwalment magħrufa, jiġifieri —funzjonalità, permezz tal-universalità tal-pjanċa standard, l-utent jista’ juża l-istess pjanċa standard f’ħafna apparati mikroskopiċi (bl-użu ta’ eż. dawl jew raġġ tal-elettroni); —reżistenza akbar tal-prodott għal fatturi esterni, minħabba l-universalità introdotta tal-pjanċa, trid tkun reżistenti għal ħafna fatturi esterni li fihom se tintuża, eż. it-temperatura, il-kimiċi jew ir-radjazzjoni; —il-preċiżjoni tal-pjanċa, matul il-produzzjoni, se jsiru nanomarkaturi, li jippermettu żieda sinifikanti (anki b’ordni ta’ kobor) fil-preċiżjoni tal-ippożizzjonar tal-preparazzjoni tat-test u kalibrazzjoni mtejba tal-mikroskopji għall-immaġni ta’ korrelazzjoni; barra minn hekk, se tiġi introdotta wkoll sistema ta’ nanomarkaturi fuq il-wiċċ tal-qabda protettiva tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva, li tippermetti li tiżdied b’mod sinifikanti l-preċiżjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun, inkluż il-kwantifikazzjoni tad-devjazzjoni tal-ortogonalità tas-setting tal-manku. —il-proċedura għall-iffissar u l-kalkolu tal-koeffiċjenti ta’ korrezzjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun se tiġi żviluppata. Is-soluzzjoni l-ġdida tista ‘żżid il-preċiżjoni tal-pożizzjoni tal-kampjun diversi drabi, jew saħansitra b’ordni ta’ kobor. L-innovazzjonijiet introdotti se jirriżultaw f’titjib sinifikanti fil-kwalità tas-sistema kollha k (Maltese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Número de referência do programa de ajuda: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Ponto 42 do Regulamento do Ministro das Infraestruturas e do Desenvolvimento, de 10 de julho de 2015, relativo à concessão de assistência financeira pela Agência Polaca para o Desenvolvimento Empresarial ao abrigo do Programa Operacional «Desenvolvimento Inteligente» 2014-2020. O projeto pressupõe o desenvolvimento e o ensaio de um novo produto – uma placa de calibração de nanocalibração (para o sistema correlacionado de observação da superfície em micro e nanoescalas e a otimização do sistema de observação de correlação para cooperar com as amostras desenvolvidas). O produto final terá características inovadoras que o distinguem das soluções atualmente conhecidas, ou seja, a funcionalidade, através da versatilidade da placa de referência, permite ao utilizador utilizar uma única placa de referência em muitos dispositivos microscópicos (utilizando, por exemplo, feixes de luz ou de eletrões); —aumento da resistência do produto a fatores externos, através da introdução da versatilidade da placa, deve ser resistente a muitos fatores externos em que será utilizado, por exemplo, temperatura, produtos químicos ou radiação; —a precisão da placa, em produção, será constituída por nanomarcadores, que permitem um aumento significativo (mesmo por ordem de tamanho) da precisão do posicionamento da preparação de ensaio e uma melhor calibração dos microscópios para a imagiologia de correlação; —além disso, será também introduzido um sistema de nanomarcadores na superfície do recife do cabo do sistema de observação da correlação, que permite aumentar significativamente a precisão do posicionamento da amostra, incluindo a quantificação do desvio da ortogonalidade do posicionamento do cabo. —será desenvolvido um procedimento para estabelecer e calcular os fatores de correção para o posicionamento da amostra. A nova solução pode aumentar a precisão de posicionar a amostra várias vezes, ou mesmo por uma ordem de magnitude. As inovações introduzidas resultarão numa melhoria significativa da qualidade de todo o sistema k (Portuguese) | |||||||||||||||
| Property / summary: Número de referência do programa de ajuda: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Ponto 42 do Regulamento do Ministro das Infraestruturas e do Desenvolvimento, de 10 de julho de 2015, relativo à concessão de assistência financeira pela Agência Polaca para o Desenvolvimento Empresarial ao abrigo do Programa Operacional «Desenvolvimento Inteligente» 2014-2020. O projeto pressupõe o desenvolvimento e o ensaio de um novo produto – uma placa de calibração de nanocalibração (para o sistema correlacionado de observação da superfície em micro e nanoescalas e a otimização do sistema de observação de correlação para cooperar com as amostras desenvolvidas). O produto final terá características inovadoras que o distinguem das soluções atualmente conhecidas, ou seja, a funcionalidade, através da versatilidade da placa de referência, permite ao utilizador utilizar uma única placa de referência em muitos dispositivos microscópicos (utilizando, por exemplo, feixes de luz ou de eletrões); —aumento da resistência do produto a fatores externos, através da introdução da versatilidade da placa, deve ser resistente a muitos fatores externos em que será utilizado, por exemplo, temperatura, produtos químicos ou radiação; —a precisão da placa, em produção, será constituída por nanomarcadores, que permitem um aumento significativo (mesmo por ordem de tamanho) da precisão do posicionamento da preparação de ensaio e uma melhor calibração dos microscópios para a imagiologia de correlação; —além disso, será também introduzido um sistema de nanomarcadores na superfície do recife do cabo do sistema de observação da correlação, que permite aumentar significativamente a precisão do posicionamento da amostra, incluindo a quantificação do desvio da ortogonalidade do posicionamento do cabo. —será desenvolvido um procedimento para estabelecer e calcular os fatores de correção para o posicionamento da amostra. A nova solução pode aumentar a precisão de posicionar a amostra várias vezes, ou mesmo por uma ordem de magnitude. As inovações introduzidas resultarão numa melhoria significativa da qualidade de todo o sistema k (Portuguese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Número de referência do programa de ajuda: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Ponto 42 do Regulamento do Ministro das Infraestruturas e do Desenvolvimento, de 10 de julho de 2015, relativo à concessão de assistência financeira pela Agência Polaca para o Desenvolvimento Empresarial ao abrigo do Programa Operacional «Desenvolvimento Inteligente» 2014-2020. O projeto pressupõe o desenvolvimento e o ensaio de um novo produto – uma placa de calibração de nanocalibração (para o sistema correlacionado de observação da superfície em micro e nanoescalas e a otimização do sistema de observação de correlação para cooperar com as amostras desenvolvidas). O produto final terá características inovadoras que o distinguem das soluções atualmente conhecidas, ou seja, a funcionalidade, através da versatilidade da placa de referência, permite ao utilizador utilizar uma única placa de referência em muitos dispositivos microscópicos (utilizando, por exemplo, feixes de luz ou de eletrões); —aumento da resistência do produto a fatores externos, através da introdução da versatilidade da placa, deve ser resistente a muitos fatores externos em que será utilizado, por exemplo, temperatura, produtos químicos ou radiação; —a precisão da placa, em produção, será constituída por nanomarcadores, que permitem um aumento significativo (mesmo por ordem de tamanho) da precisão do posicionamento da preparação de ensaio e uma melhor calibração dos microscópios para a imagiologia de correlação; —além disso, será também introduzido um sistema de nanomarcadores na superfície do recife do cabo do sistema de observação da correlação, que permite aumentar significativamente a precisão do posicionamento da amostra, incluindo a quantificação do desvio da ortogonalidade do posicionamento do cabo. —será desenvolvido um procedimento para estabelecer e calcular os fatores de correção para o posicionamento da amostra. A nova solução pode aumentar a precisão de posicionar a amostra várias vezes, ou mesmo por uma ordem de magnitude. As inovações introduzidas resultarão numa melhoria significativa da qualidade de todo o sistema k (Portuguese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_ohjelma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Puolan yrityskehitysviraston rahoitusavun myöntämisestä älykkään kasvun toimenpideohjelman 2014–2020 puitteissa 10 päivänä heinäkuuta 2015 annetun infrastruktuuri- ja kehitysministerin asetuksen 42 §. Hankkeen lähtökohtana on uuden tuotteen – nanokalibroinnin vertailulevyn – kehittäminen ja testaus (mikro- ja nanomittakaavoissa olevien pintojen korrelatiivista havainnointia ja korrelatiivisen havainnointijärjestelmän optimointia varten kehitettyjen näytteiden kanssa tehtävää yhteistyötä varten). Lopputuotteessa on innovatiivisia ominaisuuksia, jotka erottavat sen nykyisin tunnetuista ratkaisuista, ts. —toimivuus standardilevyn universaalisuuden ansiosta käyttäjä voi käyttää yhtä ja samaa standardilevyä monissa mikroskooppisissa laitteissa (esimerkiksi valo- tai elektronisuihkulla); —tuotteen lisääntynyt vastustuskyky ulkoisille tekijöille, koska levy on yleistynyt, sen on oltava vastustuskykyinen monille ulkoisille tekijöille, joissa sitä käytetään, kuten lämpötila, kemikaalit tai säteily; —levyn tarkkuus, tuotannon aikana, tehdään nanomarkkereita, jotka mahdollistavat merkittävän (jopa suuruusluokkaa) suuremman paikannuksen tarkkuuden testin valmistelussa ja mikroskooppien paremman kalibroinnin korrelaatiokuvauksessa; lisäksi otetaan käyttöön nanomarkkerijärjestelmä korrelatiivisen havainnointijärjestelmän suojaotteen pinnalle, mikä lisää merkittävästi näytteen asemoinnin tarkkuutta, mukaan lukien kahva-asetuksen ortogonaalisuuden poikkeaman kvantifiointi. —otantapaikannuskorjauskertoimien määrittämistä ja laskemista varten kehitetään menettely. Uusi ratkaisu voi lisätä näytteen asemoinnin tarkkuutta useita kertoja tai jopa suuruusluokkaa. Käyttöönotetut innovaatiot parantavat merkittävästi koko järjestelmän k laatua. (Finnish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_ohjelma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Puolan yrityskehitysviraston rahoitusavun myöntämisestä älykkään kasvun toimenpideohjelman 2014–2020 puitteissa 10 päivänä heinäkuuta 2015 annetun infrastruktuuri- ja kehitysministerin asetuksen 42 §. Hankkeen lähtökohtana on uuden tuotteen – nanokalibroinnin vertailulevyn – kehittäminen ja testaus (mikro- ja nanomittakaavoissa olevien pintojen korrelatiivista havainnointia ja korrelatiivisen havainnointijärjestelmän optimointia varten kehitettyjen näytteiden kanssa tehtävää yhteistyötä varten). Lopputuotteessa on innovatiivisia ominaisuuksia, jotka erottavat sen nykyisin tunnetuista ratkaisuista, ts. —toimivuus standardilevyn universaalisuuden ansiosta käyttäjä voi käyttää yhtä ja samaa standardilevyä monissa mikroskooppisissa laitteissa (esimerkiksi valo- tai elektronisuihkulla); —tuotteen lisääntynyt vastustuskyky ulkoisille tekijöille, koska levy on yleistynyt, sen on oltava vastustuskykyinen monille ulkoisille tekijöille, joissa sitä käytetään, kuten lämpötila, kemikaalit tai säteily; —levyn tarkkuus, tuotannon aikana, tehdään nanomarkkereita, jotka mahdollistavat merkittävän (jopa suuruusluokkaa) suuremman paikannuksen tarkkuuden testin valmistelussa ja mikroskooppien paremman kalibroinnin korrelaatiokuvauksessa; lisäksi otetaan käyttöön nanomarkkerijärjestelmä korrelatiivisen havainnointijärjestelmän suojaotteen pinnalle, mikä lisää merkittävästi näytteen asemoinnin tarkkuutta, mukaan lukien kahva-asetuksen ortogonaalisuuden poikkeaman kvantifiointi. —otantapaikannuskorjauskertoimien määrittämistä ja laskemista varten kehitetään menettely. Uusi ratkaisu voi lisätä näytteen asemoinnin tarkkuutta useita kertoja tai jopa suuruusluokkaa. Käyttöönotetut innovaatiot parantavat merkittävästi koko järjestelmän k laatua. (Finnish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_ohjelma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Puolan yrityskehitysviraston rahoitusavun myöntämisestä älykkään kasvun toimenpideohjelman 2014–2020 puitteissa 10 päivänä heinäkuuta 2015 annetun infrastruktuuri- ja kehitysministerin asetuksen 42 §. Hankkeen lähtökohtana on uuden tuotteen – nanokalibroinnin vertailulevyn – kehittäminen ja testaus (mikro- ja nanomittakaavoissa olevien pintojen korrelatiivista havainnointia ja korrelatiivisen havainnointijärjestelmän optimointia varten kehitettyjen näytteiden kanssa tehtävää yhteistyötä varten). Lopputuotteessa on innovatiivisia ominaisuuksia, jotka erottavat sen nykyisin tunnetuista ratkaisuista, ts. —toimivuus standardilevyn universaalisuuden ansiosta käyttäjä voi käyttää yhtä ja samaa standardilevyä monissa mikroskooppisissa laitteissa (esimerkiksi valo- tai elektronisuihkulla); —tuotteen lisääntynyt vastustuskyky ulkoisille tekijöille, koska levy on yleistynyt, sen on oltava vastustuskykyinen monille ulkoisille tekijöille, joissa sitä käytetään, kuten lämpötila, kemikaalit tai säteily; —levyn tarkkuus, tuotannon aikana, tehdään nanomarkkereita, jotka mahdollistavat merkittävän (jopa suuruusluokkaa) suuremman paikannuksen tarkkuuden testin valmistelussa ja mikroskooppien paremman kalibroinnin korrelaatiokuvauksessa; lisäksi otetaan käyttöön nanomarkkerijärjestelmä korrelatiivisen havainnointijärjestelmän suojaotteen pinnalle, mikä lisää merkittävästi näytteen asemoinnin tarkkuutta, mukaan lukien kahva-asetuksen ortogonaalisuuden poikkeaman kvantifiointi. —otantapaikannuskorjauskertoimien määrittämistä ja laskemista varten kehitetään menettely. Uusi ratkaisu voi lisätä näytteen asemoinnin tarkkuutta useita kertoja tai jopa suuruusluokkaa. Käyttöönotetut innovaatiot parantavat merkittävästi koko järjestelmän k laatua. (Finnish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Člen 42 uredbe ministra za infrastrukturo in razvoj z dne 10. julija 2015 o dodelitvi finančne pomoči poljske agencije za razvoj podjetništva v okviru operativnega programa za pametno rast 2014–2020.Projekt predvideva razvoj in preskušanje novega izdelka – nanokalibracijske referenčne plošče (za sistem korelativnega opazovanja površin v mikro- in nanoravni ter optimizacijo korelativnega sistema opazovanja za sodelovanje z razvitimi vzorci). Končni izdelek bo imel inovativne lastnosti, ki ga bodo razlikovale od trenutno znanih rešitev, tj. —funkcionalnost, z univerzalnostjo standardne plošče, lahko uporabnik uporablja eno in isto standardno ploščo v številnih mikroskopskih napravah (npr. z uporabo svetlobnega ali elektronskega žarka); —povečana odpornost izdelka na zunanje dejavnike, zaradi uvedene univerzalnosti plošče, mora biti odporna na številne zunanje dejavnike, pri katerih se bo uporabljal, npr. temperaturo, kemikalije ali sevanje; —natančnost plošče med proizvodnjo se izdela nanomarkerji, ki omogočajo znatno povečanje natančnosti pozicioniranja preskusne priprave (tudi po velikosti) in izboljšano kalibracijo mikroskopov za korelacijsko slikanje; poleg tega bo na površini zaščitnega oprijema korelativnega sistema za opazovanje uveden tudi sistem nanomarkerjev, kar bo omogočilo znatno povečanje natančnosti pozicioniranja vzorca, vključno s količinsko opredelitvijo odstopanja ortogonalnosti nastavitve ročaja. —postopek za nastavitev in izračun korekcijskih koeficientov pozicioniranja vzorca se bo razvil. Nova rešitev lahko večkrat poveča natančnost pozicioniranja vzorca ali celo po velikosti. Uvedene inovacije bodo znatno izboljšale kakovost celotnega sistema k (Slovenian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Člen 42 uredbe ministra za infrastrukturo in razvoj z dne 10. julija 2015 o dodelitvi finančne pomoči poljske agencije za razvoj podjetništva v okviru operativnega programa za pametno rast 2014–2020.Projekt predvideva razvoj in preskušanje novega izdelka – nanokalibracijske referenčne plošče (za sistem korelativnega opazovanja površin v mikro- in nanoravni ter optimizacijo korelativnega sistema opazovanja za sodelovanje z razvitimi vzorci). Končni izdelek bo imel inovativne lastnosti, ki ga bodo razlikovale od trenutno znanih rešitev, tj. —funkcionalnost, z univerzalnostjo standardne plošče, lahko uporabnik uporablja eno in isto standardno ploščo v številnih mikroskopskih napravah (npr. z uporabo svetlobnega ali elektronskega žarka); —povečana odpornost izdelka na zunanje dejavnike, zaradi uvedene univerzalnosti plošče, mora biti odporna na številne zunanje dejavnike, pri katerih se bo uporabljal, npr. temperaturo, kemikalije ali sevanje; —natančnost plošče med proizvodnjo se izdela nanomarkerji, ki omogočajo znatno povečanje natančnosti pozicioniranja preskusne priprave (tudi po velikosti) in izboljšano kalibracijo mikroskopov za korelacijsko slikanje; poleg tega bo na površini zaščitnega oprijema korelativnega sistema za opazovanje uveden tudi sistem nanomarkerjev, kar bo omogočilo znatno povečanje natančnosti pozicioniranja vzorca, vključno s količinsko opredelitvijo odstopanja ortogonalnosti nastavitve ročaja. —postopek za nastavitev in izračun korekcijskih koeficientov pozicioniranja vzorca se bo razvil. Nova rešitev lahko večkrat poveča natančnost pozicioniranja vzorca ali celo po velikosti. Uvedene inovacije bodo znatno izboljšale kakovost celotnega sistema k (Slovenian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Člen 42 uredbe ministra za infrastrukturo in razvoj z dne 10. julija 2015 o dodelitvi finančne pomoči poljske agencije za razvoj podjetništva v okviru operativnega programa za pametno rast 2014–2020.Projekt predvideva razvoj in preskušanje novega izdelka – nanokalibracijske referenčne plošče (za sistem korelativnega opazovanja površin v mikro- in nanoravni ter optimizacijo korelativnega sistema opazovanja za sodelovanje z razvitimi vzorci). Končni izdelek bo imel inovativne lastnosti, ki ga bodo razlikovale od trenutno znanih rešitev, tj. —funkcionalnost, z univerzalnostjo standardne plošče, lahko uporabnik uporablja eno in isto standardno ploščo v številnih mikroskopskih napravah (npr. z uporabo svetlobnega ali elektronskega žarka); —povečana odpornost izdelka na zunanje dejavnike, zaradi uvedene univerzalnosti plošče, mora biti odporna na številne zunanje dejavnike, pri katerih se bo uporabljal, npr. temperaturo, kemikalije ali sevanje; —natančnost plošče med proizvodnjo se izdela nanomarkerji, ki omogočajo znatno povečanje natančnosti pozicioniranja preskusne priprave (tudi po velikosti) in izboljšano kalibracijo mikroskopov za korelacijsko slikanje; poleg tega bo na površini zaščitnega oprijema korelativnega sistema za opazovanje uveden tudi sistem nanomarkerjev, kar bo omogočilo znatno povečanje natančnosti pozicioniranja vzorca, vključno s količinsko opredelitvijo odstopanja ortogonalnosti nastavitve ročaja. —postopek za nastavitev in izračun korekcijskih koeficientov pozicioniranja vzorca se bo razvil. Nova rešitev lahko večkrat poveča natančnost pozicioniranja vzorca ali celo po velikosti. Uvedene inovacije bodo znatno izboljšale kakovost celotnega sistema k (Slovenian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), podpora_de_minimis: §42 Nařízení ministra infrastruktury a rozvoje ze dne 10. července 2015 o poskytování finanční pomoci ze strany Polské agentury pro rozvoj podnikání v rámci Operačního programu Inteligentní růst na období 2014–2020.Projekt předpokládá vývoj a testování nového produktu – nanokalibrační referenční desky (pro systém korelativního pozorování povrchů v mikro- a nanokapacitním měřítku a optimalizaci korelativního pozorovacího systému pro spolupráci s vyvinutými vzorky). Konečný produkt bude mít inovativní vlastnosti, které jej odlišují od aktuálně známých řešení, tj. —funkčnost, díky univerzálnosti standardní desky, může uživatel používat jednu a tutéž standardní desku v mnoha mikroskopických zařízeních (např. pomocí světelného nebo elektronového paprsku); —zvýšená odolnost výrobku vůči vnějším faktorům, vzhledem k zavedené univerzálnosti desky, musí být odolná vůči mnoha vnějším faktorům, ve kterých bude použit, např. teplotě, chemikáliím nebo záření; —přesnost desky, během výroby, budou provedeny nanomarkery, které umožní významné (i řádově) zvýšení přesnosti polohování zkušebního přípravku a lepší kalibraci mikroskopů pro korelační zobrazování; kromě toho bude na povrch ochranného přilnavosti korelativního pozorovacího systému zaveden systém nanomarkerů, který umožní výrazně zvýšit přesnost polohování vzorku, včetně kvantifikace odchylky ortogonality nastavení rukojeti. bude vypracován postup pro nastavení a výpočet korekčních koeficientů pro polohování vzorku. Nové řešení může zvýšit přesnost polohování vzorku několikrát, nebo dokonce o řádovou velikost. Zavedené inovace povedou k výraznému zlepšení kvality celého systému k (Czech) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), podpora_de_minimis: §42 Nařízení ministra infrastruktury a rozvoje ze dne 10. července 2015 o poskytování finanční pomoci ze strany Polské agentury pro rozvoj podnikání v rámci Operačního programu Inteligentní růst na období 2014–2020.Projekt předpokládá vývoj a testování nového produktu – nanokalibrační referenční desky (pro systém korelativního pozorování povrchů v mikro- a nanokapacitním měřítku a optimalizaci korelativního pozorovacího systému pro spolupráci s vyvinutými vzorky). Konečný produkt bude mít inovativní vlastnosti, které jej odlišují od aktuálně známých řešení, tj. —funkčnost, díky univerzálnosti standardní desky, může uživatel používat jednu a tutéž standardní desku v mnoha mikroskopických zařízeních (např. pomocí světelného nebo elektronového paprsku); —zvýšená odolnost výrobku vůči vnějším faktorům, vzhledem k zavedené univerzálnosti desky, musí být odolná vůči mnoha vnějším faktorům, ve kterých bude použit, např. teplotě, chemikáliím nebo záření; —přesnost desky, během výroby, budou provedeny nanomarkery, které umožní významné (i řádově) zvýšení přesnosti polohování zkušebního přípravku a lepší kalibraci mikroskopů pro korelační zobrazování; kromě toho bude na povrch ochranného přilnavosti korelativního pozorovacího systému zaveden systém nanomarkerů, který umožní výrazně zvýšit přesnost polohování vzorku, včetně kvantifikace odchylky ortogonality nastavení rukojeti. bude vypracován postup pro nastavení a výpočet korekčních koeficientů pro polohování vzorku. Nové řešení může zvýšit přesnost polohování vzorku několikrát, nebo dokonce o řádovou velikost. Zavedené inovace povedou k výraznému zlepšení kvality celého systému k (Czech) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), podpora_de_minimis: §42 Nařízení ministra infrastruktury a rozvoje ze dne 10. července 2015 o poskytování finanční pomoci ze strany Polské agentury pro rozvoj podnikání v rámci Operačního programu Inteligentní růst na období 2014–2020.Projekt předpokládá vývoj a testování nového produktu – nanokalibrační referenční desky (pro systém korelativního pozorování povrchů v mikro- a nanokapacitním měřítku a optimalizaci korelativního pozorovacího systému pro spolupráci s vyvinutými vzorky). Konečný produkt bude mít inovativní vlastnosti, které jej odlišují od aktuálně známých řešení, tj. —funkčnost, díky univerzálnosti standardní desky, může uživatel používat jednu a tutéž standardní desku v mnoha mikroskopických zařízeních (např. pomocí světelného nebo elektronového paprsku); —zvýšená odolnost výrobku vůči vnějším faktorům, vzhledem k zavedené univerzálnosti desky, musí být odolná vůči mnoha vnějším faktorům, ve kterých bude použit, např. teplotě, chemikáliím nebo záření; —přesnost desky, během výroby, budou provedeny nanomarkery, které umožní významné (i řádově) zvýšení přesnosti polohování zkušebního přípravku a lepší kalibraci mikroskopů pro korelační zobrazování; kromě toho bude na povrch ochranného přilnavosti korelativního pozorovacího systému zaveden systém nanomarkerů, který umožní výrazně zvýšit přesnost polohování vzorku, včetně kvantifikace odchylky ortogonality nastavení rukojeti. bude vypracován postup pro nastavení a výpočet korekčních koeficientů pro polohování vzorku. Nové řešení může zvýšit přesnost polohování vzorku několikrát, nebo dokonce o řádovou velikost. Zavedené inovace povedou k výraznému zlepšení kvality celého systému k (Czech) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: 2015 m. liepos 10 d. Infrastruktūros ir plėtros ministro potvarkio dėl Lenkijos įmonių plėtros agentūros finansinės paramos skyrimo pagal Pažangaus augimo 2014–2020 m. veiksmų programą 42 straipsnis.Projekte numatoma sukurti ir išbandyti naują produktą – nanokalibracijos informacinę plokštę (susijusios mikro- ir nanoskalės paviršių stebėjimo sistemai ir koreliacijos stebėjimo sistemos optimizavimui bendradarbiavimui su sukurtais mėginiais). Galutinis produktas turės inovatyvių savybių, išskiriančių jį nuo šiuo metu žinomų sprendimų, t. y. funkcionalumas, dėl standartinės plokštelės universalumo naudotojas gali naudoti vieną ir tą pačią standartinę plokštelę daugelyje mikroskopinių įtaisų (pvz., šviesos arba elektronų pluošto); –padidėjęs produkto atsparumas išoriniams veiksniams dėl įvesto plokštės universalumo, jis turi būti atsparus daugeliui išorinių veiksnių, kuriems esant jis bus naudojamas, pvz., temperatūrai, cheminėms medžiagoms ar spinduliuotei; –gamybos metu plokštelės tikslumas atliekamas nanoženkleliais, kurie leidžia žymiai (net ir pagal dydį) padidinti bandomojo preparato padėties nustatymo tikslumą ir pagerinti mikroskopų kalibravimą koreliacijos vaizdo gavimo tikslais; be to, ant koreliacinės stebėjimo sistemos apsauginio sukibimo paviršiaus taip pat bus įdiegta nanožymalių sistema, leidžianti žymiai padidinti mėginio padėties nustatymo tikslumą, įskaitant kiekybinį rankenos nustatymo ortogonališkumo nuokrypį. –bus parengta mėginio padėties koregavimo koeficientų nustatymo ir apskaičiavimo tvarka. Naujasis sprendimas gali padidinti mėginio pozicionavimo tikslumą kelis kartus arba net pagal dydį. Įdiegtos naujovės žymiai pagerins visos sistemos k kokybę. (Lithuanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: 2015 m. liepos 10 d. Infrastruktūros ir plėtros ministro potvarkio dėl Lenkijos įmonių plėtros agentūros finansinės paramos skyrimo pagal Pažangaus augimo 2014–2020 m. veiksmų programą 42 straipsnis.Projekte numatoma sukurti ir išbandyti naują produktą – nanokalibracijos informacinę plokštę (susijusios mikro- ir nanoskalės paviršių stebėjimo sistemai ir koreliacijos stebėjimo sistemos optimizavimui bendradarbiavimui su sukurtais mėginiais). Galutinis produktas turės inovatyvių savybių, išskiriančių jį nuo šiuo metu žinomų sprendimų, t. y. funkcionalumas, dėl standartinės plokštelės universalumo naudotojas gali naudoti vieną ir tą pačią standartinę plokštelę daugelyje mikroskopinių įtaisų (pvz., šviesos arba elektronų pluošto); –padidėjęs produkto atsparumas išoriniams veiksniams dėl įvesto plokštės universalumo, jis turi būti atsparus daugeliui išorinių veiksnių, kuriems esant jis bus naudojamas, pvz., temperatūrai, cheminėms medžiagoms ar spinduliuotei; –gamybos metu plokštelės tikslumas atliekamas nanoženkleliais, kurie leidžia žymiai (net ir pagal dydį) padidinti bandomojo preparato padėties nustatymo tikslumą ir pagerinti mikroskopų kalibravimą koreliacijos vaizdo gavimo tikslais; be to, ant koreliacinės stebėjimo sistemos apsauginio sukibimo paviršiaus taip pat bus įdiegta nanožymalių sistema, leidžianti žymiai padidinti mėginio padėties nustatymo tikslumą, įskaitant kiekybinį rankenos nustatymo ortogonališkumo nuokrypį. –bus parengta mėginio padėties koregavimo koeficientų nustatymo ir apskaičiavimo tvarka. Naujasis sprendimas gali padidinti mėginio pozicionavimo tikslumą kelis kartus arba net pagal dydį. Įdiegtos naujovės žymiai pagerins visos sistemos k kokybę. (Lithuanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: 2015 m. liepos 10 d. Infrastruktūros ir plėtros ministro potvarkio dėl Lenkijos įmonių plėtros agentūros finansinės paramos skyrimo pagal Pažangaus augimo 2014–2020 m. veiksmų programą 42 straipsnis.Projekte numatoma sukurti ir išbandyti naują produktą – nanokalibracijos informacinę plokštę (susijusios mikro- ir nanoskalės paviršių stebėjimo sistemai ir koreliacijos stebėjimo sistemos optimizavimui bendradarbiavimui su sukurtais mėginiais). Galutinis produktas turės inovatyvių savybių, išskiriančių jį nuo šiuo metu žinomų sprendimų, t. y. funkcionalumas, dėl standartinės plokštelės universalumo naudotojas gali naudoti vieną ir tą pačią standartinę plokštelę daugelyje mikroskopinių įtaisų (pvz., šviesos arba elektronų pluošto); –padidėjęs produkto atsparumas išoriniams veiksniams dėl įvesto plokštės universalumo, jis turi būti atsparus daugeliui išorinių veiksnių, kuriems esant jis bus naudojamas, pvz., temperatūrai, cheminėms medžiagoms ar spinduliuotei; –gamybos metu plokštelės tikslumas atliekamas nanoženkleliais, kurie leidžia žymiai (net ir pagal dydį) padidinti bandomojo preparato padėties nustatymo tikslumą ir pagerinti mikroskopų kalibravimą koreliacijos vaizdo gavimo tikslais; be to, ant koreliacinės stebėjimo sistemos apsauginio sukibimo paviršiaus taip pat bus įdiegta nanožymalių sistema, leidžianti žymiai padidinti mėginio padėties nustatymo tikslumą, įskaitant kiekybinį rankenos nustatymo ortogonališkumo nuokrypį. –bus parengta mėginio padėties koregavimo koeficientų nustatymo ir apskaičiavimo tvarka. Naujasis sprendimas gali padidinti mėginio pozicionavimo tikslumą kelis kartus arba net pagal dydį. Įdiegtos naujovės žymiai pagerins visos sistemos k kokybę. (Lithuanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Infrastruktūras un attīstības ministra 2015. gada 10. jūlija noteikumu par finansiālās palīdzības piešķiršanu, ko Polijas Uzņēmumu attīstības aģentūra piešķir saskaņā ar Viedās izaugsmes darbības programmu 2014.–2020. gadam, 42. pants.Projekts paredz jauna produkta — nanokalibrācijas references plāksnes — izstrādi un testēšanu (mikro un nanomērogu korelatīvās novērošanas sistēmai un korelatīvās novērošanas sistēmas optimizācijai sadarbībai ar izstrādātajiem paraugiem). Galaproduktam būs novatoriskas iezīmes, kas to atšķirs no pašlaik zināmiem risinājumiem, t. i. —funkcionalitāte, izmantojot standarta plāksnes universālumu, lietotājs var izmantot vienu un to pašu standarta plāksni daudzās mikroskopiskajās ierīcēs (izmantojot, piemēram, gaismas vai elektronu staru kūli); palielināta produkta izturība pret ārējiem faktoriem, jo plāksne ir universāla, tai jābūt izturīgai pret daudziem ārējiem faktoriem, kuros to izmantos, piemēram, pret temperatūru, ķimikālijām vai starojumu; —plates precizitāte ražošanas laikā tiks izgatavota nanomarķieriem, kas ļauj ievērojami (pat pēc lieluma) palielināt testa preparāta pozicionēšanas precizitāti un uzlabot mikroskopu kalibrēšanu korelācijas attēlveidošanai; turklāt uz korelatīvās novērošanas sistēmas aizsargājošās saķeres virsmas tiks ieviesta arī nanomarķieru sistēma, kas ļauj ievērojami palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti, tostarp kvantificējot roktura iestatījumu ortogonalitātes novirzi. izstrādās paraugu pozicionēšanas korekcijas koeficientu noteikšanas un aprēķināšanas procedūru. Jaunais šķīdums var palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti vairākas reizes vai pat par lielumu. Ieviestie jauninājumi būtiski uzlabos visas sistēmas k kvalitāti. (Latvian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Infrastruktūras un attīstības ministra 2015. gada 10. jūlija noteikumu par finansiālās palīdzības piešķiršanu, ko Polijas Uzņēmumu attīstības aģentūra piešķir saskaņā ar Viedās izaugsmes darbības programmu 2014.–2020. gadam, 42. pants.Projekts paredz jauna produkta — nanokalibrācijas references plāksnes — izstrādi un testēšanu (mikro un nanomērogu korelatīvās novērošanas sistēmai un korelatīvās novērošanas sistēmas optimizācijai sadarbībai ar izstrādātajiem paraugiem). Galaproduktam būs novatoriskas iezīmes, kas to atšķirs no pašlaik zināmiem risinājumiem, t. i. —funkcionalitāte, izmantojot standarta plāksnes universālumu, lietotājs var izmantot vienu un to pašu standarta plāksni daudzās mikroskopiskajās ierīcēs (izmantojot, piemēram, gaismas vai elektronu staru kūli); palielināta produkta izturība pret ārējiem faktoriem, jo plāksne ir universāla, tai jābūt izturīgai pret daudziem ārējiem faktoriem, kuros to izmantos, piemēram, pret temperatūru, ķimikālijām vai starojumu; —plates precizitāte ražošanas laikā tiks izgatavota nanomarķieriem, kas ļauj ievērojami (pat pēc lieluma) palielināt testa preparāta pozicionēšanas precizitāti un uzlabot mikroskopu kalibrēšanu korelācijas attēlveidošanai; turklāt uz korelatīvās novērošanas sistēmas aizsargājošās saķeres virsmas tiks ieviesta arī nanomarķieru sistēma, kas ļauj ievērojami palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti, tostarp kvantificējot roktura iestatījumu ortogonalitātes novirzi. izstrādās paraugu pozicionēšanas korekcijas koeficientu noteikšanas un aprēķināšanas procedūru. Jaunais šķīdums var palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti vairākas reizes vai pat par lielumu. Ieviestie jauninājumi būtiski uzlabos visas sistēmas k kvalitāti. (Latvian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Infrastruktūras un attīstības ministra 2015. gada 10. jūlija noteikumu par finansiālās palīdzības piešķiršanu, ko Polijas Uzņēmumu attīstības aģentūra piešķir saskaņā ar Viedās izaugsmes darbības programmu 2014.–2020. gadam, 42. pants.Projekts paredz jauna produkta — nanokalibrācijas references plāksnes — izstrādi un testēšanu (mikro un nanomērogu korelatīvās novērošanas sistēmai un korelatīvās novērošanas sistēmas optimizācijai sadarbībai ar izstrādātajiem paraugiem). Galaproduktam būs novatoriskas iezīmes, kas to atšķirs no pašlaik zināmiem risinājumiem, t. i. —funkcionalitāte, izmantojot standarta plāksnes universālumu, lietotājs var izmantot vienu un to pašu standarta plāksni daudzās mikroskopiskajās ierīcēs (izmantojot, piemēram, gaismas vai elektronu staru kūli); palielināta produkta izturība pret ārējiem faktoriem, jo plāksne ir universāla, tai jābūt izturīgai pret daudziem ārējiem faktoriem, kuros to izmantos, piemēram, pret temperatūru, ķimikālijām vai starojumu; —plates precizitāte ražošanas laikā tiks izgatavota nanomarķieriem, kas ļauj ievērojami (pat pēc lieluma) palielināt testa preparāta pozicionēšanas precizitāti un uzlabot mikroskopu kalibrēšanu korelācijas attēlveidošanai; turklāt uz korelatīvās novērošanas sistēmas aizsargājošās saķeres virsmas tiks ieviesta arī nanomarķieru sistēma, kas ļauj ievērojami palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti, tostarp kvantificējot roktura iestatījumu ortogonalitātes novirzi. izstrādās paraugu pozicionēšanas korekcijas koeficientu noteikšanas un aprēķināšanas procedūru. Jaunais šķīdums var palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti vairākas reizes vai pat par lielumu. Ieviestie jauninājumi būtiski uzlabos visas sistēmas k kvalitāti. (Latvian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_програма: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 от Наредбата на министъра на инфраструктурата и развитието от 10 юли 2015 г. за предоставяне на финансова помощ от Полската агенция за развитие на предприятията по Оперативна програма „Интелигентен растеж“ 2014—2020 г. Проектът предвижда разработването и изпитването на нов продукт — нанокалибрационна референтна табела (за системата за корелативно наблюдение на повърхности в микро- и наномащаб и оптимизиране на корелативната система за наблюдение за сътрудничество с разработените проби). Крайният продукт ще има иновативни характеристики, които го отличават от познатите понастоящем решения, т.е. —функционалност, чрез универсалността на стандартната табела, потребителят може да използва една и съща стандартна табела в много микроскопични изделия (като се използва например светлина или електронен лъч); повишена устойчивост на продукта на външни фактори, поради въведената универсалност на плочата, тя трябва да бъде устойчива на много външни фактори, при които ще се използва, например температура, химикали или радиация; —прецизност на плочата, по време на производството ще бъдат направени наномаркери, които позволяват значително (дори по порядък) увеличаване на прецизността на позиционирането на тестовия препарат и подобрено калибриране на микроскопи за корелационни изображения; освен това ще бъде въведена и система от наномаркери на повърхността на защитното захващане на корелативната система за наблюдение, което позволява значително да се увеличи прецизността на позиционирането на пробата, включително количествено да се определи отклонението на ортогоналността на настройката на дръжката. ще бъде разработена процедурата за определяне и изчисляване на корекционните коефициенти за позициониране на извадката. Новото решение може да увеличи точността на позиционирането на пробата няколко пъти или дори с порядък. Въведените иновации ще доведат до значително подобряване на качеството на цялата система (Bulgarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_програма: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 от Наредбата на министъра на инфраструктурата и развитието от 10 юли 2015 г. за предоставяне на финансова помощ от Полската агенция за развитие на предприятията по Оперативна програма „Интелигентен растеж“ 2014—2020 г. Проектът предвижда разработването и изпитването на нов продукт — нанокалибрационна референтна табела (за системата за корелативно наблюдение на повърхности в микро- и наномащаб и оптимизиране на корелативната система за наблюдение за сътрудничество с разработените проби). Крайният продукт ще има иновативни характеристики, които го отличават от познатите понастоящем решения, т.е. —функционалност, чрез универсалността на стандартната табела, потребителят може да използва една и съща стандартна табела в много микроскопични изделия (като се използва например светлина или електронен лъч); повишена устойчивост на продукта на външни фактори, поради въведената универсалност на плочата, тя трябва да бъде устойчива на много външни фактори, при които ще се използва, например температура, химикали или радиация; —прецизност на плочата, по време на производството ще бъдат направени наномаркери, които позволяват значително (дори по порядък) увеличаване на прецизността на позиционирането на тестовия препарат и подобрено калибриране на микроскопи за корелационни изображения; освен това ще бъде въведена и система от наномаркери на повърхността на защитното захващане на корелативната система за наблюдение, което позволява значително да се увеличи прецизността на позиционирането на пробата, включително количествено да се определи отклонението на ортогоналността на настройката на дръжката. ще бъде разработена процедурата за определяне и изчисляване на корекционните коефициенти за позициониране на извадката. Новото решение може да увеличи точността на позиционирането на пробата няколко пъти или дори с порядък. Въведените иновации ще доведат до значително подобряване на качеството на цялата система (Bulgarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_програма: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 от Наредбата на министъра на инфраструктурата и развитието от 10 юли 2015 г. за предоставяне на финансова помощ от Полската агенция за развитие на предприятията по Оперативна програма „Интелигентен растеж“ 2014—2020 г. Проектът предвижда разработването и изпитването на нов продукт — нанокалибрационна референтна табела (за системата за корелативно наблюдение на повърхности в микро- и наномащаб и оптимизиране на корелативната система за наблюдение за сътрудничество с разработените проби). Крайният продукт ще има иновативни характеристики, които го отличават от познатите понастоящем решения, т.е. —функционалност, чрез универсалността на стандартната табела, потребителят може да използва една и съща стандартна табела в много микроскопични изделия (като се използва например светлина или електронен лъч); повишена устойчивост на продукта на външни фактори, поради въведената универсалност на плочата, тя трябва да бъде устойчива на много външни фактори, при които ще се използва, например температура, химикали или радиация; —прецизност на плочата, по време на производството ще бъдат направени наномаркери, които позволяват значително (дори по порядък) увеличаване на прецизността на позиционирането на тестовия препарат и подобрено калибриране на микроскопи за корелационни изображения; освен това ще бъде въведена и система от наномаркери на повърхността на защитното захващане на корелативната система за наблюдение, което позволява значително да се увеличи прецизността на позиционирането на пробата, включително количествено да се определи отклонението на ортогоналността на настройката на дръжката. ще бъде разработена процедурата за определяне и изчисляване на корекционните коефициенти за позициониране на извадката. Новото решение може да увеличи точността на позиционирането на пробата няколко пъти или дори с порядък. Въведените иновации ще доведат до значително подобряване на качеството на цялата система (Bulgarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Az infrastrukturális és fejlesztési miniszter 2015. július 10-i rendelete a 2014–2020-as Intelligens Növekedési Operatív Program keretében a Lengyel Vállalkozásfejlesztési Ügynökség pénzügyi támogatásáról.A projekt egy új termék – egy nanokalibrációs referenciatábla – kifejlesztését és tesztelését feltételezi (a mikro- és nanoméretű felületek korrelatív megfigyelési rendszeréhez és a korrelatív megfigyelési rendszer optimalizálásához a kifejlesztett mintákkal való együttműködés érdekében). A végtermék olyan innovatív jellemzőkkel fog rendelkezni, amelyek megkülönböztetik a jelenleg ismert megoldásoktól, azaz. –funkcionalitás, a szabványos lemez egyetemessége révén a felhasználó egy és ugyanazon szabványos lemezt használhat számos mikroszkopikus eszközben (pl. fény vagy elektronsugár használatával); a termék külső tényezőkkel szembeni fokozott ellenállása, a lemez bevezetett egyetemessége miatt, ellenállónak kell lennie számos olyan külső tényezővel szemben, amelyben használni fogják, pl. hőmérséklet, vegyi anyagok vagy sugárzás; a lemez pontosságát a gyártás során nanomarkerek készítik, amelyek lehetővé teszik a vizsgálati készítmény pozicionálási pontosságának jelentős (még nagyságrenddel is) növelését és a mikroszkópok korrelációs képalkotáshoz való jobb kalibrálását; ezenkívül nanomarkerekből álló rendszer kerül bevezetésre a korrelatív megfigyelési rendszer védő markolatának felületén, amely lehetővé teszi a minta pozicionálásának pontosságát, beleértve a fogantyúbeállítás ortogonalitásának eltérését is. –kifejlesztik a mintapozicionálási korrekciós együtthatók meghatározására és kiszámítására szolgáló eljárást. Az új megoldás több alkalommal, vagy akár nagyságrenddel is növelheti a minta pozicionálásának pontosságát. A bevezetett innovációk a teljes k rendszer minőségének jelentős javulását eredményezik. (Hungarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Az infrastrukturális és fejlesztési miniszter 2015. július 10-i rendelete a 2014–2020-as Intelligens Növekedési Operatív Program keretében a Lengyel Vállalkozásfejlesztési Ügynökség pénzügyi támogatásáról.A projekt egy új termék – egy nanokalibrációs referenciatábla – kifejlesztését és tesztelését feltételezi (a mikro- és nanoméretű felületek korrelatív megfigyelési rendszeréhez és a korrelatív megfigyelési rendszer optimalizálásához a kifejlesztett mintákkal való együttműködés érdekében). A végtermék olyan innovatív jellemzőkkel fog rendelkezni, amelyek megkülönböztetik a jelenleg ismert megoldásoktól, azaz. –funkcionalitás, a szabványos lemez egyetemessége révén a felhasználó egy és ugyanazon szabványos lemezt használhat számos mikroszkopikus eszközben (pl. fény vagy elektronsugár használatával); a termék külső tényezőkkel szembeni fokozott ellenállása, a lemez bevezetett egyetemessége miatt, ellenállónak kell lennie számos olyan külső tényezővel szemben, amelyben használni fogják, pl. hőmérséklet, vegyi anyagok vagy sugárzás; a lemez pontosságát a gyártás során nanomarkerek készítik, amelyek lehetővé teszik a vizsgálati készítmény pozicionálási pontosságának jelentős (még nagyságrenddel is) növelését és a mikroszkópok korrelációs képalkotáshoz való jobb kalibrálását; ezenkívül nanomarkerekből álló rendszer kerül bevezetésre a korrelatív megfigyelési rendszer védő markolatának felületén, amely lehetővé teszi a minta pozicionálásának pontosságát, beleértve a fogantyúbeállítás ortogonalitásának eltérését is. –kifejlesztik a mintapozicionálási korrekciós együtthatók meghatározására és kiszámítására szolgáló eljárást. Az új megoldás több alkalommal, vagy akár nagyságrenddel is növelheti a minta pozicionálásának pontosságát. A bevezetett innovációk a teljes k rendszer minőségének jelentős javulását eredményezik. (Hungarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Az infrastrukturális és fejlesztési miniszter 2015. július 10-i rendelete a 2014–2020-as Intelligens Növekedési Operatív Program keretében a Lengyel Vállalkozásfejlesztési Ügynökség pénzügyi támogatásáról.A projekt egy új termék – egy nanokalibrációs referenciatábla – kifejlesztését és tesztelését feltételezi (a mikro- és nanoméretű felületek korrelatív megfigyelési rendszeréhez és a korrelatív megfigyelési rendszer optimalizálásához a kifejlesztett mintákkal való együttműködés érdekében). A végtermék olyan innovatív jellemzőkkel fog rendelkezni, amelyek megkülönböztetik a jelenleg ismert megoldásoktól, azaz. –funkcionalitás, a szabványos lemez egyetemessége révén a felhasználó egy és ugyanazon szabványos lemezt használhat számos mikroszkopikus eszközben (pl. fény vagy elektronsugár használatával); a termék külső tényezőkkel szembeni fokozott ellenállása, a lemez bevezetett egyetemessége miatt, ellenállónak kell lennie számos olyan külső tényezővel szemben, amelyben használni fogják, pl. hőmérséklet, vegyi anyagok vagy sugárzás; a lemez pontosságát a gyártás során nanomarkerek készítik, amelyek lehetővé teszik a vizsgálati készítmény pozicionálási pontosságának jelentős (még nagyságrenddel is) növelését és a mikroszkópok korrelációs képalkotáshoz való jobb kalibrálását; ezenkívül nanomarkerekből álló rendszer kerül bevezetésre a korrelatív megfigyelési rendszer védő markolatának felületén, amely lehetővé teszi a minta pozicionálásának pontosságát, beleértve a fogantyúbeállítás ortogonalitásának eltérését is. –kifejlesztik a mintapozicionálási korrekciós együtthatók meghatározására és kiszámítására szolgáló eljárást. Az új megoldás több alkalommal, vagy akár nagyságrenddel is növelheti a minta pozicionálásának pontosságát. A bevezetett innovációk a teljes k rendszer minőségének jelentős javulását eredményezik. (Hungarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Uimhir_reference_aid_clár: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 den Rialachán ón Aire Bonneagair agus Forbartha an 10 Iúil 2015 maidir le cúnamh airgeadais a bheith á dheonú ag Gníomhaireacht na Polainne um Fhorbairt Fiontair faoin gClár Oibríochtúil um Fhás Cliste 2014-2020. Glactar leis sa tionscadal go ndéanfar táirge nua a fhorbairt agus a thástáil — pláta tagartha nanachalabraithe (le haghaidh an chórais um bhreathnú creimneach ar dhromchlaí i micreascálaí agus nanascálaithe agus barrfheabhsú an chórais bhreathnóireachta chomhthacaigh le haghaidh comhair leis na samplaí a forbraíodh). Beidh gnéithe nuálacha ag an táirge deiridh lena ndéanfar idirdhealú idir é agus réitigh atá ar eolas faoi láthair, i.e. —feidhmiúlacht, trí uilíocht an phláta chaighdeánaigh, is féidir leis an úsáideoir an pláta caighdeánach céanna a úsáid i go leor gléasanna micreascópacha (ag baint úsáide as e.g. bhíoma solais nó leictreon); friotaíocht mhéadaithe an táirge le fachtóirí seachtracha, mar gheall ar uilíocht an phláta a tugadh isteach, caithfidh sé a bheith frithsheasmhach in aghaidh go leor fachtóirí seachtracha ina n-úsáidfear é, e.g. teocht, ceimiceáin nó radaíocht; —déanfar beachtas an phláta, le linn an táirgthe, rud a fhágfaidh go dtiocfaidh méadú suntasach (fiú ar ord méide) ar bheachtas na hullmhóide tástála agus ar chalabrú feabhsaithe micreascóip le haghaidh íomháú comhghaoil; ina theannta sin, tabharfar córas nanamharcóirí isteach freisin ar dhromchla greim cosanta an chórais bhreathnóireachta chreimnigh, rud a fhágann gur féidir cruinneas shuíomh an tsampla a mhéadú go suntasach, lena n-áirítear diall orthogonality an tsuímh láimhseála a chainníochtú. —forbrófar an nós imeachta chun comhéifeachtaí ceartúcháin suímh samplacha a shocrú agus a ríomh. Is féidir leis an réiteach nua cruinneas an tsampla suite a mhéadú arís agus arís eile, nó fiú le hordú méide. Beidh feabhas suntasach ar chaighdeán an chórais iomlán k mar thoradh ar na nuálaíochtaí a tugadh isteach (Irish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Uimhir_reference_aid_clár: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 den Rialachán ón Aire Bonneagair agus Forbartha an 10 Iúil 2015 maidir le cúnamh airgeadais a bheith á dheonú ag Gníomhaireacht na Polainne um Fhorbairt Fiontair faoin gClár Oibríochtúil um Fhás Cliste 2014-2020. Glactar leis sa tionscadal go ndéanfar táirge nua a fhorbairt agus a thástáil — pláta tagartha nanachalabraithe (le haghaidh an chórais um bhreathnú creimneach ar dhromchlaí i micreascálaí agus nanascálaithe agus barrfheabhsú an chórais bhreathnóireachta chomhthacaigh le haghaidh comhair leis na samplaí a forbraíodh). Beidh gnéithe nuálacha ag an táirge deiridh lena ndéanfar idirdhealú idir é agus réitigh atá ar eolas faoi láthair, i.e. —feidhmiúlacht, trí uilíocht an phláta chaighdeánaigh, is féidir leis an úsáideoir an pláta caighdeánach céanna a úsáid i go leor gléasanna micreascópacha (ag baint úsáide as e.g. bhíoma solais nó leictreon); friotaíocht mhéadaithe an táirge le fachtóirí seachtracha, mar gheall ar uilíocht an phláta a tugadh isteach, caithfidh sé a bheith frithsheasmhach in aghaidh go leor fachtóirí seachtracha ina n-úsáidfear é, e.g. teocht, ceimiceáin nó radaíocht; —déanfar beachtas an phláta, le linn an táirgthe, rud a fhágfaidh go dtiocfaidh méadú suntasach (fiú ar ord méide) ar bheachtas na hullmhóide tástála agus ar chalabrú feabhsaithe micreascóip le haghaidh íomháú comhghaoil; ina theannta sin, tabharfar córas nanamharcóirí isteach freisin ar dhromchla greim cosanta an chórais bhreathnóireachta chreimnigh, rud a fhágann gur féidir cruinneas shuíomh an tsampla a mhéadú go suntasach, lena n-áirítear diall orthogonality an tsuímh láimhseála a chainníochtú. —forbrófar an nós imeachta chun comhéifeachtaí ceartúcháin suímh samplacha a shocrú agus a ríomh. Is féidir leis an réiteach nua cruinneas an tsampla suite a mhéadú arís agus arís eile, nó fiú le hordú méide. Beidh feabhas suntasach ar chaighdeán an chórais iomlán k mar thoradh ar na nuálaíochtaí a tugadh isteach (Irish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Uimhir_reference_aid_clár: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 den Rialachán ón Aire Bonneagair agus Forbartha an 10 Iúil 2015 maidir le cúnamh airgeadais a bheith á dheonú ag Gníomhaireacht na Polainne um Fhorbairt Fiontair faoin gClár Oibríochtúil um Fhás Cliste 2014-2020. Glactar leis sa tionscadal go ndéanfar táirge nua a fhorbairt agus a thástáil — pláta tagartha nanachalabraithe (le haghaidh an chórais um bhreathnú creimneach ar dhromchlaí i micreascálaí agus nanascálaithe agus barrfheabhsú an chórais bhreathnóireachta chomhthacaigh le haghaidh comhair leis na samplaí a forbraíodh). Beidh gnéithe nuálacha ag an táirge deiridh lena ndéanfar idirdhealú idir é agus réitigh atá ar eolas faoi láthair, i.e. —feidhmiúlacht, trí uilíocht an phláta chaighdeánaigh, is féidir leis an úsáideoir an pláta caighdeánach céanna a úsáid i go leor gléasanna micreascópacha (ag baint úsáide as e.g. bhíoma solais nó leictreon); friotaíocht mhéadaithe an táirge le fachtóirí seachtracha, mar gheall ar uilíocht an phláta a tugadh isteach, caithfidh sé a bheith frithsheasmhach in aghaidh go leor fachtóirí seachtracha ina n-úsáidfear é, e.g. teocht, ceimiceáin nó radaíocht; —déanfar beachtas an phláta, le linn an táirgthe, rud a fhágfaidh go dtiocfaidh méadú suntasach (fiú ar ord méide) ar bheachtas na hullmhóide tástála agus ar chalabrú feabhsaithe micreascóip le haghaidh íomháú comhghaoil; ina theannta sin, tabharfar córas nanamharcóirí isteach freisin ar dhromchla greim cosanta an chórais bhreathnóireachta chreimnigh, rud a fhágann gur féidir cruinneas shuíomh an tsampla a mhéadú go suntasach, lena n-áirítear diall orthogonality an tsuímh láimhseála a chainníochtú. —forbrófar an nós imeachta chun comhéifeachtaí ceartúcháin suímh samplacha a shocrú agus a ríomh. Is féidir leis an réiteach nua cruinneas an tsampla suite a mhéadú arís agus arís eile, nó fiú le hordú méide. Beidh feabhas suntasach ar chaighdeán an chórais iomlán k mar thoradh ar na nuálaíochtaí a tugadh isteach (Irish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: 42 § i infrastruktur- och utvecklingsministerns förordning av den 10 juli 2015 om beviljande av ekonomiskt stöd från den polska byrån för företagsutveckling inom ramen för det operativa programmet för smart tillväxt 2014–2020.Projektet förutsätter utveckling och testning av en ny produkt – en referensplatta för nanokalibrering (för systemet för korrelativ observation av ytor i mikro- och nanoskala och optimering av det korrelativa observationssystemet för samarbete med de prover som tagits fram). Slutprodukten kommer att ha innovativa egenskaper som skiljer den från för närvarande kända lösningar, dvs. —funktionalitet, genom standardplattans universalitet, kan användaren använda en och samma standardplatta i många mikroskopiska anordningar (med hjälp av t.ex. ljus- eller elektronstråle). ökad beständighet hos produkten mot yttre faktorer, på grund av plattans införande universalitet, måste den vara resistent mot många yttre faktorer där den kommer att användas, t.ex. temperatur, kemikalier eller strålning. —precision av plattan, under produktionen, kommer nanomarkörer att göras, vilket möjliggör betydande (även genom en storleksordning) ökning av precisionen i positioneringen av testberedningen och förbättrad kalibrering av mikroskop för korrelationsavbildning. dessutom kommer ett system av nanomarkörer också att införas på ytan av skyddsgreppet i korrelativa observationssystemet, vilket gör det möjligt att avsevärt öka precisionen i positioneringen av provet, inklusive kvantifiera avvikelsen av ortogonaliteten hos handtagsinställningen. förfarandet för fastställande och beräkning av korrektionskoefficienter för stickprovspositionering kommer att utvecklas. Den nya lösningen kan öka precisionen hos provet positionering flera gånger, eller till och med i storleksordning. De innovationer som införs kommer att resultera i en betydande förbättring av kvaliteten på hela systemet k (Swedish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: 42 § i infrastruktur- och utvecklingsministerns förordning av den 10 juli 2015 om beviljande av ekonomiskt stöd från den polska byrån för företagsutveckling inom ramen för det operativa programmet för smart tillväxt 2014–2020.Projektet förutsätter utveckling och testning av en ny produkt – en referensplatta för nanokalibrering (för systemet för korrelativ observation av ytor i mikro- och nanoskala och optimering av det korrelativa observationssystemet för samarbete med de prover som tagits fram). Slutprodukten kommer att ha innovativa egenskaper som skiljer den från för närvarande kända lösningar, dvs. —funktionalitet, genom standardplattans universalitet, kan användaren använda en och samma standardplatta i många mikroskopiska anordningar (med hjälp av t.ex. ljus- eller elektronstråle). ökad beständighet hos produkten mot yttre faktorer, på grund av plattans införande universalitet, måste den vara resistent mot många yttre faktorer där den kommer att användas, t.ex. temperatur, kemikalier eller strålning. —precision av plattan, under produktionen, kommer nanomarkörer att göras, vilket möjliggör betydande (även genom en storleksordning) ökning av precisionen i positioneringen av testberedningen och förbättrad kalibrering av mikroskop för korrelationsavbildning. dessutom kommer ett system av nanomarkörer också att införas på ytan av skyddsgreppet i korrelativa observationssystemet, vilket gör det möjligt att avsevärt öka precisionen i positioneringen av provet, inklusive kvantifiera avvikelsen av ortogonaliteten hos handtagsinställningen. förfarandet för fastställande och beräkning av korrektionskoefficienter för stickprovspositionering kommer att utvecklas. Den nya lösningen kan öka precisionen hos provet positionering flera gånger, eller till och med i storleksordning. De innovationer som införs kommer att resultera i en betydande förbättring av kvaliteten på hela systemet k (Swedish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: 42 § i infrastruktur- och utvecklingsministerns förordning av den 10 juli 2015 om beviljande av ekonomiskt stöd från den polska byrån för företagsutveckling inom ramen för det operativa programmet för smart tillväxt 2014–2020.Projektet förutsätter utveckling och testning av en ny produkt – en referensplatta för nanokalibrering (för systemet för korrelativ observation av ytor i mikro- och nanoskala och optimering av det korrelativa observationssystemet för samarbete med de prover som tagits fram). Slutprodukten kommer att ha innovativa egenskaper som skiljer den från för närvarande kända lösningar, dvs. —funktionalitet, genom standardplattans universalitet, kan användaren använda en och samma standardplatta i många mikroskopiska anordningar (med hjälp av t.ex. ljus- eller elektronstråle). ökad beständighet hos produkten mot yttre faktorer, på grund av plattans införande universalitet, måste den vara resistent mot många yttre faktorer där den kommer att användas, t.ex. temperatur, kemikalier eller strålning. —precision av plattan, under produktionen, kommer nanomarkörer att göras, vilket möjliggör betydande (även genom en storleksordning) ökning av precisionen i positioneringen av testberedningen och förbättrad kalibrering av mikroskop för korrelationsavbildning. dessutom kommer ett system av nanomarkörer också att införas på ytan av skyddsgreppet i korrelativa observationssystemet, vilket gör det möjligt att avsevärt öka precisionen i positioneringen av provet, inklusive kvantifiera avvikelsen av ortogonaliteten hos handtagsinställningen. förfarandet för fastställande och beräkning av korrektionskoefficienter för stickprovspositionering kommer att utvecklas. Den nya lösningen kan öka precisionen hos provet positionering flera gånger, eller till och med i storleksordning. De innovationer som införs kommer att resultera i en betydande förbättring av kvaliteten på hela systemet k (Swedish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Number_reference_aid_programm: SA.42799(2015/X), abi_de_minimis: Taristu- ja arendusministri 10. juuli 2015. aasta määruse „Poola ettevõtluse arendamise ameti rahalise abi andmise kohta aruka majanduskasvu rakenduskava 2014–2020 raames“ § 42. Projekt eeldab uue toote – nanokalibreerimise võrdlusplaadi arendamist ja katsetamist (mikro- ja nanoskaala pindade korrelatiivse vaatlussüsteemi ja sellega seotud vaatlussüsteemi optimeerimise jaoks, et teha koostööd välja töötatud proovidega). Lõpptootel on uuenduslikud omadused, mis eristavad seda praegu tuntud lahendustest, st. –funktsionaalsus standardplaadi universaalsuse kaudu saab kasutaja kasutada ühte ja sama standardplaati paljudes mikroskoopilistes seadmetes (kasutades näiteks valgust või elektronkiirt); –toote suurenenud vastupidavus välistele teguritele, mis on tingitud plaadi universaalsusest, peab see olema vastupidav paljudele välisteguritele, milles seda kasutatakse, näiteks temperatuurile, kemikaalidele või kiirgusele; –plaadi täpsusega tehakse tootmise ajal nanomarkerid, mis võimaldavad oluliselt (isegi suurusjärgus) suurendada katsepreparaadi positsioneerimistäpsust ja parandada mikroskoopide kalibreerimist korrelatsiooni kuvamiseks; lisaks võetakse korrelatiivse vaatlussüsteemi kaitsehaare pinnale kasutusele ka nanomarkerite süsteem, mis võimaldab oluliselt suurendada proovi positsioneerimise täpsust, sealhulgas mõõta käepideme ortogonaalsuse kõrvalekallet. töötatakse välja valimi positsioneerimise paranduskoefitsientide määramise ja arvutamise kord. Uus lahendus võib suurendada proovi positsioneerimise täpsust mitu korda või isegi suurusjärgus. Kasutusele võetud uuendused parandavad märkimisväärselt kogu süsteemi kvaliteeti k (Estonian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programm: SA.42799(2015/X), abi_de_minimis: Taristu- ja arendusministri 10. juuli 2015. aasta määruse „Poola ettevõtluse arendamise ameti rahalise abi andmise kohta aruka majanduskasvu rakenduskava 2014–2020 raames“ § 42. Projekt eeldab uue toote – nanokalibreerimise võrdlusplaadi arendamist ja katsetamist (mikro- ja nanoskaala pindade korrelatiivse vaatlussüsteemi ja sellega seotud vaatlussüsteemi optimeerimise jaoks, et teha koostööd välja töötatud proovidega). Lõpptootel on uuenduslikud omadused, mis eristavad seda praegu tuntud lahendustest, st. –funktsionaalsus standardplaadi universaalsuse kaudu saab kasutaja kasutada ühte ja sama standardplaati paljudes mikroskoopilistes seadmetes (kasutades näiteks valgust või elektronkiirt); –toote suurenenud vastupidavus välistele teguritele, mis on tingitud plaadi universaalsusest, peab see olema vastupidav paljudele välisteguritele, milles seda kasutatakse, näiteks temperatuurile, kemikaalidele või kiirgusele; –plaadi täpsusega tehakse tootmise ajal nanomarkerid, mis võimaldavad oluliselt (isegi suurusjärgus) suurendada katsepreparaadi positsioneerimistäpsust ja parandada mikroskoopide kalibreerimist korrelatsiooni kuvamiseks; lisaks võetakse korrelatiivse vaatlussüsteemi kaitsehaare pinnale kasutusele ka nanomarkerite süsteem, mis võimaldab oluliselt suurendada proovi positsioneerimise täpsust, sealhulgas mõõta käepideme ortogonaalsuse kõrvalekallet. töötatakse välja valimi positsioneerimise paranduskoefitsientide määramise ja arvutamise kord. Uus lahendus võib suurendada proovi positsioneerimise täpsust mitu korda või isegi suurusjärgus. Kasutusele võetud uuendused parandavad märkimisväärselt kogu süsteemi kvaliteeti k (Estonian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Number_reference_aid_programm: SA.42799(2015/X), abi_de_minimis: Taristu- ja arendusministri 10. juuli 2015. aasta määruse „Poola ettevõtluse arendamise ameti rahalise abi andmise kohta aruka majanduskasvu rakenduskava 2014–2020 raames“ § 42. Projekt eeldab uue toote – nanokalibreerimise võrdlusplaadi arendamist ja katsetamist (mikro- ja nanoskaala pindade korrelatiivse vaatlussüsteemi ja sellega seotud vaatlussüsteemi optimeerimise jaoks, et teha koostööd välja töötatud proovidega). Lõpptootel on uuenduslikud omadused, mis eristavad seda praegu tuntud lahendustest, st. –funktsionaalsus standardplaadi universaalsuse kaudu saab kasutaja kasutada ühte ja sama standardplaati paljudes mikroskoopilistes seadmetes (kasutades näiteks valgust või elektronkiirt); –toote suurenenud vastupidavus välistele teguritele, mis on tingitud plaadi universaalsusest, peab see olema vastupidav paljudele välisteguritele, milles seda kasutatakse, näiteks temperatuurile, kemikaalidele või kiirgusele; –plaadi täpsusega tehakse tootmise ajal nanomarkerid, mis võimaldavad oluliselt (isegi suurusjärgus) suurendada katsepreparaadi positsioneerimistäpsust ja parandada mikroskoopide kalibreerimist korrelatsiooni kuvamiseks; lisaks võetakse korrelatiivse vaatlussüsteemi kaitsehaare pinnale kasutusele ka nanomarkerite süsteem, mis võimaldab oluliselt suurendada proovi positsioneerimise täpsust, sealhulgas mõõta käepideme ortogonaalsuse kõrvalekallet. töötatakse välja valimi positsioneerimise paranduskoefitsientide määramise ja arvutamise kord. Uus lahendus võib suurendada proovi positsioneerimise täpsust mitu korda või isegi suurusjärgus. Kasutusele võetud uuendused parandavad märkimisväärselt kogu süsteemi kvaliteeti k (Estonian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 26 July 2022
| |||||||||||||||
| Property / programme | |||||||||||||||
| Property / programme: Smart growth - PL - ERDF / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / fund | |||||||||||||||
| Property / fund: European Regional Development Fund / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / beneficiary | |||||||||||||||
| Property / beneficiary: Q2511882 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
299,990.0 zloty
| |||||||||||||||
| Property / budget: 299,990.0 zloty / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
66,687.78 Euro
| |||||||||||||||
| Property / budget: 66,687.78 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / budget: 66,687.78 Euro / qualifier | |||||||||||||||
exchange rate to Euro: 0.24 Euro
| |||||||||||||||
| Property / budget: 66,687.78 Euro / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 13 January 2020
| |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
WOJ.: PODKARPACKIE, POW.: strzyżowski | |||||||||||||||
| Property / location (string): WOJ.: PODKARPACKIE, POW.: strzyżowski / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / priority axis | |||||||||||||||
| Property / priority axis: SUPPORTING THE ENVIRONMENT AND POTENTIAL OF ENTERPRISES TO CONDUCT R & D ACTIVITIES / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
85.0 percent
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 85.0 percent / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location | |||||||||||||||
49°52'35.47"N, 21°42'57.28"E
| |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 49°52'35.47"N, 21°42'57.28"E / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 49°52'35.47"N, 21°42'57.28"E / qualifier | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Rzeszowski / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Rzeszowski / qualifier | |||||||||||||||
| Property / thematic objective | |||||||||||||||
| Property / thematic objective: Research and innovation / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / date of last update | |||||||||||||||
24 May 2023
| |||||||||||||||
| Property / date of last update: 24 May 2023 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
Latest revision as of 21:50, 12 October 2024
Project Q81354 in Poland
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Development of a new product – a nanocalibration reference plate for correlative surface observation system in micro- and nanoscales. |
Project Q81354 in Poland |
Statements
254,991.5 zloty
0 references
299,990.0 zloty
0 references
85.0 percent
0 references
2 January 2018
0 references
30 April 2019
0 references
CORRESCOPY MICHAŁ DYKAS
0 references
Numer_referencyjny_programu_pomocowego: SA.42799(2015/X), pomoc_de_minimis: §42 rozporządzenia Ministra Infrastruktury i Rozwoju z dnia 10 lipca 2015 r. w sprawie udzielania przez Polską Agencję Rozwoju Przedsiębiorczości pomocy finansowej w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014–2020.Projekt zakłada opracowanie i przebadanie nowego wyrobu - nanokalibracyjnej płytki wzorcowej (dla systemu korelacyjnej obserwacji powierzchni w mikro- i nanoskali oraz optymalizacje systemu korelacyjnej obserwacji do współpracy z opracowanymi próbkami. Finalny produkt będzie miał cechy innowacyjne wyróżniające go od obecnie znanych rozwiązań tj. -funkcjonalność, poprzez uniwersalność płytki wzorcowej użytkownik może zastosować jedną i tą samą płytkę wzorcową w wielu urządzeniach mikroskopowych (wykorzystujących np. światło czy wiązkę elektronową); -zwiększona odporność produktu na czynniki zewnętrzne, poprzez wprowadzoną uniwersalność płytki, musi ona być odporna na wiele czynników zewnętrznych w których będzie używana, np. temperaturę, środki chemiczne, czy działanie promieniowania; -precyzyjność płytki, przy produkcji wykonane zostaną nanomarkery, które pozwalają na znaczące (nawet o rząd wielkości) zwiększenie precyzji ustalania położenia badanego preparatu oraz ulepszoną kalibrację mikroskopów pod kątem obrazowania korelacyjnego; -dodatkowo, wprowadzony będzie także układ nanomarkerów na powierzchni refencyjnej uchwytu systemu korelacyjnej obserwacji, pozwalający znacząco zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki, w tym także ilościowo ocenić odchylenie ortogonalności ustawienia uchwytu. -opracowana zostanie procedura wprowadzania nastaw i obliczania współczynników korekcyjnych pozycjonowania próbki. Nowe rozwiązanie może zwiększyć precyzję pozycjonowania próbki kilkukrotnie, a nawet o rząd wielkości. Wprowadzone innowacje będą skutkować znacznym podniesieniem jakości całego systemu k (Polish)
0 references
Reference number of the aid programme: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: §42 of the Regulation of the Minister of Infrastructure and Development of 10 July 2015 on the granting by the Polish Agency for Enterprise Development financial assistance under the Operational Programme Intelligent Development 2014-2020.The project assumes the development and testing of a new product – a nanocalibration calibration plate (for the correlated system of surface observation in micro- and nanoscales and optimisation of the correlation system of observation to cooperate with the samples developed. The final product will have innovative features that distinguish it from currently known solutions i.e. —functionality, through the versatility of the reference plate, the user can use one and the same reference plate in many microscopic devices (using e.g. light or electron beam); —increased resistance of the product to external factors, through the introduction of the versatility of the plate, it must be resistant to many external factors in which it will be used, e.g. temperature, chemicals or radiation; —the precision of the plate, in production, will be made nanomarkers, which allow for a significant (even an order of size) increase the precision of the positioning of the test preparation and improved calibration of microscopes for correlation imaging; —in addition, a system of nanomarkers will also be introduced on the reef surface of the handle of the correlation observation system, which allows to significantly increase the precision of the positioning of the sample, including quantifying the deviation of the orthogonality of the positioning of the handle. —a procedure for setting up and calculating the corrective factors for the positioning of the sample will be developed. The new solution can increase the precision of positioning the sample several times, or even by an order of magnitude. The innovations introduced will result in a significant improvement in the quality of the whole system k (English)
14 October 2020
0.3289960694286547
0 references
Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 du règlement du ministre des Infrastructures et du Développement du 10 juillet 2015 relatif à l’octroi d’une aide financière par l’Agence polonaise pour le développement des entreprises dans le cadre du programme opérationnel «Croissance intelligente» 2014-2020.Le projet suppose le développement et l’essai d’un nouveau produit — une plaque de référence de nanoétalonnage (pour le système d’observation corrélative des surfaces dans les micro- et nanoéchelles et l’optimisation du système d’observation corrélative pour la coopération avec les échantillons développés). Le produit final aura des caractéristiques innovantes qui le distinguent des solutions actuellement connues, c’est-à-dire. —fonctionnalité, grâce à l’universalité de la plaque standard, l’utilisateur peut utiliser une seule et même plaque standard dans de nombreux dispositifs microscopiques (en utilisant par exemple le faisceau de lumière ou d’électrons); —augmentation de la résistance du produit aux facteurs externes, en raison de l’universalité introduite de la plaque, il doit être résistant à de nombreux facteurs externes dans lesquels il sera utilisé, par exemple la température, les produits chimiques ou les rayonnements; —la précision de la plaque, pendant la production, des nanomarqueurs seront réalisés, ce qui permettra une augmentation significative (même d’un ordre de grandeur) de la précision du positionnement de la préparation d’essai et l’amélioration de l’étalonnage des microscopes pour l’imagerie par corrélation; en outre, un système de nanomarqueurs sera également introduit sur la surface de l’adhérence protectrice du système d’observation corrélative, permettant d’augmenter significativement la précision du positionnement de l’échantillon, y compris la quantification de l’écart de l’orthogonalité du réglage de la poignée. —la procédure de fixation et de calcul des coefficients correcteurs de positionnement de l’échantillon sera élaborée. La nouvelle solution peut augmenter la précision du positionnement de l’échantillon plusieurs fois, voire d’un ordre de grandeur. Les innovations introduites se traduiront par une amélioration significative de la qualité de l’ensemble du système k (French)
30 November 2021
0 references
Number_reference_aid_Programm: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: § 42 der Verordnung des Ministers für Infrastruktur und Entwicklung vom 10. Juli 2015 über die Gewährung von Finanzhilfen durch die polnische Agentur für Unternehmensentwicklung im Rahmen des operationellen Programms „Intelligentes Wachstum“ 2014-2020.Das Projekt geht von der Entwicklung und Erprobung eines neuen Produkts aus – einer Nanokalibrierungs-Referenzplatte (für das System der korrelativen Beobachtung von Oberflächen in Mikro- und Nanoskalen und der Optimierung des korrelativen Beobachtungssystems für die Zusammenarbeit mit den entwickelten Proben). Das Endprodukt wird innovative Merkmale aufweisen, die es von derzeit bekannten Lösungen unterscheiden, d. h. —Funktionalität, durch die Universalität der Standardplatte, kann der Benutzer ein und dieselbe Standardplatte in vielen mikroskopischen Geräten verwenden (z. B. Licht- oder Elektronenstrahl); —erhöhte Beständigkeit des Produkts gegen äußere Faktoren, aufgrund der eingeführten Universalität der Platte, muss es gegen viele äußere Faktoren resistent sein, bei denen es verwendet wird, z. B. Temperatur, Chemikalien oder Strahlung; —Präzision der Platte, während der Produktion werden Nanomarker hergestellt, die eine signifikante (auch um eine Größenordnung) Erhöhung der Präzision der Positionierung der Testvorbereitung und eine verbesserte Kalibrierung von Mikroskopen für die Korrelationsbildgebung ermöglichen; darüber hinaus wird auch ein System von Nanomarkern auf der Oberfläche des Schutzgriffs des korrelativen Beobachtungssystems eingeführt, wodurch die Präzision der Positionierung der Probe signifikant erhöht werden kann, einschließlich der Quantifizierung der Abweichung der Orthogonalität der Griffeinstellung. —das Verfahren zur Festlegung und Berechnung der Korrekturkoeffizienten zur Probenpositionierung wird entwickelt. Die neue Lösung kann die Genauigkeit der Probenpositionierung um ein Vielfaches oder sogar um eine Größenordnung erhöhen. Die eingeführten Innovationen führen zu einer deutlichen Verbesserung der Qualität des gesamten Systems k (German)
7 December 2021
0 references
Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 van de verordening van de minister van Infrastructuur en Ontwikkeling van 10 juli 2015 betreffende de toekenning van financiële bijstand door het Poolse Agentschap voor de ontwikkeling van ondernemingen in het kader van het operationele programma voor slimme groei 2014-2020.Het project veronderstelt de ontwikkeling en het testen van een nieuw product — een nanokalibratiereferentieplaat (voor het systeem van correlatieve observatie van oppervlakken in micro- en nanoschalen en optimalisering van het correlatieve observatiesysteem voor samenwerking met de ontwikkelde monsters). Het eindproduct zal innovatieve kenmerken hebben die het onderscheiden van momenteel bekende oplossingen, d.w.z. —functionaliteit, door de universaliteit van de standaardplaat, kan de gebruiker één en dezelfde standaardplaat gebruiken in vele microscopische apparaten (met behulp van bijvoorbeeld licht of elektronenstraal); —verhoogde weerstand van het product tegen externe factoren, als gevolg van de geïntroduceerde universaliteit van de plaat, moet het bestand zijn tegen vele externe factoren waarin het zal worden gebruikt, bijvoorbeeld temperatuur, chemicaliën of straling; —precisie van de plaat, tijdens de productie, nanomarkers zullen worden gemaakt, waardoor significante (zelfs door een orde van grootte) verhoging van de precisie van het plaatsen van de testvoorbereiding en verbeterde kalibratie van microscopen voor correlatiebeeldvorming mogelijk is; bovendien zal een systeem van nanomarkers ook worden geïntroduceerd op het oppervlak van de beschermende greep van het correlatieve observatiesysteem, waardoor de precisie van de positionering van het monster aanzienlijk wordt verhoogd, inclusief het kwantificeren van de afwijking van de orthogonaliteit van de handgreepinstelling. —de procedure voor het vaststellen en berekenen van de correctiecoëfficiënten voor de steekproefpositie zal worden ontwikkeld. De nieuwe oplossing kan de nauwkeurigheid van de steekproefpositie meerdere malen verhogen, of zelfs door een orde van grootte. De geïntroduceerde innovaties zullen resulteren in een aanzienlijke verbetering van de kwaliteit van het hele systeem k (Dutch)
16 December 2021
0 references
Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 del Regolamento del Ministro delle Infrastrutture e dello Sviluppo del 10 luglio 2015 relativo alla concessione dell'assistenza finanziaria da parte dell'Agenzia polacca per lo sviluppo delle imprese nell'ambito del programma operativo di crescita intelligente 2014-2020.Il progetto assume lo sviluppo e la sperimentazione di un nuovo prodotto — una targa di riferimento per la nanocalibrazione (per il sistema di osservazione correlativa delle superfici in micro e nanoscale e ottimizzazione del sistema di osservazione correlato per la cooperazione con i campioni sviluppati). Il prodotto finale avrà caratteristiche innovative che lo contraddistinguono dalle soluzioni attualmente conosciute, vale a dire —funzionalità, attraverso l'universalità della piastra standard, l'utente può utilizzare una stessa piastra standard in molti dispositivi microscopici (utilizzando ad esempio luce o fascio di elettroni); —aumento della resistenza del prodotto a fattori esterni, a causa dell'universalità introdotta della piastra, deve essere resistente a molti fattori esterni in cui verrà utilizzato, ad esempio temperatura, sostanze chimiche o radiazioni; —precisione della piastra, durante la produzione, saranno realizzati nanomarcatori, che consentono un aumento significativo (anche di un ordine di grandezza) nella precisione di posizionamento della preparazione della prova e una migliore calibrazione dei microscopi per l'imaging di correlazione; inoltre, verrà introdotto un sistema di nanomarcatori anche sulla superficie dell'impugnatura protettiva del sistema di osservazione correlato, consentendo di aumentare significativamente la precisione del posizionamento del campione, compresa la quantificazione della deviazione dell'ortogonalità della regolazione della maniglia. —sarà sviluppata la procedura per la fissazione e il calcolo dei coefficienti correttori di posizionamento del campione. La nuova soluzione può aumentare la precisione del posizionamento del campione più volte, o anche di un ordine di grandezza. Le innovazioni introdotte si tradurranno in un significativo miglioramento della qualità dell'intero sistema k (Italian)
15 January 2022
0 references
Number_reference_aid_programa: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 del Reglamento del Ministro de Infraestructuras y Desarrollo, de 10 de julio de 2015, relativo a la concesión de ayuda financiera por parte de la Agencia Polaca para el Desarrollo Empresarial en el marco del Programa Operativo de Crecimiento Inteligente 2014-2020. El proyecto asume el desarrollo y ensayo de un nuevo producto — una placa de referencia de nanocalibración (para el sistema de observación correlativa de superficies en micro y nanoescala y optimización del sistema de observación correlativa para la cooperación con las muestras desarrolladas). El producto final tendrá características innovadoras que lo distinguen de las soluciones actualmente conocidas, es decir. —funcionalidad, a través de la universalidad de la placa estándar, el usuario puede utilizar una y la misma placa estándar en muchos dispositivos microscópicos (usando, por ejemplo, luz o haz de electrones); —aumento de la resistencia del producto a factores externos, debido a la universalidad introducida de la placa, debe ser resistente a muchos factores externos en los que se utilizará, por ejemplo, temperatura, productos químicos o radiación; —precisión de la placa, durante la producción, se realizarán nanomarcadores, que permiten un aumento significativo (incluso por un orden de magnitud) en la precisión del posicionamiento de la preparación de la prueba y una mejor calibración de los microscopios para imágenes de correlación; además, también se introducirá un sistema de nanomarcadores en la superficie del agarre protector del sistema de observación correlativa, lo que permitirá aumentar significativamente la precisión del posicionamiento de la muestra, incluida la cuantificación de la desviación de la ortogonalidad del ajuste del mango. —se desarrollará el procedimiento para establecer y calcular los coeficientes correctores de posicionamiento de la muestra. La nueva solución puede aumentar la precisión del posicionamiento de la muestra varias veces, o incluso por un orden de magnitud. Las innovaciones introducidas darán lugar a una mejora significativa en la calidad de todo el sistema k (Spanish)
19 January 2022
0 references
Nummer_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 i bekendtgørelse af 10. juli 2015 fra ministeren for infrastruktur og udvikling om finansiel støtte fra det polske agentur for virksomhedsudvikling under det operationelle program for intelligent vækst 2014-2020. Projektet forudsætter udvikling og afprøvning af et nyt produkt — en nanokalibreringsreferenceplade (til systemet med korrelativ observation af overflader i mikro- og nanoskalaer og optimering af det korrelative observationssystem for samarbejde med de udviklede prøver). Det endelige produkt vil have innovative egenskaber, der adskiller det fra aktuelt kendte løsninger, dvs. —funktionalitet, gennem universaliteten af standardpladen, kan brugeren bruge en og samme standardplade i mange mikroskopiske enheder (ved hjælp af f.eks. lys- eller elektronstråle); —øget modstand af produktet over for eksterne faktorer, på grund af den indførte universalitet af pladen, skal det være modstandsdygtigt over for mange eksterne faktorer, hvor det vil blive anvendt, f.eks. temperatur, kemikalier eller stråling; —præcision af pladen, under produktionen, nanomarkører vil blive foretaget, hvilket giver mulighed for betydelig (selv efter en størrelsesorden) stigning i præcisionen af positioneringen af testpræparatet og forbedret kalibrering af mikroskoper til korrelationsbilleddannelse; derudover vil der også blive indført et system af nanomarkører på overfladen af det beskyttende greb i det korrelative observationssystem, hvilket gør det muligt væsentligt at øge præcisionen af placeringen af prøven, herunder kvantificering af afvigelsen af håndtagets ortogonalitet. —proceduren for fastsættelse og beregning af korrektionskoefficienter for stikprøvepositioner vil blive udviklet. Den nye løsning kan øge præcisionen af prøven positionering flere gange, eller endda ved en størrelsesorden. De nyskabelser, der indføres, vil resultere i en betydelig forbedring af hele systemets kvalitet k (Danish)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_πρόγραμμα: SA.42799(2015/X), ενίσχυση_de_minimis: Άρθρο 42 του Κανονισμού του Υπουργού Υποδομών και Ανάπτυξης της 10ης Ιουλίου 2015 σχετικά με τη χορήγηση χρηματοδοτικής συνδρομής από τον Πολωνικό Οργανισμό για την Ανάπτυξη Επιχειρήσεων στο πλαίσιο του Επιχειρησιακού Προγράμματος Έξυπνης Ανάπτυξης 2014-2020.Το έργο προϋποθέτει την ανάπτυξη και δοκιμή νέου προϊόντος — πλάκας αναφοράς νανοβαθμονόμησης (για το σύστημα της συσχετικής παρατήρησης επιφανειών σε μικρο- και νανοκλίμακες και της βελτιστοποίησης του συσχετικού συστήματος παρατήρησης για τη συνεργασία με τα δείγματα που αναπτύχθηκαν). Το τελικό προϊόν θα έχει καινοτόμα χαρακτηριστικά που θα το διακρίνουν από τις επί του παρόντος γνωστές λύσεις, π.χ. —λειτουργικότητα, μέσω της καθολικότητας της τυποποιημένης πλάκας, ο χρήστης μπορεί να χρησιμοποιήσει ένα και το αυτό τυποποιημένο πιάτο σε πολλές μικροσκοπικές συσκευές (χρησιμοποιώντας π.χ. δέσμη φωτός ή ηλεκτρονίων). —αυξημένη αντοχή του προϊόντος σε εξωτερικούς παράγοντες, λόγω της καθολικότητας της πλάκας, πρέπει να είναι ανθεκτική σε πολλούς εξωτερικούς παράγοντες στους οποίους θα χρησιμοποιηθεί, π.χ. θερμοκρασία, χημικές ουσίες ή ακτινοβολία· —ακριβότητα της πλάκας, κατά τη διάρκεια της παραγωγής, νανοδείκτες, οι οποίοι επιτρέπουν σημαντική (ακόμη και κατά τάξη μεγέθους) αύξηση της ακρίβειας της τοποθέτησης του παρασκευάσματος της δοκιμής και βελτιωμένη βαθμονόμηση των μικροσκόπιων για απεικόνιση συσχέτισης· επιπλέον, θα εισαχθεί επίσης ένα σύστημα νανοδεικτών στην επιφάνεια της προστατευτικής πρόσφυσης του συσχετικού συστήματος παρατήρησης, επιτρέποντας τη σημαντική αύξηση της ακρίβειας της θέσης του δείγματος, συμπεριλαμβανομένου του ποσοτικού προσδιορισμού της απόκλισης της ορθογονικότητας της ρύθμισης της λαβής. —θα αναπτυχθεί η διαδικασία για τον καθορισμό και τον υπολογισμό των διορθωτικών συντελεστών προσδιορισμού του στίγματος του δείγματος. Η νέα λύση μπορεί να αυξήσει την ακρίβεια της τοποθέτησης του δείγματος αρκετές φορές, ή ακόμη και με μια τάξη μεγέθους. Οι καινοτομίες που εισάγονται θα οδηγήσουν σε σημαντική βελτίωση της ποιότητας ολόκληρου του συστήματος k (Greek)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 Uredbe ministra infrastrukture i razvoja od 10. srpnja 2015. o dodjeli financijske pomoći od strane poljske agencije za razvoj poduzetništva u okviru Operativnog programa za pametan rast 2014. – 2020. Projekt pretpostavlja razvoj i ispitivanje novog proizvoda – referentne ploče nanokalibracije (za sustav korelativnog promatranja površina u mikro- i nanoljesticama te optimizaciju sustava korelativnog promatranja za suradnju s razvijenim uzorcima). Konačni proizvod imat će inovativne značajke koje ga razlikuju od trenutačno poznatih rješenja, tj. —funkcionalnost, zahvaljujući univerzalnosti standardne ploče, korisnik može koristiti jednu te istu standardnu ploču u mnogim mikroskopskim uređajima (npr. svjetlosnim snopom ili snopom elektrona); —povećana otpornost proizvoda na vanjske čimbenike, zbog uvedene univerzalnosti ploče, mora biti otporna na mnoge vanjske čimbenike u kojima će se koristiti, npr. temperaturu, kemikalije ili zračenje; —preciznost ploče, tijekom proizvodnje, napravit će se nanomarkeri koji omogućuju značajno (čak i redoslijedom veličine) povećanje preciznosti pozicioniranja pripravka ispitivanja i poboljšanu kalibraciju mikroskopa za korelacijsko snimanje; osim toga, na površini zaštitnog prianjanja sustava za korelativno promatranje uvodi se i sustav nanomarkera, čime će se znatno povećati preciznost pozicioniranja uzorka, uključujući kvantifikaciju odstupanja ortogonalnosti namještanja ručke. —razvit će se postupak za postavljanje i izračun korekcijskih koeficijenata pozicioniranja uzorka. Novo rješenje može povećati preciznost pozicioniranja uzorka nekoliko puta, pa čak i redoslijedom veličine. Uvedene inovacije rezultirat će značajnim poboljšanjem kvalitete cijelog sustava k (Croatian)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 din Regulamentul Ministrului Infrastructurii și Dezvoltării din 10 iulie 2015 privind acordarea de asistență financiară de către Agenția poloneză pentru dezvoltarea întreprinderilor în cadrul Programului Operațional Creștere Inteligentă 2014-2020.Proiectul presupune dezvoltarea și testarea unui nou produs – o placă de referință pentru nanocalibrare (pentru sistemul de observare corelativă a suprafețelor în micro- și nanoscale și optimizarea sistemului de observare corelativă pentru cooperarea cu eșantioanele dezvoltate). Produsul final va avea caracteristici inovatoare care îl diferențiază de soluțiile cunoscute în prezent, și anume. —funcționalitatea, prin universalitatea plăcii standard, utilizatorul poate utiliza una și aceeași placă standard în multe dispozitive microscopice (utilizând, de exemplu, lumina sau fasciculul de electroni); rezistența crescută a produsului la factorii externi, datorită universalității introduse a plăcii, trebuie să fie rezistentă la mulți factori externi în care va fi utilizat, de exemplu temperatura, substanțele chimice sau radiațiile; —precizia plăcii, în timpul producției, se vor realiza nanomarkeri, care permit o creștere semnificativă (chiar și printr-un ordin de mărime) a preciziei de poziționare a pregătirii încercării și o calibrare îmbunătățită a microscoapelor pentru imagistica de corelare; în plus, se va introduce, de asemenea, un sistem de nanomarkeri pe suprafața mânerului protector al sistemului de observare corelativă, permițând creșterea semnificativă a preciziei poziționării eșantionului, inclusiv cuantificarea abaterii ortogonalității reglării mânerului. —se va elabora procedura de stabilire și calculare a coeficienților corectori de poziționare a eșantioanelor. Noua soluție poate crește precizia poziționării eșantionului de mai multe ori sau chiar printr-un ordin de mărime. Inovațiile introduse vor avea ca rezultat o îmbunătățire semnificativă a calității întregului sistem k (Romanian)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: § 42 Nariadenia ministra infraštruktúry a rozvoja z 10. júla 2015 o poskytnutí finančnej pomoci Poľskej agentúry pre rozvoj podnikania v rámci operačného programu Inteligentný rast na roky 2014 – 2020. Projekt predpokladá vývoj a testovanie nového produktu – nanokalibračnej referenčnej platne (pre systém korelatívneho pozorovania povrchov v mikro- a nanoúrovni a optimalizáciu systému korelatívneho pozorovania pre spoluprácu s vyvinutými vzorkami). Finálny produkt bude mať inovatívne vlastnosti, ktoré ho odlišujú od aktuálne známych riešení, t. j. —funkčnosť, prostredníctvom univerzálnosti štandardnej dosky, môže používateľ použiť jednu a tú istú štandardnú dosku v mnohých mikroskopických zariadeniach (napr. pomocou svetelného alebo elektrónového lúča); —zvýšená odolnosť výrobku voči vonkajším faktorom, v dôsledku zavedenia univerzálnosti dosky, musí byť odolný voči mnohým vonkajším faktorom, v ktorých sa bude používať, napr. teplote, chemikáliám alebo žiareniu; —presnosť dosky počas výroby sa vykonajú nanomarkery, ktoré umožňujú výrazné (aj v rádovom poradí) zvýšenie presnosti polohovania testovacej prípravy a zlepšenú kalibráciu mikroskopov pre korelačné zobrazovanie; okrem toho sa na povrchu ochrannej priľnavosti korelatívneho pozorovacieho systému zavedie aj systém nanomarkerov, čo umožní výrazne zvýšiť presnosť polohovania vzorky vrátane kvantifikácie odchýlky ortogonality nastavenia rukoväte. —vyvinie sa postup na nastavenie a výpočet korekčných koeficientov určovania polohy vzorky. Nové riešenie môže zvýšiť presnosť polohovania vzorky niekoľkokrát, alebo dokonca rádovo. Zavedené inovácie budú mať za následok výrazné zlepšenie kvality celého systému k (Slovak)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_programm: SA.42799(2015/X), għajnuna_de_minimis: §42 tar-Regolament tal-Ministru għall-Infrastruttura u l-Iżvilupp tal-10 ta’ Lulju 2015 dwar l-għoti ta’ assistenza finanzjarja mill-Aġenzija Pollakka għall-Iżvilupp tal-Intrapriżi taħt il-Programm Operazzjonali dwar it-Tkabbir Intelliġenti 2014–2020. Il-proġett jassumi l-iżvilupp u l-ittestjar ta’ prodott ġdid — pjanċa ta’ referenza tan-nanokalibrazzjoni (għas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva ta’ uċuħ f’mikroskali u nanoskali u l-ottimizzazzjoni tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva għall-kooperazzjoni mal-kampjuni żviluppati). Il-prodott finali se jkollu karatteristiċi innovattivi li jiddistingwuh minn soluzzjonijiet attwalment magħrufa, jiġifieri —funzjonalità, permezz tal-universalità tal-pjanċa standard, l-utent jista’ juża l-istess pjanċa standard f’ħafna apparati mikroskopiċi (bl-użu ta’ eż. dawl jew raġġ tal-elettroni); —reżistenza akbar tal-prodott għal fatturi esterni, minħabba l-universalità introdotta tal-pjanċa, trid tkun reżistenti għal ħafna fatturi esterni li fihom se tintuża, eż. it-temperatura, il-kimiċi jew ir-radjazzjoni; —il-preċiżjoni tal-pjanċa, matul il-produzzjoni, se jsiru nanomarkaturi, li jippermettu żieda sinifikanti (anki b’ordni ta’ kobor) fil-preċiżjoni tal-ippożizzjonar tal-preparazzjoni tat-test u kalibrazzjoni mtejba tal-mikroskopji għall-immaġni ta’ korrelazzjoni; barra minn hekk, se tiġi introdotta wkoll sistema ta’ nanomarkaturi fuq il-wiċċ tal-qabda protettiva tas-sistema ta’ osservazzjoni korrelattiva, li tippermetti li tiżdied b’mod sinifikanti l-preċiżjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun, inkluż il-kwantifikazzjoni tad-devjazzjoni tal-ortogonalità tas-setting tal-manku. —il-proċedura għall-iffissar u l-kalkolu tal-koeffiċjenti ta’ korrezzjoni tal-pożizzjonament tal-kampjun se tiġi żviluppata. Is-soluzzjoni l-ġdida tista ‘żżid il-preċiżjoni tal-pożizzjoni tal-kampjun diversi drabi, jew saħansitra b’ordni ta’ kobor. L-innovazzjonijiet introdotti se jirriżultaw f’titjib sinifikanti fil-kwalità tas-sistema kollha k (Maltese)
26 July 2022
0 references
Número de referência do programa de ajuda: SA.42799(2015/X), help_de_minimis: Ponto 42 do Regulamento do Ministro das Infraestruturas e do Desenvolvimento, de 10 de julho de 2015, relativo à concessão de assistência financeira pela Agência Polaca para o Desenvolvimento Empresarial ao abrigo do Programa Operacional «Desenvolvimento Inteligente» 2014-2020. O projeto pressupõe o desenvolvimento e o ensaio de um novo produto – uma placa de calibração de nanocalibração (para o sistema correlacionado de observação da superfície em micro e nanoescalas e a otimização do sistema de observação de correlação para cooperar com as amostras desenvolvidas). O produto final terá características inovadoras que o distinguem das soluções atualmente conhecidas, ou seja, a funcionalidade, através da versatilidade da placa de referência, permite ao utilizador utilizar uma única placa de referência em muitos dispositivos microscópicos (utilizando, por exemplo, feixes de luz ou de eletrões); —aumento da resistência do produto a fatores externos, através da introdução da versatilidade da placa, deve ser resistente a muitos fatores externos em que será utilizado, por exemplo, temperatura, produtos químicos ou radiação; —a precisão da placa, em produção, será constituída por nanomarcadores, que permitem um aumento significativo (mesmo por ordem de tamanho) da precisão do posicionamento da preparação de ensaio e uma melhor calibração dos microscópios para a imagiologia de correlação; —além disso, será também introduzido um sistema de nanomarcadores na superfície do recife do cabo do sistema de observação da correlação, que permite aumentar significativamente a precisão do posicionamento da amostra, incluindo a quantificação do desvio da ortogonalidade do posicionamento do cabo. —será desenvolvido um procedimento para estabelecer e calcular os fatores de correção para o posicionamento da amostra. A nova solução pode aumentar a precisão de posicionar a amostra várias vezes, ou mesmo por uma ordem de magnitude. As inovações introduzidas resultarão numa melhoria significativa da qualidade de todo o sistema k (Portuguese)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_ohjelma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Puolan yrityskehitysviraston rahoitusavun myöntämisestä älykkään kasvun toimenpideohjelman 2014–2020 puitteissa 10 päivänä heinäkuuta 2015 annetun infrastruktuuri- ja kehitysministerin asetuksen 42 §. Hankkeen lähtökohtana on uuden tuotteen – nanokalibroinnin vertailulevyn – kehittäminen ja testaus (mikro- ja nanomittakaavoissa olevien pintojen korrelatiivista havainnointia ja korrelatiivisen havainnointijärjestelmän optimointia varten kehitettyjen näytteiden kanssa tehtävää yhteistyötä varten). Lopputuotteessa on innovatiivisia ominaisuuksia, jotka erottavat sen nykyisin tunnetuista ratkaisuista, ts. —toimivuus standardilevyn universaalisuuden ansiosta käyttäjä voi käyttää yhtä ja samaa standardilevyä monissa mikroskooppisissa laitteissa (esimerkiksi valo- tai elektronisuihkulla); —tuotteen lisääntynyt vastustuskyky ulkoisille tekijöille, koska levy on yleistynyt, sen on oltava vastustuskykyinen monille ulkoisille tekijöille, joissa sitä käytetään, kuten lämpötila, kemikaalit tai säteily; —levyn tarkkuus, tuotannon aikana, tehdään nanomarkkereita, jotka mahdollistavat merkittävän (jopa suuruusluokkaa) suuremman paikannuksen tarkkuuden testin valmistelussa ja mikroskooppien paremman kalibroinnin korrelaatiokuvauksessa; lisäksi otetaan käyttöön nanomarkkerijärjestelmä korrelatiivisen havainnointijärjestelmän suojaotteen pinnalle, mikä lisää merkittävästi näytteen asemoinnin tarkkuutta, mukaan lukien kahva-asetuksen ortogonaalisuuden poikkeaman kvantifiointi. —otantapaikannuskorjauskertoimien määrittämistä ja laskemista varten kehitetään menettely. Uusi ratkaisu voi lisätä näytteen asemoinnin tarkkuutta useita kertoja tai jopa suuruusluokkaa. Käyttöönotetut innovaatiot parantavat merkittävästi koko järjestelmän k laatua. (Finnish)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Člen 42 uredbe ministra za infrastrukturo in razvoj z dne 10. julija 2015 o dodelitvi finančne pomoči poljske agencije za razvoj podjetništva v okviru operativnega programa za pametno rast 2014–2020.Projekt predvideva razvoj in preskušanje novega izdelka – nanokalibracijske referenčne plošče (za sistem korelativnega opazovanja površin v mikro- in nanoravni ter optimizacijo korelativnega sistema opazovanja za sodelovanje z razvitimi vzorci). Končni izdelek bo imel inovativne lastnosti, ki ga bodo razlikovale od trenutno znanih rešitev, tj. —funkcionalnost, z univerzalnostjo standardne plošče, lahko uporabnik uporablja eno in isto standardno ploščo v številnih mikroskopskih napravah (npr. z uporabo svetlobnega ali elektronskega žarka); —povečana odpornost izdelka na zunanje dejavnike, zaradi uvedene univerzalnosti plošče, mora biti odporna na številne zunanje dejavnike, pri katerih se bo uporabljal, npr. temperaturo, kemikalije ali sevanje; —natančnost plošče med proizvodnjo se izdela nanomarkerji, ki omogočajo znatno povečanje natančnosti pozicioniranja preskusne priprave (tudi po velikosti) in izboljšano kalibracijo mikroskopov za korelacijsko slikanje; poleg tega bo na površini zaščitnega oprijema korelativnega sistema za opazovanje uveden tudi sistem nanomarkerjev, kar bo omogočilo znatno povečanje natančnosti pozicioniranja vzorca, vključno s količinsko opredelitvijo odstopanja ortogonalnosti nastavitve ročaja. —postopek za nastavitev in izračun korekcijskih koeficientov pozicioniranja vzorca se bo razvil. Nova rešitev lahko večkrat poveča natančnost pozicioniranja vzorca ali celo po velikosti. Uvedene inovacije bodo znatno izboljšale kakovost celotnega sistema k (Slovenian)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), podpora_de_minimis: §42 Nařízení ministra infrastruktury a rozvoje ze dne 10. července 2015 o poskytování finanční pomoci ze strany Polské agentury pro rozvoj podnikání v rámci Operačního programu Inteligentní růst na období 2014–2020.Projekt předpokládá vývoj a testování nového produktu – nanokalibrační referenční desky (pro systém korelativního pozorování povrchů v mikro- a nanokapacitním měřítku a optimalizaci korelativního pozorovacího systému pro spolupráci s vyvinutými vzorky). Konečný produkt bude mít inovativní vlastnosti, které jej odlišují od aktuálně známých řešení, tj. —funkčnost, díky univerzálnosti standardní desky, může uživatel používat jednu a tutéž standardní desku v mnoha mikroskopických zařízeních (např. pomocí světelného nebo elektronového paprsku); —zvýšená odolnost výrobku vůči vnějším faktorům, vzhledem k zavedené univerzálnosti desky, musí být odolná vůči mnoha vnějším faktorům, ve kterých bude použit, např. teplotě, chemikáliím nebo záření; —přesnost desky, během výroby, budou provedeny nanomarkery, které umožní významné (i řádově) zvýšení přesnosti polohování zkušebního přípravku a lepší kalibraci mikroskopů pro korelační zobrazování; kromě toho bude na povrch ochranného přilnavosti korelativního pozorovacího systému zaveden systém nanomarkerů, který umožní výrazně zvýšit přesnost polohování vzorku, včetně kvantifikace odchylky ortogonality nastavení rukojeti. bude vypracován postup pro nastavení a výpočet korekčních koeficientů pro polohování vzorku. Nové řešení může zvýšit přesnost polohování vzorku několikrát, nebo dokonce o řádovou velikost. Zavedené inovace povedou k výraznému zlepšení kvality celého systému k (Czech)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_programme: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: 2015 m. liepos 10 d. Infrastruktūros ir plėtros ministro potvarkio dėl Lenkijos įmonių plėtros agentūros finansinės paramos skyrimo pagal Pažangaus augimo 2014–2020 m. veiksmų programą 42 straipsnis.Projekte numatoma sukurti ir išbandyti naują produktą – nanokalibracijos informacinę plokštę (susijusios mikro- ir nanoskalės paviršių stebėjimo sistemai ir koreliacijos stebėjimo sistemos optimizavimui bendradarbiavimui su sukurtais mėginiais). Galutinis produktas turės inovatyvių savybių, išskiriančių jį nuo šiuo metu žinomų sprendimų, t. y. funkcionalumas, dėl standartinės plokštelės universalumo naudotojas gali naudoti vieną ir tą pačią standartinę plokštelę daugelyje mikroskopinių įtaisų (pvz., šviesos arba elektronų pluošto); –padidėjęs produkto atsparumas išoriniams veiksniams dėl įvesto plokštės universalumo, jis turi būti atsparus daugeliui išorinių veiksnių, kuriems esant jis bus naudojamas, pvz., temperatūrai, cheminėms medžiagoms ar spinduliuotei; –gamybos metu plokštelės tikslumas atliekamas nanoženkleliais, kurie leidžia žymiai (net ir pagal dydį) padidinti bandomojo preparato padėties nustatymo tikslumą ir pagerinti mikroskopų kalibravimą koreliacijos vaizdo gavimo tikslais; be to, ant koreliacinės stebėjimo sistemos apsauginio sukibimo paviršiaus taip pat bus įdiegta nanožymalių sistema, leidžianti žymiai padidinti mėginio padėties nustatymo tikslumą, įskaitant kiekybinį rankenos nustatymo ortogonališkumo nuokrypį. –bus parengta mėginio padėties koregavimo koeficientų nustatymo ir apskaičiavimo tvarka. Naujasis sprendimas gali padidinti mėginio pozicionavimo tikslumą kelis kartus arba net pagal dydį. Įdiegtos naujovės žymiai pagerins visos sistemos k kokybę. (Lithuanian)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_programma: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Infrastruktūras un attīstības ministra 2015. gada 10. jūlija noteikumu par finansiālās palīdzības piešķiršanu, ko Polijas Uzņēmumu attīstības aģentūra piešķir saskaņā ar Viedās izaugsmes darbības programmu 2014.–2020. gadam, 42. pants.Projekts paredz jauna produkta — nanokalibrācijas references plāksnes — izstrādi un testēšanu (mikro un nanomērogu korelatīvās novērošanas sistēmai un korelatīvās novērošanas sistēmas optimizācijai sadarbībai ar izstrādātajiem paraugiem). Galaproduktam būs novatoriskas iezīmes, kas to atšķirs no pašlaik zināmiem risinājumiem, t. i. —funkcionalitāte, izmantojot standarta plāksnes universālumu, lietotājs var izmantot vienu un to pašu standarta plāksni daudzās mikroskopiskajās ierīcēs (izmantojot, piemēram, gaismas vai elektronu staru kūli); palielināta produkta izturība pret ārējiem faktoriem, jo plāksne ir universāla, tai jābūt izturīgai pret daudziem ārējiem faktoriem, kuros to izmantos, piemēram, pret temperatūru, ķimikālijām vai starojumu; —plates precizitāte ražošanas laikā tiks izgatavota nanomarķieriem, kas ļauj ievērojami (pat pēc lieluma) palielināt testa preparāta pozicionēšanas precizitāti un uzlabot mikroskopu kalibrēšanu korelācijas attēlveidošanai; turklāt uz korelatīvās novērošanas sistēmas aizsargājošās saķeres virsmas tiks ieviesta arī nanomarķieru sistēma, kas ļauj ievērojami palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti, tostarp kvantificējot roktura iestatījumu ortogonalitātes novirzi. izstrādās paraugu pozicionēšanas korekcijas koeficientu noteikšanas un aprēķināšanas procedūru. Jaunais šķīdums var palielināt parauga pozicionēšanas precizitāti vairākas reizes vai pat par lielumu. Ieviestie jauninājumi būtiski uzlabos visas sistēmas k kvalitāti. (Latvian)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_програма: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 от Наредбата на министъра на инфраструктурата и развитието от 10 юли 2015 г. за предоставяне на финансова помощ от Полската агенция за развитие на предприятията по Оперативна програма „Интелигентен растеж“ 2014—2020 г. Проектът предвижда разработването и изпитването на нов продукт — нанокалибрационна референтна табела (за системата за корелативно наблюдение на повърхности в микро- и наномащаб и оптимизиране на корелативната система за наблюдение за сътрудничество с разработените проби). Крайният продукт ще има иновативни характеристики, които го отличават от познатите понастоящем решения, т.е. —функционалност, чрез универсалността на стандартната табела, потребителят може да използва една и съща стандартна табела в много микроскопични изделия (като се използва например светлина или електронен лъч); повишена устойчивост на продукта на външни фактори, поради въведената универсалност на плочата, тя трябва да бъде устойчива на много външни фактори, при които ще се използва, например температура, химикали или радиация; —прецизност на плочата, по време на производството ще бъдат направени наномаркери, които позволяват значително (дори по порядък) увеличаване на прецизността на позиционирането на тестовия препарат и подобрено калибриране на микроскопи за корелационни изображения; освен това ще бъде въведена и система от наномаркери на повърхността на защитното захващане на корелативната система за наблюдение, което позволява значително да се увеличи прецизността на позиционирането на пробата, включително количествено да се определи отклонението на ортогоналността на настройката на дръжката. ще бъде разработена процедурата за определяне и изчисляване на корекционните коефициенти за позициониране на извадката. Новото решение може да увеличи точността на позиционирането на пробата няколко пъти или дори с порядък. Въведените иновации ще доведат до значително подобряване на качеството на цялата система (Bulgarian)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: Az infrastrukturális és fejlesztési miniszter 2015. július 10-i rendelete a 2014–2020-as Intelligens Növekedési Operatív Program keretében a Lengyel Vállalkozásfejlesztési Ügynökség pénzügyi támogatásáról.A projekt egy új termék – egy nanokalibrációs referenciatábla – kifejlesztését és tesztelését feltételezi (a mikro- és nanoméretű felületek korrelatív megfigyelési rendszeréhez és a korrelatív megfigyelési rendszer optimalizálásához a kifejlesztett mintákkal való együttműködés érdekében). A végtermék olyan innovatív jellemzőkkel fog rendelkezni, amelyek megkülönböztetik a jelenleg ismert megoldásoktól, azaz. –funkcionalitás, a szabványos lemez egyetemessége révén a felhasználó egy és ugyanazon szabványos lemezt használhat számos mikroszkopikus eszközben (pl. fény vagy elektronsugár használatával); a termék külső tényezőkkel szembeni fokozott ellenállása, a lemez bevezetett egyetemessége miatt, ellenállónak kell lennie számos olyan külső tényezővel szemben, amelyben használni fogják, pl. hőmérséklet, vegyi anyagok vagy sugárzás; a lemez pontosságát a gyártás során nanomarkerek készítik, amelyek lehetővé teszik a vizsgálati készítmény pozicionálási pontosságának jelentős (még nagyságrenddel is) növelését és a mikroszkópok korrelációs képalkotáshoz való jobb kalibrálását; ezenkívül nanomarkerekből álló rendszer kerül bevezetésre a korrelatív megfigyelési rendszer védő markolatának felületén, amely lehetővé teszi a minta pozicionálásának pontosságát, beleértve a fogantyúbeállítás ortogonalitásának eltérését is. –kifejlesztik a mintapozicionálási korrekciós együtthatók meghatározására és kiszámítására szolgáló eljárást. Az új megoldás több alkalommal, vagy akár nagyságrenddel is növelheti a minta pozicionálásának pontosságát. A bevezetett innovációk a teljes k rendszer minőségének jelentős javulását eredményezik. (Hungarian)
26 July 2022
0 references
Uimhir_reference_aid_clár: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: §42 den Rialachán ón Aire Bonneagair agus Forbartha an 10 Iúil 2015 maidir le cúnamh airgeadais a bheith á dheonú ag Gníomhaireacht na Polainne um Fhorbairt Fiontair faoin gClár Oibríochtúil um Fhás Cliste 2014-2020. Glactar leis sa tionscadal go ndéanfar táirge nua a fhorbairt agus a thástáil — pláta tagartha nanachalabraithe (le haghaidh an chórais um bhreathnú creimneach ar dhromchlaí i micreascálaí agus nanascálaithe agus barrfheabhsú an chórais bhreathnóireachta chomhthacaigh le haghaidh comhair leis na samplaí a forbraíodh). Beidh gnéithe nuálacha ag an táirge deiridh lena ndéanfar idirdhealú idir é agus réitigh atá ar eolas faoi láthair, i.e. —feidhmiúlacht, trí uilíocht an phláta chaighdeánaigh, is féidir leis an úsáideoir an pláta caighdeánach céanna a úsáid i go leor gléasanna micreascópacha (ag baint úsáide as e.g. bhíoma solais nó leictreon); friotaíocht mhéadaithe an táirge le fachtóirí seachtracha, mar gheall ar uilíocht an phláta a tugadh isteach, caithfidh sé a bheith frithsheasmhach in aghaidh go leor fachtóirí seachtracha ina n-úsáidfear é, e.g. teocht, ceimiceáin nó radaíocht; —déanfar beachtas an phláta, le linn an táirgthe, rud a fhágfaidh go dtiocfaidh méadú suntasach (fiú ar ord méide) ar bheachtas na hullmhóide tástála agus ar chalabrú feabhsaithe micreascóip le haghaidh íomháú comhghaoil; ina theannta sin, tabharfar córas nanamharcóirí isteach freisin ar dhromchla greim cosanta an chórais bhreathnóireachta chreimnigh, rud a fhágann gur féidir cruinneas shuíomh an tsampla a mhéadú go suntasach, lena n-áirítear diall orthogonality an tsuímh láimhseála a chainníochtú. —forbrófar an nós imeachta chun comhéifeachtaí ceartúcháin suímh samplacha a shocrú agus a ríomh. Is féidir leis an réiteach nua cruinneas an tsampla suite a mhéadú arís agus arís eile, nó fiú le hordú méide. Beidh feabhas suntasach ar chaighdeán an chórais iomlán k mar thoradh ar na nuálaíochtaí a tugadh isteach (Irish)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_program: SA.42799(2015/X), aid_de_minimis: 42 § i infrastruktur- och utvecklingsministerns förordning av den 10 juli 2015 om beviljande av ekonomiskt stöd från den polska byrån för företagsutveckling inom ramen för det operativa programmet för smart tillväxt 2014–2020.Projektet förutsätter utveckling och testning av en ny produkt – en referensplatta för nanokalibrering (för systemet för korrelativ observation av ytor i mikro- och nanoskala och optimering av det korrelativa observationssystemet för samarbete med de prover som tagits fram). Slutprodukten kommer att ha innovativa egenskaper som skiljer den från för närvarande kända lösningar, dvs. —funktionalitet, genom standardplattans universalitet, kan användaren använda en och samma standardplatta i många mikroskopiska anordningar (med hjälp av t.ex. ljus- eller elektronstråle). ökad beständighet hos produkten mot yttre faktorer, på grund av plattans införande universalitet, måste den vara resistent mot många yttre faktorer där den kommer att användas, t.ex. temperatur, kemikalier eller strålning. —precision av plattan, under produktionen, kommer nanomarkörer att göras, vilket möjliggör betydande (även genom en storleksordning) ökning av precisionen i positioneringen av testberedningen och förbättrad kalibrering av mikroskop för korrelationsavbildning. dessutom kommer ett system av nanomarkörer också att införas på ytan av skyddsgreppet i korrelativa observationssystemet, vilket gör det möjligt att avsevärt öka precisionen i positioneringen av provet, inklusive kvantifiera avvikelsen av ortogonaliteten hos handtagsinställningen. förfarandet för fastställande och beräkning av korrektionskoefficienter för stickprovspositionering kommer att utvecklas. Den nya lösningen kan öka precisionen hos provet positionering flera gånger, eller till och med i storleksordning. De innovationer som införs kommer att resultera i en betydande förbättring av kvaliteten på hela systemet k (Swedish)
26 July 2022
0 references
Number_reference_aid_programm: SA.42799(2015/X), abi_de_minimis: Taristu- ja arendusministri 10. juuli 2015. aasta määruse „Poola ettevõtluse arendamise ameti rahalise abi andmise kohta aruka majanduskasvu rakenduskava 2014–2020 raames“ § 42. Projekt eeldab uue toote – nanokalibreerimise võrdlusplaadi arendamist ja katsetamist (mikro- ja nanoskaala pindade korrelatiivse vaatlussüsteemi ja sellega seotud vaatlussüsteemi optimeerimise jaoks, et teha koostööd välja töötatud proovidega). Lõpptootel on uuenduslikud omadused, mis eristavad seda praegu tuntud lahendustest, st. –funktsionaalsus standardplaadi universaalsuse kaudu saab kasutaja kasutada ühte ja sama standardplaati paljudes mikroskoopilistes seadmetes (kasutades näiteks valgust või elektronkiirt); –toote suurenenud vastupidavus välistele teguritele, mis on tingitud plaadi universaalsusest, peab see olema vastupidav paljudele välisteguritele, milles seda kasutatakse, näiteks temperatuurile, kemikaalidele või kiirgusele; –plaadi täpsusega tehakse tootmise ajal nanomarkerid, mis võimaldavad oluliselt (isegi suurusjärgus) suurendada katsepreparaadi positsioneerimistäpsust ja parandada mikroskoopide kalibreerimist korrelatsiooni kuvamiseks; lisaks võetakse korrelatiivse vaatlussüsteemi kaitsehaare pinnale kasutusele ka nanomarkerite süsteem, mis võimaldab oluliselt suurendada proovi positsioneerimise täpsust, sealhulgas mõõta käepideme ortogonaalsuse kõrvalekallet. töötatakse välja valimi positsioneerimise paranduskoefitsientide määramise ja arvutamise kord. Uus lahendus võib suurendada proovi positsioneerimise täpsust mitu korda või isegi suurusjärgus. Kasutusele võetud uuendused parandavad märkimisväärselt kogu süsteemi kvaliteeti k (Estonian)
26 July 2022
0 references
WOJ.: PODKARPACKIE, POW.: strzyżowski
0 references
24 May 2023
0 references
Identifiers
POIR.02.03.02-18-0019/17
0 references