Acquisition of Atomic Forces Microscopy (AFM) and Tunnel Effect Microscopy (STM) equipment (Q3161751): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed label, description and/or aliases in it, and other parts: Adding Italian translations) |
(Changed label, description and/or aliases in pt) |
||||||||||||||
| (6 intermediate revisions by 2 users not shown) | |||||||||||||||
| label / el | label / el | ||||||||||||||
Απόκτηση εξοπλισμού μικροσκοπίας Ατομικής Δύναμης (AFM) και Μικροσκοπίας σηράγγων (STM) | |||||||||||||||
| label / da | label / da | ||||||||||||||
Erhvervelse af udstyr til atomstyrker Mikroskopi (AFM) og Tunnel Effect Microscopy (STM) | |||||||||||||||
| label / fi | label / fi | ||||||||||||||
Atomienergiajoukkojen mikroskopian (AFM) ja tunnelivaikutusmikroskopian (STM) laitteiden hankinta | |||||||||||||||
| label / mt | label / mt | ||||||||||||||
Akkwist ta’ tagħmir tal-Mikroskopija tal-Forzi Atomika (AFM) u tal-Mikroskopija bl-Effett tal-Mina (STM) | |||||||||||||||
| label / lv | label / lv | ||||||||||||||
Atomu spēku mikroskopijas (AFM) un tuneļa efekta mikroskopijas (STM) iekārtu iegāde | |||||||||||||||
| label / sk | label / sk | ||||||||||||||
Akvizícia mikroskopie atómových síl (AFM) a zariadenia s efektom tunela (STM) | |||||||||||||||
| label / ga | label / ga | ||||||||||||||
Trealamh Micreascópachta na bhFórsaí Adamhacha (AFM) agus Micriscópacht Tolláin (STM) a fháil | |||||||||||||||
| label / cs | label / cs | ||||||||||||||
Pořízení mikroskopie atomových sil (AFM) a zařízení pro mikroskopii s efektem tunelu (STM) | |||||||||||||||
| label / pt | label / pt | ||||||||||||||
Aquisição de equipamento de microscopia de forças atómicas (AFM) e de microscopia de efeito de túnel (STM) | |||||||||||||||
| label / et | label / et | ||||||||||||||
Aatomijõudude mikroskoopia (AFM) ja tunneli mikroskoopia (STM) seadmete soetamine | |||||||||||||||
| label / hu | label / hu | ||||||||||||||
Atomerőmikroszkópiai (AFM) és alagúthatású mikroszkópiai (STM) berendezések beszerzése | |||||||||||||||
| label / bg | label / bg | ||||||||||||||
Придобиване на оборудване за микроскопия на атомните сили (AFM) и микроскопия с ефект на тунела (STM) | |||||||||||||||
| label / lt | label / lt | ||||||||||||||
Atominės jėgos mikroskopijos (AFM) ir tunelio poveikio mikroskopijos (STM) įrangos įsigijimas | |||||||||||||||
| label / hr | label / hr | ||||||||||||||
Nabava mikroskopije atomskih sila (AFM) i opreme za mikroskopiju s učinkom tunela (STM) | |||||||||||||||
| label / sv | label / sv | ||||||||||||||
Förvärv av utrustning för mikroskopi av atomkrafter (AFM) och utrustning för tunneleffektmikroskopi (STM) | |||||||||||||||
| label / ro | label / ro | ||||||||||||||
Achiziționarea de echipamente de microscopie a forțelor atomice (AFM) și de microscopie cu efect de tunel (STM) | |||||||||||||||
| label / sl | label / sl | ||||||||||||||
Pridobitev opreme za mikroskopijo atomskih sil (AFM) in mikroskopijo predornega učinka (STM) | |||||||||||||||
| label / pl | label / pl | ||||||||||||||
Nabycie mikroskopii sił atomowych (AFM) i mikroskopii efektu tunelu (STM) | |||||||||||||||
| description / bg | description / bg | ||||||||||||||
Проект Q3161751 в Испания | |||||||||||||||
| description / hr | description / hr | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 u Španjolskoj | |||||||||||||||
| description / hu | description / hu | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 Spanyolországban | |||||||||||||||
| description / cs | description / cs | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 ve Španělsku | |||||||||||||||
| description / da | description / da | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 i Spanien | |||||||||||||||
| description / nl | description / nl | ||||||||||||||
Project Q3161751 in Spanje | |||||||||||||||
| description / et | description / et | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 Hispaanias | |||||||||||||||
| description / fi | description / fi | ||||||||||||||
Projekti Q3161751 Espanjassa | |||||||||||||||
| description / fr | description / fr | ||||||||||||||
Projet Q3161751 en Espagne | |||||||||||||||
| description / de | description / de | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 in Spanien | |||||||||||||||
| description / el | description / el | ||||||||||||||
Έργο Q3161751 στην Ισπανία | |||||||||||||||
| description / ga | description / ga | ||||||||||||||
Tionscadal Q3161751 sa Spáinn | |||||||||||||||
| description / it | description / it | ||||||||||||||
Progetto Q3161751 in Spagna | |||||||||||||||
| description / lv | description / lv | ||||||||||||||
Projekts Q3161751 Spānijā | |||||||||||||||
| description / lt | description / lt | ||||||||||||||
Projektas Q3161751 Ispanijoje | |||||||||||||||
| description / mt | description / mt | ||||||||||||||
Proġett Q3161751 fi Spanja | |||||||||||||||
| description / pl | description / pl | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 w Hiszpanii | |||||||||||||||
| description / pt | description / pt | ||||||||||||||
Projeto Q3161751 na Espanha | |||||||||||||||
| description / ro | description / ro | ||||||||||||||
Proiectul Q3161751 în Spania | |||||||||||||||
| description / sk | description / sk | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 v Španielsku | |||||||||||||||
| description / sl | description / sl | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 v Španiji | |||||||||||||||
| description / es | description / es | ||||||||||||||
Proyecto Q3161751 en España | |||||||||||||||
| description / sv | description / sv | ||||||||||||||
Projekt Q3161751 i Spanien | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / budget: 308,650.0 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 85.0 percent / rank | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / EU contribution: 262,352.5 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / summary: This application aims to replace an existing STM/AFM equipment with an uninterrupted use during the last 25 years which presents in this moment remarkable deficiencies. It consists in the replacement of an STM/AFM equipment based on a Nanoscope IIE controller. _x000D_ The objective is to acquire a set of the necessary elements and moduli to configure a new equipment of the latest technology to carry out atomic force microscopy measurements. In addition, the growth and development of this system with the new most advanced modes of this technique will be possible in the future._x000D_ The requested equipment will be integrated into the Atomic Force Microscopy Service, belonging to the General Services for Research Support of the University of La Laguna. The system will be under the custody and regulation of this service._x000D_ Among the remarkable elements of the requested systems are included the following characteristics: an easy-access sample holder that supports samples of some centimetres, the integration of an automatic and programmable optic system for the position on the sample which permits sequential measurements, a high-stability close-loop scanner of 90x90x10 microns (XYZ), the possibility of measuring very low sample-tip currents (up to 100 fA), high scanning speeds (up to some tens of Hz), the characterization of nanomechanic properties for elastic moduli up to 100 GPa simultaneously to the acquisition of the topographic maps, force spectroscopy and AFM in liquids. (English) / qualifier | |||||||||||||||
readability score: 0.2833165748177509
| |||||||||||||||
| Property / postal code | |||||||||||||||
| Property / postal code: 38023 / rank | |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
| Property / location (string): San Cristóbal de La Laguna / rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 28°29'8.77"N, 16°18'57.38"W / rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Tenerife / rank | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Η εφαρμογή αυτή αποσκοπεί στην αντικατάσταση ενός υπάρχοντος εξοπλισμού ΕΕΜ/ΑΦΜ με αδιάλειπτη χρήση κατά τη διάρκεια των τελευταίων 25 ετών, η οποία παρουσιάζει σ’ αυτή τη στιγμή αξιοσημείωτες ελλείψεις. Συνίσταται στην αντικατάσταση εξοπλισμού STM/AFM που βασίζεται σε ελεγκτή νανοσκοπίου IIE. _x000D_ ο στόχος είναι να αποκτήσει ένα σύνολο των απαραίτητων στοιχείων και moduli για τη διαμόρφωση ενός νέου εξοπλισμού της τελευταίας τεχνολογίας για τη διενέργεια μετρήσεων ατομικής ισχύος μικροσκοπίας. Επιπλέον, η ανάπτυξη και ανάπτυξη αυτού του συστήματος με τους νέους πιο προηγμένους τρόπους αυτής της τεχνικής θα είναι δυνατή στο μέλλον._x000D_ Ο απαιτούμενος εξοπλισμός θα ενσωματωθεί στην Υπηρεσία Μικροσκοπίας Ατομικής Δύναμης, που ανήκει στις Γενικές Υπηρεσίες Ερευνητικής Υποστήριξης του Πανεπιστημίου της La Laguna. Το σύστημα θα είναι υπό την φύλαξη και ρύθμιση της υπηρεσίας αυτής._x000D_ Μεταξύ των αξιοσημείωτων στοιχείων των αιτούμενων συστημάτων περιλαμβάνονται τα ακόλουθα χαρακτηριστικά: ένας εύχρηστος κάτοχος δείγματος που υποστηρίζει δείγματα ορισμένων εκατοστών, η ενσωμάτωση ενός αυτόματου και προγραμματιζόμενου οπτικού συστήματος για τη θέση στο δείγμα που επιτρέπει διαδοχικές μετρήσεις, ένας σαρωτής στενού βρόχου υψηλής σταθερότητας 90x90x10 microns (XYZ), η δυνατότητα μέτρησης πολύ χαμηλών ρευμάτων από τις άκρες του δείγματος (έως 100 fA), υψηλές ταχύτητες σάρωσης (έως και δεκάδες Hz), ο χαρακτηρισμός των νανομηχανικών ιδιοτήτων για ελαστικό moduli έως 100 GPa ταυτόχρονα με την απόκτηση των τοπογραφικών χαρτών, της φασματοσκοπίας δύναμης και του AFM σε υγρά. (Greek) | |||||||||||||||
| Property / summary: Η εφαρμογή αυτή αποσκοπεί στην αντικατάσταση ενός υπάρχοντος εξοπλισμού ΕΕΜ/ΑΦΜ με αδιάλειπτη χρήση κατά τη διάρκεια των τελευταίων 25 ετών, η οποία παρουσιάζει σ’ αυτή τη στιγμή αξιοσημείωτες ελλείψεις. Συνίσταται στην αντικατάσταση εξοπλισμού STM/AFM που βασίζεται σε ελεγκτή νανοσκοπίου IIE. _x000D_ ο στόχος είναι να αποκτήσει ένα σύνολο των απαραίτητων στοιχείων και moduli για τη διαμόρφωση ενός νέου εξοπλισμού της τελευταίας τεχνολογίας για τη διενέργεια μετρήσεων ατομικής ισχύος μικροσκοπίας. Επιπλέον, η ανάπτυξη και ανάπτυξη αυτού του συστήματος με τους νέους πιο προηγμένους τρόπους αυτής της τεχνικής θα είναι δυνατή στο μέλλον._x000D_ Ο απαιτούμενος εξοπλισμός θα ενσωματωθεί στην Υπηρεσία Μικροσκοπίας Ατομικής Δύναμης, που ανήκει στις Γενικές Υπηρεσίες Ερευνητικής Υποστήριξης του Πανεπιστημίου της La Laguna. Το σύστημα θα είναι υπό την φύλαξη και ρύθμιση της υπηρεσίας αυτής._x000D_ Μεταξύ των αξιοσημείωτων στοιχείων των αιτούμενων συστημάτων περιλαμβάνονται τα ακόλουθα χαρακτηριστικά: ένας εύχρηστος κάτοχος δείγματος που υποστηρίζει δείγματα ορισμένων εκατοστών, η ενσωμάτωση ενός αυτόματου και προγραμματιζόμενου οπτικού συστήματος για τη θέση στο δείγμα που επιτρέπει διαδοχικές μετρήσεις, ένας σαρωτής στενού βρόχου υψηλής σταθερότητας 90x90x10 microns (XYZ), η δυνατότητα μέτρησης πολύ χαμηλών ρευμάτων από τις άκρες του δείγματος (έως 100 fA), υψηλές ταχύτητες σάρωσης (έως και δεκάδες Hz), ο χαρακτηρισμός των νανομηχανικών ιδιοτήτων για ελαστικό moduli έως 100 GPa ταυτόχρονα με την απόκτηση των τοπογραφικών χαρτών, της φασματοσκοπίας δύναμης και του AFM σε υγρά. (Greek) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Η εφαρμογή αυτή αποσκοπεί στην αντικατάσταση ενός υπάρχοντος εξοπλισμού ΕΕΜ/ΑΦΜ με αδιάλειπτη χρήση κατά τη διάρκεια των τελευταίων 25 ετών, η οποία παρουσιάζει σ’ αυτή τη στιγμή αξιοσημείωτες ελλείψεις. Συνίσταται στην αντικατάσταση εξοπλισμού STM/AFM που βασίζεται σε ελεγκτή νανοσκοπίου IIE. _x000D_ ο στόχος είναι να αποκτήσει ένα σύνολο των απαραίτητων στοιχείων και moduli για τη διαμόρφωση ενός νέου εξοπλισμού της τελευταίας τεχνολογίας για τη διενέργεια μετρήσεων ατομικής ισχύος μικροσκοπίας. Επιπλέον, η ανάπτυξη και ανάπτυξη αυτού του συστήματος με τους νέους πιο προηγμένους τρόπους αυτής της τεχνικής θα είναι δυνατή στο μέλλον._x000D_ Ο απαιτούμενος εξοπλισμός θα ενσωματωθεί στην Υπηρεσία Μικροσκοπίας Ατομικής Δύναμης, που ανήκει στις Γενικές Υπηρεσίες Ερευνητικής Υποστήριξης του Πανεπιστημίου της La Laguna. Το σύστημα θα είναι υπό την φύλαξη και ρύθμιση της υπηρεσίας αυτής._x000D_ Μεταξύ των αξιοσημείωτων στοιχείων των αιτούμενων συστημάτων περιλαμβάνονται τα ακόλουθα χαρακτηριστικά: ένας εύχρηστος κάτοχος δείγματος που υποστηρίζει δείγματα ορισμένων εκατοστών, η ενσωμάτωση ενός αυτόματου και προγραμματιζόμενου οπτικού συστήματος για τη θέση στο δείγμα που επιτρέπει διαδοχικές μετρήσεις, ένας σαρωτής στενού βρόχου υψηλής σταθερότητας 90x90x10 microns (XYZ), η δυνατότητα μέτρησης πολύ χαμηλών ρευμάτων από τις άκρες του δείγματος (έως 100 fA), υψηλές ταχύτητες σάρωσης (έως και δεκάδες Hz), ο χαρακτηρισμός των νανομηχανικών ιδιοτήτων για ελαστικό moduli έως 100 GPa ταυτόχρονα με την απόκτηση των τοπογραφικών χαρτών, της φασματοσκοπίας δύναμης και του AFM σε υγρά. (Greek) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Denne applikation har til formål at erstatte et eksisterende STM/AFM-udstyr med uafbrudt brug i løbet af de sidste 25 år, hvilket i dette øjeblik viser bemærkelsesværdige mangler. Den består i udskiftning af et STM/AFM-udstyr baseret på en Nanoscope IIE-controller. _x000D_ målet er at erhverve et sæt af de nødvendige elementer og moduli til at konfigurere et nyt udstyr af den nyeste teknologi til at udføre atomkraft mikroskopi målinger. Desuden vil væksten og udviklingen af dette system med de nye mest avancerede metoder af denne teknik være mulig i fremtiden._x000D_ Det ønskede udstyr vil blive integreret i Atomic Force Microscopy Service, der tilhører General Services for Research Support ved universitetet i La Laguna. Systemet vil være under varetægt og regulering af denne tjeneste._x000D_ Blandt de bemærkelsesværdige elementer i de ønskede systemer er inkluderet følgende karakteristika: en lettilgængelig prøveholder, der understøtter prøver på nogle centimeter, integration af et automatisk og programmerbart optisk system til placeringen på prøven, som muliggør sekventielle målinger, en høj stabilitet tætslapper på 90x90x10 mikron (XYZ), mulighed for at måle meget lave prøvespidsstrømme (op til 100 fA), høje scanningshastigheder (op til nogle snesevis af Hz), karakterisering af nanomekaniske egenskaber for elastisk moduli op til 100 GPa samtidig med erhvervelse af topografiske kort, kraftspektroskopi og AFM i væsker. (Danish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Denne applikation har til formål at erstatte et eksisterende STM/AFM-udstyr med uafbrudt brug i løbet af de sidste 25 år, hvilket i dette øjeblik viser bemærkelsesværdige mangler. Den består i udskiftning af et STM/AFM-udstyr baseret på en Nanoscope IIE-controller. _x000D_ målet er at erhverve et sæt af de nødvendige elementer og moduli til at konfigurere et nyt udstyr af den nyeste teknologi til at udføre atomkraft mikroskopi målinger. Desuden vil væksten og udviklingen af dette system med de nye mest avancerede metoder af denne teknik være mulig i fremtiden._x000D_ Det ønskede udstyr vil blive integreret i Atomic Force Microscopy Service, der tilhører General Services for Research Support ved universitetet i La Laguna. Systemet vil være under varetægt og regulering af denne tjeneste._x000D_ Blandt de bemærkelsesværdige elementer i de ønskede systemer er inkluderet følgende karakteristika: en lettilgængelig prøveholder, der understøtter prøver på nogle centimeter, integration af et automatisk og programmerbart optisk system til placeringen på prøven, som muliggør sekventielle målinger, en høj stabilitet tætslapper på 90x90x10 mikron (XYZ), mulighed for at måle meget lave prøvespidsstrømme (op til 100 fA), høje scanningshastigheder (op til nogle snesevis af Hz), karakterisering af nanomekaniske egenskaber for elastisk moduli op til 100 GPa samtidig med erhvervelse af topografiske kort, kraftspektroskopi og AFM i væsker. (Danish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Denne applikation har til formål at erstatte et eksisterende STM/AFM-udstyr med uafbrudt brug i løbet af de sidste 25 år, hvilket i dette øjeblik viser bemærkelsesværdige mangler. Den består i udskiftning af et STM/AFM-udstyr baseret på en Nanoscope IIE-controller. _x000D_ målet er at erhverve et sæt af de nødvendige elementer og moduli til at konfigurere et nyt udstyr af den nyeste teknologi til at udføre atomkraft mikroskopi målinger. Desuden vil væksten og udviklingen af dette system med de nye mest avancerede metoder af denne teknik være mulig i fremtiden._x000D_ Det ønskede udstyr vil blive integreret i Atomic Force Microscopy Service, der tilhører General Services for Research Support ved universitetet i La Laguna. Systemet vil være under varetægt og regulering af denne tjeneste._x000D_ Blandt de bemærkelsesværdige elementer i de ønskede systemer er inkluderet følgende karakteristika: en lettilgængelig prøveholder, der understøtter prøver på nogle centimeter, integration af et automatisk og programmerbart optisk system til placeringen på prøven, som muliggør sekventielle målinger, en høj stabilitet tætslapper på 90x90x10 mikron (XYZ), mulighed for at måle meget lave prøvespidsstrømme (op til 100 fA), høje scanningshastigheder (op til nogle snesevis af Hz), karakterisering af nanomekaniske egenskaber for elastisk moduli op til 100 GPa samtidig med erhvervelse af topografiske kort, kraftspektroskopi og AFM i væsker. (Danish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Tällä sovelluksella pyritään korvaamaan olemassa olevat STM/AFM-laitteet keskeytymättömällä käytöllä viimeisten 25 vuoden aikana, mikä aiheuttaa tällä hetkellä huomattavia puutteita. Se koostuu Nanoscope IIE -ohjaimeen perustuvan STM/AFM-laitteen korvaamisesta. _x000D_ tavoitteena on hankkia joukko tarvittavat elementit ja moduli konfiguroida uusi laite uusimman teknologian suorittamaan atomivoima mikroskopia mittauksia. Lisäksi tämän järjestelmän kasvu ja kehittäminen tämän tekniikan uusilla edistyneimmillä tavoilla on mahdollista tulevaisuudessa._x000D_ Pyydetyt laitteet integroidaan atomivoimien mikroskopiapalveluun, joka kuuluu Lagunan yliopiston yleisiin tutkimustukipalveluihin. Järjestelmä on tämän palvelun huostassa ja sääntelyssä._x000D_ Pyydettävien järjestelmien merkittäviin osiin kuuluvat seuraavat ominaisuudet: helppopääsyinen näytteenpidin, joka tukee joidenkin senttimetrien näytteitä, automaattisen ja ohjelmoitavan optisen järjestelmän integrointi näytteen sijaintia varten, joka mahdollistaa peräkkäiset mittaukset, 90x90x10 mikronin (XYZ) korkean stabiilin lähisilmukkaskannerin, mahdollisuuden mitata hyvin matalia näytekärkivirtoja (enintään 100 fA), suuret skannausnopeudet (enintään kymmeniä Hz), nanomekaanisten ominaisuuksien karakterisointi elastiselle modulille jopa 100 GPa: lle samanaikaisesti topografisten karttojen hankinnan kanssa, voimaspektroskopia ja AFM nesteissä. (Finnish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Tällä sovelluksella pyritään korvaamaan olemassa olevat STM/AFM-laitteet keskeytymättömällä käytöllä viimeisten 25 vuoden aikana, mikä aiheuttaa tällä hetkellä huomattavia puutteita. Se koostuu Nanoscope IIE -ohjaimeen perustuvan STM/AFM-laitteen korvaamisesta. _x000D_ tavoitteena on hankkia joukko tarvittavat elementit ja moduli konfiguroida uusi laite uusimman teknologian suorittamaan atomivoima mikroskopia mittauksia. Lisäksi tämän järjestelmän kasvu ja kehittäminen tämän tekniikan uusilla edistyneimmillä tavoilla on mahdollista tulevaisuudessa._x000D_ Pyydetyt laitteet integroidaan atomivoimien mikroskopiapalveluun, joka kuuluu Lagunan yliopiston yleisiin tutkimustukipalveluihin. Järjestelmä on tämän palvelun huostassa ja sääntelyssä._x000D_ Pyydettävien järjestelmien merkittäviin osiin kuuluvat seuraavat ominaisuudet: helppopääsyinen näytteenpidin, joka tukee joidenkin senttimetrien näytteitä, automaattisen ja ohjelmoitavan optisen järjestelmän integrointi näytteen sijaintia varten, joka mahdollistaa peräkkäiset mittaukset, 90x90x10 mikronin (XYZ) korkean stabiilin lähisilmukkaskannerin, mahdollisuuden mitata hyvin matalia näytekärkivirtoja (enintään 100 fA), suuret skannausnopeudet (enintään kymmeniä Hz), nanomekaanisten ominaisuuksien karakterisointi elastiselle modulille jopa 100 GPa: lle samanaikaisesti topografisten karttojen hankinnan kanssa, voimaspektroskopia ja AFM nesteissä. (Finnish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Tällä sovelluksella pyritään korvaamaan olemassa olevat STM/AFM-laitteet keskeytymättömällä käytöllä viimeisten 25 vuoden aikana, mikä aiheuttaa tällä hetkellä huomattavia puutteita. Se koostuu Nanoscope IIE -ohjaimeen perustuvan STM/AFM-laitteen korvaamisesta. _x000D_ tavoitteena on hankkia joukko tarvittavat elementit ja moduli konfiguroida uusi laite uusimman teknologian suorittamaan atomivoima mikroskopia mittauksia. Lisäksi tämän järjestelmän kasvu ja kehittäminen tämän tekniikan uusilla edistyneimmillä tavoilla on mahdollista tulevaisuudessa._x000D_ Pyydetyt laitteet integroidaan atomivoimien mikroskopiapalveluun, joka kuuluu Lagunan yliopiston yleisiin tutkimustukipalveluihin. Järjestelmä on tämän palvelun huostassa ja sääntelyssä._x000D_ Pyydettävien järjestelmien merkittäviin osiin kuuluvat seuraavat ominaisuudet: helppopääsyinen näytteenpidin, joka tukee joidenkin senttimetrien näytteitä, automaattisen ja ohjelmoitavan optisen järjestelmän integrointi näytteen sijaintia varten, joka mahdollistaa peräkkäiset mittaukset, 90x90x10 mikronin (XYZ) korkean stabiilin lähisilmukkaskannerin, mahdollisuuden mitata hyvin matalia näytekärkivirtoja (enintään 100 fA), suuret skannausnopeudet (enintään kymmeniä Hz), nanomekaanisten ominaisuuksien karakterisointi elastiselle modulille jopa 100 GPa: lle samanaikaisesti topografisten karttojen hankinnan kanssa, voimaspektroskopia ja AFM nesteissä. (Finnish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Din l-applikazzjoni għandha l-għan li tissostitwixxi tagħmir eżistenti tal-STM/AFM b’użu mhux interrott matul l-aħħar 25 sena li f’dan il-mument jippreżenta nuqqasijiet notevoli. Dan jikkonsisti fis-sostituzzjoni ta’ tagħmir STM/AFM ibbażat fuq kontrollur tan-Nanoskopju IIE. _x000D_ l-għan huwa li jinkiseb sett ta’ l-elementi u l-moduli meħtieġa biex jiġi kkonfigurat tagħmir ġdid ta’ l-aħħar teknoloġija biex jitwettaq kejl tal-mikroskopija tal-forza atomika. Barra minn hekk, it-tkabbir u l-iżvilupp ta’ din is-sistema bil-modi l-aktar avvanzati l-ġodda ta’ din it-teknika se jkunu possibbli fil-futur._x000D_ It-tagħmir mitlub se jiġi integrat fis-Servizz tal-Mikroskopija tal-Forza Atomika, li jappartjeni għas-Servizzi Ġenerali għall-Appoġġ tar-Riċerka tal-Università ta’ La Laguna. Is-sistema se tkun taħt il-kustodja u r-regolamentazzjoni ta’ dan is-servizz._x000D_ Fost l-elementi notevoli tas-sistemi mitluba huma inklużi l-karatteristiċi li ġejjin: kontenitur tal-kampjun b’aċċess faċli li jappoġġja kampjuni ta’ xi ċentimetri, l-integrazzjoni ta’ sistema ottika awtomatika u programmabbli għall-pożizzjoni fuq il-kampjun li tippermetti kejl sekwenzjali, scanner b’ċirkwit mill-qrib b’stabbiltà għolja ta’ 90x90x10 microns (XYZ), il-possibbiltà li jitkejlu kurrenti baxxi ħafna tal-ponta tal-kampjun (sa 100 fA), veloċitajiet għolja tal-iskannjar (sa xi għexieren ta’ Hz), il-karatterizzazzjoni tal-proprjetajiet nanomekkaniċi għal moduli elastiċi sa 100 GPa simultanjament mal-akkwist tal-mapep topografiċi, l-ispektroskopija tal-forza u l-AFM f’likwidi. (Maltese) | |||||||||||||||
| Property / summary: Din l-applikazzjoni għandha l-għan li tissostitwixxi tagħmir eżistenti tal-STM/AFM b’użu mhux interrott matul l-aħħar 25 sena li f’dan il-mument jippreżenta nuqqasijiet notevoli. Dan jikkonsisti fis-sostituzzjoni ta’ tagħmir STM/AFM ibbażat fuq kontrollur tan-Nanoskopju IIE. _x000D_ l-għan huwa li jinkiseb sett ta’ l-elementi u l-moduli meħtieġa biex jiġi kkonfigurat tagħmir ġdid ta’ l-aħħar teknoloġija biex jitwettaq kejl tal-mikroskopija tal-forza atomika. Barra minn hekk, it-tkabbir u l-iżvilupp ta’ din is-sistema bil-modi l-aktar avvanzati l-ġodda ta’ din it-teknika se jkunu possibbli fil-futur._x000D_ It-tagħmir mitlub se jiġi integrat fis-Servizz tal-Mikroskopija tal-Forza Atomika, li jappartjeni għas-Servizzi Ġenerali għall-Appoġġ tar-Riċerka tal-Università ta’ La Laguna. Is-sistema se tkun taħt il-kustodja u r-regolamentazzjoni ta’ dan is-servizz._x000D_ Fost l-elementi notevoli tas-sistemi mitluba huma inklużi l-karatteristiċi li ġejjin: kontenitur tal-kampjun b’aċċess faċli li jappoġġja kampjuni ta’ xi ċentimetri, l-integrazzjoni ta’ sistema ottika awtomatika u programmabbli għall-pożizzjoni fuq il-kampjun li tippermetti kejl sekwenzjali, scanner b’ċirkwit mill-qrib b’stabbiltà għolja ta’ 90x90x10 microns (XYZ), il-possibbiltà li jitkejlu kurrenti baxxi ħafna tal-ponta tal-kampjun (sa 100 fA), veloċitajiet għolja tal-iskannjar (sa xi għexieren ta’ Hz), il-karatterizzazzjoni tal-proprjetajiet nanomekkaniċi għal moduli elastiċi sa 100 GPa simultanjament mal-akkwist tal-mapep topografiċi, l-ispektroskopija tal-forza u l-AFM f’likwidi. (Maltese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Din l-applikazzjoni għandha l-għan li tissostitwixxi tagħmir eżistenti tal-STM/AFM b’użu mhux interrott matul l-aħħar 25 sena li f’dan il-mument jippreżenta nuqqasijiet notevoli. Dan jikkonsisti fis-sostituzzjoni ta’ tagħmir STM/AFM ibbażat fuq kontrollur tan-Nanoskopju IIE. _x000D_ l-għan huwa li jinkiseb sett ta’ l-elementi u l-moduli meħtieġa biex jiġi kkonfigurat tagħmir ġdid ta’ l-aħħar teknoloġija biex jitwettaq kejl tal-mikroskopija tal-forza atomika. Barra minn hekk, it-tkabbir u l-iżvilupp ta’ din is-sistema bil-modi l-aktar avvanzati l-ġodda ta’ din it-teknika se jkunu possibbli fil-futur._x000D_ It-tagħmir mitlub se jiġi integrat fis-Servizz tal-Mikroskopija tal-Forza Atomika, li jappartjeni għas-Servizzi Ġenerali għall-Appoġġ tar-Riċerka tal-Università ta’ La Laguna. Is-sistema se tkun taħt il-kustodja u r-regolamentazzjoni ta’ dan is-servizz._x000D_ Fost l-elementi notevoli tas-sistemi mitluba huma inklużi l-karatteristiċi li ġejjin: kontenitur tal-kampjun b’aċċess faċli li jappoġġja kampjuni ta’ xi ċentimetri, l-integrazzjoni ta’ sistema ottika awtomatika u programmabbli għall-pożizzjoni fuq il-kampjun li tippermetti kejl sekwenzjali, scanner b’ċirkwit mill-qrib b’stabbiltà għolja ta’ 90x90x10 microns (XYZ), il-possibbiltà li jitkejlu kurrenti baxxi ħafna tal-ponta tal-kampjun (sa 100 fA), veloċitajiet għolja tal-iskannjar (sa xi għexieren ta’ Hz), il-karatterizzazzjoni tal-proprjetajiet nanomekkaniċi għal moduli elastiċi sa 100 GPa simultanjament mal-akkwist tal-mapep topografiċi, l-ispektroskopija tal-forza u l-AFM f’likwidi. (Maltese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Šīs lietojumprogrammas mērķis ir aizstāt esošās STM/AFM iekārtas ar nepārtrauktu lietošanu pēdējo 25 gadu laikā, kas šajā brīdī rada ievērojamus trūkumus. Tas sastāv no STM/AFM iekārtas nomaiņas uz Nanoscope IIE kontrollera bāzes. _x000D_ mērķis ir iegūt nepieciešamo elementu kopumu un moduli, lai konfigurētu jaunu jaunākās tehnoloģijas aprīkojumu atomspēka mikroskopijas mērījumu veikšanai. Turklāt nākotnē būs iespējama šīs sistēmas izaugsme un attīstība ar jaunajiem vismodernākajiem šīs tehnikas veidiem._x000D_ Pieprasītais aprīkojums tiks integrēts Atomenerģijas spēku mikroskopijas dienestā, kas pieder La Lagunas Universitātes Vispārīgajiem dienestiem pētniecības atbalstam. Sistēma būs šā pakalpojuma uzraudzībā un regulēšanā._x000D_ Starp pieprasīto sistēmu ievērojamajiem elementiem ir šādi raksturlielumi: viegli pieejamu paraugu turētājs, kas atbalsta dažu centimetru paraugus, automātiskas un programmējamas optiskās sistēmas integrācija parauga novietojumam, kas ļauj veikt secīgus mērījumus, augstas stiprības tuvas cilpas skeneris ar 90x90x10 mikroniem (XYZ), iespēja mērīt ļoti zemas parauga straumes (līdz 100 fA), liels skenēšanas ātrums (līdz aptuveni desmitiem Hz), elastīgā moduļa nanomehānisko īpašību raksturojums līdz pat 100 GPa vienlaikus ar topogrāfisko karšu iegādi, spēka spektroskopiju un AFM šķidrumos. (Latvian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Šīs lietojumprogrammas mērķis ir aizstāt esošās STM/AFM iekārtas ar nepārtrauktu lietošanu pēdējo 25 gadu laikā, kas šajā brīdī rada ievērojamus trūkumus. Tas sastāv no STM/AFM iekārtas nomaiņas uz Nanoscope IIE kontrollera bāzes. _x000D_ mērķis ir iegūt nepieciešamo elementu kopumu un moduli, lai konfigurētu jaunu jaunākās tehnoloģijas aprīkojumu atomspēka mikroskopijas mērījumu veikšanai. Turklāt nākotnē būs iespējama šīs sistēmas izaugsme un attīstība ar jaunajiem vismodernākajiem šīs tehnikas veidiem._x000D_ Pieprasītais aprīkojums tiks integrēts Atomenerģijas spēku mikroskopijas dienestā, kas pieder La Lagunas Universitātes Vispārīgajiem dienestiem pētniecības atbalstam. Sistēma būs šā pakalpojuma uzraudzībā un regulēšanā._x000D_ Starp pieprasīto sistēmu ievērojamajiem elementiem ir šādi raksturlielumi: viegli pieejamu paraugu turētājs, kas atbalsta dažu centimetru paraugus, automātiskas un programmējamas optiskās sistēmas integrācija parauga novietojumam, kas ļauj veikt secīgus mērījumus, augstas stiprības tuvas cilpas skeneris ar 90x90x10 mikroniem (XYZ), iespēja mērīt ļoti zemas parauga straumes (līdz 100 fA), liels skenēšanas ātrums (līdz aptuveni desmitiem Hz), elastīgā moduļa nanomehānisko īpašību raksturojums līdz pat 100 GPa vienlaikus ar topogrāfisko karšu iegādi, spēka spektroskopiju un AFM šķidrumos. (Latvian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Šīs lietojumprogrammas mērķis ir aizstāt esošās STM/AFM iekārtas ar nepārtrauktu lietošanu pēdējo 25 gadu laikā, kas šajā brīdī rada ievērojamus trūkumus. Tas sastāv no STM/AFM iekārtas nomaiņas uz Nanoscope IIE kontrollera bāzes. _x000D_ mērķis ir iegūt nepieciešamo elementu kopumu un moduli, lai konfigurētu jaunu jaunākās tehnoloģijas aprīkojumu atomspēka mikroskopijas mērījumu veikšanai. Turklāt nākotnē būs iespējama šīs sistēmas izaugsme un attīstība ar jaunajiem vismodernākajiem šīs tehnikas veidiem._x000D_ Pieprasītais aprīkojums tiks integrēts Atomenerģijas spēku mikroskopijas dienestā, kas pieder La Lagunas Universitātes Vispārīgajiem dienestiem pētniecības atbalstam. Sistēma būs šā pakalpojuma uzraudzībā un regulēšanā._x000D_ Starp pieprasīto sistēmu ievērojamajiem elementiem ir šādi raksturlielumi: viegli pieejamu paraugu turētājs, kas atbalsta dažu centimetru paraugus, automātiskas un programmējamas optiskās sistēmas integrācija parauga novietojumam, kas ļauj veikt secīgus mērījumus, augstas stiprības tuvas cilpas skeneris ar 90x90x10 mikroniem (XYZ), iespēja mērīt ļoti zemas parauga straumes (līdz 100 fA), liels skenēšanas ātrums (līdz aptuveni desmitiem Hz), elastīgā moduļa nanomehānisko īpašību raksturojums līdz pat 100 GPa vienlaikus ar topogrāfisko karšu iegādi, spēka spektroskopiju un AFM šķidrumos. (Latvian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Cieľom tejto aplikácie je nahradiť existujúce zariadenie STM/AFM nepretržitým používaním počas posledných 25 rokov, čo v tejto chvíli predstavuje pozoruhodné nedostatky. Pozostáva z výmeny zariadenia STM/AFM na základe regulátora IIE nanoskopu. _x000D_ cieľom je získať súbor potrebných prvkov a modulov na konfiguráciu nového zariadenia najnovšej technológie na vykonávanie meraní atómovej sily mikroskopie. Okrem toho, rast a vývoj tohto systému s novými najpokročilejšími režimami tejto techniky bude možné v budúcnosti._x000D_ Požadované zariadenie bude integrované do služby Microscopy Atomic Force, patriacej do všeobecných služieb pre podporu výskumu University of La Laguna. Systém bude pod dohľadom a reguláciou tejto služby._x000D_ Medzi pozoruhodnými prvkami požadovaných systémov sú zahrnuté tieto charakteristiky: ľahko prístupný držiak vzorky, ktorý podporuje vzorky niektorých centimetrov, integrácia automatického a programovateľného optického systému pre polohu na vzorke, ktorý umožňuje sekvenčné merania, vysokostabilný skener blízko slučky 90x90x10 mikrónov (XYZ), možnosť merania veľmi nízkych vzorkovacích prúdov (do 100 fA), vysoké rýchlosti skenovania (až do desiatok Hz), charakterizácia nanomechanických vlastností pre elastické moduly až do 100 GPa súčasne s nadobudnutím topografických máp, silovej spektroskopie a AFM v kvapalinách. (Slovak) | |||||||||||||||
| Property / summary: Cieľom tejto aplikácie je nahradiť existujúce zariadenie STM/AFM nepretržitým používaním počas posledných 25 rokov, čo v tejto chvíli predstavuje pozoruhodné nedostatky. Pozostáva z výmeny zariadenia STM/AFM na základe regulátora IIE nanoskopu. _x000D_ cieľom je získať súbor potrebných prvkov a modulov na konfiguráciu nového zariadenia najnovšej technológie na vykonávanie meraní atómovej sily mikroskopie. Okrem toho, rast a vývoj tohto systému s novými najpokročilejšími režimami tejto techniky bude možné v budúcnosti._x000D_ Požadované zariadenie bude integrované do služby Microscopy Atomic Force, patriacej do všeobecných služieb pre podporu výskumu University of La Laguna. Systém bude pod dohľadom a reguláciou tejto služby._x000D_ Medzi pozoruhodnými prvkami požadovaných systémov sú zahrnuté tieto charakteristiky: ľahko prístupný držiak vzorky, ktorý podporuje vzorky niektorých centimetrov, integrácia automatického a programovateľného optického systému pre polohu na vzorke, ktorý umožňuje sekvenčné merania, vysokostabilný skener blízko slučky 90x90x10 mikrónov (XYZ), možnosť merania veľmi nízkych vzorkovacích prúdov (do 100 fA), vysoké rýchlosti skenovania (až do desiatok Hz), charakterizácia nanomechanických vlastností pre elastické moduly až do 100 GPa súčasne s nadobudnutím topografických máp, silovej spektroskopie a AFM v kvapalinách. (Slovak) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Cieľom tejto aplikácie je nahradiť existujúce zariadenie STM/AFM nepretržitým používaním počas posledných 25 rokov, čo v tejto chvíli predstavuje pozoruhodné nedostatky. Pozostáva z výmeny zariadenia STM/AFM na základe regulátora IIE nanoskopu. _x000D_ cieľom je získať súbor potrebných prvkov a modulov na konfiguráciu nového zariadenia najnovšej technológie na vykonávanie meraní atómovej sily mikroskopie. Okrem toho, rast a vývoj tohto systému s novými najpokročilejšími režimami tejto techniky bude možné v budúcnosti._x000D_ Požadované zariadenie bude integrované do služby Microscopy Atomic Force, patriacej do všeobecných služieb pre podporu výskumu University of La Laguna. Systém bude pod dohľadom a reguláciou tejto služby._x000D_ Medzi pozoruhodnými prvkami požadovaných systémov sú zahrnuté tieto charakteristiky: ľahko prístupný držiak vzorky, ktorý podporuje vzorky niektorých centimetrov, integrácia automatického a programovateľného optického systému pre polohu na vzorke, ktorý umožňuje sekvenčné merania, vysokostabilný skener blízko slučky 90x90x10 mikrónov (XYZ), možnosť merania veľmi nízkych vzorkovacích prúdov (do 100 fA), vysoké rýchlosti skenovania (až do desiatok Hz), charakterizácia nanomechanických vlastností pre elastické moduly až do 100 GPa súčasne s nadobudnutím topografických máp, silovej spektroskopie a AFM v kvapalinách. (Slovak) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Tá sé mar aidhm ag an iarratas seo úsáid gan bhriseadh a chur in ionad trealamh STM/AFM atá ann cheana le 25 bliana anuas a chuireann easnaimh shuntasacha i láthair sa nóiméad seo. Is éard atá ann athsholáthar a dhéanamh ar threalamh STM/AFM atá bunaithe ar rialaitheoir IIE Nanoscope. _x000D_ is é an cuspóir ná sraith de na heilimintí riachtanacha agus moduli a fháil chun trealamh nua den teicneolaíocht is déanaí a chumrú chun tomhais micreascópachta fórsa adamhach a dhéanamh. Ina theannta sin, beidh fás agus forbairt an chórais seo leis na modhanna nua is úire den teicníc seo indéanta sa future._x000D_ Déanfar an trealamh a iarradh a chomhtháthú leis an tSeirbhís Mhicreascópachta Fórsa Adamhach, a bhaineann leis na Seirbhísí Ginearálta le haghaidh Tacaíochta Taighde in Ollscoil La Laguna. Beidh an córas a bheith faoi choimeád agus rialú na service._x000D_ I measc na gnéithe iontacha de na córais iarrtha san áireamh na saintréithe seo a leanas: sealbhóir sampla éasca rochtana a thacaíonn le samplaí de roinnt ceintiméadar, comhtháthú córas optach uathoibríoch agus ríomhchláraithe don suíomh ar an sampla a cheadaíonn tomhais sheicheamhacha, scanóir lúb gar-chobhsaíochta 90x90x10 miocrón (XYZ), an fhéidearthacht sruthanna samplála-tip an-íseal a thomhas (suas le 100 fA), luasanna scanadh ard (suas go dtí roinnt deich Hz), tréithriú airíonna nanamechanic le haghaidh moduli leaisteacha suas go dtí 100 GPa ag an am céanna le fáil na léarscáileanna topographic, spectroscopy fórsa agus AFM i leachtanna. (Irish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Tá sé mar aidhm ag an iarratas seo úsáid gan bhriseadh a chur in ionad trealamh STM/AFM atá ann cheana le 25 bliana anuas a chuireann easnaimh shuntasacha i láthair sa nóiméad seo. Is éard atá ann athsholáthar a dhéanamh ar threalamh STM/AFM atá bunaithe ar rialaitheoir IIE Nanoscope. _x000D_ is é an cuspóir ná sraith de na heilimintí riachtanacha agus moduli a fháil chun trealamh nua den teicneolaíocht is déanaí a chumrú chun tomhais micreascópachta fórsa adamhach a dhéanamh. Ina theannta sin, beidh fás agus forbairt an chórais seo leis na modhanna nua is úire den teicníc seo indéanta sa future._x000D_ Déanfar an trealamh a iarradh a chomhtháthú leis an tSeirbhís Mhicreascópachta Fórsa Adamhach, a bhaineann leis na Seirbhísí Ginearálta le haghaidh Tacaíochta Taighde in Ollscoil La Laguna. Beidh an córas a bheith faoi choimeád agus rialú na service._x000D_ I measc na gnéithe iontacha de na córais iarrtha san áireamh na saintréithe seo a leanas: sealbhóir sampla éasca rochtana a thacaíonn le samplaí de roinnt ceintiméadar, comhtháthú córas optach uathoibríoch agus ríomhchláraithe don suíomh ar an sampla a cheadaíonn tomhais sheicheamhacha, scanóir lúb gar-chobhsaíochta 90x90x10 miocrón (XYZ), an fhéidearthacht sruthanna samplála-tip an-íseal a thomhas (suas le 100 fA), luasanna scanadh ard (suas go dtí roinnt deich Hz), tréithriú airíonna nanamechanic le haghaidh moduli leaisteacha suas go dtí 100 GPa ag an am céanna le fáil na léarscáileanna topographic, spectroscopy fórsa agus AFM i leachtanna. (Irish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Tá sé mar aidhm ag an iarratas seo úsáid gan bhriseadh a chur in ionad trealamh STM/AFM atá ann cheana le 25 bliana anuas a chuireann easnaimh shuntasacha i láthair sa nóiméad seo. Is éard atá ann athsholáthar a dhéanamh ar threalamh STM/AFM atá bunaithe ar rialaitheoir IIE Nanoscope. _x000D_ is é an cuspóir ná sraith de na heilimintí riachtanacha agus moduli a fháil chun trealamh nua den teicneolaíocht is déanaí a chumrú chun tomhais micreascópachta fórsa adamhach a dhéanamh. Ina theannta sin, beidh fás agus forbairt an chórais seo leis na modhanna nua is úire den teicníc seo indéanta sa future._x000D_ Déanfar an trealamh a iarradh a chomhtháthú leis an tSeirbhís Mhicreascópachta Fórsa Adamhach, a bhaineann leis na Seirbhísí Ginearálta le haghaidh Tacaíochta Taighde in Ollscoil La Laguna. Beidh an córas a bheith faoi choimeád agus rialú na service._x000D_ I measc na gnéithe iontacha de na córais iarrtha san áireamh na saintréithe seo a leanas: sealbhóir sampla éasca rochtana a thacaíonn le samplaí de roinnt ceintiméadar, comhtháthú córas optach uathoibríoch agus ríomhchláraithe don suíomh ar an sampla a cheadaíonn tomhais sheicheamhacha, scanóir lúb gar-chobhsaíochta 90x90x10 miocrón (XYZ), an fhéidearthacht sruthanna samplála-tip an-íseal a thomhas (suas le 100 fA), luasanna scanadh ard (suas go dtí roinnt deich Hz), tréithriú airíonna nanamechanic le haghaidh moduli leaisteacha suas go dtí 100 GPa ag an am céanna le fáil na léarscáileanna topographic, spectroscopy fórsa agus AFM i leachtanna. (Irish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Cílem této aplikace je nahradit stávající zařízení STM/AFM nepřetržitým používáním během posledních 25 let, což v tomto okamžiku vykazuje značné nedostatky. Spočívá v výměně zařízení STM/AFM na základě regulátoru Nanoscope IIE. _x000D_ cílem je získat sadu potřebných prvků a moduly pro konfiguraci nového vybavení nejnovější technologie pro provádění mikroskopických měření atomové síly. Kromě toho, růst a vývoj tohoto systému s novými nejmodernějšími způsoby této techniky bude možné v budoucnu._x000D_ Požadované vybavení bude integrováno do služby mikroskopie atomových sil, patřící do General Services for Research Support of the University of Laguna. Systém bude v úschově a regulaci této služby._x000D_ Mezi pozoruhodné prvky požadovaných systémů jsou zahrnuty následující vlastnosti: snadno přístupný držák vzorků, který podporuje vzorky některých centimetrů, integrace automatického a programovatelného optického systému pro polohu na vzorku, který umožňuje sekvenční měření, vysoce stabilní skener zblízka 90x90x10 mikronů (XYZ), možnost měření velmi nízkých proudů (až 100 fA), vysoké rychlosti skenování (až do desítek Hz), charakterizace nanomechanických vlastností pro elastické moduly do 100 GPa současně s pořízením topografických map, silové spektroskopie a AFM v kapalinách. (Czech) | |||||||||||||||
| Property / summary: Cílem této aplikace je nahradit stávající zařízení STM/AFM nepřetržitým používáním během posledních 25 let, což v tomto okamžiku vykazuje značné nedostatky. Spočívá v výměně zařízení STM/AFM na základě regulátoru Nanoscope IIE. _x000D_ cílem je získat sadu potřebných prvků a moduly pro konfiguraci nového vybavení nejnovější technologie pro provádění mikroskopických měření atomové síly. Kromě toho, růst a vývoj tohoto systému s novými nejmodernějšími způsoby této techniky bude možné v budoucnu._x000D_ Požadované vybavení bude integrováno do služby mikroskopie atomových sil, patřící do General Services for Research Support of the University of Laguna. Systém bude v úschově a regulaci této služby._x000D_ Mezi pozoruhodné prvky požadovaných systémů jsou zahrnuty následující vlastnosti: snadno přístupný držák vzorků, který podporuje vzorky některých centimetrů, integrace automatického a programovatelného optického systému pro polohu na vzorku, který umožňuje sekvenční měření, vysoce stabilní skener zblízka 90x90x10 mikronů (XYZ), možnost měření velmi nízkých proudů (až 100 fA), vysoké rychlosti skenování (až do desítek Hz), charakterizace nanomechanických vlastností pro elastické moduly do 100 GPa současně s pořízením topografických map, silové spektroskopie a AFM v kapalinách. (Czech) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Cílem této aplikace je nahradit stávající zařízení STM/AFM nepřetržitým používáním během posledních 25 let, což v tomto okamžiku vykazuje značné nedostatky. Spočívá v výměně zařízení STM/AFM na základě regulátoru Nanoscope IIE. _x000D_ cílem je získat sadu potřebných prvků a moduly pro konfiguraci nového vybavení nejnovější technologie pro provádění mikroskopických měření atomové síly. Kromě toho, růst a vývoj tohoto systému s novými nejmodernějšími způsoby této techniky bude možné v budoucnu._x000D_ Požadované vybavení bude integrováno do služby mikroskopie atomových sil, patřící do General Services for Research Support of the University of Laguna. Systém bude v úschově a regulaci této služby._x000D_ Mezi pozoruhodné prvky požadovaných systémů jsou zahrnuty následující vlastnosti: snadno přístupný držák vzorků, který podporuje vzorky některých centimetrů, integrace automatického a programovatelného optického systému pro polohu na vzorku, který umožňuje sekvenční měření, vysoce stabilní skener zblízka 90x90x10 mikronů (XYZ), možnost měření velmi nízkých proudů (až 100 fA), vysoké rychlosti skenování (až do desítek Hz), charakterizace nanomechanických vlastností pro elastické moduly do 100 GPa současně s pořízením topografických map, silové spektroskopie a AFM v kapalinách. (Czech) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Esta aplicação visa substituir um equipamento STM/AFM existente por um uso ininterrupto durante os últimos 25 anos que apresenta neste momento deficiências notáveis. Consiste na substituição de um equipamento STM/AFM baseado num controlador Nanoscope IIE. _x000D_ O objetivo é adquirir um conjunto de elementos e módulos necessários para configurar um novo equipamento da mais recente tecnologia para realizar medições de microscopia de força atómica. Além disso, o crescimento e desenvolvimento deste sistema com os novos modos mais avançados desta técnica será possível no futuro._x000D_ O equipamento solicitado será integrado no Serviço de Microscopia da Força Atómica, pertencente aos Serviços Gerais de Apoio à Investigação da Universidade de La Laguna. O sistema estará sob a custódia e regulação deste serviço._x000D_ Entre os elementos notáveis dos sistemas solicitados estão incluídas as seguintes características: um porta-amostras de fácil acesso que suporta amostras de alguns centímetros, a integração de um sistema óptico automático e programável para a posição na amostra que permite medições sequenciais, um scanner close-loop de alta estabilidade de 90x90x10 mícrones (XYZ), a possibilidade de medir correntes muito baixas na ponta da amostra (até 100 fA), altas velocidades de varrimento (até algumas dezenas de Hz), a caracterização de propriedades nanomecânicas para módulos elásticos até 100 GPa simultaneamente à aquisição dos mapas topográficos, espectroscopia de força e AFM em líquidos. (Portuguese) | |||||||||||||||
| Property / summary: Esta aplicação visa substituir um equipamento STM/AFM existente por um uso ininterrupto durante os últimos 25 anos que apresenta neste momento deficiências notáveis. Consiste na substituição de um equipamento STM/AFM baseado num controlador Nanoscope IIE. _x000D_ O objetivo é adquirir um conjunto de elementos e módulos necessários para configurar um novo equipamento da mais recente tecnologia para realizar medições de microscopia de força atómica. Além disso, o crescimento e desenvolvimento deste sistema com os novos modos mais avançados desta técnica será possível no futuro._x000D_ O equipamento solicitado será integrado no Serviço de Microscopia da Força Atómica, pertencente aos Serviços Gerais de Apoio à Investigação da Universidade de La Laguna. O sistema estará sob a custódia e regulação deste serviço._x000D_ Entre os elementos notáveis dos sistemas solicitados estão incluídas as seguintes características: um porta-amostras de fácil acesso que suporta amostras de alguns centímetros, a integração de um sistema óptico automático e programável para a posição na amostra que permite medições sequenciais, um scanner close-loop de alta estabilidade de 90x90x10 mícrones (XYZ), a possibilidade de medir correntes muito baixas na ponta da amostra (até 100 fA), altas velocidades de varrimento (até algumas dezenas de Hz), a caracterização de propriedades nanomecânicas para módulos elásticos até 100 GPa simultaneamente à aquisição dos mapas topográficos, espectroscopia de força e AFM em líquidos. (Portuguese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Esta aplicação visa substituir um equipamento STM/AFM existente por um uso ininterrupto durante os últimos 25 anos que apresenta neste momento deficiências notáveis. Consiste na substituição de um equipamento STM/AFM baseado num controlador Nanoscope IIE. _x000D_ O objetivo é adquirir um conjunto de elementos e módulos necessários para configurar um novo equipamento da mais recente tecnologia para realizar medições de microscopia de força atómica. Além disso, o crescimento e desenvolvimento deste sistema com os novos modos mais avançados desta técnica será possível no futuro._x000D_ O equipamento solicitado será integrado no Serviço de Microscopia da Força Atómica, pertencente aos Serviços Gerais de Apoio à Investigação da Universidade de La Laguna. O sistema estará sob a custódia e regulação deste serviço._x000D_ Entre os elementos notáveis dos sistemas solicitados estão incluídas as seguintes características: um porta-amostras de fácil acesso que suporta amostras de alguns centímetros, a integração de um sistema óptico automático e programável para a posição na amostra que permite medições sequenciais, um scanner close-loop de alta estabilidade de 90x90x10 mícrones (XYZ), a possibilidade de medir correntes muito baixas na ponta da amostra (até 100 fA), altas velocidades de varrimento (até algumas dezenas de Hz), a caracterização de propriedades nanomecânicas para módulos elásticos até 100 GPa simultaneamente à aquisição dos mapas topográficos, espectroscopia de força e AFM em líquidos. (Portuguese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Selle rakenduse eesmärk on asendada olemasolev STM/AFM-seade katkematu kasutusega viimase 25 aasta jooksul, mis tekitab praegu märkimisväärseid puudusi. See seisneb Nanoscope IIE kontrolleril põhineva STM/AFM-seadme asendamises. _x000D_ eesmärk on omandada vajalike elementide ja moduli komplekt, et konfigureerida uusima tehnoloogia uusi seadmeid aatomjõu mikroskoopia mõõtmiseks. Lisaks on tulevikus võimalik selle süsteemi kasv ja arendamine selle tehnika uute kõige arenenumate režiimidega._x000D_ Taotletud seadmed integreeritakse La Laguna ülikooli teadusuuringute toetamise üldteenuste hulka kuuluva aatomi mikroskoopia teenusega. Süsteem on selle teenuse järelevalve all ja selle reguleerimise all._x000D_ Taotletud süsteemide tähelepanuväärsete elementide hulgas on järgmised omadused: kergesti ligipääsetav proovihoidik, mis toetab mõne sentimeetri proove, automaatse ja programmeeritava optikasüsteemi integreerimine proovi asendisse, mis võimaldab järjestikuseid mõõtmisi, kõrge stabiilsusega lähiskanner 90x90x10 mikronit (XYZ), võimalus mõõta väga madalat proovivõtuvoolu (kuni 100 fA), kõrge skaneerimiskiirus (kuni kümneid Hz), nanomehaaniliste omaduste iseloomustamine elastse moduli jaoks kuni 100 GPa samaaegselt topograafiliste kaartide omandamisega, jõuspektroskoopia ja AFM vedelikes. (Estonian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Selle rakenduse eesmärk on asendada olemasolev STM/AFM-seade katkematu kasutusega viimase 25 aasta jooksul, mis tekitab praegu märkimisväärseid puudusi. See seisneb Nanoscope IIE kontrolleril põhineva STM/AFM-seadme asendamises. _x000D_ eesmärk on omandada vajalike elementide ja moduli komplekt, et konfigureerida uusima tehnoloogia uusi seadmeid aatomjõu mikroskoopia mõõtmiseks. Lisaks on tulevikus võimalik selle süsteemi kasv ja arendamine selle tehnika uute kõige arenenumate režiimidega._x000D_ Taotletud seadmed integreeritakse La Laguna ülikooli teadusuuringute toetamise üldteenuste hulka kuuluva aatomi mikroskoopia teenusega. Süsteem on selle teenuse järelevalve all ja selle reguleerimise all._x000D_ Taotletud süsteemide tähelepanuväärsete elementide hulgas on järgmised omadused: kergesti ligipääsetav proovihoidik, mis toetab mõne sentimeetri proove, automaatse ja programmeeritava optikasüsteemi integreerimine proovi asendisse, mis võimaldab järjestikuseid mõõtmisi, kõrge stabiilsusega lähiskanner 90x90x10 mikronit (XYZ), võimalus mõõta väga madalat proovivõtuvoolu (kuni 100 fA), kõrge skaneerimiskiirus (kuni kümneid Hz), nanomehaaniliste omaduste iseloomustamine elastse moduli jaoks kuni 100 GPa samaaegselt topograafiliste kaartide omandamisega, jõuspektroskoopia ja AFM vedelikes. (Estonian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Selle rakenduse eesmärk on asendada olemasolev STM/AFM-seade katkematu kasutusega viimase 25 aasta jooksul, mis tekitab praegu märkimisväärseid puudusi. See seisneb Nanoscope IIE kontrolleril põhineva STM/AFM-seadme asendamises. _x000D_ eesmärk on omandada vajalike elementide ja moduli komplekt, et konfigureerida uusima tehnoloogia uusi seadmeid aatomjõu mikroskoopia mõõtmiseks. Lisaks on tulevikus võimalik selle süsteemi kasv ja arendamine selle tehnika uute kõige arenenumate režiimidega._x000D_ Taotletud seadmed integreeritakse La Laguna ülikooli teadusuuringute toetamise üldteenuste hulka kuuluva aatomi mikroskoopia teenusega. Süsteem on selle teenuse järelevalve all ja selle reguleerimise all._x000D_ Taotletud süsteemide tähelepanuväärsete elementide hulgas on järgmised omadused: kergesti ligipääsetav proovihoidik, mis toetab mõne sentimeetri proove, automaatse ja programmeeritava optikasüsteemi integreerimine proovi asendisse, mis võimaldab järjestikuseid mõõtmisi, kõrge stabiilsusega lähiskanner 90x90x10 mikronit (XYZ), võimalus mõõta väga madalat proovivõtuvoolu (kuni 100 fA), kõrge skaneerimiskiirus (kuni kümneid Hz), nanomehaaniliste omaduste iseloomustamine elastse moduli jaoks kuni 100 GPa samaaegselt topograafiliste kaartide omandamisega, jõuspektroskoopia ja AFM vedelikes. (Estonian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Az alkalmazás célja, hogy egy meglévő STM/AFM berendezést az elmúlt 25 évben megszakítás nélküli használattal váltson fel, ami ebben a pillanatban figyelemreméltó hiányosságokat mutat. Egy Nanoscope IIE vezérlőn alapuló STM/AFM berendezés cseréjéből áll. _x000D_ a cél az, hogy megszerezzék a szükséges elemeket és modulit a legújabb technológia új berendezésének konfigurálásához az atomerő mikroszkópos mérések elvégzéséhez. Ezen túlmenően a rendszer növekedése és fejlesztése a technika új legfejlettebb módozataival a jövőben lehetséges lesz._x000D_ A kért berendezés integrálódik a La Lagunai Egyetem Kutatási Támogató Általános Szolgálatához tartozó Atomic Force Microscopy Service-be. A rendszer a szolgáltatás felügyelete és szabályozása alatt áll._x000D_ A kért rendszerek figyelemre méltó elemei között a következő jellemzők szerepelnek: könnyen hozzáférhető mintatartó, amely néhány centiméteres mintákat támogat, automatikus és programozható optikai rendszer integrálása a mintán, amely lehetővé teszi a szekvenciális méréseket, a 90x90x10 mikron (XYZ) nagy stabilitású közeli hurok szkennert, a nagyon alacsony mintacsúcsáramok mérésének lehetőségét (100 fA-ig), nagy szkennelési sebességet (akár tíz Hz-ig), nanomechanikus tulajdonságok jellemzését a rugalmas moduli 100 GPa-ig a topográfiai térképek beszerzésével egyidejűleg, erőspektroszkópia és AFM folyadékokban. (Hungarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Az alkalmazás célja, hogy egy meglévő STM/AFM berendezést az elmúlt 25 évben megszakítás nélküli használattal váltson fel, ami ebben a pillanatban figyelemreméltó hiányosságokat mutat. Egy Nanoscope IIE vezérlőn alapuló STM/AFM berendezés cseréjéből áll. _x000D_ a cél az, hogy megszerezzék a szükséges elemeket és modulit a legújabb technológia új berendezésének konfigurálásához az atomerő mikroszkópos mérések elvégzéséhez. Ezen túlmenően a rendszer növekedése és fejlesztése a technika új legfejlettebb módozataival a jövőben lehetséges lesz._x000D_ A kért berendezés integrálódik a La Lagunai Egyetem Kutatási Támogató Általános Szolgálatához tartozó Atomic Force Microscopy Service-be. A rendszer a szolgáltatás felügyelete és szabályozása alatt áll._x000D_ A kért rendszerek figyelemre méltó elemei között a következő jellemzők szerepelnek: könnyen hozzáférhető mintatartó, amely néhány centiméteres mintákat támogat, automatikus és programozható optikai rendszer integrálása a mintán, amely lehetővé teszi a szekvenciális méréseket, a 90x90x10 mikron (XYZ) nagy stabilitású közeli hurok szkennert, a nagyon alacsony mintacsúcsáramok mérésének lehetőségét (100 fA-ig), nagy szkennelési sebességet (akár tíz Hz-ig), nanomechanikus tulajdonságok jellemzését a rugalmas moduli 100 GPa-ig a topográfiai térképek beszerzésével egyidejűleg, erőspektroszkópia és AFM folyadékokban. (Hungarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Az alkalmazás célja, hogy egy meglévő STM/AFM berendezést az elmúlt 25 évben megszakítás nélküli használattal váltson fel, ami ebben a pillanatban figyelemreméltó hiányosságokat mutat. Egy Nanoscope IIE vezérlőn alapuló STM/AFM berendezés cseréjéből áll. _x000D_ a cél az, hogy megszerezzék a szükséges elemeket és modulit a legújabb technológia új berendezésének konfigurálásához az atomerő mikroszkópos mérések elvégzéséhez. Ezen túlmenően a rendszer növekedése és fejlesztése a technika új legfejlettebb módozataival a jövőben lehetséges lesz._x000D_ A kért berendezés integrálódik a La Lagunai Egyetem Kutatási Támogató Általános Szolgálatához tartozó Atomic Force Microscopy Service-be. A rendszer a szolgáltatás felügyelete és szabályozása alatt áll._x000D_ A kért rendszerek figyelemre méltó elemei között a következő jellemzők szerepelnek: könnyen hozzáférhető mintatartó, amely néhány centiméteres mintákat támogat, automatikus és programozható optikai rendszer integrálása a mintán, amely lehetővé teszi a szekvenciális méréseket, a 90x90x10 mikron (XYZ) nagy stabilitású közeli hurok szkennert, a nagyon alacsony mintacsúcsáramok mérésének lehetőségét (100 fA-ig), nagy szkennelési sebességet (akár tíz Hz-ig), nanomechanikus tulajdonságok jellemzését a rugalmas moduli 100 GPa-ig a topográfiai térképek beszerzésével egyidejűleg, erőspektroszkópia és AFM folyadékokban. (Hungarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Това приложение има за цел да замени съществуващо STM/AFM оборудване с непрекъсната употреба през последните 25 години, което в този момент представлява забележителни недостатъци. Състои се от подмяна на STM/AFM оборудване, базирано на контролер Nanoscope IIE. _x000D_ целта е да се придобие набор от необходимите елементи и модули за конфигуриране на ново оборудване на най-новите технологии за извършване на измервания на атомна сила микроскопия. В допълнение, растежът и развитието на тази система с новите най-напреднали режими на тази техника ще бъдат възможни в бъдеще._x000D_ Заявеното оборудване ще бъде интегрирано в Службата за микроскопия на атомната сила, принадлежаща към Общите служби за подкрепа на научните изследвания на Университета в Лагуна. Системата ще бъде под контрола и регулирането на тази услуга._x000D_ Сред забележителните елементи на поисканите системи са включени следните характеристики: леснодостъпен държач за проби, който поддържа проби от някои сантиметра, интегриране на автоматична и програмируема оптична система за позицията върху пробата, която позволява последователни измервания, скенер с висока стабилност от 90x90x10 микрона (XYZ), възможност за измерване на много ниски токове на върха на пробата (до 100 fA), високи скорости на сканиране (до няколко десетки Hz), характеризиране на наномеханичните свойства за еластични модули до 100 GPa едновременно с придобиването на топографски карти, силова спектроскопия и AFM в течности. (Bulgarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Това приложение има за цел да замени съществуващо STM/AFM оборудване с непрекъсната употреба през последните 25 години, което в този момент представлява забележителни недостатъци. Състои се от подмяна на STM/AFM оборудване, базирано на контролер Nanoscope IIE. _x000D_ целта е да се придобие набор от необходимите елементи и модули за конфигуриране на ново оборудване на най-новите технологии за извършване на измервания на атомна сила микроскопия. В допълнение, растежът и развитието на тази система с новите най-напреднали режими на тази техника ще бъдат възможни в бъдеще._x000D_ Заявеното оборудване ще бъде интегрирано в Службата за микроскопия на атомната сила, принадлежаща към Общите служби за подкрепа на научните изследвания на Университета в Лагуна. Системата ще бъде под контрола и регулирането на тази услуга._x000D_ Сред забележителните елементи на поисканите системи са включени следните характеристики: леснодостъпен държач за проби, който поддържа проби от някои сантиметра, интегриране на автоматична и програмируема оптична система за позицията върху пробата, която позволява последователни измервания, скенер с висока стабилност от 90x90x10 микрона (XYZ), възможност за измерване на много ниски токове на върха на пробата (до 100 fA), високи скорости на сканиране (до няколко десетки Hz), характеризиране на наномеханичните свойства за еластични модули до 100 GPa едновременно с придобиването на топографски карти, силова спектроскопия и AFM в течности. (Bulgarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Това приложение има за цел да замени съществуващо STM/AFM оборудване с непрекъсната употреба през последните 25 години, което в този момент представлява забележителни недостатъци. Състои се от подмяна на STM/AFM оборудване, базирано на контролер Nanoscope IIE. _x000D_ целта е да се придобие набор от необходимите елементи и модули за конфигуриране на ново оборудване на най-новите технологии за извършване на измервания на атомна сила микроскопия. В допълнение, растежът и развитието на тази система с новите най-напреднали режими на тази техника ще бъдат възможни в бъдеще._x000D_ Заявеното оборудване ще бъде интегрирано в Службата за микроскопия на атомната сила, принадлежаща към Общите служби за подкрепа на научните изследвания на Университета в Лагуна. Системата ще бъде под контрола и регулирането на тази услуга._x000D_ Сред забележителните елементи на поисканите системи са включени следните характеристики: леснодостъпен държач за проби, който поддържа проби от някои сантиметра, интегриране на автоматична и програмируема оптична система за позицията върху пробата, която позволява последователни измервания, скенер с висока стабилност от 90x90x10 микрона (XYZ), възможност за измерване на много ниски токове на върха на пробата (до 100 fA), високи скорости на сканиране (до няколко десетки Hz), характеризиране на наномеханичните свойства за еластични модули до 100 GPa едновременно с придобиването на топографски карти, силова спектроскопия и AFM в течности. (Bulgarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Šia programa siekiama pakeisti esamą STM/AFM įrangą nepertraukiamu naudojimu per pastaruosius 25 metus, o tai šiuo metu kelia didelių trūkumų. Jį sudaro STM/AFM įrangos pakeitimas Nanoscope IIE valdikliu. _x000D_ tikslas yra įsigyti būtinų elementų ir moduli rinkinį, kad būtų galima konfigūruoti naują naujausios technologijos įrangą atominės jėgos mikroskopiniams matavimams atlikti. Be to, šios sistemos augimas ir plėtra su naujais pažangiausiais šios technikos režimais bus įmanoma ateityje._x000D_ Prašoma įranga bus integruota į atominės jėgos mikroskopijos tarnybą, priklausančią La Lagunos universiteto Bendrosioms mokslinių tyrimų palaikymo paslaugoms. Sistema bus saugoma ir reguliuojama šios paslaugos._x000D_ Tarp puikių prašomų sistemų elementų yra šios savybės: lengvai prieinamas mėginių laikiklis, palaikantis kai kurių centimetrų pavyzdžius, automatinės ir programuojamos optinės sistemos integravimas bandinio padėčiai, kuri leidžia atlikti nuoseklius matavimus, didelio stabilumo artimas 90x90x10 mikronų (XYZ) skaitytuvas, galimybė matuoti labai mažas mėginio galiuko sroves (iki 100 fA), didelis skenavimo greitis (iki kai kurių dešimčių Hz), elastingo moduli nanomechaninių savybių apibūdinimas iki 100 GPa tuo pačiu metu įsigyjant topografinius žemėlapius, jėgos spektroskopiją ir AFM skysčiuose. (Lithuanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Šia programa siekiama pakeisti esamą STM/AFM įrangą nepertraukiamu naudojimu per pastaruosius 25 metus, o tai šiuo metu kelia didelių trūkumų. Jį sudaro STM/AFM įrangos pakeitimas Nanoscope IIE valdikliu. _x000D_ tikslas yra įsigyti būtinų elementų ir moduli rinkinį, kad būtų galima konfigūruoti naują naujausios technologijos įrangą atominės jėgos mikroskopiniams matavimams atlikti. Be to, šios sistemos augimas ir plėtra su naujais pažangiausiais šios technikos režimais bus įmanoma ateityje._x000D_ Prašoma įranga bus integruota į atominės jėgos mikroskopijos tarnybą, priklausančią La Lagunos universiteto Bendrosioms mokslinių tyrimų palaikymo paslaugoms. Sistema bus saugoma ir reguliuojama šios paslaugos._x000D_ Tarp puikių prašomų sistemų elementų yra šios savybės: lengvai prieinamas mėginių laikiklis, palaikantis kai kurių centimetrų pavyzdžius, automatinės ir programuojamos optinės sistemos integravimas bandinio padėčiai, kuri leidžia atlikti nuoseklius matavimus, didelio stabilumo artimas 90x90x10 mikronų (XYZ) skaitytuvas, galimybė matuoti labai mažas mėginio galiuko sroves (iki 100 fA), didelis skenavimo greitis (iki kai kurių dešimčių Hz), elastingo moduli nanomechaninių savybių apibūdinimas iki 100 GPa tuo pačiu metu įsigyjant topografinius žemėlapius, jėgos spektroskopiją ir AFM skysčiuose. (Lithuanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Šia programa siekiama pakeisti esamą STM/AFM įrangą nepertraukiamu naudojimu per pastaruosius 25 metus, o tai šiuo metu kelia didelių trūkumų. Jį sudaro STM/AFM įrangos pakeitimas Nanoscope IIE valdikliu. _x000D_ tikslas yra įsigyti būtinų elementų ir moduli rinkinį, kad būtų galima konfigūruoti naują naujausios technologijos įrangą atominės jėgos mikroskopiniams matavimams atlikti. Be to, šios sistemos augimas ir plėtra su naujais pažangiausiais šios technikos režimais bus įmanoma ateityje._x000D_ Prašoma įranga bus integruota į atominės jėgos mikroskopijos tarnybą, priklausančią La Lagunos universiteto Bendrosioms mokslinių tyrimų palaikymo paslaugoms. Sistema bus saugoma ir reguliuojama šios paslaugos._x000D_ Tarp puikių prašomų sistemų elementų yra šios savybės: lengvai prieinamas mėginių laikiklis, palaikantis kai kurių centimetrų pavyzdžius, automatinės ir programuojamos optinės sistemos integravimas bandinio padėčiai, kuri leidžia atlikti nuoseklius matavimus, didelio stabilumo artimas 90x90x10 mikronų (XYZ) skaitytuvas, galimybė matuoti labai mažas mėginio galiuko sroves (iki 100 fA), didelis skenavimo greitis (iki kai kurių dešimčių Hz), elastingo moduli nanomechaninių savybių apibūdinimas iki 100 GPa tuo pačiu metu įsigyjant topografinius žemėlapius, jėgos spektroskopiją ir AFM skysčiuose. (Lithuanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Cilj je ove aplikacije zamijeniti postojeću opremu STM-a/AFM-a neprekinutom uporabom tijekom posljednjih 25 godina, što u ovom trenutku predstavlja značajne nedostatke. Sastoji se od zamjene STM/AFM opreme na temelju Nanoscope IIE kontrolera. _x000D_ cilj je steći skup potrebnih elemenata i modula za konfiguriranje nove opreme najnovije tehnologije za provođenje mikroskopskih mjerenja atomske sile. Osim toga, rast i razvoj ovog sustava s novim najnaprednijim načinima ove tehnike bit će moguć u budućnosti._x000D_ Zatražena oprema bit će integrirana u službu za mikroskopiju atomskih sila, koja pripada Općoj službi za podršku istraživanjima Sveučilišta u La Laguni. Sustav će biti pod nadzorom i regulacijom ove usluge._x000D_ Među izvanrednim elementima traženih sustava uključene su sljedeće značajke: lako dostupan držač uzorka koji podržava uzorke nekih centimetara, integraciju automatskog i programabilnog optičkog sustava za položaj na uzorku koji omogućuje sekvencijska mjerenja, visokostabilni skener blizu petlje od 90x90x10 mikrona (XYZ), mogućnost mjerenja vrlo niskih struja na uzorku (do 100 fA), velike brzine skeniranja (do nekoliko desetaka Hz), karakterizaciju nanomehaničkih svojstava za elastične module do 100 GPa istodobno s prikupljanjem topografskih karata, spektroskopije sile i AFM-a u tekućinama. (Croatian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Cilj je ove aplikacije zamijeniti postojeću opremu STM-a/AFM-a neprekinutom uporabom tijekom posljednjih 25 godina, što u ovom trenutku predstavlja značajne nedostatke. Sastoji se od zamjene STM/AFM opreme na temelju Nanoscope IIE kontrolera. _x000D_ cilj je steći skup potrebnih elemenata i modula za konfiguriranje nove opreme najnovije tehnologije za provođenje mikroskopskih mjerenja atomske sile. Osim toga, rast i razvoj ovog sustava s novim najnaprednijim načinima ove tehnike bit će moguć u budućnosti._x000D_ Zatražena oprema bit će integrirana u službu za mikroskopiju atomskih sila, koja pripada Općoj službi za podršku istraživanjima Sveučilišta u La Laguni. Sustav će biti pod nadzorom i regulacijom ove usluge._x000D_ Među izvanrednim elementima traženih sustava uključene su sljedeće značajke: lako dostupan držač uzorka koji podržava uzorke nekih centimetara, integraciju automatskog i programabilnog optičkog sustava za položaj na uzorku koji omogućuje sekvencijska mjerenja, visokostabilni skener blizu petlje od 90x90x10 mikrona (XYZ), mogućnost mjerenja vrlo niskih struja na uzorku (do 100 fA), velike brzine skeniranja (do nekoliko desetaka Hz), karakterizaciju nanomehaničkih svojstava za elastične module do 100 GPa istodobno s prikupljanjem topografskih karata, spektroskopije sile i AFM-a u tekućinama. (Croatian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Cilj je ove aplikacije zamijeniti postojeću opremu STM-a/AFM-a neprekinutom uporabom tijekom posljednjih 25 godina, što u ovom trenutku predstavlja značajne nedostatke. Sastoji se od zamjene STM/AFM opreme na temelju Nanoscope IIE kontrolera. _x000D_ cilj je steći skup potrebnih elemenata i modula za konfiguriranje nove opreme najnovije tehnologije za provođenje mikroskopskih mjerenja atomske sile. Osim toga, rast i razvoj ovog sustava s novim najnaprednijim načinima ove tehnike bit će moguć u budućnosti._x000D_ Zatražena oprema bit će integrirana u službu za mikroskopiju atomskih sila, koja pripada Općoj službi za podršku istraživanjima Sveučilišta u La Laguni. Sustav će biti pod nadzorom i regulacijom ove usluge._x000D_ Među izvanrednim elementima traženih sustava uključene su sljedeće značajke: lako dostupan držač uzorka koji podržava uzorke nekih centimetara, integraciju automatskog i programabilnog optičkog sustava za položaj na uzorku koji omogućuje sekvencijska mjerenja, visokostabilni skener blizu petlje od 90x90x10 mikrona (XYZ), mogućnost mjerenja vrlo niskih struja na uzorku (do 100 fA), velike brzine skeniranja (do nekoliko desetaka Hz), karakterizaciju nanomehaničkih svojstava za elastične module do 100 GPa istodobno s prikupljanjem topografskih karata, spektroskopije sile i AFM-a u tekućinama. (Croatian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Denna applikation syftar till att ersätta en befintlig STM/AFM-utrustning med en oavbruten användning under de senaste 25 åren som i detta ögonblick uppvisar anmärkningsvärda brister. Den består av utbyte av en STM/AFM-utrustning baserad på en Nanoscope IIE-styrenhet. _x000D_ målet är att förvärva en uppsättning nödvändiga element och moduli för att konfigurera en ny utrustning av den senaste tekniken för att utföra atomkraft mikroskopi mätningar. Dessutom kommer tillväxten och utvecklingen av detta system med de nya mest avancerade lägena av denna teknik att vara möjligt i framtiden._x000D_ Den begärda utrustningen kommer att integreras i Atomic Force Microscopy Service, som tillhör General Services for Research Support vid University of La Laguna. Systemet kommer att vara under förvaring och reglering av denna tjänst._x000D_ Bland de anmärkningsvärda delarna av de begärda systemen ingår följande egenskaper: en lättåtkomlig provhållare som stöder prover på några centimeter, integrering av ett automatiskt och programmerbart optiskt system för placeringen på provet som möjliggör sekventiella mätningar, en hög stabilitet närslinga skanner på 90x90x10 mikron (XYZ), möjligheten att mäta mycket låga provtoppsströmmar (upp till 100 fA), höga skanningshastigheter (upp till cirka tiotals Hz), karakterisering av nanomekaniska egenskaper för elastisk moduli upp till 100 GPa samtidigt till förvärvet av topografiska kartor, kraftspektroskopi och AFM i vätskor. (Swedish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Denna applikation syftar till att ersätta en befintlig STM/AFM-utrustning med en oavbruten användning under de senaste 25 åren som i detta ögonblick uppvisar anmärkningsvärda brister. Den består av utbyte av en STM/AFM-utrustning baserad på en Nanoscope IIE-styrenhet. _x000D_ målet är att förvärva en uppsättning nödvändiga element och moduli för att konfigurera en ny utrustning av den senaste tekniken för att utföra atomkraft mikroskopi mätningar. Dessutom kommer tillväxten och utvecklingen av detta system med de nya mest avancerade lägena av denna teknik att vara möjligt i framtiden._x000D_ Den begärda utrustningen kommer att integreras i Atomic Force Microscopy Service, som tillhör General Services for Research Support vid University of La Laguna. Systemet kommer att vara under förvaring och reglering av denna tjänst._x000D_ Bland de anmärkningsvärda delarna av de begärda systemen ingår följande egenskaper: en lättåtkomlig provhållare som stöder prover på några centimeter, integrering av ett automatiskt och programmerbart optiskt system för placeringen på provet som möjliggör sekventiella mätningar, en hög stabilitet närslinga skanner på 90x90x10 mikron (XYZ), möjligheten att mäta mycket låga provtoppsströmmar (upp till 100 fA), höga skanningshastigheter (upp till cirka tiotals Hz), karakterisering av nanomekaniska egenskaper för elastisk moduli upp till 100 GPa samtidigt till förvärvet av topografiska kartor, kraftspektroskopi och AFM i vätskor. (Swedish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Denna applikation syftar till att ersätta en befintlig STM/AFM-utrustning med en oavbruten användning under de senaste 25 åren som i detta ögonblick uppvisar anmärkningsvärda brister. Den består av utbyte av en STM/AFM-utrustning baserad på en Nanoscope IIE-styrenhet. _x000D_ målet är att förvärva en uppsättning nödvändiga element och moduli för att konfigurera en ny utrustning av den senaste tekniken för att utföra atomkraft mikroskopi mätningar. Dessutom kommer tillväxten och utvecklingen av detta system med de nya mest avancerade lägena av denna teknik att vara möjligt i framtiden._x000D_ Den begärda utrustningen kommer att integreras i Atomic Force Microscopy Service, som tillhör General Services for Research Support vid University of La Laguna. Systemet kommer att vara under förvaring och reglering av denna tjänst._x000D_ Bland de anmärkningsvärda delarna av de begärda systemen ingår följande egenskaper: en lättåtkomlig provhållare som stöder prover på några centimeter, integrering av ett automatiskt och programmerbart optiskt system för placeringen på provet som möjliggör sekventiella mätningar, en hög stabilitet närslinga skanner på 90x90x10 mikron (XYZ), möjligheten att mäta mycket låga provtoppsströmmar (upp till 100 fA), höga skanningshastigheter (upp till cirka tiotals Hz), karakterisering av nanomekaniska egenskaper för elastisk moduli upp till 100 GPa samtidigt till förvärvet av topografiska kartor, kraftspektroskopi och AFM i vätskor. (Swedish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Această aplicație își propune să înlocuiască un echipament STM/AFM existent cu o utilizare neîntreruptă în ultimii 25 de ani, ceea ce prezintă în acest moment deficiențe remarcabile. Constă în înlocuirea unui echipament STM/AFM pe baza unui controler IIE Nanoscop. _x000D_ obiectivul este de a achiziționa un set de elemente necesare și moduli pentru a configura un nou echipament de cea mai recentă tehnologie pentru a efectua măsurători microscopie forță atomică. În plus, dezvoltarea și dezvoltarea acestui sistem cu noile moduri cele mai avansate ale acestei tehnici vor fi posibile în viitor._x000D_ Echipamentul solicitat va fi integrat în Serviciul de Microscopie a Forței Atomice, aparținând Serviciilor Generale de Sprijin pentru Cercetare ale Universității din La Laguna. Sistemul va fi în custodia și reglementarea acestui serviciu._x000D_ Printre elementele remarcabile ale sistemelor solicitate sunt incluse următoarele caracteristici: un suport de probă ușor accesibil, care acceptă eșantioane de câțiva centimetri, integrarea unui sistem optic automat și programabil pentru poziția pe eșantion, care permite măsurători secvențiale, un scaner în buclă închisă de înaltă stabilitate de 90x90x10 microni (XYZ), posibilitatea de a măsura curenți foarte mici de vârf de probă (până la 100 fA), viteze mari de scanare (până la câteva zeci de Hz), caracterizarea proprietăților nanomecanice pentru moduli elastici de până la 100 GPa simultan cu achiziționarea hărților topografice, spectroscopiei de forță și AFM în lichide. (Romanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Această aplicație își propune să înlocuiască un echipament STM/AFM existent cu o utilizare neîntreruptă în ultimii 25 de ani, ceea ce prezintă în acest moment deficiențe remarcabile. Constă în înlocuirea unui echipament STM/AFM pe baza unui controler IIE Nanoscop. _x000D_ obiectivul este de a achiziționa un set de elemente necesare și moduli pentru a configura un nou echipament de cea mai recentă tehnologie pentru a efectua măsurători microscopie forță atomică. În plus, dezvoltarea și dezvoltarea acestui sistem cu noile moduri cele mai avansate ale acestei tehnici vor fi posibile în viitor._x000D_ Echipamentul solicitat va fi integrat în Serviciul de Microscopie a Forței Atomice, aparținând Serviciilor Generale de Sprijin pentru Cercetare ale Universității din La Laguna. Sistemul va fi în custodia și reglementarea acestui serviciu._x000D_ Printre elementele remarcabile ale sistemelor solicitate sunt incluse următoarele caracteristici: un suport de probă ușor accesibil, care acceptă eșantioane de câțiva centimetri, integrarea unui sistem optic automat și programabil pentru poziția pe eșantion, care permite măsurători secvențiale, un scaner în buclă închisă de înaltă stabilitate de 90x90x10 microni (XYZ), posibilitatea de a măsura curenți foarte mici de vârf de probă (până la 100 fA), viteze mari de scanare (până la câteva zeci de Hz), caracterizarea proprietăților nanomecanice pentru moduli elastici de până la 100 GPa simultan cu achiziționarea hărților topografice, spectroscopiei de forță și AFM în lichide. (Romanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Această aplicație își propune să înlocuiască un echipament STM/AFM existent cu o utilizare neîntreruptă în ultimii 25 de ani, ceea ce prezintă în acest moment deficiențe remarcabile. Constă în înlocuirea unui echipament STM/AFM pe baza unui controler IIE Nanoscop. _x000D_ obiectivul este de a achiziționa un set de elemente necesare și moduli pentru a configura un nou echipament de cea mai recentă tehnologie pentru a efectua măsurători microscopie forță atomică. În plus, dezvoltarea și dezvoltarea acestui sistem cu noile moduri cele mai avansate ale acestei tehnici vor fi posibile în viitor._x000D_ Echipamentul solicitat va fi integrat în Serviciul de Microscopie a Forței Atomice, aparținând Serviciilor Generale de Sprijin pentru Cercetare ale Universității din La Laguna. Sistemul va fi în custodia și reglementarea acestui serviciu._x000D_ Printre elementele remarcabile ale sistemelor solicitate sunt incluse următoarele caracteristici: un suport de probă ușor accesibil, care acceptă eșantioane de câțiva centimetri, integrarea unui sistem optic automat și programabil pentru poziția pe eșantion, care permite măsurători secvențiale, un scaner în buclă închisă de înaltă stabilitate de 90x90x10 microni (XYZ), posibilitatea de a măsura curenți foarte mici de vârf de probă (până la 100 fA), viteze mari de scanare (până la câteva zeci de Hz), caracterizarea proprietăților nanomecanice pentru moduli elastici de până la 100 GPa simultan cu achiziționarea hărților topografice, spectroscopiei de forță și AFM în lichide. (Romanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Namen te aplikacije je nadomestiti obstoječo opremo STM/AFM z neprekinjeno uporabo v zadnjih 25 letih, kar v tem trenutku predstavlja izjemne pomanjkljivosti. Sestavljen je iz zamenjave opreme STM/AFM, ki temelji na Nanoscope IIE krmilniku. _x000D_ cilj je pridobiti niz potrebnih elementov in moduli za konfiguracijo nove opreme najnovejše tehnologije za izvedbo meritev atomske sile mikroskopije. Poleg tega bo rast in razvoj tega sistema z novimi najnaprednejšimi načini te tehnike mogoče v prihodnosti._x000D_ Zahtevana oprema bo vključena v Microscopy Service Atomic Force, ki pripada Splošni službi za podporo raziskav Univerze v Laguni. Sistem bo pod nadzorom in regulacijo te storitve._x000D_ Med izjemnimi elementi zahtevanih sistemov so vključene naslednje značilnosti: enostavno dostopno držalo vzorca, ki podpira vzorce nekaj centimetrov, integracijo avtomatskega in programabilnega optičnega sistema za položaj na vzorcu, ki omogoča zaporedne meritve, visoko stabilen optični skener 90x90x10 mikronov (XYZ), možnost merjenja zelo nizkih tokov vzorca (do 100 fA), visoke hitrosti skeniranja (do nekaj deset Hz), karakterizacijo nanomehanskih lastnosti za elastične module do 100 GPa hkrati z nakupom topografskih zemljevidov, spektroskopijo sile in AFM v tekočinah. (Slovenian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Namen te aplikacije je nadomestiti obstoječo opremo STM/AFM z neprekinjeno uporabo v zadnjih 25 letih, kar v tem trenutku predstavlja izjemne pomanjkljivosti. Sestavljen je iz zamenjave opreme STM/AFM, ki temelji na Nanoscope IIE krmilniku. _x000D_ cilj je pridobiti niz potrebnih elementov in moduli za konfiguracijo nove opreme najnovejše tehnologije za izvedbo meritev atomske sile mikroskopije. Poleg tega bo rast in razvoj tega sistema z novimi najnaprednejšimi načini te tehnike mogoče v prihodnosti._x000D_ Zahtevana oprema bo vključena v Microscopy Service Atomic Force, ki pripada Splošni službi za podporo raziskav Univerze v Laguni. Sistem bo pod nadzorom in regulacijo te storitve._x000D_ Med izjemnimi elementi zahtevanih sistemov so vključene naslednje značilnosti: enostavno dostopno držalo vzorca, ki podpira vzorce nekaj centimetrov, integracijo avtomatskega in programabilnega optičnega sistema za položaj na vzorcu, ki omogoča zaporedne meritve, visoko stabilen optični skener 90x90x10 mikronov (XYZ), možnost merjenja zelo nizkih tokov vzorca (do 100 fA), visoke hitrosti skeniranja (do nekaj deset Hz), karakterizacijo nanomehanskih lastnosti za elastične module do 100 GPa hkrati z nakupom topografskih zemljevidov, spektroskopijo sile in AFM v tekočinah. (Slovenian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Namen te aplikacije je nadomestiti obstoječo opremo STM/AFM z neprekinjeno uporabo v zadnjih 25 letih, kar v tem trenutku predstavlja izjemne pomanjkljivosti. Sestavljen je iz zamenjave opreme STM/AFM, ki temelji na Nanoscope IIE krmilniku. _x000D_ cilj je pridobiti niz potrebnih elementov in moduli za konfiguracijo nove opreme najnovejše tehnologije za izvedbo meritev atomske sile mikroskopije. Poleg tega bo rast in razvoj tega sistema z novimi najnaprednejšimi načini te tehnike mogoče v prihodnosti._x000D_ Zahtevana oprema bo vključena v Microscopy Service Atomic Force, ki pripada Splošni službi za podporo raziskav Univerze v Laguni. Sistem bo pod nadzorom in regulacijo te storitve._x000D_ Med izjemnimi elementi zahtevanih sistemov so vključene naslednje značilnosti: enostavno dostopno držalo vzorca, ki podpira vzorce nekaj centimetrov, integracijo avtomatskega in programabilnega optičnega sistema za položaj na vzorcu, ki omogoča zaporedne meritve, visoko stabilen optični skener 90x90x10 mikronov (XYZ), možnost merjenja zelo nizkih tokov vzorca (do 100 fA), visoke hitrosti skeniranja (do nekaj deset Hz), karakterizacijo nanomehanskih lastnosti za elastične module do 100 GPa hkrati z nakupom topografskih zemljevidov, spektroskopijo sile in AFM v tekočinah. (Slovenian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Aplikacja ta ma na celu zastąpienie istniejącego sprzętu STM/AFM nieprzerwanym użytkowaniem w ciągu ostatnich 25 lat, co w tej chwili wykazuje znaczące braki. Polega na wymianie sprzętu STM/AFM opartego na sterowniku Nanoscope IIE. _x000D_ celem jest uzyskanie zestawu niezbędnych elementów i moduli do skonfigurowania nowego sprzętu najnowszej technologii do przeprowadzania pomiarów siły atomowej. Ponadto, rozwój i rozwój tego systemu z nowymi najbardziej zaawansowanymi trybami tej techniki będzie możliwy w przyszłości._x000D_ Wymagany sprzęt zostanie zintegrowany z Usługą Mikroskopii Sił Atomowych, należącą do General Services for Research Support of the University of La Laguna. System będzie pod nadzorem i regulacją tej usługi._x000D_ Wśród niezwykłych elementów żądanych systemów znajdują się następujące cechy: łatwy dostęp do uchwytu na próbki, który obsługuje próbki kilku centymetrów, integrację automatycznego i programowalnego układu optycznego do położenia na próbce, który umożliwia pomiary sekwencyjne, skaner bliskiej pętli o wysokiej stabilności 90x90x10 mikronów (XYZ), możliwość pomiaru bardzo niskich prądów końcówek próbki (do 100 fA), wysokie prędkości skanowania (do kilkudziesięciu Hz), charakterystykę właściwości nanomechanicznych dla moduli sprężystości do 100 GPa jednocześnie z uzyskaniem map topograficznych, spektroskopię siłową i AFM w płynach. (Polish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Aplikacja ta ma na celu zastąpienie istniejącego sprzętu STM/AFM nieprzerwanym użytkowaniem w ciągu ostatnich 25 lat, co w tej chwili wykazuje znaczące braki. Polega na wymianie sprzętu STM/AFM opartego na sterowniku Nanoscope IIE. _x000D_ celem jest uzyskanie zestawu niezbędnych elementów i moduli do skonfigurowania nowego sprzętu najnowszej technologii do przeprowadzania pomiarów siły atomowej. Ponadto, rozwój i rozwój tego systemu z nowymi najbardziej zaawansowanymi trybami tej techniki będzie możliwy w przyszłości._x000D_ Wymagany sprzęt zostanie zintegrowany z Usługą Mikroskopii Sił Atomowych, należącą do General Services for Research Support of the University of La Laguna. System będzie pod nadzorem i regulacją tej usługi._x000D_ Wśród niezwykłych elementów żądanych systemów znajdują się następujące cechy: łatwy dostęp do uchwytu na próbki, który obsługuje próbki kilku centymetrów, integrację automatycznego i programowalnego układu optycznego do położenia na próbce, który umożliwia pomiary sekwencyjne, skaner bliskiej pętli o wysokiej stabilności 90x90x10 mikronów (XYZ), możliwość pomiaru bardzo niskich prądów końcówek próbki (do 100 fA), wysokie prędkości skanowania (do kilkudziesięciu Hz), charakterystykę właściwości nanomechanicznych dla moduli sprężystości do 100 GPa jednocześnie z uzyskaniem map topograficznych, spektroskopię siłową i AFM w płynach. (Polish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Aplikacja ta ma na celu zastąpienie istniejącego sprzętu STM/AFM nieprzerwanym użytkowaniem w ciągu ostatnich 25 lat, co w tej chwili wykazuje znaczące braki. Polega na wymianie sprzętu STM/AFM opartego na sterowniku Nanoscope IIE. _x000D_ celem jest uzyskanie zestawu niezbędnych elementów i moduli do skonfigurowania nowego sprzętu najnowszej technologii do przeprowadzania pomiarów siły atomowej. Ponadto, rozwój i rozwój tego systemu z nowymi najbardziej zaawansowanymi trybami tej techniki będzie możliwy w przyszłości._x000D_ Wymagany sprzęt zostanie zintegrowany z Usługą Mikroskopii Sił Atomowych, należącą do General Services for Research Support of the University of La Laguna. System będzie pod nadzorem i regulacją tej usługi._x000D_ Wśród niezwykłych elementów żądanych systemów znajdują się następujące cechy: łatwy dostęp do uchwytu na próbki, który obsługuje próbki kilku centymetrów, integrację automatycznego i programowalnego układu optycznego do położenia na próbce, który umożliwia pomiary sekwencyjne, skaner bliskiej pętli o wysokiej stabilności 90x90x10 mikronów (XYZ), możliwość pomiaru bardzo niskich prądów końcówek próbki (do 100 fA), wysokie prędkości skanowania (do kilkudziesięciu Hz), charakterystykę właściwości nanomechanicznych dla moduli sprężystości do 100 GPa jednocześnie z uzyskaniem map topograficznych, spektroskopię siłową i AFM w płynach. (Polish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
San Cristóbal de La Laguna | |||||||||||||||
| Property / location (string): San Cristóbal de La Laguna / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / postal code | |||||||||||||||
38200 | |||||||||||||||
| Property / postal code: 38200 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Tenerife / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Tenerife / qualifier | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: San Cristóbal de La Laguna / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: San Cristóbal de La Laguna / qualifier | |||||||||||||||
| Property / coordinate location | |||||||||||||||
28°28'57.40"N, 16°19'16.97"W
| |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 28°28'57.40"N, 16°19'16.97"W / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 28°28'57.40"N, 16°19'16.97"W / qualifier | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
308,650.0 Euro
| |||||||||||||||
| Property / budget: 308,650.0 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | |||||||||||||||
248,648.44 Euro
| |||||||||||||||
| Property / EU contribution: 248,648.44 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
80.56 percent
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 80.56 percent / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / date of last update | |||||||||||||||
20 December 2023
| |||||||||||||||
| Property / date of last update: 20 December 2023 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
Latest revision as of 09:32, 11 October 2024
Project Q3161751 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Acquisition of Atomic Forces Microscopy (AFM) and Tunnel Effect Microscopy (STM) equipment |
Project Q3161751 in Spain |
Statements
248,648.44 Euro
0 references
308,650.0 Euro
0 references
80.56 percent
0 references
1 January 2019
0 references
31 December 2021
0 references
UNIVERSIDAD DE LA LAGUNA
0 references
38200
0 references
La presente solicitud va dirigida a la sustitución un equipo de microscopía de fuerzas atómicas y de efecto túnel que cuenta ya con unos 25 años de uso ininterrumpido y que presenta notables deficiencias. Se trata de la sustitución de un equipo de AFM/STM basado en la estación electrónica de control NanoSocpe IIE. _x000D_ Se pretende adquirir el conjunto de elementos y módulos necesarios para configurar un nuevo equipo de tecnología de última generación para microscopía de fuerzas atómicas, pero capaz de crecer y desarrollar todas las modalidades más avanzadas de estas técnicas._x000D_ El equipo solicitado quedará integrado dentro del Servicio de Microscopía de Fuerzas Atómicas (SMFA) perteneciente a los Servicios Generales de Apoyo a la Investigación (SEGAI) de la Universidad de La Laguna y bajo su custodia y reglamentación._x000D_ El equipo solicitado incluye un portamuestras de fácil acceso para muestras de hasta varios centímetros, un sistema óptico integrado automático y programable de posicionamiento en la muestra para medidas secuenciales, un scanner del tipo ¿close-loop¿ de muy alta estabilidad de hasta 90x90x10 micras (XYZ), la posibilidad de medir muy bajas corrientes punta-muestra (de hasta 100fA), altas velocidades de barrido de sonda (de hasta varias decenas de Hz), la caracterización de propiedades mecánicas en la nanoescala simultáneas a la topografía para módulos elásticos de hasta 100GPa, la espectroscopía de fuerzas y AFM en líquidos. (Spanish)
0 references
This application aims to replace an existing STM/AFM equipment with an uninterrupted use during the last 25 years which presents in this moment remarkable deficiencies. It consists in the replacement of an STM/AFM equipment based on a Nanoscope IIE controller. _x000D_ The objective is to acquire a set of the necessary elements and moduli to configure a new equipment of the latest technology to carry out atomic force microscopy measurements. In addition, the growth and development of this system with the new most advanced modes of this technique will be possible in the future._x000D_ The requested equipment will be integrated into the Atomic Force Microscopy Service, belonging to the General Services for Research Support of the University of La Laguna. The system will be under the custody and regulation of this service._x000D_ Among the remarkable elements of the requested systems are included the following characteristics: an easy-access sample holder that supports samples of some centimetres, the integration of an automatic and programmable optic system for the position on the sample which permits sequential measurements, a high-stability close-loop scanner of 90x90x10 microns (XYZ), the possibility of measuring very low sample-tip currents (up to 100 fA), high scanning speeds (up to some tens of Hz), the characterization of nanomechanic properties for elastic moduli up to 100 GPa simultaneously to the acquisition of the topographic maps, force spectroscopy and AFM in liquids. (English)
0.2833165748177509
0 references
Cette demande vise le remplacement du matériel de microscopie à effet tunnel et à force atomique, qui est déjà utilisé depuis environ 25 ans sans interruption et présente des lacunes importantes. Il s’agit du remplacement de l’équipement AFM/STM basé sur le poste de contrôle électronique NanoSocpe IIE. _x000D_ est destiné à acquérir l’ensemble d’éléments et de modules nécessaires à la mise en place d’un nouvel équipement technologique de pointe pour la microscopie de force atomique, mais capable de développer et de développer toutes les modalités les plus avancées de ces techniques._x000D_ L’équipement demandé sera intégré au service de microscopie des forces atomiques (SMFA) appartenant aux services généraux de soutien à la recherche (Segai) de l’Université de La Laguna et sous sa garde et sa réglementation. (French)
4 December 2021
0 references
Dieser Antrag zielt auf den Ersatz von Atomkraft und Tunneleffekt-Mikroskopieausrüstung ab, die bereits rund 25 Jahre ununterbrochener Einsatz ist und erhebliche Mängel aufweist. Dies ist der Austausch von AFM/STM-Geräten auf Basis der elektronischen Steuerungsstation NanoSocpe IIE. _x000D_ soll den Satz von Elementen und Modulen erwerben, die notwendig sind, um eine neue hochmoderne Technologieausrüstung für die Atomkraftmikroskopie einzurichten, aber in der Lage sind, alle fortschrittlichsten Modalitäten dieser Techniken zu wachsen und zu entwickeln._x000D_ Die angeforderte Ausrüstung wird in den Atomic Forces Microscopy Service (SMFA) der General Research Support Services (Segai) der University of La Laguna und unter deren Schutz und Regulierung integriert. (German)
9 December 2021
0 references
Dit verzoek is gericht op de vervanging van atoomkracht en tunnel-effect microscopieapparatuur, die al ongeveer 25 jaar ononderbroken gebruik is en aanzienlijke tekortkomingen vertoont. Dit is de vervanging van AFM/STM-apparatuur op basis van het elektronische controlestation NanoSocpe IIE. _x000D_ is bedoeld om de set van elementen en modules te verwerven die nodig zijn om een nieuwe state-of-the-art technologie-apparatuur voor atoomkrachtmicroscopie op te zetten, maar in staat om alle meest geavanceerde modaliteiten van deze technieken te kweken en te ontwikkelen._x000D_ De gevraagde apparatuur zal worden geïntegreerd in de Atomic Forces Microscopy Service (SMFA) die behoort tot de General Research Support Services (Segai) van de Universiteit van La Laguna en onder haar toezicht en regelgeving._x000D_ De gevraagde apparatuur omvat een eenvoudig te bereiken vloeistofmonster voor maximaal multi-center monsters, tot maximaal 90-005 °C. (Dutch)
17 December 2021
0 references
La richiesta è volta alla sostituzione di apparecchiature per microscopia a effetto tunnel e forza atomica, che è già di circa 25 anni di uso ininterrotto e presenta notevoli carenze. Questa è la sostituzione dell'apparecchiatura AFM/STM basata sulla stazione di controllo elettronico NanoSocpe IIE. _x000D_ ha lo scopo di acquisire l'insieme di elementi e moduli necessari per la realizzazione di una nuova tecnologia all'avanguardia per la microscopia della forza atomica, ma in grado di coltivare e sviluppare tutte le modalità più avanzate di queste tecniche._x000D_ L'apparecchiatura richiesta sarà integrata all'interno del Servizio di Microscopia delle Forze atomiche (SMFA) appartenente ai Servizi Generali di Supporto Ricerca (Segai) dell'Università di La Laguna e sotto la sua custodia e regolazione._F_x000D_L'attrezzatura richiesta comprende un supporto liquido di facile accesso per campionamenti multicentrici, un sistema di scansione fino a 90-degrex integrato, un sistema di scansione fino a 90-dex000D. (Italian)
16 January 2022
0 references
Η εφαρμογή αυτή αποσκοπεί στην αντικατάσταση ενός υπάρχοντος εξοπλισμού ΕΕΜ/ΑΦΜ με αδιάλειπτη χρήση κατά τη διάρκεια των τελευταίων 25 ετών, η οποία παρουσιάζει σ’ αυτή τη στιγμή αξιοσημείωτες ελλείψεις. Συνίσταται στην αντικατάσταση εξοπλισμού STM/AFM που βασίζεται σε ελεγκτή νανοσκοπίου IIE. _x000D_ ο στόχος είναι να αποκτήσει ένα σύνολο των απαραίτητων στοιχείων και moduli για τη διαμόρφωση ενός νέου εξοπλισμού της τελευταίας τεχνολογίας για τη διενέργεια μετρήσεων ατομικής ισχύος μικροσκοπίας. Επιπλέον, η ανάπτυξη και ανάπτυξη αυτού του συστήματος με τους νέους πιο προηγμένους τρόπους αυτής της τεχνικής θα είναι δυνατή στο μέλλον._x000D_ Ο απαιτούμενος εξοπλισμός θα ενσωματωθεί στην Υπηρεσία Μικροσκοπίας Ατομικής Δύναμης, που ανήκει στις Γενικές Υπηρεσίες Ερευνητικής Υποστήριξης του Πανεπιστημίου της La Laguna. Το σύστημα θα είναι υπό την φύλαξη και ρύθμιση της υπηρεσίας αυτής._x000D_ Μεταξύ των αξιοσημείωτων στοιχείων των αιτούμενων συστημάτων περιλαμβάνονται τα ακόλουθα χαρακτηριστικά: ένας εύχρηστος κάτοχος δείγματος που υποστηρίζει δείγματα ορισμένων εκατοστών, η ενσωμάτωση ενός αυτόματου και προγραμματιζόμενου οπτικού συστήματος για τη θέση στο δείγμα που επιτρέπει διαδοχικές μετρήσεις, ένας σαρωτής στενού βρόχου υψηλής σταθερότητας 90x90x10 microns (XYZ), η δυνατότητα μέτρησης πολύ χαμηλών ρευμάτων από τις άκρες του δείγματος (έως 100 fA), υψηλές ταχύτητες σάρωσης (έως και δεκάδες Hz), ο χαρακτηρισμός των νανομηχανικών ιδιοτήτων για ελαστικό moduli έως 100 GPa ταυτόχρονα με την απόκτηση των τοπογραφικών χαρτών, της φασματοσκοπίας δύναμης και του AFM σε υγρά. (Greek)
18 August 2022
0 references
Denne applikation har til formål at erstatte et eksisterende STM/AFM-udstyr med uafbrudt brug i løbet af de sidste 25 år, hvilket i dette øjeblik viser bemærkelsesværdige mangler. Den består i udskiftning af et STM/AFM-udstyr baseret på en Nanoscope IIE-controller. _x000D_ målet er at erhverve et sæt af de nødvendige elementer og moduli til at konfigurere et nyt udstyr af den nyeste teknologi til at udføre atomkraft mikroskopi målinger. Desuden vil væksten og udviklingen af dette system med de nye mest avancerede metoder af denne teknik være mulig i fremtiden._x000D_ Det ønskede udstyr vil blive integreret i Atomic Force Microscopy Service, der tilhører General Services for Research Support ved universitetet i La Laguna. Systemet vil være under varetægt og regulering af denne tjeneste._x000D_ Blandt de bemærkelsesværdige elementer i de ønskede systemer er inkluderet følgende karakteristika: en lettilgængelig prøveholder, der understøtter prøver på nogle centimeter, integration af et automatisk og programmerbart optisk system til placeringen på prøven, som muliggør sekventielle målinger, en høj stabilitet tætslapper på 90x90x10 mikron (XYZ), mulighed for at måle meget lave prøvespidsstrømme (op til 100 fA), høje scanningshastigheder (op til nogle snesevis af Hz), karakterisering af nanomekaniske egenskaber for elastisk moduli op til 100 GPa samtidig med erhvervelse af topografiske kort, kraftspektroskopi og AFM i væsker. (Danish)
18 August 2022
0 references
Tällä sovelluksella pyritään korvaamaan olemassa olevat STM/AFM-laitteet keskeytymättömällä käytöllä viimeisten 25 vuoden aikana, mikä aiheuttaa tällä hetkellä huomattavia puutteita. Se koostuu Nanoscope IIE -ohjaimeen perustuvan STM/AFM-laitteen korvaamisesta. _x000D_ tavoitteena on hankkia joukko tarvittavat elementit ja moduli konfiguroida uusi laite uusimman teknologian suorittamaan atomivoima mikroskopia mittauksia. Lisäksi tämän järjestelmän kasvu ja kehittäminen tämän tekniikan uusilla edistyneimmillä tavoilla on mahdollista tulevaisuudessa._x000D_ Pyydetyt laitteet integroidaan atomivoimien mikroskopiapalveluun, joka kuuluu Lagunan yliopiston yleisiin tutkimustukipalveluihin. Järjestelmä on tämän palvelun huostassa ja sääntelyssä._x000D_ Pyydettävien järjestelmien merkittäviin osiin kuuluvat seuraavat ominaisuudet: helppopääsyinen näytteenpidin, joka tukee joidenkin senttimetrien näytteitä, automaattisen ja ohjelmoitavan optisen järjestelmän integrointi näytteen sijaintia varten, joka mahdollistaa peräkkäiset mittaukset, 90x90x10 mikronin (XYZ) korkean stabiilin lähisilmukkaskannerin, mahdollisuuden mitata hyvin matalia näytekärkivirtoja (enintään 100 fA), suuret skannausnopeudet (enintään kymmeniä Hz), nanomekaanisten ominaisuuksien karakterisointi elastiselle modulille jopa 100 GPa: lle samanaikaisesti topografisten karttojen hankinnan kanssa, voimaspektroskopia ja AFM nesteissä. (Finnish)
18 August 2022
0 references
Din l-applikazzjoni għandha l-għan li tissostitwixxi tagħmir eżistenti tal-STM/AFM b’użu mhux interrott matul l-aħħar 25 sena li f’dan il-mument jippreżenta nuqqasijiet notevoli. Dan jikkonsisti fis-sostituzzjoni ta’ tagħmir STM/AFM ibbażat fuq kontrollur tan-Nanoskopju IIE. _x000D_ l-għan huwa li jinkiseb sett ta’ l-elementi u l-moduli meħtieġa biex jiġi kkonfigurat tagħmir ġdid ta’ l-aħħar teknoloġija biex jitwettaq kejl tal-mikroskopija tal-forza atomika. Barra minn hekk, it-tkabbir u l-iżvilupp ta’ din is-sistema bil-modi l-aktar avvanzati l-ġodda ta’ din it-teknika se jkunu possibbli fil-futur._x000D_ It-tagħmir mitlub se jiġi integrat fis-Servizz tal-Mikroskopija tal-Forza Atomika, li jappartjeni għas-Servizzi Ġenerali għall-Appoġġ tar-Riċerka tal-Università ta’ La Laguna. Is-sistema se tkun taħt il-kustodja u r-regolamentazzjoni ta’ dan is-servizz._x000D_ Fost l-elementi notevoli tas-sistemi mitluba huma inklużi l-karatteristiċi li ġejjin: kontenitur tal-kampjun b’aċċess faċli li jappoġġja kampjuni ta’ xi ċentimetri, l-integrazzjoni ta’ sistema ottika awtomatika u programmabbli għall-pożizzjoni fuq il-kampjun li tippermetti kejl sekwenzjali, scanner b’ċirkwit mill-qrib b’stabbiltà għolja ta’ 90x90x10 microns (XYZ), il-possibbiltà li jitkejlu kurrenti baxxi ħafna tal-ponta tal-kampjun (sa 100 fA), veloċitajiet għolja tal-iskannjar (sa xi għexieren ta’ Hz), il-karatterizzazzjoni tal-proprjetajiet nanomekkaniċi għal moduli elastiċi sa 100 GPa simultanjament mal-akkwist tal-mapep topografiċi, l-ispektroskopija tal-forza u l-AFM f’likwidi. (Maltese)
18 August 2022
0 references
Šīs lietojumprogrammas mērķis ir aizstāt esošās STM/AFM iekārtas ar nepārtrauktu lietošanu pēdējo 25 gadu laikā, kas šajā brīdī rada ievērojamus trūkumus. Tas sastāv no STM/AFM iekārtas nomaiņas uz Nanoscope IIE kontrollera bāzes. _x000D_ mērķis ir iegūt nepieciešamo elementu kopumu un moduli, lai konfigurētu jaunu jaunākās tehnoloģijas aprīkojumu atomspēka mikroskopijas mērījumu veikšanai. Turklāt nākotnē būs iespējama šīs sistēmas izaugsme un attīstība ar jaunajiem vismodernākajiem šīs tehnikas veidiem._x000D_ Pieprasītais aprīkojums tiks integrēts Atomenerģijas spēku mikroskopijas dienestā, kas pieder La Lagunas Universitātes Vispārīgajiem dienestiem pētniecības atbalstam. Sistēma būs šā pakalpojuma uzraudzībā un regulēšanā._x000D_ Starp pieprasīto sistēmu ievērojamajiem elementiem ir šādi raksturlielumi: viegli pieejamu paraugu turētājs, kas atbalsta dažu centimetru paraugus, automātiskas un programmējamas optiskās sistēmas integrācija parauga novietojumam, kas ļauj veikt secīgus mērījumus, augstas stiprības tuvas cilpas skeneris ar 90x90x10 mikroniem (XYZ), iespēja mērīt ļoti zemas parauga straumes (līdz 100 fA), liels skenēšanas ātrums (līdz aptuveni desmitiem Hz), elastīgā moduļa nanomehānisko īpašību raksturojums līdz pat 100 GPa vienlaikus ar topogrāfisko karšu iegādi, spēka spektroskopiju un AFM šķidrumos. (Latvian)
18 August 2022
0 references
Cieľom tejto aplikácie je nahradiť existujúce zariadenie STM/AFM nepretržitým používaním počas posledných 25 rokov, čo v tejto chvíli predstavuje pozoruhodné nedostatky. Pozostáva z výmeny zariadenia STM/AFM na základe regulátora IIE nanoskopu. _x000D_ cieľom je získať súbor potrebných prvkov a modulov na konfiguráciu nového zariadenia najnovšej technológie na vykonávanie meraní atómovej sily mikroskopie. Okrem toho, rast a vývoj tohto systému s novými najpokročilejšími režimami tejto techniky bude možné v budúcnosti._x000D_ Požadované zariadenie bude integrované do služby Microscopy Atomic Force, patriacej do všeobecných služieb pre podporu výskumu University of La Laguna. Systém bude pod dohľadom a reguláciou tejto služby._x000D_ Medzi pozoruhodnými prvkami požadovaných systémov sú zahrnuté tieto charakteristiky: ľahko prístupný držiak vzorky, ktorý podporuje vzorky niektorých centimetrov, integrácia automatického a programovateľného optického systému pre polohu na vzorke, ktorý umožňuje sekvenčné merania, vysokostabilný skener blízko slučky 90x90x10 mikrónov (XYZ), možnosť merania veľmi nízkych vzorkovacích prúdov (do 100 fA), vysoké rýchlosti skenovania (až do desiatok Hz), charakterizácia nanomechanických vlastností pre elastické moduly až do 100 GPa súčasne s nadobudnutím topografických máp, silovej spektroskopie a AFM v kvapalinách. (Slovak)
18 August 2022
0 references
Tá sé mar aidhm ag an iarratas seo úsáid gan bhriseadh a chur in ionad trealamh STM/AFM atá ann cheana le 25 bliana anuas a chuireann easnaimh shuntasacha i láthair sa nóiméad seo. Is éard atá ann athsholáthar a dhéanamh ar threalamh STM/AFM atá bunaithe ar rialaitheoir IIE Nanoscope. _x000D_ is é an cuspóir ná sraith de na heilimintí riachtanacha agus moduli a fháil chun trealamh nua den teicneolaíocht is déanaí a chumrú chun tomhais micreascópachta fórsa adamhach a dhéanamh. Ina theannta sin, beidh fás agus forbairt an chórais seo leis na modhanna nua is úire den teicníc seo indéanta sa future._x000D_ Déanfar an trealamh a iarradh a chomhtháthú leis an tSeirbhís Mhicreascópachta Fórsa Adamhach, a bhaineann leis na Seirbhísí Ginearálta le haghaidh Tacaíochta Taighde in Ollscoil La Laguna. Beidh an córas a bheith faoi choimeád agus rialú na service._x000D_ I measc na gnéithe iontacha de na córais iarrtha san áireamh na saintréithe seo a leanas: sealbhóir sampla éasca rochtana a thacaíonn le samplaí de roinnt ceintiméadar, comhtháthú córas optach uathoibríoch agus ríomhchláraithe don suíomh ar an sampla a cheadaíonn tomhais sheicheamhacha, scanóir lúb gar-chobhsaíochta 90x90x10 miocrón (XYZ), an fhéidearthacht sruthanna samplála-tip an-íseal a thomhas (suas le 100 fA), luasanna scanadh ard (suas go dtí roinnt deich Hz), tréithriú airíonna nanamechanic le haghaidh moduli leaisteacha suas go dtí 100 GPa ag an am céanna le fáil na léarscáileanna topographic, spectroscopy fórsa agus AFM i leachtanna. (Irish)
18 August 2022
0 references
Cílem této aplikace je nahradit stávající zařízení STM/AFM nepřetržitým používáním během posledních 25 let, což v tomto okamžiku vykazuje značné nedostatky. Spočívá v výměně zařízení STM/AFM na základě regulátoru Nanoscope IIE. _x000D_ cílem je získat sadu potřebných prvků a moduly pro konfiguraci nového vybavení nejnovější technologie pro provádění mikroskopických měření atomové síly. Kromě toho, růst a vývoj tohoto systému s novými nejmodernějšími způsoby této techniky bude možné v budoucnu._x000D_ Požadované vybavení bude integrováno do služby mikroskopie atomových sil, patřící do General Services for Research Support of the University of Laguna. Systém bude v úschově a regulaci této služby._x000D_ Mezi pozoruhodné prvky požadovaných systémů jsou zahrnuty následující vlastnosti: snadno přístupný držák vzorků, který podporuje vzorky některých centimetrů, integrace automatického a programovatelného optického systému pro polohu na vzorku, který umožňuje sekvenční měření, vysoce stabilní skener zblízka 90x90x10 mikronů (XYZ), možnost měření velmi nízkých proudů (až 100 fA), vysoké rychlosti skenování (až do desítek Hz), charakterizace nanomechanických vlastností pro elastické moduly do 100 GPa současně s pořízením topografických map, silové spektroskopie a AFM v kapalinách. (Czech)
18 August 2022
0 references
Esta aplicação visa substituir um equipamento STM/AFM existente por um uso ininterrupto durante os últimos 25 anos que apresenta neste momento deficiências notáveis. Consiste na substituição de um equipamento STM/AFM baseado num controlador Nanoscope IIE. _x000D_ O objetivo é adquirir um conjunto de elementos e módulos necessários para configurar um novo equipamento da mais recente tecnologia para realizar medições de microscopia de força atómica. Além disso, o crescimento e desenvolvimento deste sistema com os novos modos mais avançados desta técnica será possível no futuro._x000D_ O equipamento solicitado será integrado no Serviço de Microscopia da Força Atómica, pertencente aos Serviços Gerais de Apoio à Investigação da Universidade de La Laguna. O sistema estará sob a custódia e regulação deste serviço._x000D_ Entre os elementos notáveis dos sistemas solicitados estão incluídas as seguintes características: um porta-amostras de fácil acesso que suporta amostras de alguns centímetros, a integração de um sistema óptico automático e programável para a posição na amostra que permite medições sequenciais, um scanner close-loop de alta estabilidade de 90x90x10 mícrones (XYZ), a possibilidade de medir correntes muito baixas na ponta da amostra (até 100 fA), altas velocidades de varrimento (até algumas dezenas de Hz), a caracterização de propriedades nanomecânicas para módulos elásticos até 100 GPa simultaneamente à aquisição dos mapas topográficos, espectroscopia de força e AFM em líquidos. (Portuguese)
18 August 2022
0 references
Selle rakenduse eesmärk on asendada olemasolev STM/AFM-seade katkematu kasutusega viimase 25 aasta jooksul, mis tekitab praegu märkimisväärseid puudusi. See seisneb Nanoscope IIE kontrolleril põhineva STM/AFM-seadme asendamises. _x000D_ eesmärk on omandada vajalike elementide ja moduli komplekt, et konfigureerida uusima tehnoloogia uusi seadmeid aatomjõu mikroskoopia mõõtmiseks. Lisaks on tulevikus võimalik selle süsteemi kasv ja arendamine selle tehnika uute kõige arenenumate režiimidega._x000D_ Taotletud seadmed integreeritakse La Laguna ülikooli teadusuuringute toetamise üldteenuste hulka kuuluva aatomi mikroskoopia teenusega. Süsteem on selle teenuse järelevalve all ja selle reguleerimise all._x000D_ Taotletud süsteemide tähelepanuväärsete elementide hulgas on järgmised omadused: kergesti ligipääsetav proovihoidik, mis toetab mõne sentimeetri proove, automaatse ja programmeeritava optikasüsteemi integreerimine proovi asendisse, mis võimaldab järjestikuseid mõõtmisi, kõrge stabiilsusega lähiskanner 90x90x10 mikronit (XYZ), võimalus mõõta väga madalat proovivõtuvoolu (kuni 100 fA), kõrge skaneerimiskiirus (kuni kümneid Hz), nanomehaaniliste omaduste iseloomustamine elastse moduli jaoks kuni 100 GPa samaaegselt topograafiliste kaartide omandamisega, jõuspektroskoopia ja AFM vedelikes. (Estonian)
18 August 2022
0 references
Az alkalmazás célja, hogy egy meglévő STM/AFM berendezést az elmúlt 25 évben megszakítás nélküli használattal váltson fel, ami ebben a pillanatban figyelemreméltó hiányosságokat mutat. Egy Nanoscope IIE vezérlőn alapuló STM/AFM berendezés cseréjéből áll. _x000D_ a cél az, hogy megszerezzék a szükséges elemeket és modulit a legújabb technológia új berendezésének konfigurálásához az atomerő mikroszkópos mérések elvégzéséhez. Ezen túlmenően a rendszer növekedése és fejlesztése a technika új legfejlettebb módozataival a jövőben lehetséges lesz._x000D_ A kért berendezés integrálódik a La Lagunai Egyetem Kutatási Támogató Általános Szolgálatához tartozó Atomic Force Microscopy Service-be. A rendszer a szolgáltatás felügyelete és szabályozása alatt áll._x000D_ A kért rendszerek figyelemre méltó elemei között a következő jellemzők szerepelnek: könnyen hozzáférhető mintatartó, amely néhány centiméteres mintákat támogat, automatikus és programozható optikai rendszer integrálása a mintán, amely lehetővé teszi a szekvenciális méréseket, a 90x90x10 mikron (XYZ) nagy stabilitású közeli hurok szkennert, a nagyon alacsony mintacsúcsáramok mérésének lehetőségét (100 fA-ig), nagy szkennelési sebességet (akár tíz Hz-ig), nanomechanikus tulajdonságok jellemzését a rugalmas moduli 100 GPa-ig a topográfiai térképek beszerzésével egyidejűleg, erőspektroszkópia és AFM folyadékokban. (Hungarian)
18 August 2022
0 references
Това приложение има за цел да замени съществуващо STM/AFM оборудване с непрекъсната употреба през последните 25 години, което в този момент представлява забележителни недостатъци. Състои се от подмяна на STM/AFM оборудване, базирано на контролер Nanoscope IIE. _x000D_ целта е да се придобие набор от необходимите елементи и модули за конфигуриране на ново оборудване на най-новите технологии за извършване на измервания на атомна сила микроскопия. В допълнение, растежът и развитието на тази система с новите най-напреднали режими на тази техника ще бъдат възможни в бъдеще._x000D_ Заявеното оборудване ще бъде интегрирано в Службата за микроскопия на атомната сила, принадлежаща към Общите служби за подкрепа на научните изследвания на Университета в Лагуна. Системата ще бъде под контрола и регулирането на тази услуга._x000D_ Сред забележителните елементи на поисканите системи са включени следните характеристики: леснодостъпен държач за проби, който поддържа проби от някои сантиметра, интегриране на автоматична и програмируема оптична система за позицията върху пробата, която позволява последователни измервания, скенер с висока стабилност от 90x90x10 микрона (XYZ), възможност за измерване на много ниски токове на върха на пробата (до 100 fA), високи скорости на сканиране (до няколко десетки Hz), характеризиране на наномеханичните свойства за еластични модули до 100 GPa едновременно с придобиването на топографски карти, силова спектроскопия и AFM в течности. (Bulgarian)
18 August 2022
0 references
Šia programa siekiama pakeisti esamą STM/AFM įrangą nepertraukiamu naudojimu per pastaruosius 25 metus, o tai šiuo metu kelia didelių trūkumų. Jį sudaro STM/AFM įrangos pakeitimas Nanoscope IIE valdikliu. _x000D_ tikslas yra įsigyti būtinų elementų ir moduli rinkinį, kad būtų galima konfigūruoti naują naujausios technologijos įrangą atominės jėgos mikroskopiniams matavimams atlikti. Be to, šios sistemos augimas ir plėtra su naujais pažangiausiais šios technikos režimais bus įmanoma ateityje._x000D_ Prašoma įranga bus integruota į atominės jėgos mikroskopijos tarnybą, priklausančią La Lagunos universiteto Bendrosioms mokslinių tyrimų palaikymo paslaugoms. Sistema bus saugoma ir reguliuojama šios paslaugos._x000D_ Tarp puikių prašomų sistemų elementų yra šios savybės: lengvai prieinamas mėginių laikiklis, palaikantis kai kurių centimetrų pavyzdžius, automatinės ir programuojamos optinės sistemos integravimas bandinio padėčiai, kuri leidžia atlikti nuoseklius matavimus, didelio stabilumo artimas 90x90x10 mikronų (XYZ) skaitytuvas, galimybė matuoti labai mažas mėginio galiuko sroves (iki 100 fA), didelis skenavimo greitis (iki kai kurių dešimčių Hz), elastingo moduli nanomechaninių savybių apibūdinimas iki 100 GPa tuo pačiu metu įsigyjant topografinius žemėlapius, jėgos spektroskopiją ir AFM skysčiuose. (Lithuanian)
18 August 2022
0 references
Cilj je ove aplikacije zamijeniti postojeću opremu STM-a/AFM-a neprekinutom uporabom tijekom posljednjih 25 godina, što u ovom trenutku predstavlja značajne nedostatke. Sastoji se od zamjene STM/AFM opreme na temelju Nanoscope IIE kontrolera. _x000D_ cilj je steći skup potrebnih elemenata i modula za konfiguriranje nove opreme najnovije tehnologije za provođenje mikroskopskih mjerenja atomske sile. Osim toga, rast i razvoj ovog sustava s novim najnaprednijim načinima ove tehnike bit će moguć u budućnosti._x000D_ Zatražena oprema bit će integrirana u službu za mikroskopiju atomskih sila, koja pripada Općoj službi za podršku istraživanjima Sveučilišta u La Laguni. Sustav će biti pod nadzorom i regulacijom ove usluge._x000D_ Među izvanrednim elementima traženih sustava uključene su sljedeće značajke: lako dostupan držač uzorka koji podržava uzorke nekih centimetara, integraciju automatskog i programabilnog optičkog sustava za položaj na uzorku koji omogućuje sekvencijska mjerenja, visokostabilni skener blizu petlje od 90x90x10 mikrona (XYZ), mogućnost mjerenja vrlo niskih struja na uzorku (do 100 fA), velike brzine skeniranja (do nekoliko desetaka Hz), karakterizaciju nanomehaničkih svojstava za elastične module do 100 GPa istodobno s prikupljanjem topografskih karata, spektroskopije sile i AFM-a u tekućinama. (Croatian)
18 August 2022
0 references
Denna applikation syftar till att ersätta en befintlig STM/AFM-utrustning med en oavbruten användning under de senaste 25 åren som i detta ögonblick uppvisar anmärkningsvärda brister. Den består av utbyte av en STM/AFM-utrustning baserad på en Nanoscope IIE-styrenhet. _x000D_ målet är att förvärva en uppsättning nödvändiga element och moduli för att konfigurera en ny utrustning av den senaste tekniken för att utföra atomkraft mikroskopi mätningar. Dessutom kommer tillväxten och utvecklingen av detta system med de nya mest avancerade lägena av denna teknik att vara möjligt i framtiden._x000D_ Den begärda utrustningen kommer att integreras i Atomic Force Microscopy Service, som tillhör General Services for Research Support vid University of La Laguna. Systemet kommer att vara under förvaring och reglering av denna tjänst._x000D_ Bland de anmärkningsvärda delarna av de begärda systemen ingår följande egenskaper: en lättåtkomlig provhållare som stöder prover på några centimeter, integrering av ett automatiskt och programmerbart optiskt system för placeringen på provet som möjliggör sekventiella mätningar, en hög stabilitet närslinga skanner på 90x90x10 mikron (XYZ), möjligheten att mäta mycket låga provtoppsströmmar (upp till 100 fA), höga skanningshastigheter (upp till cirka tiotals Hz), karakterisering av nanomekaniska egenskaper för elastisk moduli upp till 100 GPa samtidigt till förvärvet av topografiska kartor, kraftspektroskopi och AFM i vätskor. (Swedish)
18 August 2022
0 references
Această aplicație își propune să înlocuiască un echipament STM/AFM existent cu o utilizare neîntreruptă în ultimii 25 de ani, ceea ce prezintă în acest moment deficiențe remarcabile. Constă în înlocuirea unui echipament STM/AFM pe baza unui controler IIE Nanoscop. _x000D_ obiectivul este de a achiziționa un set de elemente necesare și moduli pentru a configura un nou echipament de cea mai recentă tehnologie pentru a efectua măsurători microscopie forță atomică. În plus, dezvoltarea și dezvoltarea acestui sistem cu noile moduri cele mai avansate ale acestei tehnici vor fi posibile în viitor._x000D_ Echipamentul solicitat va fi integrat în Serviciul de Microscopie a Forței Atomice, aparținând Serviciilor Generale de Sprijin pentru Cercetare ale Universității din La Laguna. Sistemul va fi în custodia și reglementarea acestui serviciu._x000D_ Printre elementele remarcabile ale sistemelor solicitate sunt incluse următoarele caracteristici: un suport de probă ușor accesibil, care acceptă eșantioane de câțiva centimetri, integrarea unui sistem optic automat și programabil pentru poziția pe eșantion, care permite măsurători secvențiale, un scaner în buclă închisă de înaltă stabilitate de 90x90x10 microni (XYZ), posibilitatea de a măsura curenți foarte mici de vârf de probă (până la 100 fA), viteze mari de scanare (până la câteva zeci de Hz), caracterizarea proprietăților nanomecanice pentru moduli elastici de până la 100 GPa simultan cu achiziționarea hărților topografice, spectroscopiei de forță și AFM în lichide. (Romanian)
18 August 2022
0 references
Namen te aplikacije je nadomestiti obstoječo opremo STM/AFM z neprekinjeno uporabo v zadnjih 25 letih, kar v tem trenutku predstavlja izjemne pomanjkljivosti. Sestavljen je iz zamenjave opreme STM/AFM, ki temelji na Nanoscope IIE krmilniku. _x000D_ cilj je pridobiti niz potrebnih elementov in moduli za konfiguracijo nove opreme najnovejše tehnologije za izvedbo meritev atomske sile mikroskopije. Poleg tega bo rast in razvoj tega sistema z novimi najnaprednejšimi načini te tehnike mogoče v prihodnosti._x000D_ Zahtevana oprema bo vključena v Microscopy Service Atomic Force, ki pripada Splošni službi za podporo raziskav Univerze v Laguni. Sistem bo pod nadzorom in regulacijo te storitve._x000D_ Med izjemnimi elementi zahtevanih sistemov so vključene naslednje značilnosti: enostavno dostopno držalo vzorca, ki podpira vzorce nekaj centimetrov, integracijo avtomatskega in programabilnega optičnega sistema za položaj na vzorcu, ki omogoča zaporedne meritve, visoko stabilen optični skener 90x90x10 mikronov (XYZ), možnost merjenja zelo nizkih tokov vzorca (do 100 fA), visoke hitrosti skeniranja (do nekaj deset Hz), karakterizacijo nanomehanskih lastnosti za elastične module do 100 GPa hkrati z nakupom topografskih zemljevidov, spektroskopijo sile in AFM v tekočinah. (Slovenian)
18 August 2022
0 references
Aplikacja ta ma na celu zastąpienie istniejącego sprzętu STM/AFM nieprzerwanym użytkowaniem w ciągu ostatnich 25 lat, co w tej chwili wykazuje znaczące braki. Polega na wymianie sprzętu STM/AFM opartego na sterowniku Nanoscope IIE. _x000D_ celem jest uzyskanie zestawu niezbędnych elementów i moduli do skonfigurowania nowego sprzętu najnowszej technologii do przeprowadzania pomiarów siły atomowej. Ponadto, rozwój i rozwój tego systemu z nowymi najbardziej zaawansowanymi trybami tej techniki będzie możliwy w przyszłości._x000D_ Wymagany sprzęt zostanie zintegrowany z Usługą Mikroskopii Sił Atomowych, należącą do General Services for Research Support of the University of La Laguna. System będzie pod nadzorem i regulacją tej usługi._x000D_ Wśród niezwykłych elementów żądanych systemów znajdują się następujące cechy: łatwy dostęp do uchwytu na próbki, który obsługuje próbki kilku centymetrów, integrację automatycznego i programowalnego układu optycznego do położenia na próbce, który umożliwia pomiary sekwencyjne, skaner bliskiej pętli o wysokiej stabilności 90x90x10 mikronów (XYZ), możliwość pomiaru bardzo niskich prądów końcówek próbki (do 100 fA), wysokie prędkości skanowania (do kilkudziesięciu Hz), charakterystykę właściwości nanomechanicznych dla moduli sprężystości do 100 GPa jednocześnie z uzyskaniem map topograficznych, spektroskopię siłową i AFM w płynach. (Polish)
18 August 2022
0 references
San Cristóbal de La Laguna
0 references
20 December 2023
0 references
Identifiers
EQC2019-005647-P
0 references