Equipment for near-situ electronic microscopy and high-resolution low-voltage Analytical Tomography. (Q3180412): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed label, description and/or aliases in fr, and other parts: Adding French translations) |
(Changed label, description and/or aliases in pt) |
||||||||||||||
| (9 intermediate revisions by 2 users not shown) | |||||||||||||||
| label / de | label / de | ||||||||||||||
Ausrüstung für Nah-situ-Elektronik-Mikroskopie und hochauflösende Niederspannung Analytische Tomographie. | |||||||||||||||
| label / nl | label / nl | ||||||||||||||
Apparatuur voor bijna-situ elektronische microscopie en hoge resolutie laagspanning Analytische Tomografie. | |||||||||||||||
| label / it | label / it | ||||||||||||||
Apparecchiature per microscopia elettronica quasi situ e tomografia analitica a bassa risoluzione ad alta risoluzione. | |||||||||||||||
| label / el | label / el | ||||||||||||||
Εξοπλισμός για σχεδόν επιτόπια ηλεκτρονική μικροσκοπία και υψηλής ανάλυσης Αναλυτική Τομογραφία χαμηλής τάσης. | |||||||||||||||
| label / da | label / da | ||||||||||||||
Udstyr til elektronisk mikroskopi med høj opløsning, lavspændingsanalytisk tomografi. | |||||||||||||||
| label / fi | label / fi | ||||||||||||||
Laitteet lähes situ elektronisen mikroskopian ja korkean resoluution pienjänniteanalyyttiseen Tomografiaan. | |||||||||||||||
| label / mt | label / mt | ||||||||||||||
Tagħmir għal mikroskopija elettronika qrib is-sit u Tomografija Analitika ta’ vultaġġ baxx b’riżoluzzjoni għolja. | |||||||||||||||
| label / lv | label / lv | ||||||||||||||
Iekārtas gandrīz situ elektroniskai mikroskopijai un augstas izšķirtspējas zemsprieguma analītiskajai tomogrāfijai. | |||||||||||||||
| label / sk | label / sk | ||||||||||||||
Zariadenia na elektronickú mikroskopiu v blízkosti situ a nízkonapäťovú analytickú tomografiu s vysokým rozlíšením. | |||||||||||||||
| label / ga | label / ga | ||||||||||||||
Trealamh le haghaidh micreascópacht leictreonach gar-situ agus Tomagrafaíocht Anailíseach ísealvoltais ardtaifigh. | |||||||||||||||
| label / cs | label / cs | ||||||||||||||
Zařízení pro téměř situ elektronickou mikroskopii a vysoce rozpustnou nízkonapěťovou analytickou tomografii. | |||||||||||||||
| label / pt | label / pt | ||||||||||||||
Equipamento para microscopia eletrónica quase-situ e tomografia analítica de baixa tensão de alta resolução. | |||||||||||||||
| label / et | label / et | ||||||||||||||
Seadmed lähedal asuva elektroonilise mikroskoopia ja kõrgresolutsiooniga madalpinge analüütilise Tomograafia jaoks. | |||||||||||||||
| label / hu | label / hu | ||||||||||||||
Berendezés közel lokális elektronikus mikroszkópos és nagyfelbontású kisfeszültségű Analitikai Tomográfiához. | |||||||||||||||
| label / bg | label / bg | ||||||||||||||
Оборудване за електронна микроскопия и ниско напрежение с висока разделителна способност. | |||||||||||||||
| label / lt | label / lt | ||||||||||||||
Įranga beveik situ elektroninei mikroskopijai ir didelės skiriamosios gebos žemos įtampos analitinei tomografijai. | |||||||||||||||
| label / hr | label / hr | ||||||||||||||
Oprema za gotovo situ elektronsku mikroskopiju i niskonaponsku analitičku tomografiju visoke razlučivosti. | |||||||||||||||
| label / sv | label / sv | ||||||||||||||
Utrustning för nära-situ elektronisk mikroskopi och högupplöst lågspänningsanalytisk Tomografi. | |||||||||||||||
| label / ro | label / ro | ||||||||||||||
Echipamente pentru microscopie electronică aproape-situ și tomografie analitică de joasă tensiune de înaltă rezoluție. | |||||||||||||||
| label / sl | label / sl | ||||||||||||||
Oprema za elektronsko mikroskopijo blizu situ in nizkonapetostno analitično tomografijo visoke ločljivosti. | |||||||||||||||
| label / pl | label / pl | ||||||||||||||
Sprzęt do mikroskopii elektronicznej bliskiej lokalizacji i tomografii analitycznej niskiego napięcia o wysokiej rozdzielczości. | |||||||||||||||
| description / bg | description / bg | ||||||||||||||
Проект Q3180412 в Испания | |||||||||||||||
| description / hr | description / hr | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 u Španjolskoj | |||||||||||||||
| description / hu | description / hu | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 Spanyolországban | |||||||||||||||
| description / cs | description / cs | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 ve Španělsku | |||||||||||||||
| description / da | description / da | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 i Spanien | |||||||||||||||
| description / nl | description / nl | ||||||||||||||
Project Q3180412 in Spanje | |||||||||||||||
| description / et | description / et | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 Hispaanias | |||||||||||||||
| description / fi | description / fi | ||||||||||||||
Projekti Q3180412 Espanjassa | |||||||||||||||
| description / fr | description / fr | ||||||||||||||
Projet Q3180412 en Espagne | |||||||||||||||
| description / de | description / de | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 in Spanien | |||||||||||||||
| description / el | description / el | ||||||||||||||
Έργο Q3180412 στην Ισπανία | |||||||||||||||
| description / ga | description / ga | ||||||||||||||
Tionscadal Q3180412 sa Spáinn | |||||||||||||||
| description / it | description / it | ||||||||||||||
Progetto Q3180412 in Spagna | |||||||||||||||
| description / lv | description / lv | ||||||||||||||
Projekts Q3180412 Spānijā | |||||||||||||||
| description / lt | description / lt | ||||||||||||||
Projektas Q3180412 Ispanijoje | |||||||||||||||
| description / mt | description / mt | ||||||||||||||
Proġett Q3180412 fi Spanja | |||||||||||||||
| description / pl | description / pl | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 w Hiszpanii | |||||||||||||||
| description / pt | description / pt | ||||||||||||||
Projeto Q3180412 na Espanha | |||||||||||||||
| description / ro | description / ro | ||||||||||||||
Proiectul Q3180412 în Spania | |||||||||||||||
| description / sk | description / sk | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 v Španielsku | |||||||||||||||
| description / sl | description / sl | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 v Španiji | |||||||||||||||
| description / es | description / es | ||||||||||||||
Proyecto Q3180412 en España | |||||||||||||||
| description / sv | description / sv | ||||||||||||||
Projekt Q3180412 i Spanien | |||||||||||||||
| Property / summary: The central objective of this request is to expand the analytical possibilities of the FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscope recently incorporated into the Electronic Microscopy Division of the SC-ICYT of the University of Cadiz through the acquisition of advanced electronic microscopy sample holders, as well as the possibility of reducing the working voltage to 60 kV, thus extending the use of this microscope to materials sensitive to irradiation damage, under conditions other than those usual in conventional microscopes. It is proposed, first of all, the acquisition of a double tilt vacuum transfer sample holder, which would allow the analytical study of the samples studied under quasi-situ conditions, after treatment in controlled atmosphere. It is also proposed to acquire a commercial sample holder that, thanks to its design and its large turning interval, allows the acquisition of X-EDS tomographic series to generate compositional maps in three dimensions. Finally, the 60 kV alignment of the FEI TITAN3 Themis 60-300 microscope is proposed. This addition extends the possibilities of using the FEI TITAN3 Themis 60-300 microscope to other materials, of technological importance, creating a new line of research at our University. (English) / qualifier | |||||||||||||||
readability score: 0.4079638280489937
| |||||||||||||||
| Property / postal code | |||||||||||||||
| Property / postal code: 11028 / rank | |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
| Property / location (string): Puerto Real / rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 36°31'43.28"N, 6°11'24.79"W / rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Cádiz Province / rank | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / budget: 209,540.17 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 80.0 percent / rank | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / EU contribution: 167,632.14 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Zentrales Ziel dieses Antrags ist es, die Analysemöglichkeiten des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops, das kürzlich in die Electronic Microscopy Division der SC-ICYT der Universität Cadiz integriert wurde, durch den Erwerb von hochentwickelten elektronischen Mikroskopieprobenhaltern sowie die Möglichkeit, die Arbeitsspannung auf 60 kV zu reduzieren, zu erweitern und so die Verwendung dieses Mikroskops auf Materialien auszuweiten, die für Bestrahlungsschäden empfindlich sind, unter anderen Bedingungen als in herkömmlichen Mikroskopen üblich. Es wird zunächst vorgeschlagen, einen doppelten Neigungsvakuumtransfer Probenhalter zu erwerben, der die analytische Untersuchung der unter Quasi-Situ-Bedingungen untersuchten Proben nach Behandlung in kontrollierter Atmosphäre ermöglichen würde. Es wird auch vorgeschlagen, einen kommerziellen Probenhalter zu erwerben, der dank seines Designs und seines großen Drehintervalls den Erwerb von X-EDS-Tomographie-Serien ermöglicht, um kompositorische Karten in drei Dimensionen zu erzeugen. Schließlich wird die 60 kV Ausrichtung des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops vorgeschlagen. Diese Ergänzung erweitert die Möglichkeiten des Einsatzes des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops auf andere Materialien von technologischer Bedeutung und schafft eine neue Forschungslinie an unserer Universität. (German) | |||||||||||||||
| Property / summary: Zentrales Ziel dieses Antrags ist es, die Analysemöglichkeiten des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops, das kürzlich in die Electronic Microscopy Division der SC-ICYT der Universität Cadiz integriert wurde, durch den Erwerb von hochentwickelten elektronischen Mikroskopieprobenhaltern sowie die Möglichkeit, die Arbeitsspannung auf 60 kV zu reduzieren, zu erweitern und so die Verwendung dieses Mikroskops auf Materialien auszuweiten, die für Bestrahlungsschäden empfindlich sind, unter anderen Bedingungen als in herkömmlichen Mikroskopen üblich. Es wird zunächst vorgeschlagen, einen doppelten Neigungsvakuumtransfer Probenhalter zu erwerben, der die analytische Untersuchung der unter Quasi-Situ-Bedingungen untersuchten Proben nach Behandlung in kontrollierter Atmosphäre ermöglichen würde. Es wird auch vorgeschlagen, einen kommerziellen Probenhalter zu erwerben, der dank seines Designs und seines großen Drehintervalls den Erwerb von X-EDS-Tomographie-Serien ermöglicht, um kompositorische Karten in drei Dimensionen zu erzeugen. Schließlich wird die 60 kV Ausrichtung des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops vorgeschlagen. Diese Ergänzung erweitert die Möglichkeiten des Einsatzes des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops auf andere Materialien von technologischer Bedeutung und schafft eine neue Forschungslinie an unserer Universität. (German) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Zentrales Ziel dieses Antrags ist es, die Analysemöglichkeiten des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops, das kürzlich in die Electronic Microscopy Division der SC-ICYT der Universität Cadiz integriert wurde, durch den Erwerb von hochentwickelten elektronischen Mikroskopieprobenhaltern sowie die Möglichkeit, die Arbeitsspannung auf 60 kV zu reduzieren, zu erweitern und so die Verwendung dieses Mikroskops auf Materialien auszuweiten, die für Bestrahlungsschäden empfindlich sind, unter anderen Bedingungen als in herkömmlichen Mikroskopen üblich. Es wird zunächst vorgeschlagen, einen doppelten Neigungsvakuumtransfer Probenhalter zu erwerben, der die analytische Untersuchung der unter Quasi-Situ-Bedingungen untersuchten Proben nach Behandlung in kontrollierter Atmosphäre ermöglichen würde. Es wird auch vorgeschlagen, einen kommerziellen Probenhalter zu erwerben, der dank seines Designs und seines großen Drehintervalls den Erwerb von X-EDS-Tomographie-Serien ermöglicht, um kompositorische Karten in drei Dimensionen zu erzeugen. Schließlich wird die 60 kV Ausrichtung des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops vorgeschlagen. Diese Ergänzung erweitert die Möglichkeiten des Einsatzes des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops auf andere Materialien von technologischer Bedeutung und schafft eine neue Forschungslinie an unserer Universität. (German) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 9 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Het centrale doel van dit verzoek is het uitbreiden van de analytische mogelijkheden van de FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscoop die onlangs is opgenomen in de afdeling Elektronische Microscopie van het SC-ICYT van de Universiteit van Cadiz door de verwerving van geavanceerde elektronische microscopiemonsterhouders, evenals de mogelijkheid om de werkspanning te verminderen tot 60 kV, waardoor het gebruik van deze microscoop wordt uitgebreid tot materialen die gevoelig zijn voor bestralingsschade, onder andere omstandigheden dan gebruikelijk in conventionele microscopen. In de eerste plaats wordt voorgesteld een houder van een dubbelkantel vacuümoverbrengingsmonster te verkrijgen, die het mogelijk zou maken de monsters die onder quasi-situ-omstandigheden zijn onderzocht, na behandeling in gecontroleerde atmosfeer te analyseren. Er wordt ook voorgesteld om een commerciële monsterhouder te verwerven die, dankzij zijn ontwerp en zijn grote draaiinterval, de overname van X-EDS-tomografische series mogelijk maakt om compositiekaarten in drie dimensies te genereren. Ten slotte wordt de 60 kV-uitlijning van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop voorgesteld. Deze toevoeging breidt de mogelijkheden van het gebruik van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop uit naar andere materialen, van technologisch belang, het creëren van een nieuwe lijn van onderzoek aan onze universiteit. (Dutch) | |||||||||||||||
| Property / summary: Het centrale doel van dit verzoek is het uitbreiden van de analytische mogelijkheden van de FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscoop die onlangs is opgenomen in de afdeling Elektronische Microscopie van het SC-ICYT van de Universiteit van Cadiz door de verwerving van geavanceerde elektronische microscopiemonsterhouders, evenals de mogelijkheid om de werkspanning te verminderen tot 60 kV, waardoor het gebruik van deze microscoop wordt uitgebreid tot materialen die gevoelig zijn voor bestralingsschade, onder andere omstandigheden dan gebruikelijk in conventionele microscopen. In de eerste plaats wordt voorgesteld een houder van een dubbelkantel vacuümoverbrengingsmonster te verkrijgen, die het mogelijk zou maken de monsters die onder quasi-situ-omstandigheden zijn onderzocht, na behandeling in gecontroleerde atmosfeer te analyseren. Er wordt ook voorgesteld om een commerciële monsterhouder te verwerven die, dankzij zijn ontwerp en zijn grote draaiinterval, de overname van X-EDS-tomografische series mogelijk maakt om compositiekaarten in drie dimensies te genereren. Ten slotte wordt de 60 kV-uitlijning van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop voorgesteld. Deze toevoeging breidt de mogelijkheden van het gebruik van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop uit naar andere materialen, van technologisch belang, het creëren van een nieuwe lijn van onderzoek aan onze universiteit. (Dutch) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Het centrale doel van dit verzoek is het uitbreiden van de analytische mogelijkheden van de FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscoop die onlangs is opgenomen in de afdeling Elektronische Microscopie van het SC-ICYT van de Universiteit van Cadiz door de verwerving van geavanceerde elektronische microscopiemonsterhouders, evenals de mogelijkheid om de werkspanning te verminderen tot 60 kV, waardoor het gebruik van deze microscoop wordt uitgebreid tot materialen die gevoelig zijn voor bestralingsschade, onder andere omstandigheden dan gebruikelijk in conventionele microscopen. In de eerste plaats wordt voorgesteld een houder van een dubbelkantel vacuümoverbrengingsmonster te verkrijgen, die het mogelijk zou maken de monsters die onder quasi-situ-omstandigheden zijn onderzocht, na behandeling in gecontroleerde atmosfeer te analyseren. Er wordt ook voorgesteld om een commerciële monsterhouder te verwerven die, dankzij zijn ontwerp en zijn grote draaiinterval, de overname van X-EDS-tomografische series mogelijk maakt om compositiekaarten in drie dimensies te genereren. Ten slotte wordt de 60 kV-uitlijning van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop voorgesteld. Deze toevoeging breidt de mogelijkheden van het gebruik van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop uit naar andere materialen, van technologisch belang, het creëren van een nieuwe lijn van onderzoek aan onze universiteit. (Dutch) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 17 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
L'obiettivo centrale della presente richiesta è quello di ampliare le possibilità analitiche del Microscopio Temis 60-300 FEI TITAN3 recentemente incorporato nella Divisione Microscopia Elettronica dello SC-ICYT dell'Università di Cadice attraverso l'acquisizione di portacampioni elettronici avanzati di microscopia, nonché la possibilità di ridurre la tensione di esercizio a 60 kV, estendendo così l'uso di questo microscopio a materiali sensibili ai danni da irradiazione, in condizioni diverse da quelle usuali nei microscopi convenzionali. Si propone, in primo luogo, l'acquisizione di un portacampione sottovuoto a doppio tilt, che consentirebbe lo studio analitico dei campioni studiati in condizioni quasi situ, dopo il trattamento in atmosfera controllata. Si propone inoltre di acquisire un portacampione commerciale che, grazie al suo design e al suo ampio intervallo di tornitura, consente l'acquisizione di serie tomografiche X-EDS per generare mappe compositive in tre dimensioni. Infine, si propone l'allineamento a 60 kV del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300. Questa aggiunta estende le possibilità di utilizzare il microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 ad altri materiali, di importanza tecnologica, creando una nuova linea di ricerca presso la nostra Università. (Italian) | |||||||||||||||
| Property / summary: L'obiettivo centrale della presente richiesta è quello di ampliare le possibilità analitiche del Microscopio Temis 60-300 FEI TITAN3 recentemente incorporato nella Divisione Microscopia Elettronica dello SC-ICYT dell'Università di Cadice attraverso l'acquisizione di portacampioni elettronici avanzati di microscopia, nonché la possibilità di ridurre la tensione di esercizio a 60 kV, estendendo così l'uso di questo microscopio a materiali sensibili ai danni da irradiazione, in condizioni diverse da quelle usuali nei microscopi convenzionali. Si propone, in primo luogo, l'acquisizione di un portacampione sottovuoto a doppio tilt, che consentirebbe lo studio analitico dei campioni studiati in condizioni quasi situ, dopo il trattamento in atmosfera controllata. Si propone inoltre di acquisire un portacampione commerciale che, grazie al suo design e al suo ampio intervallo di tornitura, consente l'acquisizione di serie tomografiche X-EDS per generare mappe compositive in tre dimensioni. Infine, si propone l'allineamento a 60 kV del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300. Questa aggiunta estende le possibilità di utilizzare il microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 ad altri materiali, di importanza tecnologica, creando una nuova linea di ricerca presso la nostra Università. (Italian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: L'obiettivo centrale della presente richiesta è quello di ampliare le possibilità analitiche del Microscopio Temis 60-300 FEI TITAN3 recentemente incorporato nella Divisione Microscopia Elettronica dello SC-ICYT dell'Università di Cadice attraverso l'acquisizione di portacampioni elettronici avanzati di microscopia, nonché la possibilità di ridurre la tensione di esercizio a 60 kV, estendendo così l'uso di questo microscopio a materiali sensibili ai danni da irradiazione, in condizioni diverse da quelle usuali nei microscopi convenzionali. Si propone, in primo luogo, l'acquisizione di un portacampione sottovuoto a doppio tilt, che consentirebbe lo studio analitico dei campioni studiati in condizioni quasi situ, dopo il trattamento in atmosfera controllata. Si propone inoltre di acquisire un portacampione commerciale che, grazie al suo design e al suo ampio intervallo di tornitura, consente l'acquisizione di serie tomografiche X-EDS per generare mappe compositive in tre dimensioni. Infine, si propone l'allineamento a 60 kV del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300. Questa aggiunta estende le possibilità di utilizzare il microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 ad altri materiali, di importanza tecnologica, creando una nuova linea di ricerca presso la nostra Università. (Italian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 16 January 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Κεντρικός στόχος αυτού του αιτήματος είναι η επέκταση των αναλυτικών δυνατοτήτων του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300 που πρόσφατα ενσωματώθηκε στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας του SC-ICYT του Πανεπιστημίου του Cadiz μέσω της απόκτησης προηγμένων ηλεκτρονικών κατόχων μικροσκοπίων, καθώς και της δυνατότητας μείωσης της τάσης λειτουργίας σε 60 kV, επεκτείνοντας έτσι τη χρήση του μικροσκοπίου σε υλικά ευαίσθητα σε βλάβες από την ακτινοβολία, υπό συνθήκες διαφορετικές από τις συνήθεις στα συμβατικά μικροσκόπια. Προτείνεται, καταρχάς, η απόκτηση υποδοχέα δείγματος μεταφοράς κενού διπλής κλίσης, η οποία θα επιτρέψει την αναλυτική μελέτη των δειγμάτων που μελετήθηκαν υπό οιονεί επιτόπιες συνθήκες, μετά από επεξεργασία σε ελεγχόμενη ατμόσφαιρα. Προτείνεται επίσης να αποκτηθεί εμπορικός κάτοχος δείγματος ο οποίος, χάρη στον σχεδιασμό του και το μεγάλο διάστημα στροφής του, επιτρέπει την απόκτηση τομογραφικών σειρών X-EDS για τη δημιουργία χαρτών σύνθεσης σε τρεις διαστάσεις. Τέλος, προτείνεται η ευθυγράμμιση 60 kV του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300. Η προσθήκη αυτή επεκτείνει τις δυνατότητες χρήσης του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300 σε άλλα υλικά, τεχνολογικής σημασίας, δημιουργώντας μια νέα γραμμή έρευνας στο Πανεπιστήμιο μας. (Greek) | |||||||||||||||
| Property / summary: Κεντρικός στόχος αυτού του αιτήματος είναι η επέκταση των αναλυτικών δυνατοτήτων του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300 που πρόσφατα ενσωματώθηκε στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας του SC-ICYT του Πανεπιστημίου του Cadiz μέσω της απόκτησης προηγμένων ηλεκτρονικών κατόχων μικροσκοπίων, καθώς και της δυνατότητας μείωσης της τάσης λειτουργίας σε 60 kV, επεκτείνοντας έτσι τη χρήση του μικροσκοπίου σε υλικά ευαίσθητα σε βλάβες από την ακτινοβολία, υπό συνθήκες διαφορετικές από τις συνήθεις στα συμβατικά μικροσκόπια. Προτείνεται, καταρχάς, η απόκτηση υποδοχέα δείγματος μεταφοράς κενού διπλής κλίσης, η οποία θα επιτρέψει την αναλυτική μελέτη των δειγμάτων που μελετήθηκαν υπό οιονεί επιτόπιες συνθήκες, μετά από επεξεργασία σε ελεγχόμενη ατμόσφαιρα. Προτείνεται επίσης να αποκτηθεί εμπορικός κάτοχος δείγματος ο οποίος, χάρη στον σχεδιασμό του και το μεγάλο διάστημα στροφής του, επιτρέπει την απόκτηση τομογραφικών σειρών X-EDS για τη δημιουργία χαρτών σύνθεσης σε τρεις διαστάσεις. Τέλος, προτείνεται η ευθυγράμμιση 60 kV του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300. Η προσθήκη αυτή επεκτείνει τις δυνατότητες χρήσης του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300 σε άλλα υλικά, τεχνολογικής σημασίας, δημιουργώντας μια νέα γραμμή έρευνας στο Πανεπιστήμιο μας. (Greek) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Κεντρικός στόχος αυτού του αιτήματος είναι η επέκταση των αναλυτικών δυνατοτήτων του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300 που πρόσφατα ενσωματώθηκε στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας του SC-ICYT του Πανεπιστημίου του Cadiz μέσω της απόκτησης προηγμένων ηλεκτρονικών κατόχων μικροσκοπίων, καθώς και της δυνατότητας μείωσης της τάσης λειτουργίας σε 60 kV, επεκτείνοντας έτσι τη χρήση του μικροσκοπίου σε υλικά ευαίσθητα σε βλάβες από την ακτινοβολία, υπό συνθήκες διαφορετικές από τις συνήθεις στα συμβατικά μικροσκόπια. Προτείνεται, καταρχάς, η απόκτηση υποδοχέα δείγματος μεταφοράς κενού διπλής κλίσης, η οποία θα επιτρέψει την αναλυτική μελέτη των δειγμάτων που μελετήθηκαν υπό οιονεί επιτόπιες συνθήκες, μετά από επεξεργασία σε ελεγχόμενη ατμόσφαιρα. Προτείνεται επίσης να αποκτηθεί εμπορικός κάτοχος δείγματος ο οποίος, χάρη στον σχεδιασμό του και το μεγάλο διάστημα στροφής του, επιτρέπει την απόκτηση τομογραφικών σειρών X-EDS για τη δημιουργία χαρτών σύνθεσης σε τρεις διαστάσεις. Τέλος, προτείνεται η ευθυγράμμιση 60 kV του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300. Η προσθήκη αυτή επεκτείνει τις δυνατότητες χρήσης του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300 σε άλλα υλικά, τεχνολογικής σημασίας, δημιουργώντας μια νέα γραμμή έρευνας στο Πανεπιστήμιο μας. (Greek) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Det centrale formål med denne anmodning er at udvide de analytiske muligheder for FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscope, der for nylig blev indarbejdet i den elektroniske mikroskopiafdeling af SC-ICYT ved University of Cadiz gennem erhvervelse af avancerede elektroniske mikroskopiprøveholdere, samt muligheden for at reducere arbejdsspændingen til 60 kV og dermed udvide anvendelsen af dette mikroskop til materialer, der er følsomme over for bestrålingsskader, under andre betingelser end dem, der normalt anvendes i konventionelle mikroskoper. Det foreslås først og fremmest at erhverve en indehaver af en dobbelt vippe-vakuumoverførselsprøve, hvilket vil gøre det muligt at foretage en analytisk undersøgelse af de undersøgte prøver under kvasi-situ-betingelser efter behandling i kontrolleret atmosfære. Det foreslås også at erhverve en kommerciel stikprøveindehaver, der takket være sin udformning og det store drejeinterval gør det muligt at erhverve X-EDS-tomografiske serier til at generere kompositionskort i tre dimensioner. Endelig foreslås 60 kV justering af FEI TITAN3 Themis 60-300 mikroskop. Denne tilføjelse udvider mulighederne for at bruge FEI TITAN3 Themis 60-300 mikroskop til andre materialer, af teknologisk betydning, skabe en ny linje af forskning på vores universitet. (Danish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Det centrale formål med denne anmodning er at udvide de analytiske muligheder for FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscope, der for nylig blev indarbejdet i den elektroniske mikroskopiafdeling af SC-ICYT ved University of Cadiz gennem erhvervelse af avancerede elektroniske mikroskopiprøveholdere, samt muligheden for at reducere arbejdsspændingen til 60 kV og dermed udvide anvendelsen af dette mikroskop til materialer, der er følsomme over for bestrålingsskader, under andre betingelser end dem, der normalt anvendes i konventionelle mikroskoper. Det foreslås først og fremmest at erhverve en indehaver af en dobbelt vippe-vakuumoverførselsprøve, hvilket vil gøre det muligt at foretage en analytisk undersøgelse af de undersøgte prøver under kvasi-situ-betingelser efter behandling i kontrolleret atmosfære. Det foreslås også at erhverve en kommerciel stikprøveindehaver, der takket være sin udformning og det store drejeinterval gør det muligt at erhverve X-EDS-tomografiske serier til at generere kompositionskort i tre dimensioner. Endelig foreslås 60 kV justering af FEI TITAN3 Themis 60-300 mikroskop. Denne tilføjelse udvider mulighederne for at bruge FEI TITAN3 Themis 60-300 mikroskop til andre materialer, af teknologisk betydning, skabe en ny linje af forskning på vores universitet. (Danish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Det centrale formål med denne anmodning er at udvide de analytiske muligheder for FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscope, der for nylig blev indarbejdet i den elektroniske mikroskopiafdeling af SC-ICYT ved University of Cadiz gennem erhvervelse af avancerede elektroniske mikroskopiprøveholdere, samt muligheden for at reducere arbejdsspændingen til 60 kV og dermed udvide anvendelsen af dette mikroskop til materialer, der er følsomme over for bestrålingsskader, under andre betingelser end dem, der normalt anvendes i konventionelle mikroskoper. Det foreslås først og fremmest at erhverve en indehaver af en dobbelt vippe-vakuumoverførselsprøve, hvilket vil gøre det muligt at foretage en analytisk undersøgelse af de undersøgte prøver under kvasi-situ-betingelser efter behandling i kontrolleret atmosfære. Det foreslås også at erhverve en kommerciel stikprøveindehaver, der takket være sin udformning og det store drejeinterval gør det muligt at erhverve X-EDS-tomografiske serier til at generere kompositionskort i tre dimensioner. Endelig foreslås 60 kV justering af FEI TITAN3 Themis 60-300 mikroskop. Denne tilføjelse udvider mulighederne for at bruge FEI TITAN3 Themis 60-300 mikroskop til andre materialer, af teknologisk betydning, skabe en ny linje af forskning på vores universitet. (Danish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Pyynnön keskeisenä tavoitteena on laajentaa FEI TITAN3 Themis 60–300 -mikroskoopin analyyttisiä mahdollisuuksia, jotka on äskettäin sisällytetty Cadizin yliopiston SC-ICYT:n elektroniseen mikroskopiointiosastoon hankkimalla kehittyneitä elektronisia mikroskopioita, sekä mahdollisuutta vähentää käyttöjännite 60 kV:iin, jolloin mikroskoopin käyttö laajennetaan säteilytysvaurioille herkkiin materiaaleihin muissa kuin tavanomaisissa mikroskoopioissa tavanomaisissa olosuhteissa. Ensinnäkin ehdotetaan, että hankittaisiin kaksoiskaltevuustyhjiönäytteen pidike, joka mahdollistaisi kvasisitu-olosuhteissa tutkittujen näytteiden analyyttisen tutkimuksen kontrolloidussa ilmakehässä käsittelyn jälkeen. Lisäksi ehdotetaan, että hankitaan kaupallinen näytteenhaltija, joka rakenteensa ja suuren kääntymisvälinsä ansiosta mahdollistaa X-EDS-tomografisten sarjojen hankinnan koostumuksen karttojen tuottamiseksi kolmessa ulottuvuudessa. Lopuksi ehdotetaan FEI TITAN3 Themis 60–300 -mikroskoopin 60 kV:n yhdenmukaistamista. Tämä lisäys laajentaa mahdollisuuksia käyttää FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskooppi muihin materiaaleihin, teknologisen merkityksen, luoda uuden linjan tutkimusta yliopistossamme. (Finnish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Pyynnön keskeisenä tavoitteena on laajentaa FEI TITAN3 Themis 60–300 -mikroskoopin analyyttisiä mahdollisuuksia, jotka on äskettäin sisällytetty Cadizin yliopiston SC-ICYT:n elektroniseen mikroskopiointiosastoon hankkimalla kehittyneitä elektronisia mikroskopioita, sekä mahdollisuutta vähentää käyttöjännite 60 kV:iin, jolloin mikroskoopin käyttö laajennetaan säteilytysvaurioille herkkiin materiaaleihin muissa kuin tavanomaisissa mikroskoopioissa tavanomaisissa olosuhteissa. Ensinnäkin ehdotetaan, että hankittaisiin kaksoiskaltevuustyhjiönäytteen pidike, joka mahdollistaisi kvasisitu-olosuhteissa tutkittujen näytteiden analyyttisen tutkimuksen kontrolloidussa ilmakehässä käsittelyn jälkeen. Lisäksi ehdotetaan, että hankitaan kaupallinen näytteenhaltija, joka rakenteensa ja suuren kääntymisvälinsä ansiosta mahdollistaa X-EDS-tomografisten sarjojen hankinnan koostumuksen karttojen tuottamiseksi kolmessa ulottuvuudessa. Lopuksi ehdotetaan FEI TITAN3 Themis 60–300 -mikroskoopin 60 kV:n yhdenmukaistamista. Tämä lisäys laajentaa mahdollisuuksia käyttää FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskooppi muihin materiaaleihin, teknologisen merkityksen, luoda uuden linjan tutkimusta yliopistossamme. (Finnish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Pyynnön keskeisenä tavoitteena on laajentaa FEI TITAN3 Themis 60–300 -mikroskoopin analyyttisiä mahdollisuuksia, jotka on äskettäin sisällytetty Cadizin yliopiston SC-ICYT:n elektroniseen mikroskopiointiosastoon hankkimalla kehittyneitä elektronisia mikroskopioita, sekä mahdollisuutta vähentää käyttöjännite 60 kV:iin, jolloin mikroskoopin käyttö laajennetaan säteilytysvaurioille herkkiin materiaaleihin muissa kuin tavanomaisissa mikroskoopioissa tavanomaisissa olosuhteissa. Ensinnäkin ehdotetaan, että hankittaisiin kaksoiskaltevuustyhjiönäytteen pidike, joka mahdollistaisi kvasisitu-olosuhteissa tutkittujen näytteiden analyyttisen tutkimuksen kontrolloidussa ilmakehässä käsittelyn jälkeen. Lisäksi ehdotetaan, että hankitaan kaupallinen näytteenhaltija, joka rakenteensa ja suuren kääntymisvälinsä ansiosta mahdollistaa X-EDS-tomografisten sarjojen hankinnan koostumuksen karttojen tuottamiseksi kolmessa ulottuvuudessa. Lopuksi ehdotetaan FEI TITAN3 Themis 60–300 -mikroskoopin 60 kV:n yhdenmukaistamista. Tämä lisäys laajentaa mahdollisuuksia käyttää FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskooppi muihin materiaaleihin, teknologisen merkityksen, luoda uuden linjan tutkimusta yliopistossamme. (Finnish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
L-għan ċentrali ta’ din it-talba huwa li tespandi l-possibbiltajiet analitiċi tal-FEI TITAN3 Themis 60–300 Mikroskopju reċentement inkorporat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika tal-SC-ICYT tal-Università ta’ Cadiz permezz tal-akkwist ta’ detenturi ta’ kampjuni elettroniċi avvanzati ta’ mikroskopija, kif ukoll il-possibbiltà li jitnaqqas il-vultaġġ operattiv għal 60 kV, u b’hekk jiġi estiż l-użu ta’ dan il-mikroskopju għal materjali sensittivi għall-ħsara mill-irradjazzjoni, taħt kundizzjonijiet għajr dawk tas-soltu f’mikroskopji konvenzjonali. Huwa propost, l-ewwel nett, l-akkwist ta’ kontenitur tal-kampjun bi trasferiment ta’ vakwu doppju, li jippermetti l-istudju analitiku tal-kampjuni studjati f’kundizzjonijiet kważi situ, wara trattament f’atmosfera kkontrollata. Huwa propost ukoll li jinkiseb detentur ta’ kampjun kummerċjali li, bis-saħħa tad-disinn tiegħu u l-intervall kbir ta’ tidwir tiegħu, jippermetti l-akkwist ta’ serje tomgrafika X-EDS biex jiġu ġġenerati mapep kompożizzjonali fi tliet dimensjonijiet. Fl-aħħar nett, qed jiġi propost l-allinjament ta’ 60 kV tal-mikroskopju tal-FEI TITAN3 Themis 60–300. Din iż-żieda testendi l-possibbiltajiet ta ‘użu tal-FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopju għal materjali oħra, ta’ importanza teknoloġika, ħolqien ta ‘linja ġdida ta’ riċerka fl-Università tagħna. (Maltese) | |||||||||||||||
| Property / summary: L-għan ċentrali ta’ din it-talba huwa li tespandi l-possibbiltajiet analitiċi tal-FEI TITAN3 Themis 60–300 Mikroskopju reċentement inkorporat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika tal-SC-ICYT tal-Università ta’ Cadiz permezz tal-akkwist ta’ detenturi ta’ kampjuni elettroniċi avvanzati ta’ mikroskopija, kif ukoll il-possibbiltà li jitnaqqas il-vultaġġ operattiv għal 60 kV, u b’hekk jiġi estiż l-użu ta’ dan il-mikroskopju għal materjali sensittivi għall-ħsara mill-irradjazzjoni, taħt kundizzjonijiet għajr dawk tas-soltu f’mikroskopji konvenzjonali. Huwa propost, l-ewwel nett, l-akkwist ta’ kontenitur tal-kampjun bi trasferiment ta’ vakwu doppju, li jippermetti l-istudju analitiku tal-kampjuni studjati f’kundizzjonijiet kważi situ, wara trattament f’atmosfera kkontrollata. Huwa propost ukoll li jinkiseb detentur ta’ kampjun kummerċjali li, bis-saħħa tad-disinn tiegħu u l-intervall kbir ta’ tidwir tiegħu, jippermetti l-akkwist ta’ serje tomgrafika X-EDS biex jiġu ġġenerati mapep kompożizzjonali fi tliet dimensjonijiet. Fl-aħħar nett, qed jiġi propost l-allinjament ta’ 60 kV tal-mikroskopju tal-FEI TITAN3 Themis 60–300. Din iż-żieda testendi l-possibbiltajiet ta ‘użu tal-FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopju għal materjali oħra, ta’ importanza teknoloġika, ħolqien ta ‘linja ġdida ta’ riċerka fl-Università tagħna. (Maltese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: L-għan ċentrali ta’ din it-talba huwa li tespandi l-possibbiltajiet analitiċi tal-FEI TITAN3 Themis 60–300 Mikroskopju reċentement inkorporat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika tal-SC-ICYT tal-Università ta’ Cadiz permezz tal-akkwist ta’ detenturi ta’ kampjuni elettroniċi avvanzati ta’ mikroskopija, kif ukoll il-possibbiltà li jitnaqqas il-vultaġġ operattiv għal 60 kV, u b’hekk jiġi estiż l-użu ta’ dan il-mikroskopju għal materjali sensittivi għall-ħsara mill-irradjazzjoni, taħt kundizzjonijiet għajr dawk tas-soltu f’mikroskopji konvenzjonali. Huwa propost, l-ewwel nett, l-akkwist ta’ kontenitur tal-kampjun bi trasferiment ta’ vakwu doppju, li jippermetti l-istudju analitiku tal-kampjuni studjati f’kundizzjonijiet kważi situ, wara trattament f’atmosfera kkontrollata. Huwa propost ukoll li jinkiseb detentur ta’ kampjun kummerċjali li, bis-saħħa tad-disinn tiegħu u l-intervall kbir ta’ tidwir tiegħu, jippermetti l-akkwist ta’ serje tomgrafika X-EDS biex jiġu ġġenerati mapep kompożizzjonali fi tliet dimensjonijiet. Fl-aħħar nett, qed jiġi propost l-allinjament ta’ 60 kV tal-mikroskopju tal-FEI TITAN3 Themis 60–300. Din iż-żieda testendi l-possibbiltajiet ta ‘użu tal-FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopju għal materjali oħra, ta’ importanza teknoloġika, ħolqien ta ‘linja ġdida ta’ riċerka fl-Università tagħna. (Maltese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Šā pieprasījuma galvenais mērķis ir paplašināt FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa analītiskās iespējas, kas nesen iekļautas Kadisas Universitātes SC-ICYT SC-ICYT Elektroniskās mikroskopijas nodaļā, iegādājoties modernus elektroniskās mikroskopijas paraugu turētājus, kā arī iespēju samazināt darba spriegumu līdz 60 kV, tādējādi paplašinot šā mikroskopa izmantošanu materiāliem, kas ir jutīgi pret apstarošanas bojājumiem, apstākļos, kas atšķiras no parastajiem mikroskopiem. Vispirms tiek ierosināts iegūt dubultu slīpuma vakuuma pārneses parauga turētāju, kas ļautu veikt analītisku pētījumu par kvazi-situ apstākļos pētītajiem paraugiem pēc apstrādes kontrolētā atmosfērā. Ir arī ierosināts iegādāties komerciālo paraugu turētāju, kas, pateicoties tā konstrukcijai un lielajam pagrieziena intervālam, ļauj iegūt X-EDS tomogrāfiskās sērijas, lai radītu kompozīciju kartes trīs dimensijās. Visbeidzot, tiek ierosināts FEI TITAN3 TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa 60 kV izlīdzināšana. Šis papildinājums paplašina iespējas, izmantojot FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopu uz citiem materiāliem, tehnoloģiskā nozīme, radot jaunu līniju pētniecības mūsu universitātē. (Latvian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Šā pieprasījuma galvenais mērķis ir paplašināt FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa analītiskās iespējas, kas nesen iekļautas Kadisas Universitātes SC-ICYT SC-ICYT Elektroniskās mikroskopijas nodaļā, iegādājoties modernus elektroniskās mikroskopijas paraugu turētājus, kā arī iespēju samazināt darba spriegumu līdz 60 kV, tādējādi paplašinot šā mikroskopa izmantošanu materiāliem, kas ir jutīgi pret apstarošanas bojājumiem, apstākļos, kas atšķiras no parastajiem mikroskopiem. Vispirms tiek ierosināts iegūt dubultu slīpuma vakuuma pārneses parauga turētāju, kas ļautu veikt analītisku pētījumu par kvazi-situ apstākļos pētītajiem paraugiem pēc apstrādes kontrolētā atmosfērā. Ir arī ierosināts iegādāties komerciālo paraugu turētāju, kas, pateicoties tā konstrukcijai un lielajam pagrieziena intervālam, ļauj iegūt X-EDS tomogrāfiskās sērijas, lai radītu kompozīciju kartes trīs dimensijās. Visbeidzot, tiek ierosināts FEI TITAN3 TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa 60 kV izlīdzināšana. Šis papildinājums paplašina iespējas, izmantojot FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopu uz citiem materiāliem, tehnoloģiskā nozīme, radot jaunu līniju pētniecības mūsu universitātē. (Latvian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Šā pieprasījuma galvenais mērķis ir paplašināt FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa analītiskās iespējas, kas nesen iekļautas Kadisas Universitātes SC-ICYT SC-ICYT Elektroniskās mikroskopijas nodaļā, iegādājoties modernus elektroniskās mikroskopijas paraugu turētājus, kā arī iespēju samazināt darba spriegumu līdz 60 kV, tādējādi paplašinot šā mikroskopa izmantošanu materiāliem, kas ir jutīgi pret apstarošanas bojājumiem, apstākļos, kas atšķiras no parastajiem mikroskopiem. Vispirms tiek ierosināts iegūt dubultu slīpuma vakuuma pārneses parauga turētāju, kas ļautu veikt analītisku pētījumu par kvazi-situ apstākļos pētītajiem paraugiem pēc apstrādes kontrolētā atmosfērā. Ir arī ierosināts iegādāties komerciālo paraugu turētāju, kas, pateicoties tā konstrukcijai un lielajam pagrieziena intervālam, ļauj iegūt X-EDS tomogrāfiskās sērijas, lai radītu kompozīciju kartes trīs dimensijās. Visbeidzot, tiek ierosināts FEI TITAN3 TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa 60 kV izlīdzināšana. Šis papildinājums paplašina iespējas, izmantojot FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopu uz citiem materiāliem, tehnoloģiskā nozīme, radot jaunu līniju pētniecības mūsu universitātē. (Latvian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Ústredným cieľom tejto žiadosti je rozšíriť analytické možnosti FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopov, ktoré boli nedávno začlenené do divízie elektronickej mikroskopie SC-ICYT Cádizskej univerzity prostredníctvom získania pokročilých držiakov vzoriek elektronickej mikroskopie, ako aj možnosti zníženia pracovného napätia na 60 kV, čím sa rozšíri používanie tohto mikroskopu na materiály citlivé na poškodenie ožiarenia za iných podmienok, ako sú bežné v bežných mikroskopoch. V prvom rade sa navrhuje získanie dvojitého držiaka vzorky na prenos vákua, ktorý by umožnil analytickú štúdiu vzoriek skúmaných v podmienkach kvázi situ po ošetrení v kontrolovanej atmosfére. Navrhuje sa tiež získať komerčný držiteľ vzorky, ktorý vďaka svojmu dizajnu a veľkému intervalu otáčania umožňuje akvizíciu X-EDS tomografickej série na vytvorenie kompozičných máp v troch rozmeroch. Napokon sa navrhuje nastavenie 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60 – 300. Tento dodatok rozširuje možnosti použitia FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskop na iné materiály, technologický význam, vytvorenie nového radu výskumu na našej univerzite. (Slovak) | |||||||||||||||
| Property / summary: Ústredným cieľom tejto žiadosti je rozšíriť analytické možnosti FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopov, ktoré boli nedávno začlenené do divízie elektronickej mikroskopie SC-ICYT Cádizskej univerzity prostredníctvom získania pokročilých držiakov vzoriek elektronickej mikroskopie, ako aj možnosti zníženia pracovného napätia na 60 kV, čím sa rozšíri používanie tohto mikroskopu na materiály citlivé na poškodenie ožiarenia za iných podmienok, ako sú bežné v bežných mikroskopoch. V prvom rade sa navrhuje získanie dvojitého držiaka vzorky na prenos vákua, ktorý by umožnil analytickú štúdiu vzoriek skúmaných v podmienkach kvázi situ po ošetrení v kontrolovanej atmosfére. Navrhuje sa tiež získať komerčný držiteľ vzorky, ktorý vďaka svojmu dizajnu a veľkému intervalu otáčania umožňuje akvizíciu X-EDS tomografickej série na vytvorenie kompozičných máp v troch rozmeroch. Napokon sa navrhuje nastavenie 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60 – 300. Tento dodatok rozširuje možnosti použitia FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskop na iné materiály, technologický význam, vytvorenie nového radu výskumu na našej univerzite. (Slovak) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Ústredným cieľom tejto žiadosti je rozšíriť analytické možnosti FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopov, ktoré boli nedávno začlenené do divízie elektronickej mikroskopie SC-ICYT Cádizskej univerzity prostredníctvom získania pokročilých držiakov vzoriek elektronickej mikroskopie, ako aj možnosti zníženia pracovného napätia na 60 kV, čím sa rozšíri používanie tohto mikroskopu na materiály citlivé na poškodenie ožiarenia za iných podmienok, ako sú bežné v bežných mikroskopoch. V prvom rade sa navrhuje získanie dvojitého držiaka vzorky na prenos vákua, ktorý by umožnil analytickú štúdiu vzoriek skúmaných v podmienkach kvázi situ po ošetrení v kontrolovanej atmosfére. Navrhuje sa tiež získať komerčný držiteľ vzorky, ktorý vďaka svojmu dizajnu a veľkému intervalu otáčania umožňuje akvizíciu X-EDS tomografickej série na vytvorenie kompozičných máp v troch rozmeroch. Napokon sa navrhuje nastavenie 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60 – 300. Tento dodatok rozširuje možnosti použitia FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskop na iné materiály, technologický význam, vytvorenie nového radu výskumu na našej univerzite. (Slovak) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Is é cuspóir lárnach an iarratais seo cur le féidearthachtaí anailíseacha an FEI TITAN3 Themis 60-300 Micreascópacht a ionchorpraíodh le déanaí isteach sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí de chuid SC-ICYT Ollscoil Cadiz trí shealbhóirí samplacha micreascópachta leictreonacha ardleibhéil a fháil, chomh maith leis an bhféidearthacht an voltas oibre a laghdú go 60 kV, rud a leathnóidh úsáid an mhicreascóp seo d’ábhair atá íogair do dhamáiste ionradaíochta, faoi choinníollacha seachas iad siúd is gnách i micreascóip thraidisiúnta. Tá sé beartaithe, ar an gcéad dul síos, sealbhóir sampla aistrithe folúis dúbailte a fháil, rud a d’fhágfadh go bhféadfaí staidéar anailíseach a dhéanamh ar na samplaí a ndearnadh staidéar orthu faoi choinníollacha quasi-situ, tar éis cóireála in atmaisféar rialaithe. Tá sé beartaithe freisin sealbhóir sampla tráchtála a fháil a cheadaíonn, a bhuíochas dá dhearadh agus dá eatramh casta mór, sraith tomagrafach X-EDS a fháil chun léarscáileanna cumadóireachta a ghiniúint i dtrí thoise. Ar deireadh, moltar ailíniú 60 kV ar an micreascóp FEI TITAN3 Themis 60-300. Síneann an Chomh maith leis na féidearthachtaí a bhaineann úsáid a bhaint as an TITAN3 FEI Themis 60-300 micreascóp le hábhair eile, tábhacht teicneolaíochta, a chruthú líne nua taighde ag ár n-Ollscoil. (Irish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Is é cuspóir lárnach an iarratais seo cur le féidearthachtaí anailíseacha an FEI TITAN3 Themis 60-300 Micreascópacht a ionchorpraíodh le déanaí isteach sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí de chuid SC-ICYT Ollscoil Cadiz trí shealbhóirí samplacha micreascópachta leictreonacha ardleibhéil a fháil, chomh maith leis an bhféidearthacht an voltas oibre a laghdú go 60 kV, rud a leathnóidh úsáid an mhicreascóp seo d’ábhair atá íogair do dhamáiste ionradaíochta, faoi choinníollacha seachas iad siúd is gnách i micreascóip thraidisiúnta. Tá sé beartaithe, ar an gcéad dul síos, sealbhóir sampla aistrithe folúis dúbailte a fháil, rud a d’fhágfadh go bhféadfaí staidéar anailíseach a dhéanamh ar na samplaí a ndearnadh staidéar orthu faoi choinníollacha quasi-situ, tar éis cóireála in atmaisféar rialaithe. Tá sé beartaithe freisin sealbhóir sampla tráchtála a fháil a cheadaíonn, a bhuíochas dá dhearadh agus dá eatramh casta mór, sraith tomagrafach X-EDS a fháil chun léarscáileanna cumadóireachta a ghiniúint i dtrí thoise. Ar deireadh, moltar ailíniú 60 kV ar an micreascóp FEI TITAN3 Themis 60-300. Síneann an Chomh maith leis na féidearthachtaí a bhaineann úsáid a bhaint as an TITAN3 FEI Themis 60-300 micreascóp le hábhair eile, tábhacht teicneolaíochta, a chruthú líne nua taighde ag ár n-Ollscoil. (Irish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Is é cuspóir lárnach an iarratais seo cur le féidearthachtaí anailíseacha an FEI TITAN3 Themis 60-300 Micreascópacht a ionchorpraíodh le déanaí isteach sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí de chuid SC-ICYT Ollscoil Cadiz trí shealbhóirí samplacha micreascópachta leictreonacha ardleibhéil a fháil, chomh maith leis an bhféidearthacht an voltas oibre a laghdú go 60 kV, rud a leathnóidh úsáid an mhicreascóp seo d’ábhair atá íogair do dhamáiste ionradaíochta, faoi choinníollacha seachas iad siúd is gnách i micreascóip thraidisiúnta. Tá sé beartaithe, ar an gcéad dul síos, sealbhóir sampla aistrithe folúis dúbailte a fháil, rud a d’fhágfadh go bhféadfaí staidéar anailíseach a dhéanamh ar na samplaí a ndearnadh staidéar orthu faoi choinníollacha quasi-situ, tar éis cóireála in atmaisféar rialaithe. Tá sé beartaithe freisin sealbhóir sampla tráchtála a fháil a cheadaíonn, a bhuíochas dá dhearadh agus dá eatramh casta mór, sraith tomagrafach X-EDS a fháil chun léarscáileanna cumadóireachta a ghiniúint i dtrí thoise. Ar deireadh, moltar ailíniú 60 kV ar an micreascóp FEI TITAN3 Themis 60-300. Síneann an Chomh maith leis na féidearthachtaí a bhaineann úsáid a bhaint as an TITAN3 FEI Themis 60-300 micreascóp le hábhair eile, tábhacht teicneolaíochta, a chruthú líne nua taighde ag ár n-Ollscoil. (Irish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Hlavním cílem tohoto požadavku je rozšířit analytické možnosti mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300, který byl nedávno začleněn do divize elektronické mikroskopie SC-ICYT Univerzity v Cádizu, a to získáním pokročilých držáků vzorků elektronických mikroskopů, jakož i možností snížení pracovního napětí na 60 kV, čímž se rozšíří využití tohoto mikroskopu na materiály citlivé na poškození ozářením, a to za jiných podmínek, než jsou obvyklé v konvenčních mikroskopech. V první řadě se navrhuje získat dvojitě nakloněný držák vakuového transferu, který by umožnil analytickou studii vzorků studovaných za kvazi-situ podmínek po ošetření v kontrolované atmosféře. Navrhuje se také získat komerční držák vzorku, který díky svému designu a velkému intervalu soustružení umožňuje pořízení tomografické série X-EDS k vytvoření kompozičních map ve třech rozměrech. V neposlední řadě je navrženo nastavení 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300. Tento doplněk rozšiřuje možnosti využití mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300 na jiné materiály, technologického významu, vytvoření nové linie výzkumu na naší univerzitě. (Czech) | |||||||||||||||
| Property / summary: Hlavním cílem tohoto požadavku je rozšířit analytické možnosti mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300, který byl nedávno začleněn do divize elektronické mikroskopie SC-ICYT Univerzity v Cádizu, a to získáním pokročilých držáků vzorků elektronických mikroskopů, jakož i možností snížení pracovního napětí na 60 kV, čímž se rozšíří využití tohoto mikroskopu na materiály citlivé na poškození ozářením, a to za jiných podmínek, než jsou obvyklé v konvenčních mikroskopech. V první řadě se navrhuje získat dvojitě nakloněný držák vakuového transferu, který by umožnil analytickou studii vzorků studovaných za kvazi-situ podmínek po ošetření v kontrolované atmosféře. Navrhuje se také získat komerční držák vzorku, který díky svému designu a velkému intervalu soustružení umožňuje pořízení tomografické série X-EDS k vytvoření kompozičních map ve třech rozměrech. V neposlední řadě je navrženo nastavení 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300. Tento doplněk rozšiřuje možnosti využití mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300 na jiné materiály, technologického významu, vytvoření nové linie výzkumu na naší univerzitě. (Czech) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Hlavním cílem tohoto požadavku je rozšířit analytické možnosti mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300, který byl nedávno začleněn do divize elektronické mikroskopie SC-ICYT Univerzity v Cádizu, a to získáním pokročilých držáků vzorků elektronických mikroskopů, jakož i možností snížení pracovního napětí na 60 kV, čímž se rozšíří využití tohoto mikroskopu na materiály citlivé na poškození ozářením, a to za jiných podmínek, než jsou obvyklé v konvenčních mikroskopech. V první řadě se navrhuje získat dvojitě nakloněný držák vakuového transferu, který by umožnil analytickou studii vzorků studovaných za kvazi-situ podmínek po ošetření v kontrolované atmosféře. Navrhuje se také získat komerční držák vzorku, který díky svému designu a velkému intervalu soustružení umožňuje pořízení tomografické série X-EDS k vytvoření kompozičních map ve třech rozměrech. V neposlední řadě je navrženo nastavení 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300. Tento doplněk rozšiřuje možnosti využití mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300 na jiné materiály, technologického významu, vytvoření nové linie výzkumu na naší univerzitě. (Czech) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
O objetivo central deste pedido é expandir as possibilidades analíticas do Microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300 recentemente incorporado na Divisão de Microscopia Eletrónica do SC-ICYT da Universidade de Cádiz através da aquisição de suportes avançados para amostras de microscopia eletrónica, bem como a possibilidade de reduzir a tensão de funcionamento para 60 kV, alargando assim a utilização deste microscópio a materiais sensíveis a danos por irradiação, em condições diferentes das habituais nos microscópios convencionais. Propõe-se, em primeiro lugar, a aquisição de um porta-amostras de transferência a vácuo de dupla inclinação, o que permitiria o estudo analítico das amostras estudadas em condições quase-situ, após tratamento em atmosfera controlada. Propõe-se também a aquisição de um porta-amostras comercial que, graças ao seu desenho e ao seu grande intervalo de viragem, permite a aquisição de séries tomográficas X-EDS para gerar mapas composicionais em três dimensões. Por fim, propõe-se o alinhamento de 60 kV do microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300. Esta adição alarga as possibilidades de utilização do microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300 a outros materiais, de importância tecnológica, criando uma nova linha de investigação na nossa Universidade. (Portuguese) | |||||||||||||||
| Property / summary: O objetivo central deste pedido é expandir as possibilidades analíticas do Microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300 recentemente incorporado na Divisão de Microscopia Eletrónica do SC-ICYT da Universidade de Cádiz através da aquisição de suportes avançados para amostras de microscopia eletrónica, bem como a possibilidade de reduzir a tensão de funcionamento para 60 kV, alargando assim a utilização deste microscópio a materiais sensíveis a danos por irradiação, em condições diferentes das habituais nos microscópios convencionais. Propõe-se, em primeiro lugar, a aquisição de um porta-amostras de transferência a vácuo de dupla inclinação, o que permitiria o estudo analítico das amostras estudadas em condições quase-situ, após tratamento em atmosfera controlada. Propõe-se também a aquisição de um porta-amostras comercial que, graças ao seu desenho e ao seu grande intervalo de viragem, permite a aquisição de séries tomográficas X-EDS para gerar mapas composicionais em três dimensões. Por fim, propõe-se o alinhamento de 60 kV do microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300. Esta adição alarga as possibilidades de utilização do microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300 a outros materiais, de importância tecnológica, criando uma nova linha de investigação na nossa Universidade. (Portuguese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: O objetivo central deste pedido é expandir as possibilidades analíticas do Microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300 recentemente incorporado na Divisão de Microscopia Eletrónica do SC-ICYT da Universidade de Cádiz através da aquisição de suportes avançados para amostras de microscopia eletrónica, bem como a possibilidade de reduzir a tensão de funcionamento para 60 kV, alargando assim a utilização deste microscópio a materiais sensíveis a danos por irradiação, em condições diferentes das habituais nos microscópios convencionais. Propõe-se, em primeiro lugar, a aquisição de um porta-amostras de transferência a vácuo de dupla inclinação, o que permitiria o estudo analítico das amostras estudadas em condições quase-situ, após tratamento em atmosfera controlada. Propõe-se também a aquisição de um porta-amostras comercial que, graças ao seu desenho e ao seu grande intervalo de viragem, permite a aquisição de séries tomográficas X-EDS para gerar mapas composicionais em três dimensões. Por fim, propõe-se o alinhamento de 60 kV do microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300. Esta adição alarga as possibilidades de utilização do microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300 a outros materiais, de importância tecnológica, criando uma nova linha de investigação na nossa Universidade. (Portuguese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Käesoleva taotluse keskne eesmärk on laiendada FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi analüütilisi võimalusi, mis lisati hiljuti Cádizi ülikooli SC-ICYTi elektroonilise mikroskoopia osakonda, kasutades täiustatud elektroonilise mikroskoopia proovihoidjaid, samuti võimalust vähendada tööpinget 60 kV-ni, laiendades seega selle mikroskoobi kasutamist kiirituskahjustuste suhtes tundlikele materjalidele muudel tingimustel kui tavapärased mikroskoobid. Kõigepealt tehakse ettepanek võtta kasutusele kahekordse kalde vaakumülekande proovi hoidik, mis võimaldaks analüüsida proove, mida on uuritud kvaasisitu tingimustes, pärast töötlemist kontrollitud keskkonnas. Samuti tehakse ettepanek omandada kommertsnäidiste hoidja, mis tänu oma disainile ja suurele pöördeintervallile võimaldab omandada X-EDS tomograafilisi seeriaid, et luua kolmemõõtmelisi kompositsioonikaarte. Lõpuks tehakse ettepanek FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi 60 kV vastavusse viimiseks. See lisandus laiendab võimalusi kasutada FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi teistele materjalidele, mis on tehnoloogiliselt olulised, luues uue teadusliini meie ülikoolis. (Estonian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Käesoleva taotluse keskne eesmärk on laiendada FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi analüütilisi võimalusi, mis lisati hiljuti Cádizi ülikooli SC-ICYTi elektroonilise mikroskoopia osakonda, kasutades täiustatud elektroonilise mikroskoopia proovihoidjaid, samuti võimalust vähendada tööpinget 60 kV-ni, laiendades seega selle mikroskoobi kasutamist kiirituskahjustuste suhtes tundlikele materjalidele muudel tingimustel kui tavapärased mikroskoobid. Kõigepealt tehakse ettepanek võtta kasutusele kahekordse kalde vaakumülekande proovi hoidik, mis võimaldaks analüüsida proove, mida on uuritud kvaasisitu tingimustes, pärast töötlemist kontrollitud keskkonnas. Samuti tehakse ettepanek omandada kommertsnäidiste hoidja, mis tänu oma disainile ja suurele pöördeintervallile võimaldab omandada X-EDS tomograafilisi seeriaid, et luua kolmemõõtmelisi kompositsioonikaarte. Lõpuks tehakse ettepanek FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi 60 kV vastavusse viimiseks. See lisandus laiendab võimalusi kasutada FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi teistele materjalidele, mis on tehnoloogiliselt olulised, luues uue teadusliini meie ülikoolis. (Estonian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Käesoleva taotluse keskne eesmärk on laiendada FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi analüütilisi võimalusi, mis lisati hiljuti Cádizi ülikooli SC-ICYTi elektroonilise mikroskoopia osakonda, kasutades täiustatud elektroonilise mikroskoopia proovihoidjaid, samuti võimalust vähendada tööpinget 60 kV-ni, laiendades seega selle mikroskoobi kasutamist kiirituskahjustuste suhtes tundlikele materjalidele muudel tingimustel kui tavapärased mikroskoobid. Kõigepealt tehakse ettepanek võtta kasutusele kahekordse kalde vaakumülekande proovi hoidik, mis võimaldaks analüüsida proove, mida on uuritud kvaasisitu tingimustes, pärast töötlemist kontrollitud keskkonnas. Samuti tehakse ettepanek omandada kommertsnäidiste hoidja, mis tänu oma disainile ja suurele pöördeintervallile võimaldab omandada X-EDS tomograafilisi seeriaid, et luua kolmemõõtmelisi kompositsioonikaarte. Lõpuks tehakse ettepanek FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi 60 kV vastavusse viimiseks. See lisandus laiendab võimalusi kasutada FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi teistele materjalidele, mis on tehnoloogiliselt olulised, luues uue teadusliini meie ülikoolis. (Estonian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
E kérelem központi célja a Cadizi Egyetem SC-ICYT elektronikus mikroszkópjának elektronikus mikroszkópos részlegébe nemrégiben beépített FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp elemzési lehetőségeinek kiterjesztése fejlett elektronikus mikroszkópos mintatartók beszerzésével, valamint az üzemi feszültség 60 kV-ra való csökkentésének lehetőségével, kiterjesztve ezzel a mikroszkóp használatát a besugárzásra érzékeny anyagokra is, a hagyományos mikroszkópok szokásos feltételeitől eltérő feltételek mellett. Először is egy kettős dőlésű vákuumátviteli mintatartó beszerzését javasoljuk, amely lehetővé tenné a kvázi-situ körülmények között, ellenőrzött légkörben történő kezelést követően vizsgált minták analitikus vizsgálatát. Javasoljuk továbbá egy olyan kereskedelmi mintatulajdonos beszerzését, amely tervezésének és nagy esztergálási intervallumának köszönhetően lehetővé teszi az X-EDS tomográfiai sorozatok beszerzését, hogy három dimenzióban állítson elő összetételi térképeket. Végül az FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp 60 kV-os kiigazítását javasoljuk. Ez a kiegészítés kiterjeszti az FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp használatát más, technológiai jelentőségű anyagokra, új kutatási irányvonalat hozva létre egyetemünkön. (Hungarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: E kérelem központi célja a Cadizi Egyetem SC-ICYT elektronikus mikroszkópjának elektronikus mikroszkópos részlegébe nemrégiben beépített FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp elemzési lehetőségeinek kiterjesztése fejlett elektronikus mikroszkópos mintatartók beszerzésével, valamint az üzemi feszültség 60 kV-ra való csökkentésének lehetőségével, kiterjesztve ezzel a mikroszkóp használatát a besugárzásra érzékeny anyagokra is, a hagyományos mikroszkópok szokásos feltételeitől eltérő feltételek mellett. Először is egy kettős dőlésű vákuumátviteli mintatartó beszerzését javasoljuk, amely lehetővé tenné a kvázi-situ körülmények között, ellenőrzött légkörben történő kezelést követően vizsgált minták analitikus vizsgálatát. Javasoljuk továbbá egy olyan kereskedelmi mintatulajdonos beszerzését, amely tervezésének és nagy esztergálási intervallumának köszönhetően lehetővé teszi az X-EDS tomográfiai sorozatok beszerzését, hogy három dimenzióban állítson elő összetételi térképeket. Végül az FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp 60 kV-os kiigazítását javasoljuk. Ez a kiegészítés kiterjeszti az FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp használatát más, technológiai jelentőségű anyagokra, új kutatási irányvonalat hozva létre egyetemünkön. (Hungarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: E kérelem központi célja a Cadizi Egyetem SC-ICYT elektronikus mikroszkópjának elektronikus mikroszkópos részlegébe nemrégiben beépített FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp elemzési lehetőségeinek kiterjesztése fejlett elektronikus mikroszkópos mintatartók beszerzésével, valamint az üzemi feszültség 60 kV-ra való csökkentésének lehetőségével, kiterjesztve ezzel a mikroszkóp használatát a besugárzásra érzékeny anyagokra is, a hagyományos mikroszkópok szokásos feltételeitől eltérő feltételek mellett. Először is egy kettős dőlésű vákuumátviteli mintatartó beszerzését javasoljuk, amely lehetővé tenné a kvázi-situ körülmények között, ellenőrzött légkörben történő kezelést követően vizsgált minták analitikus vizsgálatát. Javasoljuk továbbá egy olyan kereskedelmi mintatulajdonos beszerzését, amely tervezésének és nagy esztergálási intervallumának köszönhetően lehetővé teszi az X-EDS tomográfiai sorozatok beszerzését, hogy három dimenzióban állítson elő összetételi térképeket. Végül az FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp 60 kV-os kiigazítását javasoljuk. Ez a kiegészítés kiterjeszti az FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp használatát más, technológiai jelentőségű anyagokra, új kutatási irányvonalat hozva létre egyetemünkön. (Hungarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Основната цел на това искане е да се разширят аналитичните възможности на микроскопа FEI TITAN3 Themis 60—300, наскоро включен в отдела за електронна микроскопия на SC-ICYT на Университета в Кадис, чрез придобиването на усъвършенствани държачи за електронни микроскопи, както и възможността за намаляване на работното напрежение до 60 kV, като по този начин се разшири използването на този микроскоп за материали, чувствителни към повреди от облъчване, при условия, различни от обичайните в конвенционалните микроскопи. Предлага се, на първо място, да се придобие държател на пробата за прехвърляне на вакуум с двоен наклон, което би позволило аналитично изследване на пробите, изследвани при квазиситуални условия, след третиране в контролирана атмосфера. Предлага се също така да се придобие притежател на мостри с търговска цел, който благодарение на своя дизайн и на големия си интервал на завъртане позволява придобиването на томографски серии X-EDS, за да се генерират композиционни карти в три измерения. И накрая, предлага се привеждането в съответствие с 60 kV на микроскопа FEI TITAN3 Themis 60—300. Това допълнение разширява възможностите за използване на FEI TITAN3 Themis 60—300 микроскоп за други материали, от технологично значение, създаване на нова линия на изследвания в нашия университет. (Bulgarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Основната цел на това искане е да се разширят аналитичните възможности на микроскопа FEI TITAN3 Themis 60—300, наскоро включен в отдела за електронна микроскопия на SC-ICYT на Университета в Кадис, чрез придобиването на усъвършенствани държачи за електронни микроскопи, както и възможността за намаляване на работното напрежение до 60 kV, като по този начин се разшири използването на този микроскоп за материали, чувствителни към повреди от облъчване, при условия, различни от обичайните в конвенционалните микроскопи. Предлага се, на първо място, да се придобие държател на пробата за прехвърляне на вакуум с двоен наклон, което би позволило аналитично изследване на пробите, изследвани при квазиситуални условия, след третиране в контролирана атмосфера. Предлага се също така да се придобие притежател на мостри с търговска цел, който благодарение на своя дизайн и на големия си интервал на завъртане позволява придобиването на томографски серии X-EDS, за да се генерират композиционни карти в три измерения. И накрая, предлага се привеждането в съответствие с 60 kV на микроскопа FEI TITAN3 Themis 60—300. Това допълнение разширява възможностите за използване на FEI TITAN3 Themis 60—300 микроскоп за други материали, от технологично значение, създаване на нова линия на изследвания в нашия университет. (Bulgarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Основната цел на това искане е да се разширят аналитичните възможности на микроскопа FEI TITAN3 Themis 60—300, наскоро включен в отдела за електронна микроскопия на SC-ICYT на Университета в Кадис, чрез придобиването на усъвършенствани държачи за електронни микроскопи, както и възможността за намаляване на работното напрежение до 60 kV, като по този начин се разшири използването на този микроскоп за материали, чувствителни към повреди от облъчване, при условия, различни от обичайните в конвенционалните микроскопи. Предлага се, на първо място, да се придобие държател на пробата за прехвърляне на вакуум с двоен наклон, което би позволило аналитично изследване на пробите, изследвани при квазиситуални условия, след третиране в контролирана атмосфера. Предлага се също така да се придобие притежател на мостри с търговска цел, който благодарение на своя дизайн и на големия си интервал на завъртане позволява придобиването на томографски серии X-EDS, за да се генерират композиционни карти в три измерения. И накрая, предлага се привеждането в съответствие с 60 kV на микроскопа FEI TITAN3 Themis 60—300. Това допълнение разширява възможностите за използване на FEI TITAN3 Themis 60—300 микроскоп за други материали, от технологично значение, създаване на нова линия на изследвания в нашия университет. (Bulgarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Pagrindinis šio prašymo tikslas – išplėsti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopo, neseniai įvesto į Kadiso universiteto SC-ICYT Elektroninės mikroskopijos skyrių, analitines galimybes įsigyjant pažangius elektroninių mikroskopijos mėginių laikiklius, taip pat galimybę sumažinti darbinę įtampą iki 60 kV, tokiu būdu išplečiant šio mikroskopo naudojimą medžiagoms, kurios yra jautrios švitinimui, kitomis sąlygomis nei įprastos įprastuose mikroskopuose. Visų pirma siūloma įsigyti dvigubo pasvirimo vakuuminio pernešimo mėginio laikiklį, kuris leistų atlikti mėginių, tirtų kvazisitu sąlygomis, analitinį tyrimą po apdorojimo kontroliuojamoje atmosferoje. Taip pat siūloma įsigyti komercinio pavyzdžio laikiklį, kuris dėl savo konstrukcijos ir didelio posūkio intervalo leidžia įsigyti X-EDS tomografines serijas, kad būtų galima sukurti trijų matmenų kompozicinius žemėlapius. Galiausiai siūloma suderinti 60 kV FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopą. Šis papildymas išplečia galimybes naudoti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopą į kitas medžiagas, technologinės svarbos, sukurti naują mokslinių tyrimų liniją mūsų universitete. (Lithuanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Pagrindinis šio prašymo tikslas – išplėsti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopo, neseniai įvesto į Kadiso universiteto SC-ICYT Elektroninės mikroskopijos skyrių, analitines galimybes įsigyjant pažangius elektroninių mikroskopijos mėginių laikiklius, taip pat galimybę sumažinti darbinę įtampą iki 60 kV, tokiu būdu išplečiant šio mikroskopo naudojimą medžiagoms, kurios yra jautrios švitinimui, kitomis sąlygomis nei įprastos įprastuose mikroskopuose. Visų pirma siūloma įsigyti dvigubo pasvirimo vakuuminio pernešimo mėginio laikiklį, kuris leistų atlikti mėginių, tirtų kvazisitu sąlygomis, analitinį tyrimą po apdorojimo kontroliuojamoje atmosferoje. Taip pat siūloma įsigyti komercinio pavyzdžio laikiklį, kuris dėl savo konstrukcijos ir didelio posūkio intervalo leidžia įsigyti X-EDS tomografines serijas, kad būtų galima sukurti trijų matmenų kompozicinius žemėlapius. Galiausiai siūloma suderinti 60 kV FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopą. Šis papildymas išplečia galimybes naudoti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopą į kitas medžiagas, technologinės svarbos, sukurti naują mokslinių tyrimų liniją mūsų universitete. (Lithuanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Pagrindinis šio prašymo tikslas – išplėsti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopo, neseniai įvesto į Kadiso universiteto SC-ICYT Elektroninės mikroskopijos skyrių, analitines galimybes įsigyjant pažangius elektroninių mikroskopijos mėginių laikiklius, taip pat galimybę sumažinti darbinę įtampą iki 60 kV, tokiu būdu išplečiant šio mikroskopo naudojimą medžiagoms, kurios yra jautrios švitinimui, kitomis sąlygomis nei įprastos įprastuose mikroskopuose. Visų pirma siūloma įsigyti dvigubo pasvirimo vakuuminio pernešimo mėginio laikiklį, kuris leistų atlikti mėginių, tirtų kvazisitu sąlygomis, analitinį tyrimą po apdorojimo kontroliuojamoje atmosferoje. Taip pat siūloma įsigyti komercinio pavyzdžio laikiklį, kuris dėl savo konstrukcijos ir didelio posūkio intervalo leidžia įsigyti X-EDS tomografines serijas, kad būtų galima sukurti trijų matmenų kompozicinius žemėlapius. Galiausiai siūloma suderinti 60 kV FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopą. Šis papildymas išplečia galimybes naudoti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopą į kitas medžiagas, technologinės svarbos, sukurti naują mokslinių tyrimų liniją mūsų universitete. (Lithuanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Središnji je cilj ovog zahtjeva proširiti analitičke mogućnosti FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa nedavno ugrađenog u Odjel za elektronsku mikroskopiju SC-ICYT Sveučilišta u Cadizu stjecanjem naprednih držača uzoraka elektroničkih mikroskopskih uzoraka, kao i mogućnošću smanjenja radnog napona na 60 kV, čime se upotreba tog mikroskopa proširuje na materijale osjetljive na oštećenja od zračenja, pod uvjetima koji nisu uobičajeni u konvencionalnim mikroskopom. Predlaže se, prije svega, stjecanje držača uzorka za prijenos vakuuma s dvostrukim nagibom, što bi omogućilo analitičku studiju uzoraka ispitanih u kvazisitu uvjetima, nakon obrade u kontroliranoj atmosferi. Također se predlaže stjecanje komercijalnog držača uzorka koji zahvaljujući svom dizajnu i velikom intervalu okretanja omogućuje stjecanje X-EDS tomografske serije za generiranje kompozicijskih karata u tri dimenzije. Konačno, predlaže se usklađivanje 60 kV mikroskopa FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa. Ovaj dodatak proširuje mogućnosti korištenja FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa na druge materijale, od tehnološkog značaja, stvarajući novu liniju istraživanja na našem sveučilištu. (Croatian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Središnji je cilj ovog zahtjeva proširiti analitičke mogućnosti FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa nedavno ugrađenog u Odjel za elektronsku mikroskopiju SC-ICYT Sveučilišta u Cadizu stjecanjem naprednih držača uzoraka elektroničkih mikroskopskih uzoraka, kao i mogućnošću smanjenja radnog napona na 60 kV, čime se upotreba tog mikroskopa proširuje na materijale osjetljive na oštećenja od zračenja, pod uvjetima koji nisu uobičajeni u konvencionalnim mikroskopom. Predlaže se, prije svega, stjecanje držača uzorka za prijenos vakuuma s dvostrukim nagibom, što bi omogućilo analitičku studiju uzoraka ispitanih u kvazisitu uvjetima, nakon obrade u kontroliranoj atmosferi. Također se predlaže stjecanje komercijalnog držača uzorka koji zahvaljujući svom dizajnu i velikom intervalu okretanja omogućuje stjecanje X-EDS tomografske serije za generiranje kompozicijskih karata u tri dimenzije. Konačno, predlaže se usklađivanje 60 kV mikroskopa FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa. Ovaj dodatak proširuje mogućnosti korištenja FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa na druge materijale, od tehnološkog značaja, stvarajući novu liniju istraživanja na našem sveučilištu. (Croatian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Središnji je cilj ovog zahtjeva proširiti analitičke mogućnosti FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa nedavno ugrađenog u Odjel za elektronsku mikroskopiju SC-ICYT Sveučilišta u Cadizu stjecanjem naprednih držača uzoraka elektroničkih mikroskopskih uzoraka, kao i mogućnošću smanjenja radnog napona na 60 kV, čime se upotreba tog mikroskopa proširuje na materijale osjetljive na oštećenja od zračenja, pod uvjetima koji nisu uobičajeni u konvencionalnim mikroskopom. Predlaže se, prije svega, stjecanje držača uzorka za prijenos vakuuma s dvostrukim nagibom, što bi omogućilo analitičku studiju uzoraka ispitanih u kvazisitu uvjetima, nakon obrade u kontroliranoj atmosferi. Također se predlaže stjecanje komercijalnog držača uzorka koji zahvaljujući svom dizajnu i velikom intervalu okretanja omogućuje stjecanje X-EDS tomografske serije za generiranje kompozicijskih karata u tri dimenzije. Konačno, predlaže se usklađivanje 60 kV mikroskopa FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa. Ovaj dodatak proširuje mogućnosti korištenja FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa na druge materijale, od tehnološkog značaja, stvarajući novu liniju istraživanja na našem sveučilištu. (Croatian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Det centrala syftet med denna begäran är att utöka analysmöjligheterna för FEI TITAN3 Themis 60–300 Microscope nyligen införlivat i Electronic Microscopy Division vid SC-ICYT vid University of Cadiz genom förvärv av avancerade elektroniska mikroskopiprovhållare, samt möjligheten att minska arbetsspänningen till 60 kV, och på så sätt utvidga användningen av detta mikroskop till material som är känsliga för bestrålningsskador, under andra förhållanden än de som är vanliga i konventionella mikroskop. För det första föreslås det att man införskaffar en dubbel tilt vakuumöverföringsprovhållare, vilket skulle möjliggöra en analytisk undersökning av de prover som studerats under kvasi situ-förhållanden, efter behandling i kontrollerad atmosfär. Det föreslås också att en kommersiell provinnehavare ska förvärvas som tack vare sin utformning och sitt stora vändintervall gör det möjligt att förvärva X-EDS-tomografiska serier för att generera kompositionskartor i tre dimensioner. Slutligen föreslås en 60 kV-inriktning av FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskop. Detta tillägg utvidgar möjligheterna att använda FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskop till andra material, av teknisk betydelse, skapa en ny linje av forskning vid vårt universitet. (Swedish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Det centrala syftet med denna begäran är att utöka analysmöjligheterna för FEI TITAN3 Themis 60–300 Microscope nyligen införlivat i Electronic Microscopy Division vid SC-ICYT vid University of Cadiz genom förvärv av avancerade elektroniska mikroskopiprovhållare, samt möjligheten att minska arbetsspänningen till 60 kV, och på så sätt utvidga användningen av detta mikroskop till material som är känsliga för bestrålningsskador, under andra förhållanden än de som är vanliga i konventionella mikroskop. För det första föreslås det att man införskaffar en dubbel tilt vakuumöverföringsprovhållare, vilket skulle möjliggöra en analytisk undersökning av de prover som studerats under kvasi situ-förhållanden, efter behandling i kontrollerad atmosfär. Det föreslås också att en kommersiell provinnehavare ska förvärvas som tack vare sin utformning och sitt stora vändintervall gör det möjligt att förvärva X-EDS-tomografiska serier för att generera kompositionskartor i tre dimensioner. Slutligen föreslås en 60 kV-inriktning av FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskop. Detta tillägg utvidgar möjligheterna att använda FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskop till andra material, av teknisk betydelse, skapa en ny linje av forskning vid vårt universitet. (Swedish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Det centrala syftet med denna begäran är att utöka analysmöjligheterna för FEI TITAN3 Themis 60–300 Microscope nyligen införlivat i Electronic Microscopy Division vid SC-ICYT vid University of Cadiz genom förvärv av avancerade elektroniska mikroskopiprovhållare, samt möjligheten att minska arbetsspänningen till 60 kV, och på så sätt utvidga användningen av detta mikroskop till material som är känsliga för bestrålningsskador, under andra förhållanden än de som är vanliga i konventionella mikroskop. För det första föreslås det att man införskaffar en dubbel tilt vakuumöverföringsprovhållare, vilket skulle möjliggöra en analytisk undersökning av de prover som studerats under kvasi situ-förhållanden, efter behandling i kontrollerad atmosfär. Det föreslås också att en kommersiell provinnehavare ska förvärvas som tack vare sin utformning och sitt stora vändintervall gör det möjligt att förvärva X-EDS-tomografiska serier för att generera kompositionskartor i tre dimensioner. Slutligen föreslås en 60 kV-inriktning av FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskop. Detta tillägg utvidgar möjligheterna att använda FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskop till andra material, av teknisk betydelse, skapa en ny linje av forskning vid vårt universitet. (Swedish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Obiectivul central al acestei cereri este de a extinde posibilitățile analitice ale Microscopului FEI TITAN3 60-300 încorporate recent în Divizia Microscopie Electronică a SC-ICYT a Universității din Cadiz prin achiziționarea de suporturi avansate de microscopie electronică, precum și posibilitatea de a reduce tensiunea de lucru la 60 kV, extinzând astfel utilizarea acestui microscop la materialele sensibile la iradiere, în alte condiții decât cele obișnuite în microscoapele convenționale. Se propune, în primul rând, achiziționarea unui suport de probă cu transfer în vid dublu înclinat, care ar permite studiul analitic al probelor studiate în condiții cvasi-situ, după tratarea în atmosferă controlată. Se propune, de asemenea, achiziționarea unui deținător de eșantion comercial care, datorită designului și intervalului său mare de cotitură, permite achiziționarea de serii tomografice X-EDS pentru a genera hărți compoziționale în trei dimensiuni. În cele din urmă, se propune alinierea de 60 kV a microscopului FEI TITAN3 60-300. Această adăugire extinde posibilitățile de utilizare a microscopului FEI TITAN3 60-300 la alte materiale, de importanță tehnologică, creând o nouă linie de cercetare la Universitatea noastră. (Romanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Obiectivul central al acestei cereri este de a extinde posibilitățile analitice ale Microscopului FEI TITAN3 60-300 încorporate recent în Divizia Microscopie Electronică a SC-ICYT a Universității din Cadiz prin achiziționarea de suporturi avansate de microscopie electronică, precum și posibilitatea de a reduce tensiunea de lucru la 60 kV, extinzând astfel utilizarea acestui microscop la materialele sensibile la iradiere, în alte condiții decât cele obișnuite în microscoapele convenționale. Se propune, în primul rând, achiziționarea unui suport de probă cu transfer în vid dublu înclinat, care ar permite studiul analitic al probelor studiate în condiții cvasi-situ, după tratarea în atmosferă controlată. Se propune, de asemenea, achiziționarea unui deținător de eșantion comercial care, datorită designului și intervalului său mare de cotitură, permite achiziționarea de serii tomografice X-EDS pentru a genera hărți compoziționale în trei dimensiuni. În cele din urmă, se propune alinierea de 60 kV a microscopului FEI TITAN3 60-300. Această adăugire extinde posibilitățile de utilizare a microscopului FEI TITAN3 60-300 la alte materiale, de importanță tehnologică, creând o nouă linie de cercetare la Universitatea noastră. (Romanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Obiectivul central al acestei cereri este de a extinde posibilitățile analitice ale Microscopului FEI TITAN3 60-300 încorporate recent în Divizia Microscopie Electronică a SC-ICYT a Universității din Cadiz prin achiziționarea de suporturi avansate de microscopie electronică, precum și posibilitatea de a reduce tensiunea de lucru la 60 kV, extinzând astfel utilizarea acestui microscop la materialele sensibile la iradiere, în alte condiții decât cele obișnuite în microscoapele convenționale. Se propune, în primul rând, achiziționarea unui suport de probă cu transfer în vid dublu înclinat, care ar permite studiul analitic al probelor studiate în condiții cvasi-situ, după tratarea în atmosferă controlată. Se propune, de asemenea, achiziționarea unui deținător de eșantion comercial care, datorită designului și intervalului său mare de cotitură, permite achiziționarea de serii tomografice X-EDS pentru a genera hărți compoziționale în trei dimensiuni. În cele din urmă, se propune alinierea de 60 kV a microscopului FEI TITAN3 60-300. Această adăugire extinde posibilitățile de utilizare a microscopului FEI TITAN3 60-300 la alte materiale, de importanță tehnologică, creând o nouă linie de cercetare la Universitatea noastră. (Romanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Osrednji cilj te zahteve je razširiti analitične možnosti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa, ki je bil pred kratkim vključen v oddelek za elektronsko mikroskopijo SC-ICYT Univerze v Cadizu, z nakupom naprednih elektronskih nosilcev vzorcev mikroskopije, kot tudi možnost zmanjšanja delovne napetosti na 60 kV, s čimer bi se uporaba tega mikroskopa razširila na materiale, občutljive na poškodbe obsevanja, pod pogoji, ki niso običajni v običajnih mikroskopovih. Najprej se predlaga pridobitev držala vzorca za prenos vzorca z dvojnim nagibom, ki bi omogočil analitično študijo vzorcev, ki so bili preučeni v kvazi situ pogojih, po tretiranju v kontrolirani atmosferi. Predlaga se tudi, da se pridobi imetnik komercialnega vzorca, ki zaradi svoje zasnove in velikega intervala obračanja omogoča pridobitev tomografskih serij X-EDS, da se ustvarijo karte sestave v treh dimenzijah. Predlagana je tudi uskladitev 60 kV FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa. Ta dodatek razširja možnosti uporabe FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa za druge materiale, tehnološkega pomena, ustvarjanje nove linije raziskav na naši univerzi. (Slovenian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Osrednji cilj te zahteve je razširiti analitične možnosti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa, ki je bil pred kratkim vključen v oddelek za elektronsko mikroskopijo SC-ICYT Univerze v Cadizu, z nakupom naprednih elektronskih nosilcev vzorcev mikroskopije, kot tudi možnost zmanjšanja delovne napetosti na 60 kV, s čimer bi se uporaba tega mikroskopa razširila na materiale, občutljive na poškodbe obsevanja, pod pogoji, ki niso običajni v običajnih mikroskopovih. Najprej se predlaga pridobitev držala vzorca za prenos vzorca z dvojnim nagibom, ki bi omogočil analitično študijo vzorcev, ki so bili preučeni v kvazi situ pogojih, po tretiranju v kontrolirani atmosferi. Predlaga se tudi, da se pridobi imetnik komercialnega vzorca, ki zaradi svoje zasnove in velikega intervala obračanja omogoča pridobitev tomografskih serij X-EDS, da se ustvarijo karte sestave v treh dimenzijah. Predlagana je tudi uskladitev 60 kV FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa. Ta dodatek razširja možnosti uporabe FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa za druge materiale, tehnološkega pomena, ustvarjanje nove linije raziskav na naši univerzi. (Slovenian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Osrednji cilj te zahteve je razširiti analitične možnosti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa, ki je bil pred kratkim vključen v oddelek za elektronsko mikroskopijo SC-ICYT Univerze v Cadizu, z nakupom naprednih elektronskih nosilcev vzorcev mikroskopije, kot tudi možnost zmanjšanja delovne napetosti na 60 kV, s čimer bi se uporaba tega mikroskopa razširila na materiale, občutljive na poškodbe obsevanja, pod pogoji, ki niso običajni v običajnih mikroskopovih. Najprej se predlaga pridobitev držala vzorca za prenos vzorca z dvojnim nagibom, ki bi omogočil analitično študijo vzorcev, ki so bili preučeni v kvazi situ pogojih, po tretiranju v kontrolirani atmosferi. Predlaga se tudi, da se pridobi imetnik komercialnega vzorca, ki zaradi svoje zasnove in velikega intervala obračanja omogoča pridobitev tomografskih serij X-EDS, da se ustvarijo karte sestave v treh dimenzijah. Predlagana je tudi uskladitev 60 kV FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa. Ta dodatek razširja možnosti uporabe FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa za druge materiale, tehnološkega pomena, ustvarjanje nove linije raziskav na naši univerzi. (Slovenian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Głównym celem niniejszego wniosku jest rozszerzenie możliwości analitycznych mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300 włączonego niedawno do Wydziału Mikskopii Elektronicznej SC-ICYT Uniwersytetu w Kadyzie poprzez nabycie zaawansowanych uchwytów do mikroskopów elektronicznych, a także możliwość zmniejszenia napięcia roboczego do 60 kV, rozszerzając w ten sposób zastosowanie tego mikroskopu na materiały wrażliwe na uszkodzenia napromieniowania, w warunkach innych niż te, które są zwykle stosowane w konwencjonalnych mikroskopach. Proponuje się przede wszystkim uzyskanie podwójnego nachylenia uchwytu na próbkę transferową próżniową, co umożliwiłoby badanie analityczne próbek badanych w warunkach quasi-situ, po obróbce w kontrolowanej atmosferze. Proponuje się również nabycie komercyjnego posiadacza próbki, który dzięki swojemu projektowi i dużemu interwałowi skrętu umożliwia nabycie serii tomograficznych X-EDS w celu generowania map kompozycji w trzech wymiarach. Ponadto proponuje się ustawienie 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300. Dodatek ten rozszerza możliwości wykorzystania mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300 na inne materiały o znaczeniu technologicznym, tworząc nową linię badań na naszym Uniwersytecie. (Polish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Głównym celem niniejszego wniosku jest rozszerzenie możliwości analitycznych mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300 włączonego niedawno do Wydziału Mikskopii Elektronicznej SC-ICYT Uniwersytetu w Kadyzie poprzez nabycie zaawansowanych uchwytów do mikroskopów elektronicznych, a także możliwość zmniejszenia napięcia roboczego do 60 kV, rozszerzając w ten sposób zastosowanie tego mikroskopu na materiały wrażliwe na uszkodzenia napromieniowania, w warunkach innych niż te, które są zwykle stosowane w konwencjonalnych mikroskopach. Proponuje się przede wszystkim uzyskanie podwójnego nachylenia uchwytu na próbkę transferową próżniową, co umożliwiłoby badanie analityczne próbek badanych w warunkach quasi-situ, po obróbce w kontrolowanej atmosferze. Proponuje się również nabycie komercyjnego posiadacza próbki, który dzięki swojemu projektowi i dużemu interwałowi skrętu umożliwia nabycie serii tomograficznych X-EDS w celu generowania map kompozycji w trzech wymiarach. Ponadto proponuje się ustawienie 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300. Dodatek ten rozszerza możliwości wykorzystania mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300 na inne materiały o znaczeniu technologicznym, tworząc nową linię badań na naszym Uniwersytecie. (Polish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Głównym celem niniejszego wniosku jest rozszerzenie możliwości analitycznych mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300 włączonego niedawno do Wydziału Mikskopii Elektronicznej SC-ICYT Uniwersytetu w Kadyzie poprzez nabycie zaawansowanych uchwytów do mikroskopów elektronicznych, a także możliwość zmniejszenia napięcia roboczego do 60 kV, rozszerzając w ten sposób zastosowanie tego mikroskopu na materiały wrażliwe na uszkodzenia napromieniowania, w warunkach innych niż te, które są zwykle stosowane w konwencjonalnych mikroskopach. Proponuje się przede wszystkim uzyskanie podwójnego nachylenia uchwytu na próbkę transferową próżniową, co umożliwiłoby badanie analityczne próbek badanych w warunkach quasi-situ, po obróbce w kontrolowanej atmosferze. Proponuje się również nabycie komercyjnego posiadacza próbki, który dzięki swojemu projektowi i dużemu interwałowi skrętu umożliwia nabycie serii tomograficznych X-EDS w celu generowania map kompozycji w trzech wymiarach. Ponadto proponuje się ustawienie 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300. Dodatek ten rozszerza możliwości wykorzystania mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300 na inne materiały o znaczeniu technologicznym, tworząc nową linię badań na naszym Uniwersytecie. (Polish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
Puerto Real | |||||||||||||||
| Property / location (string): Puerto Real / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / postal code | |||||||||||||||
11510 | |||||||||||||||
| Property / postal code: 11510 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Cádiz Province / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Cádiz Province / qualifier | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: Puerto Real / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: Puerto Real / qualifier | |||||||||||||||
| Property / coordinate location | |||||||||||||||
36°31'37.24"N, 6°11'4.70"W
| |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 36°31'37.24"N, 6°11'4.70"W / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 36°31'37.24"N, 6°11'4.70"W / qualifier | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
209,540.17 Euro
| |||||||||||||||
| Property / budget: 209,540.17 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | |||||||||||||||
168,805.56 Euro
| |||||||||||||||
| Property / EU contribution: 168,805.56 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
80.56 percent
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 80.56 percent / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / date of last update | |||||||||||||||
20 December 2023
| |||||||||||||||
| Property / date of last update: 20 December 2023 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
Latest revision as of 10:50, 9 October 2024
Project Q3180412 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Equipment for near-situ electronic microscopy and high-resolution low-voltage Analytical Tomography. |
Project Q3180412 in Spain |
Statements
168,805.56 Euro
0 references
209,540.17 Euro
0 references
80.56 percent
0 references
1 January 2016
0 references
31 December 2018
0 references
UNIVERSIDAD DE CADIZ
0 references
11510
0 references
El objetivo central de esta solicitud es expandir las posibilidades analíticas del Microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 recientemente incorporado a la División de Microscopía Electrónica de los SC-ICYT de la Universidad de Cádiz mediante la adquisición de porta-muestras avanzados de microscopía electrónica, así como mediante la posibilidad de reducir el voltaje de trabajo a 60kV, extendiendo así el uso de este microscopio a materiales sensibles a daños por irradiación, en condiciones distintas a las habituales en microscopios convencionales. Se propone, en primer lugar, la adquisición de un portamuestras de doble inclinación de transferencia en vacío, que permitiría el estudio analítico de las muestras estudiadas en condiciones cuasi in-situ, tras un tratamiento en atmósfera controlada. Se propone igualmente la adquisición de un porta-muestras comercial que permita, gracias a su diseño y su gran intervalo de giro, la adquisición de series tomográficas en modo X-EDS para generar mapas composicionales en tres dimensiones. Finalmente se propone la incorporación del alineamiento a 60 kV del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300. A través de esta incorporación se amplía las posibilidades de uso del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 a otros materiales, de importancia tecnológica, creándose una línea nueva de investigación en nuestra Universidad. (Spanish)
0 references
The central objective of this request is to expand the analytical possibilities of the FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscope recently incorporated into the Electronic Microscopy Division of the SC-ICYT of the University of Cadiz through the acquisition of advanced electronic microscopy sample holders, as well as the possibility of reducing the working voltage to 60 kV, thus extending the use of this microscope to materials sensitive to irradiation damage, under conditions other than those usual in conventional microscopes. It is proposed, first of all, the acquisition of a double tilt vacuum transfer sample holder, which would allow the analytical study of the samples studied under quasi-situ conditions, after treatment in controlled atmosphere. It is also proposed to acquire a commercial sample holder that, thanks to its design and its large turning interval, allows the acquisition of X-EDS tomographic series to generate compositional maps in three dimensions. Finally, the 60 kV alignment of the FEI TITAN3 Themis 60-300 microscope is proposed. This addition extends the possibilities of using the FEI TITAN3 Themis 60-300 microscope to other materials, of technological importance, creating a new line of research at our University. (English)
12 October 2021
0.4079638280489937
0 references
L’objectif central de cette demande est d’élargir les possibilités d’analyse du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 récemment intégré à la division Microscopie électronique du SC-ICYT de l’Université de Cadiz par l’acquisition de porte-échantillons de microscopie électronique avancés, ainsi que la possibilité de réduire la tension de travail à 60 kV, étendant ainsi l’utilisation de ce microscope à des matériaux sensibles aux dommages par irradiation, dans des conditions autres que celles habituelles dans les microscopes conventionnels. Il est proposé, tout d’abord, d’acquérir un porte-échantillon de transfert sous vide à double inclinaison, qui permettrait l’étude analytique des échantillons étudiés dans des conditions quasi-situes, après traitement en atmosphère contrôlée. Il est également proposé d’acquérir un détenteur d’échantillons commerciaux qui, grâce à sa conception et à son intervalle de rotation important, permet l’acquisition de séries tomographiques X-EDS pour générer des cartes compositionnelles en trois dimensions. Enfin, l’alignement de 60 kV du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 est proposé. Cet ajout élargit les possibilités d’utiliser le microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 à d’autres matériaux d’importance technologique, créant ainsi une nouvelle ligne de recherche à l’Université. (French)
4 December 2021
0 references
Zentrales Ziel dieses Antrags ist es, die Analysemöglichkeiten des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops, das kürzlich in die Electronic Microscopy Division der SC-ICYT der Universität Cadiz integriert wurde, durch den Erwerb von hochentwickelten elektronischen Mikroskopieprobenhaltern sowie die Möglichkeit, die Arbeitsspannung auf 60 kV zu reduzieren, zu erweitern und so die Verwendung dieses Mikroskops auf Materialien auszuweiten, die für Bestrahlungsschäden empfindlich sind, unter anderen Bedingungen als in herkömmlichen Mikroskopen üblich. Es wird zunächst vorgeschlagen, einen doppelten Neigungsvakuumtransfer Probenhalter zu erwerben, der die analytische Untersuchung der unter Quasi-Situ-Bedingungen untersuchten Proben nach Behandlung in kontrollierter Atmosphäre ermöglichen würde. Es wird auch vorgeschlagen, einen kommerziellen Probenhalter zu erwerben, der dank seines Designs und seines großen Drehintervalls den Erwerb von X-EDS-Tomographie-Serien ermöglicht, um kompositorische Karten in drei Dimensionen zu erzeugen. Schließlich wird die 60 kV Ausrichtung des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops vorgeschlagen. Diese Ergänzung erweitert die Möglichkeiten des Einsatzes des FEI TITAN3 Themis 60-300 Mikroskops auf andere Materialien von technologischer Bedeutung und schafft eine neue Forschungslinie an unserer Universität. (German)
9 December 2021
0 references
Het centrale doel van dit verzoek is het uitbreiden van de analytische mogelijkheden van de FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscoop die onlangs is opgenomen in de afdeling Elektronische Microscopie van het SC-ICYT van de Universiteit van Cadiz door de verwerving van geavanceerde elektronische microscopiemonsterhouders, evenals de mogelijkheid om de werkspanning te verminderen tot 60 kV, waardoor het gebruik van deze microscoop wordt uitgebreid tot materialen die gevoelig zijn voor bestralingsschade, onder andere omstandigheden dan gebruikelijk in conventionele microscopen. In de eerste plaats wordt voorgesteld een houder van een dubbelkantel vacuümoverbrengingsmonster te verkrijgen, die het mogelijk zou maken de monsters die onder quasi-situ-omstandigheden zijn onderzocht, na behandeling in gecontroleerde atmosfeer te analyseren. Er wordt ook voorgesteld om een commerciële monsterhouder te verwerven die, dankzij zijn ontwerp en zijn grote draaiinterval, de overname van X-EDS-tomografische series mogelijk maakt om compositiekaarten in drie dimensies te genereren. Ten slotte wordt de 60 kV-uitlijning van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop voorgesteld. Deze toevoeging breidt de mogelijkheden van het gebruik van de FEI TITAN3 Themis 60-300 microscoop uit naar andere materialen, van technologisch belang, het creëren van een nieuwe lijn van onderzoek aan onze universiteit. (Dutch)
17 December 2021
0 references
L'obiettivo centrale della presente richiesta è quello di ampliare le possibilità analitiche del Microscopio Temis 60-300 FEI TITAN3 recentemente incorporato nella Divisione Microscopia Elettronica dello SC-ICYT dell'Università di Cadice attraverso l'acquisizione di portacampioni elettronici avanzati di microscopia, nonché la possibilità di ridurre la tensione di esercizio a 60 kV, estendendo così l'uso di questo microscopio a materiali sensibili ai danni da irradiazione, in condizioni diverse da quelle usuali nei microscopi convenzionali. Si propone, in primo luogo, l'acquisizione di un portacampione sottovuoto a doppio tilt, che consentirebbe lo studio analitico dei campioni studiati in condizioni quasi situ, dopo il trattamento in atmosfera controllata. Si propone inoltre di acquisire un portacampione commerciale che, grazie al suo design e al suo ampio intervallo di tornitura, consente l'acquisizione di serie tomografiche X-EDS per generare mappe compositive in tre dimensioni. Infine, si propone l'allineamento a 60 kV del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300. Questa aggiunta estende le possibilità di utilizzare il microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 ad altri materiali, di importanza tecnologica, creando una nuova linea di ricerca presso la nostra Università. (Italian)
16 January 2022
0 references
Κεντρικός στόχος αυτού του αιτήματος είναι η επέκταση των αναλυτικών δυνατοτήτων του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300 που πρόσφατα ενσωματώθηκε στο Τμήμα Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας του SC-ICYT του Πανεπιστημίου του Cadiz μέσω της απόκτησης προηγμένων ηλεκτρονικών κατόχων μικροσκοπίων, καθώς και της δυνατότητας μείωσης της τάσης λειτουργίας σε 60 kV, επεκτείνοντας έτσι τη χρήση του μικροσκοπίου σε υλικά ευαίσθητα σε βλάβες από την ακτινοβολία, υπό συνθήκες διαφορετικές από τις συνήθεις στα συμβατικά μικροσκόπια. Προτείνεται, καταρχάς, η απόκτηση υποδοχέα δείγματος μεταφοράς κενού διπλής κλίσης, η οποία θα επιτρέψει την αναλυτική μελέτη των δειγμάτων που μελετήθηκαν υπό οιονεί επιτόπιες συνθήκες, μετά από επεξεργασία σε ελεγχόμενη ατμόσφαιρα. Προτείνεται επίσης να αποκτηθεί εμπορικός κάτοχος δείγματος ο οποίος, χάρη στον σχεδιασμό του και το μεγάλο διάστημα στροφής του, επιτρέπει την απόκτηση τομογραφικών σειρών X-EDS για τη δημιουργία χαρτών σύνθεσης σε τρεις διαστάσεις. Τέλος, προτείνεται η ευθυγράμμιση 60 kV του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300. Η προσθήκη αυτή επεκτείνει τις δυνατότητες χρήσης του μικροσκοπίου FEI TITAN3 Themis 60-300 σε άλλα υλικά, τεχνολογικής σημασίας, δημιουργώντας μια νέα γραμμή έρευνας στο Πανεπιστήμιο μας. (Greek)
18 August 2022
0 references
Det centrale formål med denne anmodning er at udvide de analytiske muligheder for FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscope, der for nylig blev indarbejdet i den elektroniske mikroskopiafdeling af SC-ICYT ved University of Cadiz gennem erhvervelse af avancerede elektroniske mikroskopiprøveholdere, samt muligheden for at reducere arbejdsspændingen til 60 kV og dermed udvide anvendelsen af dette mikroskop til materialer, der er følsomme over for bestrålingsskader, under andre betingelser end dem, der normalt anvendes i konventionelle mikroskoper. Det foreslås først og fremmest at erhverve en indehaver af en dobbelt vippe-vakuumoverførselsprøve, hvilket vil gøre det muligt at foretage en analytisk undersøgelse af de undersøgte prøver under kvasi-situ-betingelser efter behandling i kontrolleret atmosfære. Det foreslås også at erhverve en kommerciel stikprøveindehaver, der takket være sin udformning og det store drejeinterval gør det muligt at erhverve X-EDS-tomografiske serier til at generere kompositionskort i tre dimensioner. Endelig foreslås 60 kV justering af FEI TITAN3 Themis 60-300 mikroskop. Denne tilføjelse udvider mulighederne for at bruge FEI TITAN3 Themis 60-300 mikroskop til andre materialer, af teknologisk betydning, skabe en ny linje af forskning på vores universitet. (Danish)
18 August 2022
0 references
Pyynnön keskeisenä tavoitteena on laajentaa FEI TITAN3 Themis 60–300 -mikroskoopin analyyttisiä mahdollisuuksia, jotka on äskettäin sisällytetty Cadizin yliopiston SC-ICYT:n elektroniseen mikroskopiointiosastoon hankkimalla kehittyneitä elektronisia mikroskopioita, sekä mahdollisuutta vähentää käyttöjännite 60 kV:iin, jolloin mikroskoopin käyttö laajennetaan säteilytysvaurioille herkkiin materiaaleihin muissa kuin tavanomaisissa mikroskoopioissa tavanomaisissa olosuhteissa. Ensinnäkin ehdotetaan, että hankittaisiin kaksoiskaltevuustyhjiönäytteen pidike, joka mahdollistaisi kvasisitu-olosuhteissa tutkittujen näytteiden analyyttisen tutkimuksen kontrolloidussa ilmakehässä käsittelyn jälkeen. Lisäksi ehdotetaan, että hankitaan kaupallinen näytteenhaltija, joka rakenteensa ja suuren kääntymisvälinsä ansiosta mahdollistaa X-EDS-tomografisten sarjojen hankinnan koostumuksen karttojen tuottamiseksi kolmessa ulottuvuudessa. Lopuksi ehdotetaan FEI TITAN3 Themis 60–300 -mikroskoopin 60 kV:n yhdenmukaistamista. Tämä lisäys laajentaa mahdollisuuksia käyttää FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskooppi muihin materiaaleihin, teknologisen merkityksen, luoda uuden linjan tutkimusta yliopistossamme. (Finnish)
18 August 2022
0 references
L-għan ċentrali ta’ din it-talba huwa li tespandi l-possibbiltajiet analitiċi tal-FEI TITAN3 Themis 60–300 Mikroskopju reċentement inkorporat fid-Diviżjoni tal-Mikroskopija Elettronika tal-SC-ICYT tal-Università ta’ Cadiz permezz tal-akkwist ta’ detenturi ta’ kampjuni elettroniċi avvanzati ta’ mikroskopija, kif ukoll il-possibbiltà li jitnaqqas il-vultaġġ operattiv għal 60 kV, u b’hekk jiġi estiż l-użu ta’ dan il-mikroskopju għal materjali sensittivi għall-ħsara mill-irradjazzjoni, taħt kundizzjonijiet għajr dawk tas-soltu f’mikroskopji konvenzjonali. Huwa propost, l-ewwel nett, l-akkwist ta’ kontenitur tal-kampjun bi trasferiment ta’ vakwu doppju, li jippermetti l-istudju analitiku tal-kampjuni studjati f’kundizzjonijiet kważi situ, wara trattament f’atmosfera kkontrollata. Huwa propost ukoll li jinkiseb detentur ta’ kampjun kummerċjali li, bis-saħħa tad-disinn tiegħu u l-intervall kbir ta’ tidwir tiegħu, jippermetti l-akkwist ta’ serje tomgrafika X-EDS biex jiġu ġġenerati mapep kompożizzjonali fi tliet dimensjonijiet. Fl-aħħar nett, qed jiġi propost l-allinjament ta’ 60 kV tal-mikroskopju tal-FEI TITAN3 Themis 60–300. Din iż-żieda testendi l-possibbiltajiet ta ‘użu tal-FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopju għal materjali oħra, ta’ importanza teknoloġika, ħolqien ta ‘linja ġdida ta’ riċerka fl-Università tagħna. (Maltese)
18 August 2022
0 references
Šā pieprasījuma galvenais mērķis ir paplašināt FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa analītiskās iespējas, kas nesen iekļautas Kadisas Universitātes SC-ICYT SC-ICYT Elektroniskās mikroskopijas nodaļā, iegādājoties modernus elektroniskās mikroskopijas paraugu turētājus, kā arī iespēju samazināt darba spriegumu līdz 60 kV, tādējādi paplašinot šā mikroskopa izmantošanu materiāliem, kas ir jutīgi pret apstarošanas bojājumiem, apstākļos, kas atšķiras no parastajiem mikroskopiem. Vispirms tiek ierosināts iegūt dubultu slīpuma vakuuma pārneses parauga turētāju, kas ļautu veikt analītisku pētījumu par kvazi-situ apstākļos pētītajiem paraugiem pēc apstrādes kontrolētā atmosfērā. Ir arī ierosināts iegādāties komerciālo paraugu turētāju, kas, pateicoties tā konstrukcijai un lielajam pagrieziena intervālam, ļauj iegūt X-EDS tomogrāfiskās sērijas, lai radītu kompozīciju kartes trīs dimensijās. Visbeidzot, tiek ierosināts FEI TITAN3 TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa 60 kV izlīdzināšana. Šis papildinājums paplašina iespējas, izmantojot FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopu uz citiem materiāliem, tehnoloģiskā nozīme, radot jaunu līniju pētniecības mūsu universitātē. (Latvian)
18 August 2022
0 references
Ústredným cieľom tejto žiadosti je rozšíriť analytické možnosti FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopov, ktoré boli nedávno začlenené do divízie elektronickej mikroskopie SC-ICYT Cádizskej univerzity prostredníctvom získania pokročilých držiakov vzoriek elektronickej mikroskopie, ako aj možnosti zníženia pracovného napätia na 60 kV, čím sa rozšíri používanie tohto mikroskopu na materiály citlivé na poškodenie ožiarenia za iných podmienok, ako sú bežné v bežných mikroskopoch. V prvom rade sa navrhuje získanie dvojitého držiaka vzorky na prenos vákua, ktorý by umožnil analytickú štúdiu vzoriek skúmaných v podmienkach kvázi situ po ošetrení v kontrolovanej atmosfére. Navrhuje sa tiež získať komerčný držiteľ vzorky, ktorý vďaka svojmu dizajnu a veľkému intervalu otáčania umožňuje akvizíciu X-EDS tomografickej série na vytvorenie kompozičných máp v troch rozmeroch. Napokon sa navrhuje nastavenie 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60 – 300. Tento dodatok rozširuje možnosti použitia FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskop na iné materiály, technologický význam, vytvorenie nového radu výskumu na našej univerzite. (Slovak)
18 August 2022
0 references
Is é cuspóir lárnach an iarratais seo cur le féidearthachtaí anailíseacha an FEI TITAN3 Themis 60-300 Micreascópacht a ionchorpraíodh le déanaí isteach sa Rannán Micreascópachta Leictreonaí de chuid SC-ICYT Ollscoil Cadiz trí shealbhóirí samplacha micreascópachta leictreonacha ardleibhéil a fháil, chomh maith leis an bhféidearthacht an voltas oibre a laghdú go 60 kV, rud a leathnóidh úsáid an mhicreascóp seo d’ábhair atá íogair do dhamáiste ionradaíochta, faoi choinníollacha seachas iad siúd is gnách i micreascóip thraidisiúnta. Tá sé beartaithe, ar an gcéad dul síos, sealbhóir sampla aistrithe folúis dúbailte a fháil, rud a d’fhágfadh go bhféadfaí staidéar anailíseach a dhéanamh ar na samplaí a ndearnadh staidéar orthu faoi choinníollacha quasi-situ, tar éis cóireála in atmaisféar rialaithe. Tá sé beartaithe freisin sealbhóir sampla tráchtála a fháil a cheadaíonn, a bhuíochas dá dhearadh agus dá eatramh casta mór, sraith tomagrafach X-EDS a fháil chun léarscáileanna cumadóireachta a ghiniúint i dtrí thoise. Ar deireadh, moltar ailíniú 60 kV ar an micreascóp FEI TITAN3 Themis 60-300. Síneann an Chomh maith leis na féidearthachtaí a bhaineann úsáid a bhaint as an TITAN3 FEI Themis 60-300 micreascóp le hábhair eile, tábhacht teicneolaíochta, a chruthú líne nua taighde ag ár n-Ollscoil. (Irish)
18 August 2022
0 references
Hlavním cílem tohoto požadavku je rozšířit analytické možnosti mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300, který byl nedávno začleněn do divize elektronické mikroskopie SC-ICYT Univerzity v Cádizu, a to získáním pokročilých držáků vzorků elektronických mikroskopů, jakož i možností snížení pracovního napětí na 60 kV, čímž se rozšíří využití tohoto mikroskopu na materiály citlivé na poškození ozářením, a to za jiných podmínek, než jsou obvyklé v konvenčních mikroskopech. V první řadě se navrhuje získat dvojitě nakloněný držák vakuového transferu, který by umožnil analytickou studii vzorků studovaných za kvazi-situ podmínek po ošetření v kontrolované atmosféře. Navrhuje se také získat komerční držák vzorku, který díky svému designu a velkému intervalu soustružení umožňuje pořízení tomografické série X-EDS k vytvoření kompozičních map ve třech rozměrech. V neposlední řadě je navrženo nastavení 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300. Tento doplněk rozšiřuje možnosti využití mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60–300 na jiné materiály, technologického významu, vytvoření nové linie výzkumu na naší univerzitě. (Czech)
18 August 2022
0 references
O objetivo central deste pedido é expandir as possibilidades analíticas do Microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300 recentemente incorporado na Divisão de Microscopia Eletrónica do SC-ICYT da Universidade de Cádiz através da aquisição de suportes avançados para amostras de microscopia eletrónica, bem como a possibilidade de reduzir a tensão de funcionamento para 60 kV, alargando assim a utilização deste microscópio a materiais sensíveis a danos por irradiação, em condições diferentes das habituais nos microscópios convencionais. Propõe-se, em primeiro lugar, a aquisição de um porta-amostras de transferência a vácuo de dupla inclinação, o que permitiria o estudo analítico das amostras estudadas em condições quase-situ, após tratamento em atmosfera controlada. Propõe-se também a aquisição de um porta-amostras comercial que, graças ao seu desenho e ao seu grande intervalo de viragem, permite a aquisição de séries tomográficas X-EDS para gerar mapas composicionais em três dimensões. Por fim, propõe-se o alinhamento de 60 kV do microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300. Esta adição alarga as possibilidades de utilização do microscópio FEI TITAN3 Themis 60-300 a outros materiais, de importância tecnológica, criando uma nova linha de investigação na nossa Universidade. (Portuguese)
18 August 2022
0 references
Käesoleva taotluse keskne eesmärk on laiendada FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi analüütilisi võimalusi, mis lisati hiljuti Cádizi ülikooli SC-ICYTi elektroonilise mikroskoopia osakonda, kasutades täiustatud elektroonilise mikroskoopia proovihoidjaid, samuti võimalust vähendada tööpinget 60 kV-ni, laiendades seega selle mikroskoobi kasutamist kiirituskahjustuste suhtes tundlikele materjalidele muudel tingimustel kui tavapärased mikroskoobid. Kõigepealt tehakse ettepanek võtta kasutusele kahekordse kalde vaakumülekande proovi hoidik, mis võimaldaks analüüsida proove, mida on uuritud kvaasisitu tingimustes, pärast töötlemist kontrollitud keskkonnas. Samuti tehakse ettepanek omandada kommertsnäidiste hoidja, mis tänu oma disainile ja suurele pöördeintervallile võimaldab omandada X-EDS tomograafilisi seeriaid, et luua kolmemõõtmelisi kompositsioonikaarte. Lõpuks tehakse ettepanek FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi 60 kV vastavusse viimiseks. See lisandus laiendab võimalusi kasutada FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskoobi teistele materjalidele, mis on tehnoloogiliselt olulised, luues uue teadusliini meie ülikoolis. (Estonian)
18 August 2022
0 references
E kérelem központi célja a Cadizi Egyetem SC-ICYT elektronikus mikroszkópjának elektronikus mikroszkópos részlegébe nemrégiben beépített FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp elemzési lehetőségeinek kiterjesztése fejlett elektronikus mikroszkópos mintatartók beszerzésével, valamint az üzemi feszültség 60 kV-ra való csökkentésének lehetőségével, kiterjesztve ezzel a mikroszkóp használatát a besugárzásra érzékeny anyagokra is, a hagyományos mikroszkópok szokásos feltételeitől eltérő feltételek mellett. Először is egy kettős dőlésű vákuumátviteli mintatartó beszerzését javasoljuk, amely lehetővé tenné a kvázi-situ körülmények között, ellenőrzött légkörben történő kezelést követően vizsgált minták analitikus vizsgálatát. Javasoljuk továbbá egy olyan kereskedelmi mintatulajdonos beszerzését, amely tervezésének és nagy esztergálási intervallumának köszönhetően lehetővé teszi az X-EDS tomográfiai sorozatok beszerzését, hogy három dimenzióban állítson elő összetételi térképeket. Végül az FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp 60 kV-os kiigazítását javasoljuk. Ez a kiegészítés kiterjeszti az FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroszkóp használatát más, technológiai jelentőségű anyagokra, új kutatási irányvonalat hozva létre egyetemünkön. (Hungarian)
18 August 2022
0 references
Основната цел на това искане е да се разширят аналитичните възможности на микроскопа FEI TITAN3 Themis 60—300, наскоро включен в отдела за електронна микроскопия на SC-ICYT на Университета в Кадис, чрез придобиването на усъвършенствани държачи за електронни микроскопи, както и възможността за намаляване на работното напрежение до 60 kV, като по този начин се разшири използването на този микроскоп за материали, чувствителни към повреди от облъчване, при условия, различни от обичайните в конвенционалните микроскопи. Предлага се, на първо място, да се придобие държател на пробата за прехвърляне на вакуум с двоен наклон, което би позволило аналитично изследване на пробите, изследвани при квазиситуални условия, след третиране в контролирана атмосфера. Предлага се също така да се придобие притежател на мостри с търговска цел, който благодарение на своя дизайн и на големия си интервал на завъртане позволява придобиването на томографски серии X-EDS, за да се генерират композиционни карти в три измерения. И накрая, предлага се привеждането в съответствие с 60 kV на микроскопа FEI TITAN3 Themis 60—300. Това допълнение разширява възможностите за използване на FEI TITAN3 Themis 60—300 микроскоп за други материали, от технологично значение, създаване на нова линия на изследвания в нашия университет. (Bulgarian)
18 August 2022
0 references
Pagrindinis šio prašymo tikslas – išplėsti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopo, neseniai įvesto į Kadiso universiteto SC-ICYT Elektroninės mikroskopijos skyrių, analitines galimybes įsigyjant pažangius elektroninių mikroskopijos mėginių laikiklius, taip pat galimybę sumažinti darbinę įtampą iki 60 kV, tokiu būdu išplečiant šio mikroskopo naudojimą medžiagoms, kurios yra jautrios švitinimui, kitomis sąlygomis nei įprastos įprastuose mikroskopuose. Visų pirma siūloma įsigyti dvigubo pasvirimo vakuuminio pernešimo mėginio laikiklį, kuris leistų atlikti mėginių, tirtų kvazisitu sąlygomis, analitinį tyrimą po apdorojimo kontroliuojamoje atmosferoje. Taip pat siūloma įsigyti komercinio pavyzdžio laikiklį, kuris dėl savo konstrukcijos ir didelio posūkio intervalo leidžia įsigyti X-EDS tomografines serijas, kad būtų galima sukurti trijų matmenų kompozicinius žemėlapius. Galiausiai siūloma suderinti 60 kV FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopą. Šis papildymas išplečia galimybes naudoti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopą į kitas medžiagas, technologinės svarbos, sukurti naują mokslinių tyrimų liniją mūsų universitete. (Lithuanian)
18 August 2022
0 references
Središnji je cilj ovog zahtjeva proširiti analitičke mogućnosti FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa nedavno ugrađenog u Odjel za elektronsku mikroskopiju SC-ICYT Sveučilišta u Cadizu stjecanjem naprednih držača uzoraka elektroničkih mikroskopskih uzoraka, kao i mogućnošću smanjenja radnog napona na 60 kV, čime se upotreba tog mikroskopa proširuje na materijale osjetljive na oštećenja od zračenja, pod uvjetima koji nisu uobičajeni u konvencionalnim mikroskopom. Predlaže se, prije svega, stjecanje držača uzorka za prijenos vakuuma s dvostrukim nagibom, što bi omogućilo analitičku studiju uzoraka ispitanih u kvazisitu uvjetima, nakon obrade u kontroliranoj atmosferi. Također se predlaže stjecanje komercijalnog držača uzorka koji zahvaljujući svom dizajnu i velikom intervalu okretanja omogućuje stjecanje X-EDS tomografske serije za generiranje kompozicijskih karata u tri dimenzije. Konačno, predlaže se usklađivanje 60 kV mikroskopa FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa. Ovaj dodatak proširuje mogućnosti korištenja FEI TITAN3 Themis 60 – 300 mikroskopa na druge materijale, od tehnološkog značaja, stvarajući novu liniju istraživanja na našem sveučilištu. (Croatian)
18 August 2022
0 references
Det centrala syftet med denna begäran är att utöka analysmöjligheterna för FEI TITAN3 Themis 60–300 Microscope nyligen införlivat i Electronic Microscopy Division vid SC-ICYT vid University of Cadiz genom förvärv av avancerade elektroniska mikroskopiprovhållare, samt möjligheten att minska arbetsspänningen till 60 kV, och på så sätt utvidga användningen av detta mikroskop till material som är känsliga för bestrålningsskador, under andra förhållanden än de som är vanliga i konventionella mikroskop. För det första föreslås det att man införskaffar en dubbel tilt vakuumöverföringsprovhållare, vilket skulle möjliggöra en analytisk undersökning av de prover som studerats under kvasi situ-förhållanden, efter behandling i kontrollerad atmosfär. Det föreslås också att en kommersiell provinnehavare ska förvärvas som tack vare sin utformning och sitt stora vändintervall gör det möjligt att förvärva X-EDS-tomografiska serier för att generera kompositionskartor i tre dimensioner. Slutligen föreslås en 60 kV-inriktning av FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskop. Detta tillägg utvidgar möjligheterna att använda FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskop till andra material, av teknisk betydelse, skapa en ny linje av forskning vid vårt universitet. (Swedish)
18 August 2022
0 references
Obiectivul central al acestei cereri este de a extinde posibilitățile analitice ale Microscopului FEI TITAN3 60-300 încorporate recent în Divizia Microscopie Electronică a SC-ICYT a Universității din Cadiz prin achiziționarea de suporturi avansate de microscopie electronică, precum și posibilitatea de a reduce tensiunea de lucru la 60 kV, extinzând astfel utilizarea acestui microscop la materialele sensibile la iradiere, în alte condiții decât cele obișnuite în microscoapele convenționale. Se propune, în primul rând, achiziționarea unui suport de probă cu transfer în vid dublu înclinat, care ar permite studiul analitic al probelor studiate în condiții cvasi-situ, după tratarea în atmosferă controlată. Se propune, de asemenea, achiziționarea unui deținător de eșantion comercial care, datorită designului și intervalului său mare de cotitură, permite achiziționarea de serii tomografice X-EDS pentru a genera hărți compoziționale în trei dimensiuni. În cele din urmă, se propune alinierea de 60 kV a microscopului FEI TITAN3 60-300. Această adăugire extinde posibilitățile de utilizare a microscopului FEI TITAN3 60-300 la alte materiale, de importanță tehnologică, creând o nouă linie de cercetare la Universitatea noastră. (Romanian)
18 August 2022
0 references
Osrednji cilj te zahteve je razširiti analitične možnosti FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa, ki je bil pred kratkim vključen v oddelek za elektronsko mikroskopijo SC-ICYT Univerze v Cadizu, z nakupom naprednih elektronskih nosilcev vzorcev mikroskopije, kot tudi možnost zmanjšanja delovne napetosti na 60 kV, s čimer bi se uporaba tega mikroskopa razširila na materiale, občutljive na poškodbe obsevanja, pod pogoji, ki niso običajni v običajnih mikroskopovih. Najprej se predlaga pridobitev držala vzorca za prenos vzorca z dvojnim nagibom, ki bi omogočil analitično študijo vzorcev, ki so bili preučeni v kvazi situ pogojih, po tretiranju v kontrolirani atmosferi. Predlaga se tudi, da se pridobi imetnik komercialnega vzorca, ki zaradi svoje zasnove in velikega intervala obračanja omogoča pridobitev tomografskih serij X-EDS, da se ustvarijo karte sestave v treh dimenzijah. Predlagana je tudi uskladitev 60 kV FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa. Ta dodatek razširja možnosti uporabe FEI TITAN3 Themis 60–300 mikroskopa za druge materiale, tehnološkega pomena, ustvarjanje nove linije raziskav na naši univerzi. (Slovenian)
18 August 2022
0 references
Głównym celem niniejszego wniosku jest rozszerzenie możliwości analitycznych mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300 włączonego niedawno do Wydziału Mikskopii Elektronicznej SC-ICYT Uniwersytetu w Kadyzie poprzez nabycie zaawansowanych uchwytów do mikroskopów elektronicznych, a także możliwość zmniejszenia napięcia roboczego do 60 kV, rozszerzając w ten sposób zastosowanie tego mikroskopu na materiały wrażliwe na uszkodzenia napromieniowania, w warunkach innych niż te, które są zwykle stosowane w konwencjonalnych mikroskopach. Proponuje się przede wszystkim uzyskanie podwójnego nachylenia uchwytu na próbkę transferową próżniową, co umożliwiłoby badanie analityczne próbek badanych w warunkach quasi-situ, po obróbce w kontrolowanej atmosferze. Proponuje się również nabycie komercyjnego posiadacza próbki, który dzięki swojemu projektowi i dużemu interwałowi skrętu umożliwia nabycie serii tomograficznych X-EDS w celu generowania map kompozycji w trzech wymiarach. Ponadto proponuje się ustawienie 60 kV mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300. Dodatek ten rozszerza możliwości wykorzystania mikroskopu FEI TITAN3 Themis 60-300 na inne materiały o znaczeniu technologicznym, tworząc nową linię badań na naszym Uniwersytecie. (Polish)
18 August 2022
0 references
Puerto Real
0 references
20 December 2023
0 references
Identifiers
UNCA15-CE-3715
0 references