Acquisition of a microscope of high resolution and speed atomic forces (Q3184560): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Created a new Item) |
(Added qualifier: readability score (P590521): 0.5121031909666075) |
||||||||||||||
| (12 intermediate revisions by 2 users not shown) | |||||||||||||||
| label / en | label / en | ||||||||||||||
Acquisition of a microscope of high resolution and speed atomic forces | |||||||||||||||
| label / fr | label / fr | ||||||||||||||
Acquisition d’un microscope de forces atomiques de haute résolution et de vitesse | |||||||||||||||
| label / de | label / de | ||||||||||||||
Erwerb eines Mikroskops mit hochauflösenden und schnellen Atomkräften | |||||||||||||||
| label / nl | label / nl | ||||||||||||||
Verwerving van een microscoop van atoomkrachten met hoge resolutie en snelheid | |||||||||||||||
| label / it | label / it | ||||||||||||||
Acquisizione di un microscopio di forze atomiche ad alta risoluzione e velocità | |||||||||||||||
| label / el | label / el | ||||||||||||||
Απόκτηση μικροσκοπίου με ατομικές δυνάμεις υψηλής ευκρίνειας και ταχύτητας | |||||||||||||||
| label / da | label / da | ||||||||||||||
Erhvervelse af et mikroskop af atomkræfter med høj opløsning og hastighed | |||||||||||||||
| label / fi | label / fi | ||||||||||||||
Korkean erotuskyvyn ja nopeuden atomivoimien mikroskoopin hankkiminen | |||||||||||||||
| label / mt | label / mt | ||||||||||||||
Akkwist ta’ mikroskopju ta’ forzi atomiċi b’riżoluzzjoni għolja u veloċità għolja | |||||||||||||||
| label / lv | label / lv | ||||||||||||||
Augstas izšķirtspējas un ātruma atomspēku mikroskopa iegāde | |||||||||||||||
| label / sk | label / sk | ||||||||||||||
Získanie mikroskopu s vysokým rozlíšením a rýchlosťou atómových síl | |||||||||||||||
| label / ga | label / ga | ||||||||||||||
Micreascóp a fháil d’fhórsaí adamhach ardtaifigh agus luais | |||||||||||||||
| label / cs | label / cs | ||||||||||||||
Získání mikroskopu s vysokým rozlišením a rychlostí atomových sil | |||||||||||||||
| label / pt | label / pt | ||||||||||||||
Aquisição de um microscópio de forças atômicas de alta resolução e velocidade | |||||||||||||||
| label / et | label / et | ||||||||||||||
Suure lahutusvõime ja kiiruse aatomjõududega mikroskoobi omandamine | |||||||||||||||
| label / hu | label / hu | ||||||||||||||
Nagyfelbontású és gyors atomerők mikroszkópjának beszerzése | |||||||||||||||
| label / bg | label / bg | ||||||||||||||
Придобиване на микроскоп на атомни сили с висока разделителна способност и скорост | |||||||||||||||
| label / lt | label / lt | ||||||||||||||
Didelės skiriamosios gebos ir greičio atominių jėgų mikroskopo įsigijimas | |||||||||||||||
| label / hr | label / hr | ||||||||||||||
Stjecanje mikroskopa atomskih sila visoke razlučivosti i brzine | |||||||||||||||
| label / sv | label / sv | ||||||||||||||
Förvärv av ett mikroskop av atomkrafter med hög upplösning och hastighet | |||||||||||||||
| label / ro | label / ro | ||||||||||||||
Achiziționarea unui microscop de forțe atomice de înaltă rezoluție și viteză | |||||||||||||||
| label / sl | label / sl | ||||||||||||||
Pridobitev mikroskopa visoke ločljivosti in hitrosti atomskih sil | |||||||||||||||
| label / pl | label / pl | ||||||||||||||
Nabycie mikroskopu sił atomowych o wysokiej rozdzielczości i prędkości | |||||||||||||||
| description / en | description / en | ||||||||||||||
Project | Project Q3184560 in Spain | ||||||||||||||
| description / bg | description / bg | ||||||||||||||
Проект Q3184560 в Испания | |||||||||||||||
| description / hr | description / hr | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 u Španjolskoj | |||||||||||||||
| description / hu | description / hu | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 Spanyolországban | |||||||||||||||
| description / cs | description / cs | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 ve Španělsku | |||||||||||||||
| description / da | description / da | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 i Spanien | |||||||||||||||
| description / nl | description / nl | ||||||||||||||
Project Q3184560 in Spanje | |||||||||||||||
| description / et | description / et | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 Hispaanias | |||||||||||||||
| description / fi | description / fi | ||||||||||||||
Projekti Q3184560 Espanjassa | |||||||||||||||
| description / fr | description / fr | ||||||||||||||
Projet Q3184560 en Espagne | |||||||||||||||
| description / de | description / de | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 in Spanien | |||||||||||||||
| description / el | description / el | ||||||||||||||
Έργο Q3184560 στην Ισπανία | |||||||||||||||
| description / ga | description / ga | ||||||||||||||
Tionscadal Q3184560 sa Spáinn | |||||||||||||||
| description / it | description / it | ||||||||||||||
Progetto Q3184560 in Spagna | |||||||||||||||
| description / lv | description / lv | ||||||||||||||
Projekts Q3184560 Spānijā | |||||||||||||||
| description / lt | description / lt | ||||||||||||||
Projektas Q3184560 Ispanijoje | |||||||||||||||
| description / mt | description / mt | ||||||||||||||
Proġett Q3184560 fi Spanja | |||||||||||||||
| description / pl | description / pl | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 w Hiszpanii | |||||||||||||||
| description / pt | description / pt | ||||||||||||||
Projeto Q3184560 na Espanha | |||||||||||||||
| description / ro | description / ro | ||||||||||||||
Proiectul Q3184560 în Spania | |||||||||||||||
| description / sk | description / sk | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 v Španielsku | |||||||||||||||
| description / sl | description / sl | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 v Španiji | |||||||||||||||
| description / es | description / es | ||||||||||||||
Proyecto Q3184560 en España | |||||||||||||||
| description / sv | description / sv | ||||||||||||||
Projekt Q3184560 i Spanien | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / budget: 342,980.0 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 50.0 percent / rank | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / EU contribution: 171,490.0 Euro / rank | |||||||||||||||
| Property / summary: This project is devoted to provisioning a new atomic force microscope (AFM) featuring high resolution and high speed for the nanocharacterization laboratory at ICFO. This kind of system is key for the characterization of devices and structures fabricated in the nanofabrication lab and is fundamental to guarantee the competitiveness of the lab and the quality of research. The tool will be available not only to ICFO users but also to third institutions from both academia and industry._x000D_ _x000D_ The system to be purchased will replace an existing AFM that suffers from severe limitations and has partial failuers both in its scanner and in the control electronics. The cost of its repair would be so high that the only reasonable alternative is the acquisition of a new system._x000D_ _x000D_ The system will be installed in the nanocharacterization lab, which is perfectly suited for this type of tool and process and does not require any construction work. (English) / qualifier | |||||||||||||||
readability score: 0.5121031909666075
| |||||||||||||||
| Property / postal code | |||||||||||||||
| Property / postal code: 08056 / rank | |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
| Property / location (string): Castelldefels / rank | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
La présente action consiste en l’acquisition d’un microscope à force atomique à haute résolution et à vitesse (AFM). Ce type d’équipement est un outil fondamental pour la caractérisation des structures et des dispositifs fabriqués dans le laboratoire de nanofabrication et est un élément clé pour assurer la compétitivité du laboratoire et la qualité de la recherche menée tant au sein de l’ICFO que dans les établissements tiers dans l’environnement qui souhaitent utiliser les équipements. L’équipement à acheter remplacera un AFM existant qui souffre de limitations et de pannes majeures à la fois dans le scanner et l’électronique de contrôle et dont la réparation coûterait un coût si élevé que la seule solution raisonnable est l’acquisition d’un nouvel équipement._x000D_ _x000D_ L’équipement sera installé dans le laboratoire de nanocaractérisation, parfaitement équipé pour ce type d’équipement et ne nécessitant aucun travail. (French) | |||||||||||||||
| Property / summary: La présente action consiste en l’acquisition d’un microscope à force atomique à haute résolution et à vitesse (AFM). Ce type d’équipement est un outil fondamental pour la caractérisation des structures et des dispositifs fabriqués dans le laboratoire de nanofabrication et est un élément clé pour assurer la compétitivité du laboratoire et la qualité de la recherche menée tant au sein de l’ICFO que dans les établissements tiers dans l’environnement qui souhaitent utiliser les équipements. L’équipement à acheter remplacera un AFM existant qui souffre de limitations et de pannes majeures à la fois dans le scanner et l’électronique de contrôle et dont la réparation coûterait un coût si élevé que la seule solution raisonnable est l’acquisition d’un nouvel équipement._x000D_ _x000D_ L’équipement sera installé dans le laboratoire de nanocaractérisation, parfaitement équipé pour ce type d’équipement et ne nécessitant aucun travail. (French) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: La présente action consiste en l’acquisition d’un microscope à force atomique à haute résolution et à vitesse (AFM). Ce type d’équipement est un outil fondamental pour la caractérisation des structures et des dispositifs fabriqués dans le laboratoire de nanofabrication et est un élément clé pour assurer la compétitivité du laboratoire et la qualité de la recherche menée tant au sein de l’ICFO que dans les établissements tiers dans l’environnement qui souhaitent utiliser les équipements. L’équipement à acheter remplacera un AFM existant qui souffre de limitations et de pannes majeures à la fois dans le scanner et l’électronique de contrôle et dont la réparation coûterait un coût si élevé que la seule solution raisonnable est l’acquisition d’un nouvel équipement._x000D_ _x000D_ L’équipement sera installé dans le laboratoire de nanocaractérisation, parfaitement équipé pour ce type d’équipement et ne nécessitant aucun travail. (French) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 4 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Die vorliegende Maßnahme besteht in der Anschaffung eines hochauflösenden und schnellen Atomkraftmikroskops (AFM). Diese Art von Ausrüstung ist ein grundlegendes Instrument für die Charakterisierung von Strukturen und Vorrichtungen, die im Nano-Fabrication Labor hergestellt werden, und ist ein Schlüsselelement, um die Wettbewerbsfähigkeit des Labors und die Qualität der Forschung zu gewährleisten, die sowohl im ICFO als auch in dritten Einrichtungen in der Umwelt durchgeführt wird, die die Ausrüstung verwenden möchten. Die zu erwerbende Ausrüstung wird ein bestehendes AFM ersetzen, das sowohl in der Scanner- als auch in der Steuerelektronik unter großen Einschränkungen und Ausfällen leidet und deren Reparatur so hohe Kosten kosten würde, dass die einzige vernünftige Alternative die Anschaffung einer neuen Ausrüstung ist._x000D_ _x000D_ Die Ausrüstung wird im Nano-Charakterisationslabor installiert, das perfekt für diese Art von Geräten ausgestattet ist und keine Arbeiten erfordert. (German) | |||||||||||||||
| Property / summary: Die vorliegende Maßnahme besteht in der Anschaffung eines hochauflösenden und schnellen Atomkraftmikroskops (AFM). Diese Art von Ausrüstung ist ein grundlegendes Instrument für die Charakterisierung von Strukturen und Vorrichtungen, die im Nano-Fabrication Labor hergestellt werden, und ist ein Schlüsselelement, um die Wettbewerbsfähigkeit des Labors und die Qualität der Forschung zu gewährleisten, die sowohl im ICFO als auch in dritten Einrichtungen in der Umwelt durchgeführt wird, die die Ausrüstung verwenden möchten. Die zu erwerbende Ausrüstung wird ein bestehendes AFM ersetzen, das sowohl in der Scanner- als auch in der Steuerelektronik unter großen Einschränkungen und Ausfällen leidet und deren Reparatur so hohe Kosten kosten würde, dass die einzige vernünftige Alternative die Anschaffung einer neuen Ausrüstung ist._x000D_ _x000D_ Die Ausrüstung wird im Nano-Charakterisationslabor installiert, das perfekt für diese Art von Geräten ausgestattet ist und keine Arbeiten erfordert. (German) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Die vorliegende Maßnahme besteht in der Anschaffung eines hochauflösenden und schnellen Atomkraftmikroskops (AFM). Diese Art von Ausrüstung ist ein grundlegendes Instrument für die Charakterisierung von Strukturen und Vorrichtungen, die im Nano-Fabrication Labor hergestellt werden, und ist ein Schlüsselelement, um die Wettbewerbsfähigkeit des Labors und die Qualität der Forschung zu gewährleisten, die sowohl im ICFO als auch in dritten Einrichtungen in der Umwelt durchgeführt wird, die die Ausrüstung verwenden möchten. Die zu erwerbende Ausrüstung wird ein bestehendes AFM ersetzen, das sowohl in der Scanner- als auch in der Steuerelektronik unter großen Einschränkungen und Ausfällen leidet und deren Reparatur so hohe Kosten kosten würde, dass die einzige vernünftige Alternative die Anschaffung einer neuen Ausrüstung ist._x000D_ _x000D_ Die Ausrüstung wird im Nano-Charakterisationslabor installiert, das perfekt für diese Art von Geräten ausgestattet ist und keine Arbeiten erfordert. (German) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 9 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Het onderhavige beroep bestaat uit de verwerving van een atoomkrachtmicroscoop met hoge resolutie en snelheid (AFM). Dit type apparatuur is een fundamenteel instrument voor de karakterisering van structuren en hulpmiddelen die in het nanofabricagelaboratorium worden vervaardigd en is een essentieel element om het concurrentievermogen van het laboratorium en de kwaliteit van het onderzoek dat zowel in ICFO als in derde instellingen in het milieu wordt uitgevoerd en die de apparatuur willen gebruiken, te waarborgen. De aan te kopen apparatuur zal een bestaande AFM vervangen die te kampen heeft met grote beperkingen en storingen in zowel de scanner als de besturingselektronica en waarvan de reparatie dermate hoge kosten zou kosten dat het enige redelijke alternatief de aanschaf van een nieuwe apparatuur is._x000D_ _x000D_ De apparatuur zal worden geïnstalleerd in het nanokarakteriseringslaboratorium, dat perfect is uitgerust voor dit type apparatuur en geen werk vereist. (Dutch) | |||||||||||||||
| Property / summary: Het onderhavige beroep bestaat uit de verwerving van een atoomkrachtmicroscoop met hoge resolutie en snelheid (AFM). Dit type apparatuur is een fundamenteel instrument voor de karakterisering van structuren en hulpmiddelen die in het nanofabricagelaboratorium worden vervaardigd en is een essentieel element om het concurrentievermogen van het laboratorium en de kwaliteit van het onderzoek dat zowel in ICFO als in derde instellingen in het milieu wordt uitgevoerd en die de apparatuur willen gebruiken, te waarborgen. De aan te kopen apparatuur zal een bestaande AFM vervangen die te kampen heeft met grote beperkingen en storingen in zowel de scanner als de besturingselektronica en waarvan de reparatie dermate hoge kosten zou kosten dat het enige redelijke alternatief de aanschaf van een nieuwe apparatuur is._x000D_ _x000D_ De apparatuur zal worden geïnstalleerd in het nanokarakteriseringslaboratorium, dat perfect is uitgerust voor dit type apparatuur en geen werk vereist. (Dutch) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Het onderhavige beroep bestaat uit de verwerving van een atoomkrachtmicroscoop met hoge resolutie en snelheid (AFM). Dit type apparatuur is een fundamenteel instrument voor de karakterisering van structuren en hulpmiddelen die in het nanofabricagelaboratorium worden vervaardigd en is een essentieel element om het concurrentievermogen van het laboratorium en de kwaliteit van het onderzoek dat zowel in ICFO als in derde instellingen in het milieu wordt uitgevoerd en die de apparatuur willen gebruiken, te waarborgen. De aan te kopen apparatuur zal een bestaande AFM vervangen die te kampen heeft met grote beperkingen en storingen in zowel de scanner als de besturingselektronica en waarvan de reparatie dermate hoge kosten zou kosten dat het enige redelijke alternatief de aanschaf van een nieuwe apparatuur is._x000D_ _x000D_ De apparatuur zal worden geïnstalleerd in het nanokarakteriseringslaboratorium, dat perfect is uitgerust voor dit type apparatuur en geen werk vereist. (Dutch) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 17 December 2021
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
L'azione attuale consiste nell'acquisizione di un microscopio a forza atomica ad alta risoluzione e velocità (AFM). Questo tipo di apparecchiature è uno strumento fondamentale per la caratterizzazione di strutture e dispositivi fabbricati nel laboratorio di nanofabbricazione ed è un elemento chiave per garantire la competitività del laboratorio e la qualità della ricerca svolta sia in ICFO che in terze istituzioni dell'ambiente che desiderano utilizzare le apparecchiature. L'apparecchiatura da acquistare sostituirà un AFM esistente che soffre di gravi limitazioni e guasti sia nello scanner che nell'elettronica di controllo e la cui riparazione costerebbe un costo così elevato che l'unica alternativa ragionevole è l'acquisizione di una nuova apparecchiatura._x000D_ _x000D_ L'apparecchiatura sarà installata nel laboratorio di nanocaratterizzazione, perfettamente attrezzato per questo tipo di apparecchiature e non richiede il completamento di alcun lavoro. (Italian) | |||||||||||||||
| Property / summary: L'azione attuale consiste nell'acquisizione di un microscopio a forza atomica ad alta risoluzione e velocità (AFM). Questo tipo di apparecchiature è uno strumento fondamentale per la caratterizzazione di strutture e dispositivi fabbricati nel laboratorio di nanofabbricazione ed è un elemento chiave per garantire la competitività del laboratorio e la qualità della ricerca svolta sia in ICFO che in terze istituzioni dell'ambiente che desiderano utilizzare le apparecchiature. L'apparecchiatura da acquistare sostituirà un AFM esistente che soffre di gravi limitazioni e guasti sia nello scanner che nell'elettronica di controllo e la cui riparazione costerebbe un costo così elevato che l'unica alternativa ragionevole è l'acquisizione di una nuova apparecchiatura._x000D_ _x000D_ L'apparecchiatura sarà installata nel laboratorio di nanocaratterizzazione, perfettamente attrezzato per questo tipo di apparecchiature e non richiede il completamento di alcun lavoro. (Italian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: L'azione attuale consiste nell'acquisizione di un microscopio a forza atomica ad alta risoluzione e velocità (AFM). Questo tipo di apparecchiature è uno strumento fondamentale per la caratterizzazione di strutture e dispositivi fabbricati nel laboratorio di nanofabbricazione ed è un elemento chiave per garantire la competitività del laboratorio e la qualità della ricerca svolta sia in ICFO che in terze istituzioni dell'ambiente che desiderano utilizzare le apparecchiature. L'apparecchiatura da acquistare sostituirà un AFM esistente che soffre di gravi limitazioni e guasti sia nello scanner che nell'elettronica di controllo e la cui riparazione costerebbe un costo così elevato che l'unica alternativa ragionevole è l'acquisizione di una nuova apparecchiatura._x000D_ _x000D_ L'apparecchiatura sarà installata nel laboratorio di nanocaratterizzazione, perfettamente attrezzato per questo tipo di apparecchiature e non richiede il completamento di alcun lavoro. (Italian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 16 January 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Το έργο αυτό είναι αφιερωμένο στην παροχή ενός νέου μικροσκοπίου ατομικής δύναμης (AFM) με υψηλή ανάλυση και υψηλή ταχύτητα για το εργαστήριο νανοχαρακτηρισμού του ICFO. Αυτό το είδος συστήματος είναι το κλειδί για το χαρακτηρισμό των συσκευών και των δομών που κατασκευάζονται στο εργαστήριο νανοκατασκευών και είναι θεμελιώδους σημασίας για τη διασφάλιση της ανταγωνιστικότητας του εργαστηρίου και της ποιότητας της έρευνας. Το εργαλείο θα είναι διαθέσιμο όχι μόνο στους χρήστες της ICFO αλλά και σε τρίτα ιδρύματα τόσο από τον ακαδημαϊκό χώρο όσο και από τη βιομηχανία._x000D_ _x000D_ Το σύστημα που θα αγοραστεί θα αντικαταστήσει ένα υπάρχον AFM που πάσχει από σοβαρούς περιορισμούς και έχει μερική αποτυχία τόσο στον σαρωτή του όσο και στα ηλεκτρονικά συστήματα ελέγχου. Το κόστος της επισκευής του θα ήταν τόσο υψηλό που η μόνη λογική εναλλακτική λύση είναι η απόκτηση ενός νέου συστήματος._x000D_ _x000D_ Το σύστημα θα εγκατασταθεί στο εργαστήριο νανοχαρακτηρισμού, το οποίο είναι απόλυτα κατάλληλο για αυτό το είδος εργαλείου και διαδικασίας και δεν απαιτεί κατασκευαστικές εργασίες. (Greek) | |||||||||||||||
| Property / summary: Το έργο αυτό είναι αφιερωμένο στην παροχή ενός νέου μικροσκοπίου ατομικής δύναμης (AFM) με υψηλή ανάλυση και υψηλή ταχύτητα για το εργαστήριο νανοχαρακτηρισμού του ICFO. Αυτό το είδος συστήματος είναι το κλειδί για το χαρακτηρισμό των συσκευών και των δομών που κατασκευάζονται στο εργαστήριο νανοκατασκευών και είναι θεμελιώδους σημασίας για τη διασφάλιση της ανταγωνιστικότητας του εργαστηρίου και της ποιότητας της έρευνας. Το εργαλείο θα είναι διαθέσιμο όχι μόνο στους χρήστες της ICFO αλλά και σε τρίτα ιδρύματα τόσο από τον ακαδημαϊκό χώρο όσο και από τη βιομηχανία._x000D_ _x000D_ Το σύστημα που θα αγοραστεί θα αντικαταστήσει ένα υπάρχον AFM που πάσχει από σοβαρούς περιορισμούς και έχει μερική αποτυχία τόσο στον σαρωτή του όσο και στα ηλεκτρονικά συστήματα ελέγχου. Το κόστος της επισκευής του θα ήταν τόσο υψηλό που η μόνη λογική εναλλακτική λύση είναι η απόκτηση ενός νέου συστήματος._x000D_ _x000D_ Το σύστημα θα εγκατασταθεί στο εργαστήριο νανοχαρακτηρισμού, το οποίο είναι απόλυτα κατάλληλο για αυτό το είδος εργαλείου και διαδικασίας και δεν απαιτεί κατασκευαστικές εργασίες. (Greek) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Το έργο αυτό είναι αφιερωμένο στην παροχή ενός νέου μικροσκοπίου ατομικής δύναμης (AFM) με υψηλή ανάλυση και υψηλή ταχύτητα για το εργαστήριο νανοχαρακτηρισμού του ICFO. Αυτό το είδος συστήματος είναι το κλειδί για το χαρακτηρισμό των συσκευών και των δομών που κατασκευάζονται στο εργαστήριο νανοκατασκευών και είναι θεμελιώδους σημασίας για τη διασφάλιση της ανταγωνιστικότητας του εργαστηρίου και της ποιότητας της έρευνας. Το εργαλείο θα είναι διαθέσιμο όχι μόνο στους χρήστες της ICFO αλλά και σε τρίτα ιδρύματα τόσο από τον ακαδημαϊκό χώρο όσο και από τη βιομηχανία._x000D_ _x000D_ Το σύστημα που θα αγοραστεί θα αντικαταστήσει ένα υπάρχον AFM που πάσχει από σοβαρούς περιορισμούς και έχει μερική αποτυχία τόσο στον σαρωτή του όσο και στα ηλεκτρονικά συστήματα ελέγχου. Το κόστος της επισκευής του θα ήταν τόσο υψηλό που η μόνη λογική εναλλακτική λύση είναι η απόκτηση ενός νέου συστήματος._x000D_ _x000D_ Το σύστημα θα εγκατασταθεί στο εργαστήριο νανοχαρακτηρισμού, το οποίο είναι απόλυτα κατάλληλο για αυτό το είδος εργαλείου και διαδικασίας και δεν απαιτεί κατασκευαστικές εργασίες. (Greek) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Dette projekt har til formål at tilvejebringe et nyt atomkraftmikroskop (AFM) med høj opløsning og høj hastighed for nanokarakteriseringslaboratoriet ved ICFO. Denne form for system er afgørende for karakteriseringen af udstyr og strukturer, der er fremstillet i nanofabrikationslaboratoriet, og er afgørende for at sikre laboratoriets konkurrenceevne og kvaliteten af forskningen. Værktøjet vil ikke kun være tilgængeligt for ICFO-brugere, men også for tredje institutioner fra både den akademiske verden og industrien._x000D_ _x000D_ Det system, der skal købes, erstatter en eksisterende AFM, der lider af alvorlige begrænsninger og har delvis failuers både i sin scanner og i kontrolelektronik. Omkostningerne ved dens reparation ville være så høj, at det eneste rimelige alternativ er erhvervelse af et nyt system._x000D_ _x000D_ Systemet vil blive installeret i nanokarakterisering lab, som er perfekt egnet til denne type værktøj og proces og ikke kræver nogen byggearbejde. (Danish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Dette projekt har til formål at tilvejebringe et nyt atomkraftmikroskop (AFM) med høj opløsning og høj hastighed for nanokarakteriseringslaboratoriet ved ICFO. Denne form for system er afgørende for karakteriseringen af udstyr og strukturer, der er fremstillet i nanofabrikationslaboratoriet, og er afgørende for at sikre laboratoriets konkurrenceevne og kvaliteten af forskningen. Værktøjet vil ikke kun være tilgængeligt for ICFO-brugere, men også for tredje institutioner fra både den akademiske verden og industrien._x000D_ _x000D_ Det system, der skal købes, erstatter en eksisterende AFM, der lider af alvorlige begrænsninger og har delvis failuers både i sin scanner og i kontrolelektronik. Omkostningerne ved dens reparation ville være så høj, at det eneste rimelige alternativ er erhvervelse af et nyt system._x000D_ _x000D_ Systemet vil blive installeret i nanokarakterisering lab, som er perfekt egnet til denne type værktøj og proces og ikke kræver nogen byggearbejde. (Danish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Dette projekt har til formål at tilvejebringe et nyt atomkraftmikroskop (AFM) med høj opløsning og høj hastighed for nanokarakteriseringslaboratoriet ved ICFO. Denne form for system er afgørende for karakteriseringen af udstyr og strukturer, der er fremstillet i nanofabrikationslaboratoriet, og er afgørende for at sikre laboratoriets konkurrenceevne og kvaliteten af forskningen. Værktøjet vil ikke kun være tilgængeligt for ICFO-brugere, men også for tredje institutioner fra både den akademiske verden og industrien._x000D_ _x000D_ Det system, der skal købes, erstatter en eksisterende AFM, der lider af alvorlige begrænsninger og har delvis failuers både i sin scanner og i kontrolelektronik. Omkostningerne ved dens reparation ville være så høj, at det eneste rimelige alternativ er erhvervelse af et nyt system._x000D_ _x000D_ Systemet vil blive installeret i nanokarakterisering lab, som er perfekt egnet til denne type værktøj og proces og ikke kræver nogen byggearbejde. (Danish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Tämä hanke on omistettu uuden atomivoimamikroskoopin (AFM) tarjoamiseen ICFO:n nanokarakterointilaboratoriota varten. Tällainen järjestelmä on avain nanovalmistuslaboratoriossa valmistettujen laitteiden ja rakenteiden karakterisointiin, ja se on olennaisen tärkeä laboratorion kilpailukyvyn ja tutkimuksen laadun takaamiseksi. Työkalu on saatavilla paitsi ICFO:n käyttäjille myös kolmansille laitoksille sekä tiedemaailmasta että toimialasta._x000D_ _x000D_ ostettava järjestelmä korvaa olemassa olevan AFM:n, joka kärsii vakavista rajoituksista ja jolla on osittainen vikaantuminen sekä skannerissa että ohjauselektroniikassa. Sen korjauskustannukset olisivat niin korkeat, että ainoa järkevä vaihtoehto on uuden järjestelmän hankinta._x000D_ _x000D_ Järjestelmä asennetaan nanokarakterointilaboratorioon, joka sopii täydellisesti tämäntyyppiseen työkaluun ja prosessiin eikä vaadi rakennustöitä. (Finnish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Tämä hanke on omistettu uuden atomivoimamikroskoopin (AFM) tarjoamiseen ICFO:n nanokarakterointilaboratoriota varten. Tällainen järjestelmä on avain nanovalmistuslaboratoriossa valmistettujen laitteiden ja rakenteiden karakterisointiin, ja se on olennaisen tärkeä laboratorion kilpailukyvyn ja tutkimuksen laadun takaamiseksi. Työkalu on saatavilla paitsi ICFO:n käyttäjille myös kolmansille laitoksille sekä tiedemaailmasta että toimialasta._x000D_ _x000D_ ostettava järjestelmä korvaa olemassa olevan AFM:n, joka kärsii vakavista rajoituksista ja jolla on osittainen vikaantuminen sekä skannerissa että ohjauselektroniikassa. Sen korjauskustannukset olisivat niin korkeat, että ainoa järkevä vaihtoehto on uuden järjestelmän hankinta._x000D_ _x000D_ Järjestelmä asennetaan nanokarakterointilaboratorioon, joka sopii täydellisesti tämäntyyppiseen työkaluun ja prosessiin eikä vaadi rakennustöitä. (Finnish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Tämä hanke on omistettu uuden atomivoimamikroskoopin (AFM) tarjoamiseen ICFO:n nanokarakterointilaboratoriota varten. Tällainen järjestelmä on avain nanovalmistuslaboratoriossa valmistettujen laitteiden ja rakenteiden karakterisointiin, ja se on olennaisen tärkeä laboratorion kilpailukyvyn ja tutkimuksen laadun takaamiseksi. Työkalu on saatavilla paitsi ICFO:n käyttäjille myös kolmansille laitoksille sekä tiedemaailmasta että toimialasta._x000D_ _x000D_ ostettava järjestelmä korvaa olemassa olevan AFM:n, joka kärsii vakavista rajoituksista ja jolla on osittainen vikaantuminen sekä skannerissa että ohjauselektroniikassa. Sen korjauskustannukset olisivat niin korkeat, että ainoa järkevä vaihtoehto on uuden järjestelmän hankinta._x000D_ _x000D_ Järjestelmä asennetaan nanokarakterointilaboratorioon, joka sopii täydellisesti tämäntyyppiseen työkaluun ja prosessiin eikä vaadi rakennustöitä. (Finnish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Dan il-proġett huwa ddedikat għall-forniment ta’ mikroskopju ġdid tal-forza atomika (AFM) b’riżoluzzjoni għolja u veloċità għolja għal-laboratorju tan-nanokaratterizzazzjoni fl-ICFO. Din it-tip ta’ sistema hija essenzjali għall-karatterizzazzjoni ta’ apparat u strutturi fabbrikati fil-laboratorju tan-nanofabrikazzjoni u hija fundamentali biex tiggarantixxi l-kompetittività tal-laboratorju u l-kwalità tar-riċerka. L-għodda se tkun disponibbli mhux biss għall-utenti tal-ICFO iżda wkoll għal istituzzjonijiet terzi kemm mill-akkademja kif ukoll mill-industrija._x000D_ _x000D_ Is-sistema li trid tinxtara se tieħu post l-AFM eżistenti li tbati minn limitazzjonijiet severi u għandha failuers parzjali kemm fl-iskener tagħha kif ukoll fl-elettronika tal-kontroll. L-ispiża tat-tiswija tagħha tkun tant għolja li l-unika alternattiva raġonevoli hija l-akkwist ta ‘sistema ġdida._x000D_ _x000D_ Is-sistema se tkun installata fil-laboratorju nanokaratterizzazzjoni, li hija perfettament adattata għal dan it-tip ta ‘għodda u proċess u ma teħtieġ l-ebda xogħol ta’ kostruzzjoni. (Maltese) | |||||||||||||||
| Property / summary: Dan il-proġett huwa ddedikat għall-forniment ta’ mikroskopju ġdid tal-forza atomika (AFM) b’riżoluzzjoni għolja u veloċità għolja għal-laboratorju tan-nanokaratterizzazzjoni fl-ICFO. Din it-tip ta’ sistema hija essenzjali għall-karatterizzazzjoni ta’ apparat u strutturi fabbrikati fil-laboratorju tan-nanofabrikazzjoni u hija fundamentali biex tiggarantixxi l-kompetittività tal-laboratorju u l-kwalità tar-riċerka. L-għodda se tkun disponibbli mhux biss għall-utenti tal-ICFO iżda wkoll għal istituzzjonijiet terzi kemm mill-akkademja kif ukoll mill-industrija._x000D_ _x000D_ Is-sistema li trid tinxtara se tieħu post l-AFM eżistenti li tbati minn limitazzjonijiet severi u għandha failuers parzjali kemm fl-iskener tagħha kif ukoll fl-elettronika tal-kontroll. L-ispiża tat-tiswija tagħha tkun tant għolja li l-unika alternattiva raġonevoli hija l-akkwist ta ‘sistema ġdida._x000D_ _x000D_ Is-sistema se tkun installata fil-laboratorju nanokaratterizzazzjoni, li hija perfettament adattata għal dan it-tip ta ‘għodda u proċess u ma teħtieġ l-ebda xogħol ta’ kostruzzjoni. (Maltese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Dan il-proġett huwa ddedikat għall-forniment ta’ mikroskopju ġdid tal-forza atomika (AFM) b’riżoluzzjoni għolja u veloċità għolja għal-laboratorju tan-nanokaratterizzazzjoni fl-ICFO. Din it-tip ta’ sistema hija essenzjali għall-karatterizzazzjoni ta’ apparat u strutturi fabbrikati fil-laboratorju tan-nanofabrikazzjoni u hija fundamentali biex tiggarantixxi l-kompetittività tal-laboratorju u l-kwalità tar-riċerka. L-għodda se tkun disponibbli mhux biss għall-utenti tal-ICFO iżda wkoll għal istituzzjonijiet terzi kemm mill-akkademja kif ukoll mill-industrija._x000D_ _x000D_ Is-sistema li trid tinxtara se tieħu post l-AFM eżistenti li tbati minn limitazzjonijiet severi u għandha failuers parzjali kemm fl-iskener tagħha kif ukoll fl-elettronika tal-kontroll. L-ispiża tat-tiswija tagħha tkun tant għolja li l-unika alternattiva raġonevoli hija l-akkwist ta ‘sistema ġdida._x000D_ _x000D_ Is-sistema se tkun installata fil-laboratorju nanokaratterizzazzjoni, li hija perfettament adattata għal dan it-tip ta ‘għodda u proċess u ma teħtieġ l-ebda xogħol ta’ kostruzzjoni. (Maltese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Šis projekts ir paredzēts, lai nodrošinātu jaunu atomspēku mikroskopu (AFM) ar augstu izšķirtspēju un lielu ātrumu ICFO nanoraksturošanas laboratorijai. Šāda veida sistēma ir būtiska nanoražošanas laboratorijā izgatavoto ierīču un struktūru raksturošanai, un tā ir būtiska, lai garantētu laboratorijas konkurētspēju un pētījumu kvalitāti. Rīks būs pieejams ne tikai ICFO lietotājiem, bet arī trešajām iestādēm gan no akadēmiskajām aprindām, gan nozares._x000D_ _x000D_ Iegādātā sistēma aizstās esošo AFM, kas cieš no nopietniem ierobežojumiem un kam ir daļēji faili gan skenerī, gan vadības elektronikā. Tā remonta izmaksas būtu tik augstas, ka vienīgā saprātīgā alternatīva ir jaunas sistēmas iegāde._x000D_ _x000D_ Sistēma tiks uzstādīta nanoraksturošanas laboratorijā, kas ir ideāli piemērota šāda veida instrumentiem un procesiem un neprasa nekādus būvdarbus. (Latvian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Šis projekts ir paredzēts, lai nodrošinātu jaunu atomspēku mikroskopu (AFM) ar augstu izšķirtspēju un lielu ātrumu ICFO nanoraksturošanas laboratorijai. Šāda veida sistēma ir būtiska nanoražošanas laboratorijā izgatavoto ierīču un struktūru raksturošanai, un tā ir būtiska, lai garantētu laboratorijas konkurētspēju un pētījumu kvalitāti. Rīks būs pieejams ne tikai ICFO lietotājiem, bet arī trešajām iestādēm gan no akadēmiskajām aprindām, gan nozares._x000D_ _x000D_ Iegādātā sistēma aizstās esošo AFM, kas cieš no nopietniem ierobežojumiem un kam ir daļēji faili gan skenerī, gan vadības elektronikā. Tā remonta izmaksas būtu tik augstas, ka vienīgā saprātīgā alternatīva ir jaunas sistēmas iegāde._x000D_ _x000D_ Sistēma tiks uzstādīta nanoraksturošanas laboratorijā, kas ir ideāli piemērota šāda veida instrumentiem un procesiem un neprasa nekādus būvdarbus. (Latvian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Šis projekts ir paredzēts, lai nodrošinātu jaunu atomspēku mikroskopu (AFM) ar augstu izšķirtspēju un lielu ātrumu ICFO nanoraksturošanas laboratorijai. Šāda veida sistēma ir būtiska nanoražošanas laboratorijā izgatavoto ierīču un struktūru raksturošanai, un tā ir būtiska, lai garantētu laboratorijas konkurētspēju un pētījumu kvalitāti. Rīks būs pieejams ne tikai ICFO lietotājiem, bet arī trešajām iestādēm gan no akadēmiskajām aprindām, gan nozares._x000D_ _x000D_ Iegādātā sistēma aizstās esošo AFM, kas cieš no nopietniem ierobežojumiem un kam ir daļēji faili gan skenerī, gan vadības elektronikā. Tā remonta izmaksas būtu tik augstas, ka vienīgā saprātīgā alternatīva ir jaunas sistēmas iegāde._x000D_ _x000D_ Sistēma tiks uzstādīta nanoraksturošanas laboratorijā, kas ir ideāli piemērota šāda veida instrumentiem un procesiem un neprasa nekādus būvdarbus. (Latvian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Tento projekt je zameraný na zabezpečenie nového mikroskopu atómovej sily (AFM) s vysokým rozlíšením a vysokou rýchlosťou pre nanocharakterizačné laboratórium v ICFO. Tento druh systému je kľúčový pre charakterizáciu zariadení a štruktúr vyrobených v nanofabrizačnom laboratóriu a má zásadný význam pre zaručenie konkurencieschopnosti laboratória a kvality výskumu. Nástroj bude k dispozícii nielen používateľom ICFO, ale aj tretím inštitúciám z akademickej obce aj priemyslu._x000D_ _x000D_ Systém, ktorý sa má zakúpiť, nahradí existujúcu AFM, ktorá trpí vážnymi obmedzeniami a má čiastočné zlyhávače vo svojom skenere aj v kontrolnej elektronike. Náklady na jeho opravu by boli také vysoké, že jedinou rozumnou alternatívou je získanie nového systému._x000D_ _x000D_ Systém bude inštalovaný v nanocharakterizačnom laboratóriu, ktoré sa dokonale hodí pre tento typ nástroja a procesu a nevyžaduje žiadne stavebné práce. (Slovak) | |||||||||||||||
| Property / summary: Tento projekt je zameraný na zabezpečenie nového mikroskopu atómovej sily (AFM) s vysokým rozlíšením a vysokou rýchlosťou pre nanocharakterizačné laboratórium v ICFO. Tento druh systému je kľúčový pre charakterizáciu zariadení a štruktúr vyrobených v nanofabrizačnom laboratóriu a má zásadný význam pre zaručenie konkurencieschopnosti laboratória a kvality výskumu. Nástroj bude k dispozícii nielen používateľom ICFO, ale aj tretím inštitúciám z akademickej obce aj priemyslu._x000D_ _x000D_ Systém, ktorý sa má zakúpiť, nahradí existujúcu AFM, ktorá trpí vážnymi obmedzeniami a má čiastočné zlyhávače vo svojom skenere aj v kontrolnej elektronike. Náklady na jeho opravu by boli také vysoké, že jedinou rozumnou alternatívou je získanie nového systému._x000D_ _x000D_ Systém bude inštalovaný v nanocharakterizačnom laboratóriu, ktoré sa dokonale hodí pre tento typ nástroja a procesu a nevyžaduje žiadne stavebné práce. (Slovak) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Tento projekt je zameraný na zabezpečenie nového mikroskopu atómovej sily (AFM) s vysokým rozlíšením a vysokou rýchlosťou pre nanocharakterizačné laboratórium v ICFO. Tento druh systému je kľúčový pre charakterizáciu zariadení a štruktúr vyrobených v nanofabrizačnom laboratóriu a má zásadný význam pre zaručenie konkurencieschopnosti laboratória a kvality výskumu. Nástroj bude k dispozícii nielen používateľom ICFO, ale aj tretím inštitúciám z akademickej obce aj priemyslu._x000D_ _x000D_ Systém, ktorý sa má zakúpiť, nahradí existujúcu AFM, ktorá trpí vážnymi obmedzeniami a má čiastočné zlyhávače vo svojom skenere aj v kontrolnej elektronike. Náklady na jeho opravu by boli také vysoké, že jedinou rozumnou alternatívou je získanie nového systému._x000D_ _x000D_ Systém bude inštalovaný v nanocharakterizačnom laboratóriu, ktoré sa dokonale hodí pre tento typ nástroja a procesu a nevyžaduje žiadne stavebné práce. (Slovak) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Tá an tionscadal seo dírithe ar mhicreascóp fórsa adamhach nua (AFM) a sholáthar ina bhfuil ardtaifeach agus luas ard don tsaotharlann nanocharacterization ag ICFO. Tá an cineál córais ríthábhachtach do thréithriú feistí agus struchtúir a dhéantar sa saotharlann nanofabrication agus tá sé bunúsach chun iomaíochas an tsaotharlann agus cáilíocht an taighde a ráthú. Beidh an uirlis a bheith ar fáil ní hamháin d’úsáideoirí ICFO ach freisin d’institiúidí tríú ón saol acadúil agus industry._x000D_ _x000D_ Beidh an córas atá le ceannach in ionad AFM atá ann cheana féin atá ag fulaingt ó teorainneacha tromchúiseacha agus tá failuers páirteach araon ina scanóir agus sa leictreonaic rialaithe. Ba mhaith leis an costas a dheisiú a bheith chomh hard go bhfuil an rogha eile ach réasúnta a fháil system._x000D_ nua _x000D_ Beidh an córas a shuiteáil sa saotharlann nanocharacterization, atá oiriúnach go foirfe don chineál seo uirlis agus próiseas agus ní gá aon obair thógála. (Irish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Tá an tionscadal seo dírithe ar mhicreascóp fórsa adamhach nua (AFM) a sholáthar ina bhfuil ardtaifeach agus luas ard don tsaotharlann nanocharacterization ag ICFO. Tá an cineál córais ríthábhachtach do thréithriú feistí agus struchtúir a dhéantar sa saotharlann nanofabrication agus tá sé bunúsach chun iomaíochas an tsaotharlann agus cáilíocht an taighde a ráthú. Beidh an uirlis a bheith ar fáil ní hamháin d’úsáideoirí ICFO ach freisin d’institiúidí tríú ón saol acadúil agus industry._x000D_ _x000D_ Beidh an córas atá le ceannach in ionad AFM atá ann cheana féin atá ag fulaingt ó teorainneacha tromchúiseacha agus tá failuers páirteach araon ina scanóir agus sa leictreonaic rialaithe. Ba mhaith leis an costas a dheisiú a bheith chomh hard go bhfuil an rogha eile ach réasúnta a fháil system._x000D_ nua _x000D_ Beidh an córas a shuiteáil sa saotharlann nanocharacterization, atá oiriúnach go foirfe don chineál seo uirlis agus próiseas agus ní gá aon obair thógála. (Irish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Tá an tionscadal seo dírithe ar mhicreascóp fórsa adamhach nua (AFM) a sholáthar ina bhfuil ardtaifeach agus luas ard don tsaotharlann nanocharacterization ag ICFO. Tá an cineál córais ríthábhachtach do thréithriú feistí agus struchtúir a dhéantar sa saotharlann nanofabrication agus tá sé bunúsach chun iomaíochas an tsaotharlann agus cáilíocht an taighde a ráthú. Beidh an uirlis a bheith ar fáil ní hamháin d’úsáideoirí ICFO ach freisin d’institiúidí tríú ón saol acadúil agus industry._x000D_ _x000D_ Beidh an córas atá le ceannach in ionad AFM atá ann cheana féin atá ag fulaingt ó teorainneacha tromchúiseacha agus tá failuers páirteach araon ina scanóir agus sa leictreonaic rialaithe. Ba mhaith leis an costas a dheisiú a bheith chomh hard go bhfuil an rogha eile ach réasúnta a fháil system._x000D_ nua _x000D_ Beidh an córas a shuiteáil sa saotharlann nanocharacterization, atá oiriúnach go foirfe don chineál seo uirlis agus próiseas agus ní gá aon obair thógála. (Irish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Tento projekt je věnován vytvoření nového mikroskopu atomové síly (AFM) s vysokým rozlišením a vysokou rychlostí pro nanocharakterizační laboratoř ICFO. Tento typ systému je klíčem k charakterizaci zařízení a struktur vyrobených v nanofabrikační laboratoři a je zásadní pro zaručení konkurenceschopnosti laboratoře a kvality výzkumu. Nástroj bude k dispozici nejen uživatelům ICFO, ale také třetím institucím z akademické obce i průmyslu._x000D_ _x000D_ Systém, který má být zakoupen, nahradí stávající AFM, která trpí závažnými omezeními a má částečné selhání jak ve skeneru, tak v řídicí elektronice. Náklady na jeho opravu by byly tak vysoké, že jedinou rozumnou alternativou je pořízení nového systému._x000D_ _x000D_ Systém bude instalován v nanocharakterizační laboratoři, která je dokonale vhodná pro tento typ nástroje a procesu a nevyžaduje žádné stavební práce. (Czech) | |||||||||||||||
| Property / summary: Tento projekt je věnován vytvoření nového mikroskopu atomové síly (AFM) s vysokým rozlišením a vysokou rychlostí pro nanocharakterizační laboratoř ICFO. Tento typ systému je klíčem k charakterizaci zařízení a struktur vyrobených v nanofabrikační laboratoři a je zásadní pro zaručení konkurenceschopnosti laboratoře a kvality výzkumu. Nástroj bude k dispozici nejen uživatelům ICFO, ale také třetím institucím z akademické obce i průmyslu._x000D_ _x000D_ Systém, který má být zakoupen, nahradí stávající AFM, která trpí závažnými omezeními a má částečné selhání jak ve skeneru, tak v řídicí elektronice. Náklady na jeho opravu by byly tak vysoké, že jedinou rozumnou alternativou je pořízení nového systému._x000D_ _x000D_ Systém bude instalován v nanocharakterizační laboratoři, která je dokonale vhodná pro tento typ nástroje a procesu a nevyžaduje žádné stavební práce. (Czech) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Tento projekt je věnován vytvoření nového mikroskopu atomové síly (AFM) s vysokým rozlišením a vysokou rychlostí pro nanocharakterizační laboratoř ICFO. Tento typ systému je klíčem k charakterizaci zařízení a struktur vyrobených v nanofabrikační laboratoři a je zásadní pro zaručení konkurenceschopnosti laboratoře a kvality výzkumu. Nástroj bude k dispozici nejen uživatelům ICFO, ale také třetím institucím z akademické obce i průmyslu._x000D_ _x000D_ Systém, který má být zakoupen, nahradí stávající AFM, která trpí závažnými omezeními a má částečné selhání jak ve skeneru, tak v řídicí elektronice. Náklady na jeho opravu by byly tak vysoké, že jedinou rozumnou alternativou je pořízení nového systému._x000D_ _x000D_ Systém bude instalován v nanocharakterizační laboratoři, která je dokonale vhodná pro tento typ nástroje a procesu a nevyžaduje žádné stavební práce. (Czech) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Este projeto é dedicado ao fornecimento de um novo microscópio de força atômica (AFM) com alta resolução e alta velocidade para o laboratório de nanocaracterização da ICFO. Este tipo de sistema é fundamental para a caracterização de dispositivos e estruturas fabricados no laboratório de nanofabricação e é fundamental para garantir a competitividade do laboratório e a qualidade da pesquisa. A ferramenta estará disponível não só para utentes da ICFO, mas também para instituições terceiras do meio acadêmico e da indústria._x000D_ _x000D_ O sistema a ser comprado substituirá um AFM existente que sofre de limitações severas e possui failuers parciais tanto em seu scanner quanto na eletrônica de controle. O custo de sua reparação seria tão alto que a única alternativa razoável é a aquisição de um novo sistema._x000D_ _x000D_ O sistema será instalado no laboratório de nanocaracterização, que é perfeitamente adequado para este tipo de ferramenta e processo e não requer nenhum trabalho de construção. (Portuguese) | |||||||||||||||
| Property / summary: Este projeto é dedicado ao fornecimento de um novo microscópio de força atômica (AFM) com alta resolução e alta velocidade para o laboratório de nanocaracterização da ICFO. Este tipo de sistema é fundamental para a caracterização de dispositivos e estruturas fabricados no laboratório de nanofabricação e é fundamental para garantir a competitividade do laboratório e a qualidade da pesquisa. A ferramenta estará disponível não só para utentes da ICFO, mas também para instituições terceiras do meio acadêmico e da indústria._x000D_ _x000D_ O sistema a ser comprado substituirá um AFM existente que sofre de limitações severas e possui failuers parciais tanto em seu scanner quanto na eletrônica de controle. O custo de sua reparação seria tão alto que a única alternativa razoável é a aquisição de um novo sistema._x000D_ _x000D_ O sistema será instalado no laboratório de nanocaracterização, que é perfeitamente adequado para este tipo de ferramenta e processo e não requer nenhum trabalho de construção. (Portuguese) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Este projeto é dedicado ao fornecimento de um novo microscópio de força atômica (AFM) com alta resolução e alta velocidade para o laboratório de nanocaracterização da ICFO. Este tipo de sistema é fundamental para a caracterização de dispositivos e estruturas fabricados no laboratório de nanofabricação e é fundamental para garantir a competitividade do laboratório e a qualidade da pesquisa. A ferramenta estará disponível não só para utentes da ICFO, mas também para instituições terceiras do meio acadêmico e da indústria._x000D_ _x000D_ O sistema a ser comprado substituirá um AFM existente que sofre de limitações severas e possui failuers parciais tanto em seu scanner quanto na eletrônica de controle. O custo de sua reparação seria tão alto que a única alternativa razoável é a aquisição de um novo sistema._x000D_ _x000D_ O sistema será instalado no laboratório de nanocaracterização, que é perfeitamente adequado para este tipo de ferramenta e processo e não requer nenhum trabalho de construção. (Portuguese) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
See projekt on pühendatud uue aatomjõu mikroskoobi (AFM) varustamisele, millel on suur eraldusvõime ja suur kiirus ICFO nano iseloomustamislabori jaoks. Selline süsteem on nanotööstuse laboris valmistatud seadmete ja struktuuride iseloomustamise võti ning on oluline labori konkurentsivõime ja teadusuuringute kvaliteedi tagamiseks. Vahend on kättesaadav mitte ainult ICFO kasutajatele, vaid ka kolmandatele institutsioonidele nii akadeemilistest ringkondadest kui ka tööstusest._x000D_ _x000D_ Ostetav süsteem asendab olemasolevat AFMi, mis kannatab tõsiste piirangute all ja millel on osalised tõrked nii skanneris kui ka juhtelektroonikas. Selle remondi maksumus oleks nii kõrge, et ainus mõistlik alternatiiv oleks uue süsteemi soetamine._x000D_ _x000D_ Süsteem paigaldatakse nano iseloomustamislaborisse, mis sobib ideaalselt seda tüüpi tööriista ja protsessi jaoks ning ei vaja ehitustöid. (Estonian) | |||||||||||||||
| Property / summary: See projekt on pühendatud uue aatomjõu mikroskoobi (AFM) varustamisele, millel on suur eraldusvõime ja suur kiirus ICFO nano iseloomustamislabori jaoks. Selline süsteem on nanotööstuse laboris valmistatud seadmete ja struktuuride iseloomustamise võti ning on oluline labori konkurentsivõime ja teadusuuringute kvaliteedi tagamiseks. Vahend on kättesaadav mitte ainult ICFO kasutajatele, vaid ka kolmandatele institutsioonidele nii akadeemilistest ringkondadest kui ka tööstusest._x000D_ _x000D_ Ostetav süsteem asendab olemasolevat AFMi, mis kannatab tõsiste piirangute all ja millel on osalised tõrked nii skanneris kui ka juhtelektroonikas. Selle remondi maksumus oleks nii kõrge, et ainus mõistlik alternatiiv oleks uue süsteemi soetamine._x000D_ _x000D_ Süsteem paigaldatakse nano iseloomustamislaborisse, mis sobib ideaalselt seda tüüpi tööriista ja protsessi jaoks ning ei vaja ehitustöid. (Estonian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: See projekt on pühendatud uue aatomjõu mikroskoobi (AFM) varustamisele, millel on suur eraldusvõime ja suur kiirus ICFO nano iseloomustamislabori jaoks. Selline süsteem on nanotööstuse laboris valmistatud seadmete ja struktuuride iseloomustamise võti ning on oluline labori konkurentsivõime ja teadusuuringute kvaliteedi tagamiseks. Vahend on kättesaadav mitte ainult ICFO kasutajatele, vaid ka kolmandatele institutsioonidele nii akadeemilistest ringkondadest kui ka tööstusest._x000D_ _x000D_ Ostetav süsteem asendab olemasolevat AFMi, mis kannatab tõsiste piirangute all ja millel on osalised tõrked nii skanneris kui ka juhtelektroonikas. Selle remondi maksumus oleks nii kõrge, et ainus mõistlik alternatiiv oleks uue süsteemi soetamine._x000D_ _x000D_ Süsteem paigaldatakse nano iseloomustamislaborisse, mis sobib ideaalselt seda tüüpi tööriista ja protsessi jaoks ning ei vaja ehitustöid. (Estonian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
A projekt célja egy új atomerő-mikroszkóp (AFM) biztosítása, amely nagy felbontású és nagy sebességű az ICFO nanojellemzős laboratóriumában. Ez a fajta rendszer kulcsfontosságú a nanogyártási laboratóriumban gyártott eszközök és struktúrák jellemzéséhez, és alapvető fontosságú a laboratórium versenyképességének és a kutatás minőségének garantálásához. Az eszköz nemcsak az ICFO-felhasználók számára lesz elérhető, hanem harmadik intézmények számára is mind a tudományos körökben, mind az iparban._x000D_ _x000D_ A megvásárolandó rendszer felváltja a meglévő AFM-et, amely súlyos korlátoktól szenved, és részleges hibakibocsátókkal rendelkezik mind a szkennerben, mind a vezérlőelektronikában. A javítás költsége olyan magas lenne, hogy az egyetlen ésszerű alternatíva egy új rendszer beszerzése._x000D_ _x000D_ A rendszert a nanojelölő laborba telepítik, amely tökéletesen alkalmas az ilyen típusú szerszámokra és folyamatokra, és nem igényel semmilyen építési munkát. (Hungarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: A projekt célja egy új atomerő-mikroszkóp (AFM) biztosítása, amely nagy felbontású és nagy sebességű az ICFO nanojellemzős laboratóriumában. Ez a fajta rendszer kulcsfontosságú a nanogyártási laboratóriumban gyártott eszközök és struktúrák jellemzéséhez, és alapvető fontosságú a laboratórium versenyképességének és a kutatás minőségének garantálásához. Az eszköz nemcsak az ICFO-felhasználók számára lesz elérhető, hanem harmadik intézmények számára is mind a tudományos körökben, mind az iparban._x000D_ _x000D_ A megvásárolandó rendszer felváltja a meglévő AFM-et, amely súlyos korlátoktól szenved, és részleges hibakibocsátókkal rendelkezik mind a szkennerben, mind a vezérlőelektronikában. A javítás költsége olyan magas lenne, hogy az egyetlen ésszerű alternatíva egy új rendszer beszerzése._x000D_ _x000D_ A rendszert a nanojelölő laborba telepítik, amely tökéletesen alkalmas az ilyen típusú szerszámokra és folyamatokra, és nem igényel semmilyen építési munkát. (Hungarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: A projekt célja egy új atomerő-mikroszkóp (AFM) biztosítása, amely nagy felbontású és nagy sebességű az ICFO nanojellemzős laboratóriumában. Ez a fajta rendszer kulcsfontosságú a nanogyártási laboratóriumban gyártott eszközök és struktúrák jellemzéséhez, és alapvető fontosságú a laboratórium versenyképességének és a kutatás minőségének garantálásához. Az eszköz nemcsak az ICFO-felhasználók számára lesz elérhető, hanem harmadik intézmények számára is mind a tudományos körökben, mind az iparban._x000D_ _x000D_ A megvásárolandó rendszer felváltja a meglévő AFM-et, amely súlyos korlátoktól szenved, és részleges hibakibocsátókkal rendelkezik mind a szkennerben, mind a vezérlőelektronikában. A javítás költsége olyan magas lenne, hogy az egyetlen ésszerű alternatíva egy új rendszer beszerzése._x000D_ _x000D_ A rendszert a nanojelölő laborba telepítik, amely tökéletesen alkalmas az ilyen típusú szerszámokra és folyamatokra, és nem igényel semmilyen építési munkát. (Hungarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Този проект е посветен на осигуряването на нов микроскоп за атомна сила (AFM) с висока разделителна способност и висока скорост за лабораторията за нанохарактеризация в ICFO. Този вид система е от ключово значение за характеризирането на устройствата и структурите, произведени в лабораторията за нанофабрика, и е от основно значение за гарантиране на конкурентоспособността на лабораторията и качеството на научните изследвания. Инструментът ще бъде достъпен не само за потребителите на ICFO, но и за трети институции както от академичните среди, така и от индустрията._x000D_ _x000D_ Системата, която ще бъде закупена, ще замени съществуващ AFM, който страда от сериозни ограничения и има частични фалити както в скенера, така и в контролната електроника. Цената на ремонта му ще бъде толкова висока, че единствената разумна алтернатива е придобиването на нова система._x000D_ _x000D_ Системата ще бъде инсталирана в лабораторията за нанохарактеризация, която е напълно подходяща за този тип инструмент и процес и не изисква никакви строителни работи. (Bulgarian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Този проект е посветен на осигуряването на нов микроскоп за атомна сила (AFM) с висока разделителна способност и висока скорост за лабораторията за нанохарактеризация в ICFO. Този вид система е от ключово значение за характеризирането на устройствата и структурите, произведени в лабораторията за нанофабрика, и е от основно значение за гарантиране на конкурентоспособността на лабораторията и качеството на научните изследвания. Инструментът ще бъде достъпен не само за потребителите на ICFO, но и за трети институции както от академичните среди, така и от индустрията._x000D_ _x000D_ Системата, която ще бъде закупена, ще замени съществуващ AFM, който страда от сериозни ограничения и има частични фалити както в скенера, така и в контролната електроника. Цената на ремонта му ще бъде толкова висока, че единствената разумна алтернатива е придобиването на нова система._x000D_ _x000D_ Системата ще бъде инсталирана в лабораторията за нанохарактеризация, която е напълно подходяща за този тип инструмент и процес и не изисква никакви строителни работи. (Bulgarian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Този проект е посветен на осигуряването на нов микроскоп за атомна сила (AFM) с висока разделителна способност и висока скорост за лабораторията за нанохарактеризация в ICFO. Този вид система е от ключово значение за характеризирането на устройствата и структурите, произведени в лабораторията за нанофабрика, и е от основно значение за гарантиране на конкурентоспособността на лабораторията и качеството на научните изследвания. Инструментът ще бъде достъпен не само за потребителите на ICFO, но и за трети институции както от академичните среди, така и от индустрията._x000D_ _x000D_ Системата, която ще бъде закупена, ще замени съществуващ AFM, който страда от сериозни ограничения и има частични фалити както в скенера, така и в контролната електроника. Цената на ремонта му ще бъде толкова висока, че единствената разумна алтернатива е придобиването на нова система._x000D_ _x000D_ Системата ще бъде инсталирана в лабораторията за нанохарактеризация, която е напълно подходяща за този тип инструмент и процес и не изисква никакви строителни работи. (Bulgarian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Šis projektas skirtas aprūpinti naują atominės jėgos mikroskopą (AFM), pasižymintį didelės skiriamosios gebos ir dideliu greičiu nanocharakterizavimo laboratorijai ICFO. Ši sistema yra labai svarbi prietaisų ir struktūrų, pagamintų nanogamybos laboratorijoje, apibūdinimui ir yra labai svarbi siekiant užtikrinti laboratorijos konkurencingumą ir mokslinių tyrimų kokybę. Ši priemonė bus prieinama ne tik ICFO naudotojams, bet ir trečiosioms institucijoms iš akademinės bendruomenės ir pramonės._x000D_ _x000D_ Pirkti sistema pakeis esamą AFM, kuri kenčia nuo didelių apribojimų ir turi dalinių trūkumų tiek savo skaitytuvo, tiek valdymo elektronikoje. Jo remonto kaina būtų tokia didelė, kad vienintelė pagrįsta alternatyva yra naujos sistemos įsigijimas._x000D_ _x000D_ Sistema bus įdiegta nanocharakterizavimo laboratorijoje, kuri puikiai tinka tokio tipo įrankiui ir procesui ir nereikalauja jokių statybos darbų. (Lithuanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Šis projektas skirtas aprūpinti naują atominės jėgos mikroskopą (AFM), pasižymintį didelės skiriamosios gebos ir dideliu greičiu nanocharakterizavimo laboratorijai ICFO. Ši sistema yra labai svarbi prietaisų ir struktūrų, pagamintų nanogamybos laboratorijoje, apibūdinimui ir yra labai svarbi siekiant užtikrinti laboratorijos konkurencingumą ir mokslinių tyrimų kokybę. Ši priemonė bus prieinama ne tik ICFO naudotojams, bet ir trečiosioms institucijoms iš akademinės bendruomenės ir pramonės._x000D_ _x000D_ Pirkti sistema pakeis esamą AFM, kuri kenčia nuo didelių apribojimų ir turi dalinių trūkumų tiek savo skaitytuvo, tiek valdymo elektronikoje. Jo remonto kaina būtų tokia didelė, kad vienintelė pagrįsta alternatyva yra naujos sistemos įsigijimas._x000D_ _x000D_ Sistema bus įdiegta nanocharakterizavimo laboratorijoje, kuri puikiai tinka tokio tipo įrankiui ir procesui ir nereikalauja jokių statybos darbų. (Lithuanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Šis projektas skirtas aprūpinti naują atominės jėgos mikroskopą (AFM), pasižymintį didelės skiriamosios gebos ir dideliu greičiu nanocharakterizavimo laboratorijai ICFO. Ši sistema yra labai svarbi prietaisų ir struktūrų, pagamintų nanogamybos laboratorijoje, apibūdinimui ir yra labai svarbi siekiant užtikrinti laboratorijos konkurencingumą ir mokslinių tyrimų kokybę. Ši priemonė bus prieinama ne tik ICFO naudotojams, bet ir trečiosioms institucijoms iš akademinės bendruomenės ir pramonės._x000D_ _x000D_ Pirkti sistema pakeis esamą AFM, kuri kenčia nuo didelių apribojimų ir turi dalinių trūkumų tiek savo skaitytuvo, tiek valdymo elektronikoje. Jo remonto kaina būtų tokia didelė, kad vienintelė pagrįsta alternatyva yra naujos sistemos įsigijimas._x000D_ _x000D_ Sistema bus įdiegta nanocharakterizavimo laboratorijoje, kuri puikiai tinka tokio tipo įrankiui ir procesui ir nereikalauja jokių statybos darbų. (Lithuanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Ovaj je projekt posvećen osiguravanju novog mikroskopa atomskih sila (AFM) s visokom razlučivošću i velikom brzinom za laboratorij za nanokarakterizaciju u ICFO-u. Ova vrsta sustava ključna je za karakterizaciju uređaja i struktura proizvedenih u laboratoriju za nanofabrikaciju i temelj je za jamčenje konkurentnosti laboratorija i kvalitete istraživanja. Alat će biti dostupan ne samo korisnicima ICFO-a, već i trećim institucijama iz akademske zajednice i industrije._x000D_ _x000D_ Sustav koji se kupuje zamijenit će postojeći AFM koji pati od ozbiljnih ograničenja i ima djelomične failuers kako u skeneru tako iu upravljačkoj elektronici. Trošak popravka bio bi toliko visok da je jedina razumna alternativa stjecanje novog sustava._x000D_ _x000D_ Sustav će biti instaliran u laboratoriju za nanokarakterizaciju, koji je savršeno prikladan za ovu vrstu alata i procesa i ne zahtijeva nikakve građevinske radove. (Croatian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Ovaj je projekt posvećen osiguravanju novog mikroskopa atomskih sila (AFM) s visokom razlučivošću i velikom brzinom za laboratorij za nanokarakterizaciju u ICFO-u. Ova vrsta sustava ključna je za karakterizaciju uređaja i struktura proizvedenih u laboratoriju za nanofabrikaciju i temelj je za jamčenje konkurentnosti laboratorija i kvalitete istraživanja. Alat će biti dostupan ne samo korisnicima ICFO-a, već i trećim institucijama iz akademske zajednice i industrije._x000D_ _x000D_ Sustav koji se kupuje zamijenit će postojeći AFM koji pati od ozbiljnih ograničenja i ima djelomične failuers kako u skeneru tako iu upravljačkoj elektronici. Trošak popravka bio bi toliko visok da je jedina razumna alternativa stjecanje novog sustava._x000D_ _x000D_ Sustav će biti instaliran u laboratoriju za nanokarakterizaciju, koji je savršeno prikladan za ovu vrstu alata i procesa i ne zahtijeva nikakve građevinske radove. (Croatian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Ovaj je projekt posvećen osiguravanju novog mikroskopa atomskih sila (AFM) s visokom razlučivošću i velikom brzinom za laboratorij za nanokarakterizaciju u ICFO-u. Ova vrsta sustava ključna je za karakterizaciju uređaja i struktura proizvedenih u laboratoriju za nanofabrikaciju i temelj je za jamčenje konkurentnosti laboratorija i kvalitete istraživanja. Alat će biti dostupan ne samo korisnicima ICFO-a, već i trećim institucijama iz akademske zajednice i industrije._x000D_ _x000D_ Sustav koji se kupuje zamijenit će postojeći AFM koji pati od ozbiljnih ograničenja i ima djelomične failuers kako u skeneru tako iu upravljačkoj elektronici. Trošak popravka bio bi toliko visok da je jedina razumna alternativa stjecanje novog sustava._x000D_ _x000D_ Sustav će biti instaliran u laboratoriju za nanokarakterizaciju, koji je savršeno prikladan za ovu vrstu alata i procesa i ne zahtijeva nikakve građevinske radove. (Croatian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Detta projekt ägnas åt att tillhandahålla ett nytt atomkraftmikroskop (AFM) med hög upplösning och hög hastighet för nanokarakteriseringslaboratoriet vid ICFO. Denna typ av system är avgörande för karakteriseringen av enheter och strukturer som tillverkas i nanofabriceringslabbet och är grundläggande för att garantera laboratoriets konkurrenskraft och kvaliteten på forskningen. Verktyget kommer att vara tillgängligt inte bara för ICFO-användare utan även för tredje institutioner från både den akademiska världen och industrin._x000D_ _x000D_ Systemet som ska köpas kommer att ersätta en befintlig AFM som lider av allvarliga begränsningar och har partiella failuers både i sin skanner och i styrelektroniken. Kostnaden för dess reparation skulle vara så hög att det enda rimliga alternativet är förvärvet av ett nytt system._x000D_ _x000D_ Systemet kommer att installeras i nanokarakteriseringslabbet, vilket är perfekt för denna typ av verktyg och process och kräver inga byggarbeten. (Swedish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Detta projekt ägnas åt att tillhandahålla ett nytt atomkraftmikroskop (AFM) med hög upplösning och hög hastighet för nanokarakteriseringslaboratoriet vid ICFO. Denna typ av system är avgörande för karakteriseringen av enheter och strukturer som tillverkas i nanofabriceringslabbet och är grundläggande för att garantera laboratoriets konkurrenskraft och kvaliteten på forskningen. Verktyget kommer att vara tillgängligt inte bara för ICFO-användare utan även för tredje institutioner från både den akademiska världen och industrin._x000D_ _x000D_ Systemet som ska köpas kommer att ersätta en befintlig AFM som lider av allvarliga begränsningar och har partiella failuers både i sin skanner och i styrelektroniken. Kostnaden för dess reparation skulle vara så hög att det enda rimliga alternativet är förvärvet av ett nytt system._x000D_ _x000D_ Systemet kommer att installeras i nanokarakteriseringslabbet, vilket är perfekt för denna typ av verktyg och process och kräver inga byggarbeten. (Swedish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Detta projekt ägnas åt att tillhandahålla ett nytt atomkraftmikroskop (AFM) med hög upplösning och hög hastighet för nanokarakteriseringslaboratoriet vid ICFO. Denna typ av system är avgörande för karakteriseringen av enheter och strukturer som tillverkas i nanofabriceringslabbet och är grundläggande för att garantera laboratoriets konkurrenskraft och kvaliteten på forskningen. Verktyget kommer att vara tillgängligt inte bara för ICFO-användare utan även för tredje institutioner från både den akademiska världen och industrin._x000D_ _x000D_ Systemet som ska köpas kommer att ersätta en befintlig AFM som lider av allvarliga begränsningar och har partiella failuers både i sin skanner och i styrelektroniken. Kostnaden för dess reparation skulle vara så hög att det enda rimliga alternativet är förvärvet av ett nytt system._x000D_ _x000D_ Systemet kommer att installeras i nanokarakteriseringslabbet, vilket är perfekt för denna typ av verktyg och process och kräver inga byggarbeten. (Swedish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Acest proiect este dedicat furnizării unui nou microscop cu forță atomică (AFM) cu rezoluție ridicată și viteză mare pentru laboratorul de nanocaracterizare de la ICFO. Acest tip de sistem este esențial pentru caracterizarea dispozitivelor și structurilor fabricate în laboratorul de nanofabricare și este fundamental pentru a garanta competitivitatea laboratorului și calitatea cercetării. Instrumentul va fi disponibil nu numai utilizatorilor ICFO, ci și instituțiilor terțe, atât din mediul academic, cât și din industrie._x000D_ _x000D_ Sistemul care urmează să fie achiziționat va înlocui un AFM existent care suferă de limitări severe și are erori parțiale atât în scaner, cât și în sistemul electronic de control. Costul reparației sale ar fi atât de ridicat încât singura alternativă rezonabilă este achiziționarea unui nou sistem._x000D_ _x000D_ Sistemul va fi instalat în laboratorul de nanocaracterizare, care este perfect potrivit pentru acest tip de instrument și proces și nu necesită lucrări de construcție. (Romanian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Acest proiect este dedicat furnizării unui nou microscop cu forță atomică (AFM) cu rezoluție ridicată și viteză mare pentru laboratorul de nanocaracterizare de la ICFO. Acest tip de sistem este esențial pentru caracterizarea dispozitivelor și structurilor fabricate în laboratorul de nanofabricare și este fundamental pentru a garanta competitivitatea laboratorului și calitatea cercetării. Instrumentul va fi disponibil nu numai utilizatorilor ICFO, ci și instituțiilor terțe, atât din mediul academic, cât și din industrie._x000D_ _x000D_ Sistemul care urmează să fie achiziționat va înlocui un AFM existent care suferă de limitări severe și are erori parțiale atât în scaner, cât și în sistemul electronic de control. Costul reparației sale ar fi atât de ridicat încât singura alternativă rezonabilă este achiziționarea unui nou sistem._x000D_ _x000D_ Sistemul va fi instalat în laboratorul de nanocaracterizare, care este perfect potrivit pentru acest tip de instrument și proces și nu necesită lucrări de construcție. (Romanian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Acest proiect este dedicat furnizării unui nou microscop cu forță atomică (AFM) cu rezoluție ridicată și viteză mare pentru laboratorul de nanocaracterizare de la ICFO. Acest tip de sistem este esențial pentru caracterizarea dispozitivelor și structurilor fabricate în laboratorul de nanofabricare și este fundamental pentru a garanta competitivitatea laboratorului și calitatea cercetării. Instrumentul va fi disponibil nu numai utilizatorilor ICFO, ci și instituțiilor terțe, atât din mediul academic, cât și din industrie._x000D_ _x000D_ Sistemul care urmează să fie achiziționat va înlocui un AFM existent care suferă de limitări severe și are erori parțiale atât în scaner, cât și în sistemul electronic de control. Costul reparației sale ar fi atât de ridicat încât singura alternativă rezonabilă este achiziționarea unui nou sistem._x000D_ _x000D_ Sistemul va fi instalat în laboratorul de nanocaracterizare, care este perfect potrivit pentru acest tip de instrument și proces și nu necesită lucrări de construcție. (Romanian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Ta projekt je namenjen zagotavljanju novega atomskega mikroskopa (AFM) z visoko ločljivostjo in visoko hitrostjo za laboratorij za nanokarakterizacijo v ICFO. Ta vrsta sistema je ključnega pomena za karakterizacijo naprav in struktur, izdelanih v laboratoriju za nanoproizvodnjo, in je temeljnega pomena za zagotavljanje konkurenčnosti laboratorija in kakovosti raziskav. Orodje bo na voljo ne le uporabnikom ICFO, ampak tudi tretjim institucijam iz akademskih krogov in industrije._x000D_ _x000D_ Sistem, ki ga je treba kupiti, bo nadomestil obstoječi AFM, ki trpi zaradi resnih omejitev in ima delne odklopnike tako v skenerju kot v nadzorni elektroniki. Stroški popravila bi bili tako visoki, da je edina razumna alternativa pridobitev novega sistema._x000D_ _x000D_ Sistem bo nameščen v laboratoriju za nanokarakterizacijo, ki je popolnoma primeren za to vrsto orodja in procesa in ne zahteva gradbenih del. (Slovenian) | |||||||||||||||
| Property / summary: Ta projekt je namenjen zagotavljanju novega atomskega mikroskopa (AFM) z visoko ločljivostjo in visoko hitrostjo za laboratorij za nanokarakterizacijo v ICFO. Ta vrsta sistema je ključnega pomena za karakterizacijo naprav in struktur, izdelanih v laboratoriju za nanoproizvodnjo, in je temeljnega pomena za zagotavljanje konkurenčnosti laboratorija in kakovosti raziskav. Orodje bo na voljo ne le uporabnikom ICFO, ampak tudi tretjim institucijam iz akademskih krogov in industrije._x000D_ _x000D_ Sistem, ki ga je treba kupiti, bo nadomestil obstoječi AFM, ki trpi zaradi resnih omejitev in ima delne odklopnike tako v skenerju kot v nadzorni elektroniki. Stroški popravila bi bili tako visoki, da je edina razumna alternativa pridobitev novega sistema._x000D_ _x000D_ Sistem bo nameščen v laboratoriju za nanokarakterizacijo, ki je popolnoma primeren za to vrsto orodja in procesa in ne zahteva gradbenih del. (Slovenian) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Ta projekt je namenjen zagotavljanju novega atomskega mikroskopa (AFM) z visoko ločljivostjo in visoko hitrostjo za laboratorij za nanokarakterizacijo v ICFO. Ta vrsta sistema je ključnega pomena za karakterizacijo naprav in struktur, izdelanih v laboratoriju za nanoproizvodnjo, in je temeljnega pomena za zagotavljanje konkurenčnosti laboratorija in kakovosti raziskav. Orodje bo na voljo ne le uporabnikom ICFO, ampak tudi tretjim institucijam iz akademskih krogov in industrije._x000D_ _x000D_ Sistem, ki ga je treba kupiti, bo nadomestil obstoječi AFM, ki trpi zaradi resnih omejitev in ima delne odklopnike tako v skenerju kot v nadzorni elektroniki. Stroški popravila bi bili tako visoki, da je edina razumna alternativa pridobitev novega sistema._x000D_ _x000D_ Sistem bo nameščen v laboratoriju za nanokarakterizacijo, ki je popolnoma primeren za to vrsto orodja in procesa in ne zahteva gradbenih del. (Slovenian) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
Projekt ten ma na celu stworzenie nowego mikroskopu siły atomowej (AFM) o wysokiej rozdzielczości i dużej prędkości dla laboratorium nanocharakteryzacyjnego w ICFO. Ten rodzaj systemu ma kluczowe znaczenie dla charakterystyki urządzeń i struktur wytwarzanych w laboratorium nanofabrykacji i ma zasadnicze znaczenie dla zagwarantowania konkurencyjności laboratorium i jakości badań. Narzędzie będzie dostępne nie tylko dla użytkowników ICFO, ale także dla trzecich instytucji zarówno ze środowisk akademickich, jak i branżowych._x000D_ _x000D_ System, który zostanie zakupiony, zastąpi istniejącą AFM, która cierpi na poważne ograniczenia i ma częściowe awarie zarówno w swoim skanerze, jak i w elektronice sterującej. Koszt jego naprawy byłby tak wysoki, że jedyną rozsądną alternatywą jest nabycie nowego systemu._x000D_ _x000D_ System zostanie zainstalowany w laboratorium nanocharakteryzacyjnym, które doskonale nadaje się do tego typu narzędzi i procesów i nie wymaga żadnych prac budowlanych. (Polish) | |||||||||||||||
| Property / summary: Projekt ten ma na celu stworzenie nowego mikroskopu siły atomowej (AFM) o wysokiej rozdzielczości i dużej prędkości dla laboratorium nanocharakteryzacyjnego w ICFO. Ten rodzaj systemu ma kluczowe znaczenie dla charakterystyki urządzeń i struktur wytwarzanych w laboratorium nanofabrykacji i ma zasadnicze znaczenie dla zagwarantowania konkurencyjności laboratorium i jakości badań. Narzędzie będzie dostępne nie tylko dla użytkowników ICFO, ale także dla trzecich instytucji zarówno ze środowisk akademickich, jak i branżowych._x000D_ _x000D_ System, który zostanie zakupiony, zastąpi istniejącą AFM, która cierpi na poważne ograniczenia i ma częściowe awarie zarówno w swoim skanerze, jak i w elektronice sterującej. Koszt jego naprawy byłby tak wysoki, że jedyną rozsądną alternatywą jest nabycie nowego systemu._x000D_ _x000D_ System zostanie zainstalowany w laboratorium nanocharakteryzacyjnym, które doskonale nadaje się do tego typu narzędzi i procesów i nie wymaga żadnych prac budowlanych. (Polish) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: Projekt ten ma na celu stworzenie nowego mikroskopu siły atomowej (AFM) o wysokiej rozdzielczości i dużej prędkości dla laboratorium nanocharakteryzacyjnego w ICFO. Ten rodzaj systemu ma kluczowe znaczenie dla charakterystyki urządzeń i struktur wytwarzanych w laboratorium nanofabrykacji i ma zasadnicze znaczenie dla zagwarantowania konkurencyjności laboratorium i jakości badań. Narzędzie będzie dostępne nie tylko dla użytkowników ICFO, ale także dla trzecich instytucji zarówno ze środowisk akademickich, jak i branżowych._x000D_ _x000D_ System, który zostanie zakupiony, zastąpi istniejącą AFM, która cierpi na poważne ograniczenia i ma częściowe awarie zarówno w swoim skanerze, jak i w elektronice sterującej. Koszt jego naprawy byłby tak wysoki, że jedyną rozsądną alternatywą jest nabycie nowego systemu._x000D_ _x000D_ System zostanie zainstalowany w laboratorium nanocharakteryzacyjnym, które doskonale nadaje się do tego typu narzędzi i procesów i nie wymaga żadnych prac budowlanych. (Polish) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 18 August 2022
| |||||||||||||||
| Property / location (string) | |||||||||||||||
Castelldefels | |||||||||||||||
| Property / location (string): Castelldefels / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / postal code | |||||||||||||||
8860 | |||||||||||||||
| Property / postal code: 8860 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Barcelona Province / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / contained in NUTS: Barcelona Province / qualifier | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit | |||||||||||||||
| Property / contained in Local Administrative Unit: Castelldefels / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location | |||||||||||||||
41°16'36.01"N, 1°58'14.30"E
| |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 41°16'36.01"N, 1°58'14.30"E / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / coordinate location: 41°16'36.01"N, 1°58'14.30"E / qualifier | |||||||||||||||
| Property / budget | |||||||||||||||
342,980.0 Euro
| |||||||||||||||
| Property / budget: 342,980.0 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / EU contribution | |||||||||||||||
186,752.61 Euro
| |||||||||||||||
| Property / EU contribution: 186,752.61 Euro / rank | |||||||||||||||
Preferred rank | |||||||||||||||
| Property / co-financing rate | |||||||||||||||
54.45 percent
| |||||||||||||||
| Property / co-financing rate: 54.45 percent / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / date of last update | |||||||||||||||
20 December 2023
| |||||||||||||||
| Property / date of last update: 20 December 2023 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
Latest revision as of 15:28, 22 March 2024
Project Q3184560 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Acquisition of a microscope of high resolution and speed atomic forces |
Project Q3184560 in Spain |
Statements
186,752.61 Euro
0 references
342,980.0 Euro
0 references
54.45 percent
0 references
1 January 2018
0 references
31 December 2019
0 references
INSTITUTO DE CIENCIAS FOTONICAS
0 references
8860
0 references
La presente actuación consiste en la adquisición de un microscopio de fuerzas atómicas (AFM) de alta resolución y velocidad. Este tipo de equipo es una herramienta fundamental para la caracterización de las estructuras y dispositivos fabricados en el laboratorio de nanofabricación y es un elemento clave para garantizar la competitividad del laboratorio y la calidad de la investigación realizada tanto en ICFO como en terceras instituciones del entorno que deseen utilizar el equipo. El equipo a adquirir reemplazará un AFM existente que adolece de importantes limitaciones y averías tanto en el scanner como en la electrónica de control y cuya reparación tendría un coste tan elevado que la única alternativa razonable es la adquisición de un equipo nuevo._x000D_ _x000D_ El equipo será instalado en el laboratorio de nanocaracterización, que está perfectamente acondicionado para este tipo de equipos y no requiere la realización de obra alguna. (Spanish)
0 references
This project is devoted to provisioning a new atomic force microscope (AFM) featuring high resolution and high speed for the nanocharacterization laboratory at ICFO. This kind of system is key for the characterization of devices and structures fabricated in the nanofabrication lab and is fundamental to guarantee the competitiveness of the lab and the quality of research. The tool will be available not only to ICFO users but also to third institutions from both academia and industry._x000D_ _x000D_ The system to be purchased will replace an existing AFM that suffers from severe limitations and has partial failuers both in its scanner and in the control electronics. The cost of its repair would be so high that the only reasonable alternative is the acquisition of a new system._x000D_ _x000D_ The system will be installed in the nanocharacterization lab, which is perfectly suited for this type of tool and process and does not require any construction work. (English)
0.5121031909666075
0 references
La présente action consiste en l’acquisition d’un microscope à force atomique à haute résolution et à vitesse (AFM). Ce type d’équipement est un outil fondamental pour la caractérisation des structures et des dispositifs fabriqués dans le laboratoire de nanofabrication et est un élément clé pour assurer la compétitivité du laboratoire et la qualité de la recherche menée tant au sein de l’ICFO que dans les établissements tiers dans l’environnement qui souhaitent utiliser les équipements. L’équipement à acheter remplacera un AFM existant qui souffre de limitations et de pannes majeures à la fois dans le scanner et l’électronique de contrôle et dont la réparation coûterait un coût si élevé que la seule solution raisonnable est l’acquisition d’un nouvel équipement._x000D_ _x000D_ L’équipement sera installé dans le laboratoire de nanocaractérisation, parfaitement équipé pour ce type d’équipement et ne nécessitant aucun travail. (French)
4 December 2021
0 references
Die vorliegende Maßnahme besteht in der Anschaffung eines hochauflösenden und schnellen Atomkraftmikroskops (AFM). Diese Art von Ausrüstung ist ein grundlegendes Instrument für die Charakterisierung von Strukturen und Vorrichtungen, die im Nano-Fabrication Labor hergestellt werden, und ist ein Schlüsselelement, um die Wettbewerbsfähigkeit des Labors und die Qualität der Forschung zu gewährleisten, die sowohl im ICFO als auch in dritten Einrichtungen in der Umwelt durchgeführt wird, die die Ausrüstung verwenden möchten. Die zu erwerbende Ausrüstung wird ein bestehendes AFM ersetzen, das sowohl in der Scanner- als auch in der Steuerelektronik unter großen Einschränkungen und Ausfällen leidet und deren Reparatur so hohe Kosten kosten würde, dass die einzige vernünftige Alternative die Anschaffung einer neuen Ausrüstung ist._x000D_ _x000D_ Die Ausrüstung wird im Nano-Charakterisationslabor installiert, das perfekt für diese Art von Geräten ausgestattet ist und keine Arbeiten erfordert. (German)
9 December 2021
0 references
Het onderhavige beroep bestaat uit de verwerving van een atoomkrachtmicroscoop met hoge resolutie en snelheid (AFM). Dit type apparatuur is een fundamenteel instrument voor de karakterisering van structuren en hulpmiddelen die in het nanofabricagelaboratorium worden vervaardigd en is een essentieel element om het concurrentievermogen van het laboratorium en de kwaliteit van het onderzoek dat zowel in ICFO als in derde instellingen in het milieu wordt uitgevoerd en die de apparatuur willen gebruiken, te waarborgen. De aan te kopen apparatuur zal een bestaande AFM vervangen die te kampen heeft met grote beperkingen en storingen in zowel de scanner als de besturingselektronica en waarvan de reparatie dermate hoge kosten zou kosten dat het enige redelijke alternatief de aanschaf van een nieuwe apparatuur is._x000D_ _x000D_ De apparatuur zal worden geïnstalleerd in het nanokarakteriseringslaboratorium, dat perfect is uitgerust voor dit type apparatuur en geen werk vereist. (Dutch)
17 December 2021
0 references
L'azione attuale consiste nell'acquisizione di un microscopio a forza atomica ad alta risoluzione e velocità (AFM). Questo tipo di apparecchiature è uno strumento fondamentale per la caratterizzazione di strutture e dispositivi fabbricati nel laboratorio di nanofabbricazione ed è un elemento chiave per garantire la competitività del laboratorio e la qualità della ricerca svolta sia in ICFO che in terze istituzioni dell'ambiente che desiderano utilizzare le apparecchiature. L'apparecchiatura da acquistare sostituirà un AFM esistente che soffre di gravi limitazioni e guasti sia nello scanner che nell'elettronica di controllo e la cui riparazione costerebbe un costo così elevato che l'unica alternativa ragionevole è l'acquisizione di una nuova apparecchiatura._x000D_ _x000D_ L'apparecchiatura sarà installata nel laboratorio di nanocaratterizzazione, perfettamente attrezzato per questo tipo di apparecchiature e non richiede il completamento di alcun lavoro. (Italian)
16 January 2022
0 references
Το έργο αυτό είναι αφιερωμένο στην παροχή ενός νέου μικροσκοπίου ατομικής δύναμης (AFM) με υψηλή ανάλυση και υψηλή ταχύτητα για το εργαστήριο νανοχαρακτηρισμού του ICFO. Αυτό το είδος συστήματος είναι το κλειδί για το χαρακτηρισμό των συσκευών και των δομών που κατασκευάζονται στο εργαστήριο νανοκατασκευών και είναι θεμελιώδους σημασίας για τη διασφάλιση της ανταγωνιστικότητας του εργαστηρίου και της ποιότητας της έρευνας. Το εργαλείο θα είναι διαθέσιμο όχι μόνο στους χρήστες της ICFO αλλά και σε τρίτα ιδρύματα τόσο από τον ακαδημαϊκό χώρο όσο και από τη βιομηχανία._x000D_ _x000D_ Το σύστημα που θα αγοραστεί θα αντικαταστήσει ένα υπάρχον AFM που πάσχει από σοβαρούς περιορισμούς και έχει μερική αποτυχία τόσο στον σαρωτή του όσο και στα ηλεκτρονικά συστήματα ελέγχου. Το κόστος της επισκευής του θα ήταν τόσο υψηλό που η μόνη λογική εναλλακτική λύση είναι η απόκτηση ενός νέου συστήματος._x000D_ _x000D_ Το σύστημα θα εγκατασταθεί στο εργαστήριο νανοχαρακτηρισμού, το οποίο είναι απόλυτα κατάλληλο για αυτό το είδος εργαλείου και διαδικασίας και δεν απαιτεί κατασκευαστικές εργασίες. (Greek)
18 August 2022
0 references
Dette projekt har til formål at tilvejebringe et nyt atomkraftmikroskop (AFM) med høj opløsning og høj hastighed for nanokarakteriseringslaboratoriet ved ICFO. Denne form for system er afgørende for karakteriseringen af udstyr og strukturer, der er fremstillet i nanofabrikationslaboratoriet, og er afgørende for at sikre laboratoriets konkurrenceevne og kvaliteten af forskningen. Værktøjet vil ikke kun være tilgængeligt for ICFO-brugere, men også for tredje institutioner fra både den akademiske verden og industrien._x000D_ _x000D_ Det system, der skal købes, erstatter en eksisterende AFM, der lider af alvorlige begrænsninger og har delvis failuers både i sin scanner og i kontrolelektronik. Omkostningerne ved dens reparation ville være så høj, at det eneste rimelige alternativ er erhvervelse af et nyt system._x000D_ _x000D_ Systemet vil blive installeret i nanokarakterisering lab, som er perfekt egnet til denne type værktøj og proces og ikke kræver nogen byggearbejde. (Danish)
18 August 2022
0 references
Tämä hanke on omistettu uuden atomivoimamikroskoopin (AFM) tarjoamiseen ICFO:n nanokarakterointilaboratoriota varten. Tällainen järjestelmä on avain nanovalmistuslaboratoriossa valmistettujen laitteiden ja rakenteiden karakterisointiin, ja se on olennaisen tärkeä laboratorion kilpailukyvyn ja tutkimuksen laadun takaamiseksi. Työkalu on saatavilla paitsi ICFO:n käyttäjille myös kolmansille laitoksille sekä tiedemaailmasta että toimialasta._x000D_ _x000D_ ostettava järjestelmä korvaa olemassa olevan AFM:n, joka kärsii vakavista rajoituksista ja jolla on osittainen vikaantuminen sekä skannerissa että ohjauselektroniikassa. Sen korjauskustannukset olisivat niin korkeat, että ainoa järkevä vaihtoehto on uuden järjestelmän hankinta._x000D_ _x000D_ Järjestelmä asennetaan nanokarakterointilaboratorioon, joka sopii täydellisesti tämäntyyppiseen työkaluun ja prosessiin eikä vaadi rakennustöitä. (Finnish)
18 August 2022
0 references
Dan il-proġett huwa ddedikat għall-forniment ta’ mikroskopju ġdid tal-forza atomika (AFM) b’riżoluzzjoni għolja u veloċità għolja għal-laboratorju tan-nanokaratterizzazzjoni fl-ICFO. Din it-tip ta’ sistema hija essenzjali għall-karatterizzazzjoni ta’ apparat u strutturi fabbrikati fil-laboratorju tan-nanofabrikazzjoni u hija fundamentali biex tiggarantixxi l-kompetittività tal-laboratorju u l-kwalità tar-riċerka. L-għodda se tkun disponibbli mhux biss għall-utenti tal-ICFO iżda wkoll għal istituzzjonijiet terzi kemm mill-akkademja kif ukoll mill-industrija._x000D_ _x000D_ Is-sistema li trid tinxtara se tieħu post l-AFM eżistenti li tbati minn limitazzjonijiet severi u għandha failuers parzjali kemm fl-iskener tagħha kif ukoll fl-elettronika tal-kontroll. L-ispiża tat-tiswija tagħha tkun tant għolja li l-unika alternattiva raġonevoli hija l-akkwist ta ‘sistema ġdida._x000D_ _x000D_ Is-sistema se tkun installata fil-laboratorju nanokaratterizzazzjoni, li hija perfettament adattata għal dan it-tip ta ‘għodda u proċess u ma teħtieġ l-ebda xogħol ta’ kostruzzjoni. (Maltese)
18 August 2022
0 references
Šis projekts ir paredzēts, lai nodrošinātu jaunu atomspēku mikroskopu (AFM) ar augstu izšķirtspēju un lielu ātrumu ICFO nanoraksturošanas laboratorijai. Šāda veida sistēma ir būtiska nanoražošanas laboratorijā izgatavoto ierīču un struktūru raksturošanai, un tā ir būtiska, lai garantētu laboratorijas konkurētspēju un pētījumu kvalitāti. Rīks būs pieejams ne tikai ICFO lietotājiem, bet arī trešajām iestādēm gan no akadēmiskajām aprindām, gan nozares._x000D_ _x000D_ Iegādātā sistēma aizstās esošo AFM, kas cieš no nopietniem ierobežojumiem un kam ir daļēji faili gan skenerī, gan vadības elektronikā. Tā remonta izmaksas būtu tik augstas, ka vienīgā saprātīgā alternatīva ir jaunas sistēmas iegāde._x000D_ _x000D_ Sistēma tiks uzstādīta nanoraksturošanas laboratorijā, kas ir ideāli piemērota šāda veida instrumentiem un procesiem un neprasa nekādus būvdarbus. (Latvian)
18 August 2022
0 references
Tento projekt je zameraný na zabezpečenie nového mikroskopu atómovej sily (AFM) s vysokým rozlíšením a vysokou rýchlosťou pre nanocharakterizačné laboratórium v ICFO. Tento druh systému je kľúčový pre charakterizáciu zariadení a štruktúr vyrobených v nanofabrizačnom laboratóriu a má zásadný význam pre zaručenie konkurencieschopnosti laboratória a kvality výskumu. Nástroj bude k dispozícii nielen používateľom ICFO, ale aj tretím inštitúciám z akademickej obce aj priemyslu._x000D_ _x000D_ Systém, ktorý sa má zakúpiť, nahradí existujúcu AFM, ktorá trpí vážnymi obmedzeniami a má čiastočné zlyhávače vo svojom skenere aj v kontrolnej elektronike. Náklady na jeho opravu by boli také vysoké, že jedinou rozumnou alternatívou je získanie nového systému._x000D_ _x000D_ Systém bude inštalovaný v nanocharakterizačnom laboratóriu, ktoré sa dokonale hodí pre tento typ nástroja a procesu a nevyžaduje žiadne stavebné práce. (Slovak)
18 August 2022
0 references
Tá an tionscadal seo dírithe ar mhicreascóp fórsa adamhach nua (AFM) a sholáthar ina bhfuil ardtaifeach agus luas ard don tsaotharlann nanocharacterization ag ICFO. Tá an cineál córais ríthábhachtach do thréithriú feistí agus struchtúir a dhéantar sa saotharlann nanofabrication agus tá sé bunúsach chun iomaíochas an tsaotharlann agus cáilíocht an taighde a ráthú. Beidh an uirlis a bheith ar fáil ní hamháin d’úsáideoirí ICFO ach freisin d’institiúidí tríú ón saol acadúil agus industry._x000D_ _x000D_ Beidh an córas atá le ceannach in ionad AFM atá ann cheana féin atá ag fulaingt ó teorainneacha tromchúiseacha agus tá failuers páirteach araon ina scanóir agus sa leictreonaic rialaithe. Ba mhaith leis an costas a dheisiú a bheith chomh hard go bhfuil an rogha eile ach réasúnta a fháil system._x000D_ nua _x000D_ Beidh an córas a shuiteáil sa saotharlann nanocharacterization, atá oiriúnach go foirfe don chineál seo uirlis agus próiseas agus ní gá aon obair thógála. (Irish)
18 August 2022
0 references
Tento projekt je věnován vytvoření nového mikroskopu atomové síly (AFM) s vysokým rozlišením a vysokou rychlostí pro nanocharakterizační laboratoř ICFO. Tento typ systému je klíčem k charakterizaci zařízení a struktur vyrobených v nanofabrikační laboratoři a je zásadní pro zaručení konkurenceschopnosti laboratoře a kvality výzkumu. Nástroj bude k dispozici nejen uživatelům ICFO, ale také třetím institucím z akademické obce i průmyslu._x000D_ _x000D_ Systém, který má být zakoupen, nahradí stávající AFM, která trpí závažnými omezeními a má částečné selhání jak ve skeneru, tak v řídicí elektronice. Náklady na jeho opravu by byly tak vysoké, že jedinou rozumnou alternativou je pořízení nového systému._x000D_ _x000D_ Systém bude instalován v nanocharakterizační laboratoři, která je dokonale vhodná pro tento typ nástroje a procesu a nevyžaduje žádné stavební práce. (Czech)
18 August 2022
0 references
Este projeto é dedicado ao fornecimento de um novo microscópio de força atômica (AFM) com alta resolução e alta velocidade para o laboratório de nanocaracterização da ICFO. Este tipo de sistema é fundamental para a caracterização de dispositivos e estruturas fabricados no laboratório de nanofabricação e é fundamental para garantir a competitividade do laboratório e a qualidade da pesquisa. A ferramenta estará disponível não só para utentes da ICFO, mas também para instituições terceiras do meio acadêmico e da indústria._x000D_ _x000D_ O sistema a ser comprado substituirá um AFM existente que sofre de limitações severas e possui failuers parciais tanto em seu scanner quanto na eletrônica de controle. O custo de sua reparação seria tão alto que a única alternativa razoável é a aquisição de um novo sistema._x000D_ _x000D_ O sistema será instalado no laboratório de nanocaracterização, que é perfeitamente adequado para este tipo de ferramenta e processo e não requer nenhum trabalho de construção. (Portuguese)
18 August 2022
0 references
See projekt on pühendatud uue aatomjõu mikroskoobi (AFM) varustamisele, millel on suur eraldusvõime ja suur kiirus ICFO nano iseloomustamislabori jaoks. Selline süsteem on nanotööstuse laboris valmistatud seadmete ja struktuuride iseloomustamise võti ning on oluline labori konkurentsivõime ja teadusuuringute kvaliteedi tagamiseks. Vahend on kättesaadav mitte ainult ICFO kasutajatele, vaid ka kolmandatele institutsioonidele nii akadeemilistest ringkondadest kui ka tööstusest._x000D_ _x000D_ Ostetav süsteem asendab olemasolevat AFMi, mis kannatab tõsiste piirangute all ja millel on osalised tõrked nii skanneris kui ka juhtelektroonikas. Selle remondi maksumus oleks nii kõrge, et ainus mõistlik alternatiiv oleks uue süsteemi soetamine._x000D_ _x000D_ Süsteem paigaldatakse nano iseloomustamislaborisse, mis sobib ideaalselt seda tüüpi tööriista ja protsessi jaoks ning ei vaja ehitustöid. (Estonian)
18 August 2022
0 references
A projekt célja egy új atomerő-mikroszkóp (AFM) biztosítása, amely nagy felbontású és nagy sebességű az ICFO nanojellemzős laboratóriumában. Ez a fajta rendszer kulcsfontosságú a nanogyártási laboratóriumban gyártott eszközök és struktúrák jellemzéséhez, és alapvető fontosságú a laboratórium versenyképességének és a kutatás minőségének garantálásához. Az eszköz nemcsak az ICFO-felhasználók számára lesz elérhető, hanem harmadik intézmények számára is mind a tudományos körökben, mind az iparban._x000D_ _x000D_ A megvásárolandó rendszer felváltja a meglévő AFM-et, amely súlyos korlátoktól szenved, és részleges hibakibocsátókkal rendelkezik mind a szkennerben, mind a vezérlőelektronikában. A javítás költsége olyan magas lenne, hogy az egyetlen ésszerű alternatíva egy új rendszer beszerzése._x000D_ _x000D_ A rendszert a nanojelölő laborba telepítik, amely tökéletesen alkalmas az ilyen típusú szerszámokra és folyamatokra, és nem igényel semmilyen építési munkát. (Hungarian)
18 August 2022
0 references
Този проект е посветен на осигуряването на нов микроскоп за атомна сила (AFM) с висока разделителна способност и висока скорост за лабораторията за нанохарактеризация в ICFO. Този вид система е от ключово значение за характеризирането на устройствата и структурите, произведени в лабораторията за нанофабрика, и е от основно значение за гарантиране на конкурентоспособността на лабораторията и качеството на научните изследвания. Инструментът ще бъде достъпен не само за потребителите на ICFO, но и за трети институции както от академичните среди, така и от индустрията._x000D_ _x000D_ Системата, която ще бъде закупена, ще замени съществуващ AFM, който страда от сериозни ограничения и има частични фалити както в скенера, така и в контролната електроника. Цената на ремонта му ще бъде толкова висока, че единствената разумна алтернатива е придобиването на нова система._x000D_ _x000D_ Системата ще бъде инсталирана в лабораторията за нанохарактеризация, която е напълно подходяща за този тип инструмент и процес и не изисква никакви строителни работи. (Bulgarian)
18 August 2022
0 references
Šis projektas skirtas aprūpinti naują atominės jėgos mikroskopą (AFM), pasižymintį didelės skiriamosios gebos ir dideliu greičiu nanocharakterizavimo laboratorijai ICFO. Ši sistema yra labai svarbi prietaisų ir struktūrų, pagamintų nanogamybos laboratorijoje, apibūdinimui ir yra labai svarbi siekiant užtikrinti laboratorijos konkurencingumą ir mokslinių tyrimų kokybę. Ši priemonė bus prieinama ne tik ICFO naudotojams, bet ir trečiosioms institucijoms iš akademinės bendruomenės ir pramonės._x000D_ _x000D_ Pirkti sistema pakeis esamą AFM, kuri kenčia nuo didelių apribojimų ir turi dalinių trūkumų tiek savo skaitytuvo, tiek valdymo elektronikoje. Jo remonto kaina būtų tokia didelė, kad vienintelė pagrįsta alternatyva yra naujos sistemos įsigijimas._x000D_ _x000D_ Sistema bus įdiegta nanocharakterizavimo laboratorijoje, kuri puikiai tinka tokio tipo įrankiui ir procesui ir nereikalauja jokių statybos darbų. (Lithuanian)
18 August 2022
0 references
Ovaj je projekt posvećen osiguravanju novog mikroskopa atomskih sila (AFM) s visokom razlučivošću i velikom brzinom za laboratorij za nanokarakterizaciju u ICFO-u. Ova vrsta sustava ključna je za karakterizaciju uređaja i struktura proizvedenih u laboratoriju za nanofabrikaciju i temelj je za jamčenje konkurentnosti laboratorija i kvalitete istraživanja. Alat će biti dostupan ne samo korisnicima ICFO-a, već i trećim institucijama iz akademske zajednice i industrije._x000D_ _x000D_ Sustav koji se kupuje zamijenit će postojeći AFM koji pati od ozbiljnih ograničenja i ima djelomične failuers kako u skeneru tako iu upravljačkoj elektronici. Trošak popravka bio bi toliko visok da je jedina razumna alternativa stjecanje novog sustava._x000D_ _x000D_ Sustav će biti instaliran u laboratoriju za nanokarakterizaciju, koji je savršeno prikladan za ovu vrstu alata i procesa i ne zahtijeva nikakve građevinske radove. (Croatian)
18 August 2022
0 references
Detta projekt ägnas åt att tillhandahålla ett nytt atomkraftmikroskop (AFM) med hög upplösning och hög hastighet för nanokarakteriseringslaboratoriet vid ICFO. Denna typ av system är avgörande för karakteriseringen av enheter och strukturer som tillverkas i nanofabriceringslabbet och är grundläggande för att garantera laboratoriets konkurrenskraft och kvaliteten på forskningen. Verktyget kommer att vara tillgängligt inte bara för ICFO-användare utan även för tredje institutioner från både den akademiska världen och industrin._x000D_ _x000D_ Systemet som ska köpas kommer att ersätta en befintlig AFM som lider av allvarliga begränsningar och har partiella failuers både i sin skanner och i styrelektroniken. Kostnaden för dess reparation skulle vara så hög att det enda rimliga alternativet är förvärvet av ett nytt system._x000D_ _x000D_ Systemet kommer att installeras i nanokarakteriseringslabbet, vilket är perfekt för denna typ av verktyg och process och kräver inga byggarbeten. (Swedish)
18 August 2022
0 references
Acest proiect este dedicat furnizării unui nou microscop cu forță atomică (AFM) cu rezoluție ridicată și viteză mare pentru laboratorul de nanocaracterizare de la ICFO. Acest tip de sistem este esențial pentru caracterizarea dispozitivelor și structurilor fabricate în laboratorul de nanofabricare și este fundamental pentru a garanta competitivitatea laboratorului și calitatea cercetării. Instrumentul va fi disponibil nu numai utilizatorilor ICFO, ci și instituțiilor terțe, atât din mediul academic, cât și din industrie._x000D_ _x000D_ Sistemul care urmează să fie achiziționat va înlocui un AFM existent care suferă de limitări severe și are erori parțiale atât în scaner, cât și în sistemul electronic de control. Costul reparației sale ar fi atât de ridicat încât singura alternativă rezonabilă este achiziționarea unui nou sistem._x000D_ _x000D_ Sistemul va fi instalat în laboratorul de nanocaracterizare, care este perfect potrivit pentru acest tip de instrument și proces și nu necesită lucrări de construcție. (Romanian)
18 August 2022
0 references
Ta projekt je namenjen zagotavljanju novega atomskega mikroskopa (AFM) z visoko ločljivostjo in visoko hitrostjo za laboratorij za nanokarakterizacijo v ICFO. Ta vrsta sistema je ključnega pomena za karakterizacijo naprav in struktur, izdelanih v laboratoriju za nanoproizvodnjo, in je temeljnega pomena za zagotavljanje konkurenčnosti laboratorija in kakovosti raziskav. Orodje bo na voljo ne le uporabnikom ICFO, ampak tudi tretjim institucijam iz akademskih krogov in industrije._x000D_ _x000D_ Sistem, ki ga je treba kupiti, bo nadomestil obstoječi AFM, ki trpi zaradi resnih omejitev in ima delne odklopnike tako v skenerju kot v nadzorni elektroniki. Stroški popravila bi bili tako visoki, da je edina razumna alternativa pridobitev novega sistema._x000D_ _x000D_ Sistem bo nameščen v laboratoriju za nanokarakterizacijo, ki je popolnoma primeren za to vrsto orodja in procesa in ne zahteva gradbenih del. (Slovenian)
18 August 2022
0 references
Projekt ten ma na celu stworzenie nowego mikroskopu siły atomowej (AFM) o wysokiej rozdzielczości i dużej prędkości dla laboratorium nanocharakteryzacyjnego w ICFO. Ten rodzaj systemu ma kluczowe znaczenie dla charakterystyki urządzeń i struktur wytwarzanych w laboratorium nanofabrykacji i ma zasadnicze znaczenie dla zagwarantowania konkurencyjności laboratorium i jakości badań. Narzędzie będzie dostępne nie tylko dla użytkowników ICFO, ale także dla trzecich instytucji zarówno ze środowisk akademickich, jak i branżowych._x000D_ _x000D_ System, który zostanie zakupiony, zastąpi istniejącą AFM, która cierpi na poważne ograniczenia i ma częściowe awarie zarówno w swoim skanerze, jak i w elektronice sterującej. Koszt jego naprawy byłby tak wysoki, że jedyną rozsądną alternatywą jest nabycie nowego systemu._x000D_ _x000D_ System zostanie zainstalowany w laboratorium nanocharakteryzacyjnym, które doskonale nadaje się do tego typu narzędzi i procesów i nie wymaga żadnych prac budowlanych. (Polish)
18 August 2022
0 references
Castelldefels
0 references
20 December 2023
0 references
Identifiers
EQC2018-004079-P
0 references