ACQUISITION OF A FIELD EMISSION TRACKING ELECTRON MICROSCOPE (FESEM), WITH FOCUSED GALLIUM ION (FIB) AND RX MICROANALYSIS (EDX) (Q3136850): Difference between revisions
Jump to navigation
Jump to search
(Changed label, description and/or aliases in el, da, fi, mt, lv, sk, ga, cs, pt, et, hu, bg, lt, hr, sv, ro, sl, pl, nl, fr, de, it, es, and other parts: Adding translations: el, da, fi, mt, lv, sk, ga, cs, pt, et, hu, bg, lt, hr, sv, ro, sl, pl,) |
(Changed an Item) |
||||||||||||||
| Property / end time | |||||||||||||||
| |||||||||||||||
| Property / end time: 31 December 2020 / rank | |||||||||||||||
| Property / end time | |||||||||||||||
31 March 2021
| |||||||||||||||
| Property / end time: 31 March 2021 / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
Revision as of 17:48, 22 February 2023
Project Q3136850 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | ACQUISITION OF A FIELD EMISSION TRACKING ELECTRON MICROSCOPE (FESEM), WITH FOCUSED GALLIUM ION (FIB) AND RX MICROANALYSIS (EDX) |
Project Q3136850 in Spain |
Statements
413,000.0 Euro
0 references
826,000.0 Euro
0 references
50.0 percent
0 references
1 January 2018
0 references
31 March 2021
0 references
UNIVERSIDAD ROVIRA I VIRGILI
0 references
41°7'2.06"N, 1°15'16.60"E
0 references
43148
0 references
La actuación consiste en la adquisición de un microscopio electrónico de barrido de alta resolución acoplado a un cañón de iones de galio focalizados. El FESEM/FIB/EDX permite la observación y medida de estructuras de unos cuantos nanómetros, el depósito y decapado selectivo, la tomografía 3D, microfabricación, preparación de lamelas para TEM y microanálisis elemental._x000D_ El equipo se instalará en el SRCiT de la URV, en substitución de un SEM-EDX convencional ya obsoleto, por lo que el espacio dispone de las infraestructuras auxiliares básicas necesarias. _x000D_ Muchos de los grupos e instituciones que apoyan la propuesta, son usuarios de FESEM, FIB i/o FESEM-FIB en otros centros. La dificultad en encontrar ventanas temporales de uso en otros centros, adecuadas a su ritmo y necesidades, es una de las razones que impulsa a estos grupos a realizar esta solicitud. Por tanto, la actuación supondrá un impacto incremental en la excelencia de la productividad científica y la internacionalización de las colaboraciones._x000D_ En la propuesta se detallan el impacto técnico que la actuación supondrá para cada uno de los grupos. En esencia, dado que su investigación se realiza en la escala nanométrica, sus observaciones y medidas requieren más resolución que la ofrecida por un SEM convencional. Con este equipo, estos grupos de investigación y empresas obtendrán el análisis de la composición elemental de las secciones transversales o la tomografía 3D que necesitan para ser competitivos. (Spanish)
0 references
The proposal presents the acquisition of a high resolution scanning electron microscope coupled to a focused Ga+ Ion Beam. The FESEM / FIB / EDX allows observation and measurement of few nanometers structures, selective deposition and pickling, 3D tomography, microfabrication, preparation of TEM lamellas and elemental microanalysis._x000D_ _x000D_ The equipment will be installed at the SRCiT of the URV, replacing a already obsolete conventional SEM-EDX. Facilities has already the basic auxiliary infrastructure for its proper installation. _x000D_ Many of the groups and institutions supporting the equipment are users of FESEM, FIB and / or FESEM-FIB in other centers. The difficulty in getting use time slots in other centers, adjusted to their needs, is one of the reasons that drives these groups to make this request. Therefore, the performance will suppose an incremental impact on the excellence of the scientific productivity and the internationalization of the collaborations. This proposal details the added value and the impact to each of the research groups and institutions. In essence, given that its research is carried out on the nanometer scale, its observations and measurements require more resolution than the one offered by a conventional SEM. With the FESEM/FIB, our research groups and companies will obtain the analysis of the elemental composition of the cross sections or the 3D tomography they need to be highly competitive. (English)
0 references
L’action consiste en l’acquisition d’un microscope électronique à balayage à haute résolution couplé à un baril d’ions de gallium focalisé. Le FESEM/FIB/EDX permet l’observation et la mesure des structures de quelques nanomètres, le dépôt et le décapage sélectif, la tomographie 3D, la microfabrication, la préparation des lamelles pour le TEM et la microanalyse élémentaire._x000D_ L’équipement sera installé dans le SRCiT de l’URV, en remplacement d’un SEM-EDX conventionnel obsolète, de sorte que l’espace dispose des infrastructures auxiliaires de base nécessaires. _x000D_ de nombreux groupes et institutions qui soutiennent la proposition, sont des utilisateurs de FESEM, FIB i/ou FESEM-FIB dans d’autres centres. La difficulté de trouver des fenêtres temporaires à utiliser dans d’autres centres, adaptées à leur rythme et à leurs besoins, est l’une des raisons qui poussent ces groupes à faire cette demande. Par conséquent, l’action aura un impact incrémental sur l’excellence de la productivité scientifique et l’internationalisation des collaborations._x000D_ La proposition détaille l’impact technique que l’action aura pour chacun des groupes. En substance, étant donné que leurs recherches sont menées à l’échelle nanométrique, leurs observations et mesures nécessitent plus de résolution que celle offerte par un SEM conventionnel. Avec cette équipe, ces groupes de recherche et entreprises obtiendront l’analyse de la composition élémentaire des sections transversales ou de la tomographie 3D dont ils ont besoin pour être compétitifs. (French)
2 December 2021
0 references
Die Aktion besteht in der Anschaffung eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops in Verbindung mit einem fokussierten Gallium-Ionenlauf. Die FESEM/FIB/EDX ermöglicht die Beobachtung und Messung von Strukturen von einigen Nanometern, die Ablagerung und selektive Beizung, 3D-Tomographie, Mikrofertigung, Vorbereitung von Lamellen für TEM und elementare Mikroanalyse._x000D_ Die Ausrüstung wird im SRCiT des URV installiert und ersetzt eine veraltete konventionelle SEM-EDX, so dass der Raum über die notwendigen grundlegenden Hilfsinfrastrukturen verfügt. _x000D_ viele der Gruppen und Institutionen, die den Vorschlag unterstützen, sind Nutzer von FESEM, FIB i/oder FESEM-FIB in anderen Zentren. Die Schwierigkeit, temporäre Fenster für den Einsatz in anderen Zentren zu finden, angepasst an ihr Tempo und ihre Bedürfnisse, ist einer der Gründe, die diese Gruppen dazu antreibt, diesen Antrag zu stellen. Daher wird die Maßnahme einen inkrementellen Einfluss auf die Exzellenz der wissenschaftlichen Produktivität und die Internationalisierung der Kooperationen haben._x000D_ Der Vorschlag beschreibt die technischen Auswirkungen, die die Maßnahme für jede der Gruppen haben wird. Da ihre Forschung auf der nanometrischen Skala durchgeführt wird, erfordern ihre Beobachtungen und Maßnahmen im Wesentlichen eine größere Auflösung als die eines konventionellen SEM. Mit diesem Team erhalten diese Forschungsgruppen und Unternehmen die Analyse der elementaren Zusammensetzung der Querschnitte oder der 3D-Tomographie, die sie wettbewerbsfähig sein müssen. (German)
9 December 2021
0 references
De actie bestaat uit de verwerving van een hoge resolutie aftasten elektronenmicroscoop gekoppeld aan een geconcentreerd gallium ionenvat. De FESEM/FIB/EDX maakt het mogelijk structuren van enkele nanometers te observeren en te meten, de afzetting en selectieve beitsing, 3D-tomografie, microproductie, voorbereiding van lamellen voor TEM en elementale microanalyse._x000D_ De apparatuur wordt geïnstalleerd in de SRCiT van de URV, ter vervanging van een verouderde conventionele SEM-EDX, zodat de ruimte over de nodige basishulpinfrastructuren beschikt. _x000D_ veel van de groepen en instellingen die het voorstel ondersteunen, zijn gebruikers van FESEM, FIB i/of FESEM-FIB in andere centra. De moeilijkheid om tijdelijke vensters te vinden voor gebruik in andere centra, aangepast aan hun tempo en behoeften, is een van de redenen waarom deze groepen dit verzoek doen. Daarom zal de actie een toenemend effect hebben op de excellentie van de wetenschappelijke productiviteit en de internationalisering van samenwerkingen._x000D_ Het voorstel beschrijft de technische impact die de actie voor elk van de groepen zal hebben. In wezen, gezien het feit dat hun onderzoek wordt uitgevoerd op de nanometrische schaal, hun waarnemingen en maatregelen vereisen meer resolutie dan die van een conventionele SEM. Met dit team krijgen deze onderzoeksgroepen en bedrijven de analyse van de elementaire samenstelling van de dwarsdoorsneden of de 3D-tomografie die ze nodig hebben om concurrerend te zijn. (Dutch)
17 December 2021
0 references
L'azione consiste nell'acquisizione di un microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione accoppiato a una canna di ione gallio focalizzata. Il FESEM/FIB/EDX consente l'osservazione e la misurazione di strutture di pochi nanometri, il deposito e il decapaggio selettivo, la tomografia 3D, la microfabbricazione, la preparazione di lamelle per TEM e la microanalisi elementare._x000D_ L'apparecchiatura sarà installata nella SRCiT dell'URV, sostituendo un obsoleto SEM-EDX convenzionale, quindi lo spazio ha le necessarie infrastrutture ausiliarie di base. _x000D_ molti dei gruppi e istituzioni che sostengono la proposta, sono utenti di FESEM, FIB i/o FESEM-FIB in altri centri. La difficoltà di trovare finestre temporanee per l'uso in altri centri, adattati al loro ritmo e alle loro esigenze, è uno dei motivi che spinge questi gruppi a fare questa richiesta. Pertanto, l'azione avrà un impatto incrementale sull'eccellenza della produttività scientifica e sull'internazionalizzazione delle collaborazioni._x000D_ La proposta specifica l'impatto tecnico che l'azione avrà per ciascuno dei gruppi. In sostanza, dato che la loro ricerca è effettuata su scala nanometrica, le loro osservazioni e misure richiedono una risoluzione maggiore di quella offerta da una SEM convenzionale. Con questo team, questi gruppi di ricerca e aziende otterranno l'analisi della composizione elementare delle sezioni trasversali o della tomografia 3D di cui hanno bisogno per essere competitive. (Italian)
16 January 2022
0 references
Η πρόταση παρουσιάζει την απόκτηση ενός ηλεκτρονικού μικροσκοπίου σάρωσης υψηλής ανάλυσης σε συνδυασμό με ένα εστιασμένο Ga+ Ion Beam. Το FESEM/FIB/EDX επιτρέπει την παρατήρηση και μέτρηση λίγων νανομέτρων, επιλεκτικής εναπόθεσης και αποξείδωσης, τρισδιάστατης τομογραφίας, μικροκατασκευής, παρασκευής λαμελλών ΤΕΜ και στοιχειακής μικροανάλυσης._x000D_ _x000D_ Ο εξοπλισμός θα εγκατασταθεί στο SRCiT του URV, αντικαθιστώντας ένα ήδη παρωχημένο συμβατικό SEM-EDX. Οι εγκαταστάσεις διαθέτουν ήδη τη βασική βοηθητική υποδομή για την ορθή εγκατάστασή της. _x000D_ πολλές από τις ομάδες και τα ιδρύματα που υποστηρίζουν τον εξοπλισμό είναι χρήστες FESEM, FIB και/ή FESEM-FIB σε άλλα κέντρα. Η δυσκολία στη χρήση χρονοθυρίδων σε άλλα κέντρα, προσαρμοσμένη στις ανάγκες τους, είναι ένας από τους λόγους που οδηγεί αυτές τις ομάδες να κάνουν αυτό το αίτημα. Ως εκ τούτου, η απόδοση θα προϋποθέτει μια αυξητική επίδραση στην αριστεία της επιστημονικής παραγωγικότητας και τη διεθνοποίηση των συνεργασιών. Η παρούσα πρόταση περιγράφει λεπτομερώς την προστιθέμενη αξία και τον αντίκτυπο για καθεμία από τις ερευνητικές ομάδες και ιδρύματα. Στην ουσία, δεδομένου ότι η έρευνά της πραγματοποιείται σε κλίμακα νανομέτρου, οι παρατηρήσεις και οι μετρήσεις της απαιτούν μεγαλύτερη ανάλυση από εκείνη που προσφέρει ένα συμβατικό SEM. Με το FESEM/FIB, οι ερευνητικές ομάδες και οι εταιρείες μας θα αποκτήσουν την ανάλυση της στοιχειώδους σύνθεσης των διατομών ή της τρισδιάστατης τομογραφίας που χρειάζονται για να είναι ιδιαίτερα ανταγωνιστικές. (Greek)
17 August 2022
0 references
Forslaget præsenterer erhvervelsen af et højopløsningsscanningselektronmikroskop kombineret med en fokuseret Ga+ Ion Beam. FESEM/FIB/EDX giver mulighed for observation og måling af få nanometre strukturer, selektiv deposition og bejdsning, 3D tomografi, mikrofabrication, fremstilling af TEM lamellas og elemental mikroanalyse._x000D_ _x000D_ Udstyret vil blive installeret på SRCiT af URV og erstatte en allerede forældet konventionel SEM-EDX. Faciliteterne har allerede den grundlæggende hjælpeinfrastruktur til korrekt installation. _x000D_ mange af de grupper og institutioner, der støtter udstyret, er brugere af FESEM, FIB og/eller FESEM-FIB i andre centre. Vanskeligheden ved at få brug tid slots i andre centre, tilpasset til deres behov, er en af grundene til, at driver disse grupper til at gøre denne anmodning. Resultaterne vil derfor antage en gradvis indvirkning på kvaliteten af den videnskabelige produktivitet og internationaliseringen af samarbejdet. Dette forslag beskriver merværdien og virkningen for hver af forskningsgrupperne og -institutionerne. I betragtning af at dens forskning udføres på nanometerskalaen, kræver dets observationer og målinger i det væsentlige mere opløsning end den, der tilbydes af et konventionelt SEM. Med FESEM/FIB får vores forskningsgrupper og virksomheder en analyse af den elementære sammensætning af de tværsnit eller den 3D-tomografi, de har brug for for at være meget konkurrencedygtige. (Danish)
17 August 2022
0 references
Ehdotuksessa esitetään korkean resoluution skannauselektronimikroskoopin hankinta yhdistettynä keskitettyyn Ga+ Ion Beamiin. FESEM/FIB/EDX mahdollistaa muutamien nanometrien rakenteiden havainnoinnin ja mittauksen, selektiivisen laskeuman ja peittauksen, 3D-tomografian, mikrovalmistuksen, TEM-lamellien valmistuksen ja alkuainemikroanalyysin._x000D_ _x000D_ Laitteet asennetaan URV: n SRCiT-järjestelmään, joka korvaa jo vanhentuneen tavanomaisen SEM-EDX:n. Laitoksilla on jo perusapuinfrastruktuuri sen asianmukaista asennusta varten. _x000D_ monet ryhmiä ja laitoksia tukevat laitteet ovat käyttäjiä FESEM, FIB ja/tai FESEM-FIB muissa keskuksissa. Vaikeus saada käyttöaika lähtö muissa keskuksissa, mukautettu niiden tarpeisiin, on yksi syy, joka ajaa nämä ryhmät tekemään tämän pyynnön. Näin ollen suoritus edellyttää, että se vaikuttaa yhä enemmän tieteellisen tuottavuuden huippuosaamiseen ja yhteistyön kansainvälistymiseen. Tässä ehdotuksessa esitetään yksityiskohtaisesti kullekin tutkimusryhmälle ja -laitokselle koituva lisäarvo ja vaikutus. Kun otetaan huomioon, että sen tutkimus tehdään nanomittarin asteikolla, sen havainnot ja mittaukset edellyttävät enemmän resoluutiota kuin perinteisen SEM:n tarjoama. FESEM/FIB:n avulla tutkimusryhmät ja -yritykset saavat analyysin niiden poikkileikkausten alkuainekoostumuksesta tai 3D-tomografiasta, joiden on oltava erittäin kilpailukykyisiä. (Finnish)
17 August 2022
0 references
Il-proposta tippreżenta l-akkwist ta’ mikroskopju tal-elettroni bi skannjar b’riżoluzzjoni għolja flimkien ma’ Ga+ Ion Beam iffukat. Il-FESEM/FIB/EDX jippermetti l-osservazzjoni u l-kejl ta’ ftit strutturi ta’ nanometri, depożizzjoni selettiva u pickling, tomografija 3D, mikrofabrikazzjoni, preparazzjoni ta’ lamellas TEM u mikroanaliżi elementali._x000D_ _x000D_ It-tagħmir se jiġi installat fl-SRCiT tal-URV, li jissostitwixxi SEM-EDX konvenzjonali li diġà għadda żmienu. Il-faċilitajiet diġà għandhom l-infrastruttura awżiljarja bażika għall-installazzjoni xierqa tagħha. _x000D_ ħafna mill-gruppi u istituzzjonijiet li jappoġġjaw it-tagħmir huma utenti ta ‘FESEM, FIB u/jew FESEM-FIB f’ċentri oħra. Id-diffikultà fil jkollna slots ħin użu f’ċentri oħra, aġġustati għall-ħtiġijiet tagħhom, hija waħda mir-raġunijiet li drives dawn il-gruppi biex jagħmlu din it-talba. Għalhekk, il-prestazzjoni se tassumi impatt inkrementali fuq l-eċċellenza tal-produttività xjentifika u l-internazzjonalizzazzjoni tal-kollaborazzjonijiet. Din il-proposta tagħti dettalji dwar il-valur miżjud u l-impatt għal kull wieħed mill-gruppi u l-istituzzjonijiet ta’ riċerka. Essenzjalment, minħabba li r-riċerka tagħha ssir fuq l-iskala tan-nanometru, l-osservazzjonijiet u l-kejl tagħha jeħtieġu aktar riżoluzzjoni minn dik offruta minn SEM konvenzjonali. Bil-FESEM/FIB, il-gruppi ta’ riċerka u l-kumpaniji tagħna se jiksbu l-analiżi tal-kompożizzjoni elementali tas-sezzjonijiet trasversali jew tat-tomografija 3D li jeħtieġu biex ikunu kompetittivi ħafna. (Maltese)
17 August 2022
0 references
Priekšlikumā paredzēts iegādāties augstas izšķirtspējas skenēšanas elektronu mikroskopu, kas savienots ar koncentrētu Ga+ Ion Beam. FESEM/FIB/EDX ļauj novērot un mērīt dažas nanometru struktūras, selektīvu nogulsnēšanos un kodināšanu, 3D tomogrāfiju, mikroražošanu, TEM lamellas sagatavošanu un elementāru mikroanalīzi._x000D_ _x000D_ Iekārta tiks uzstādīta URV SRCiT, aizstājot jau novecojušu parasto SEM-EDX. Iekārtām jau ir pamata palīginfrastruktūra tās pareizai uzstādīšanai. _x000D_ daudzas grupas un iestādes, kas atbalsta aprīkojumu, ir FESEM, FIB un/vai FESEM-FIB lietotāji citos centros. Grūtības izmantot laika nišas citos centros, pielāgotas viņu vajadzībām, ir viens no iemesliem, kas vada šīs grupas, lai veiktu šo pieprasījumu. Tāpēc sniegums pieņems papildu ietekmi uz zinātniskās produktivitātes izcilību un sadarbības internacionalizāciju. Šajā priekšlikumā ir izklāstīta pievienotā vērtība un ietekme uz katru pētniecības grupu un iestādi. Būtībā, ņemot vērā, ka tās pētījumi tiek veikti par nanometru skalu, tās novērojumiem un mērījumiem ir nepieciešama lielāka izšķirtspēja nekā parastā SEM piedāvātā izšķirtspēja. Ar FESEM/FIB, mūsu pētniecības grupas un uzņēmumi iegūs analīzi par šķērsgriezumu elementāro sastāvu vai 3D tomogrāfiju, kurai jābūt ļoti konkurētspējīgai. (Latvian)
17 August 2022
0 references
Návrh predstavuje získanie elektrónového mikroskopu s vysokým rozlíšením spojeného so sústredeným lúčom Ga+ Ion. FESEM/FIB/EDX umožňuje pozorovanie a meranie niekoľkých nanometrov štruktúr, selektívne vylučovanie a morenie, 3D tomografia, mikrofabrácia, príprava TEM lamellas a elementárna mikroanalýza._x000D_ _x000D_ Zariadenie bude inštalované na SRCiT URV, nahrádza už zastarané konvenčné SEM-EDX. Zariadenia už majú základnú pomocnú infraštruktúru pre svoju správnu inštaláciu. _x000D_ mnohé skupiny a inštitúcie podporujúce zariadenia sú používatelia FESEM, FIB a/alebo FESEM-FIB v iných centrách. Ťažkosti pri získavaní využitia časových slotov v iných centrách, prispôsobené ich potrebám, je jedným z dôvodov, ktoré poháňa tieto skupiny, aby túto požiadavku. Výkonnosť preto predpokladá prírastkový vplyv na excelentnosť vedeckej produktivity a internacionalizáciu spolupráce. V tomto návrhu sa podrobne opisuje pridaná hodnota a vplyv pre každú z výskumných skupín a inštitúcií. Vzhľadom na to, že jej výskum sa vykonáva na stupnici nanometrov, jej pozorovania a merania si v podstate vyžadujú väčšie rozlíšenie, než je rozlíšenie, ktoré ponúka konvenčná SEM. S FESEM/FIB naše výskumné skupiny a spoločnosti získajú analýzu elementárneho zloženia prierezov alebo 3D tomografie, ktoré potrebujú byť vysoko konkurencieschopné. (Slovak)
17 August 2022
0 references
Cuirtear i láthair sa togra go bhfaighfí micreascóp ardtaifigh scanacháin leictreon agus é ceangailte le léas spriocdhírithe Ga+ Ion. Ceadaíonn an FESEM/FIB/EDX breathnóireacht agus tomhas ar roinnt struchtúr nanaiméadar, deascadh agus picliú roghnaíoch, tomagrafaíocht 3D, microfabrication, ullmhú TEM lamellas agus microanalysis._x000D_ eiliminteach._x000D_ Suiteálfar an trealamh ag SRCiT an URV, in ionad SEM-EDX traidisiúnta atá imithe i léig cheana féin. Tá an bonneagar cúnta bunúsach ag saoráidí cheana féin chun é a shuiteáil i gceart. _x000D_ tá go leor de na grúpaí agus na hinstitiúidí a thacaíonn leis an trealamh úsáideoirí FESEM, FIB agus/nó FESEM-FIB in ionaid eile. Is é an deacracht a bhaineann le sliotáin ama a úsáid in ionaid eile, a choigeartú chun a gcuid riachtanas, ceann de na cúiseanna a thiomáineann na grúpaí seo chun an t-iarratas seo a dhéanamh. Dá bhrí sin, is dócha go mbeidh tionchar incriminteach ag an bhfeidhmíocht ar bharr feabhais na táirgiúlachta eolaíche agus ar idirnáisiúnú na gcomhoibrithe. Sonraíonn an togra seo an breisluach agus an tionchar do gach ceann de na grúpaí taighde agus na hinstitiúidí taighde. Go bunúsach, ós rud é go ndéantar a chuid taighde ar scála nanaiméadar, ní mór níos mó réitigh a dhéanamh ar a chuid breathnuithe agus tomhais ná an réiteach a thairgeann SEM traidisiúnta. Leis an FESEM/FIB, gheobhaidh ár ngrúpaí taighde agus ár gcuideachtaí anailís ar chomhdhéanamh eiliminteach na trasghearrthacha nó an tomagrafaíocht 3D a theastaíonn uathu a bheith an-iomaíoch. (Irish)
17 August 2022
0 references
Návrh představuje pořízení elektronového mikroskopu s vysokým rozlišením, který je spojen s cíleným Ga+ Ion Beam. FESEM/FIB/EDX umožňuje pozorování a měření několika nanometrů struktur, selektivní depozice a moření, 3D tomografie, mikrofabrikace, příprava TEM lamel a elementární mikroanalýza._x000D_ _x000D_ _x000D_ Zařízení bude instalováno na SRCiT URV a nahradí již zastaralý konvenční SEM-EDX. Zařízení již má základní pomocnou infrastrukturu pro její správnou instalaci. _x000D_ mnoho skupin a institucí podporujících zařízení jsou uživateli FESEM, FIB a/nebo FESEM-FIB v jiných centrech. Obtížnost při získávání časových slotů v jiných centrech, přizpůsobených jejich potřebám, je jedním z důvodů, které tyto skupiny pohání k podání této žádosti. Z tohoto důvodu bude výkonnost předpokládat dodatečný dopad na excelenci vědecké produktivity a internacionalizaci spolupráce. Tento návrh podrobně popisuje přidanou hodnotu a dopad na každou z výzkumných skupin a institucí. Vzhledem k tomu, že její výzkum probíhá na nanometrové stupnici, její pozorování a měření vyžadují v podstatě větší rozlišení, než jaké nabízí konvenční SEM. S FESEM/FIB získají naše výzkumné skupiny a společnosti analýzu elementárního složení průřezů nebo 3D tomografie, které musí být vysoce konkurenceschopné. (Czech)
17 August 2022
0 references
A proposta apresenta a aquisição de um microscópio eletrônico de varredura de alta resolução acoplado a um feixe de íons Ga+ focado. O FESEM/FIB/EDX permite a observação e medição de poucas estruturas de nanômetros, deposição seletiva e decapagem, tomografia 3D, microfabricação, preparação de lamelas TEM e microanálise elementar._x000D_ _x000D_ O equipamento será instalado no SRCiT do URV, substituindo um SEM-EDX convencional já obsoleto. As instalações já têm a infraestrutura auxiliar básica para a sua instalação adequada. _x000D_ muitos dos grupos e instituições que suportam os equipamentos são utentes da FESEM, FIB e/ou FESEM-FIB em outros centros. A dificuldade em obter slots de tempo de uso em outros centros, ajustados às suas necessidades, é uma das razões que impulsiona esses grupos a fazer essa solicitação. Portanto, o desempenho supõe um impacto incremental na excelência da produtividade científica e na internacionalização das colaborações. A presente proposta especifica o valor acrescentado e o impacto para cada um dos grupos e instituições de investigação. Em essência, uma vez que sua pesquisa é realizada na escala dos nanômetros, suas observações e medições requerem mais resolução do que a oferecida por um SEM convencional. Com a FESEM/FIB, nossos grupos de pesquisa e empresas obterão a análise da composição elementar das seções transversais ou da tomografia 3D de que necessitam para serem altamente competitivas. (Portuguese)
17 August 2022
0 references
Ettepanekus esitatakse kõrgresolutsiooniga skaneeriva elektronmikroskoobi omandamine, mis on ühendatud fokuseeritud Ga+ Ion Beamiga. FESEM/FIB/EDX võimaldab jälgida ja mõõta väheseid nanomeetrilisi struktuure, selektiivset sadestumist ja marineerimist, 3D-tomograafiat, mikrotootmist, TEM lamellide ettevalmistamist ja elementaarset mikroanalüüsi._x000D_ _x000D_ Seadmed paigaldatakse URV SRCiT-le, asendades juba vananenud tavapärase SEM-EDXi. Rajatistel on juba põhiline abiinfrastruktuur nende nõuetekohaseks paigaldamiseks. _x000D_ paljud seadmed toetavad rühmad ja institutsioonid on kasutajad FESEM, FIB ja/või FESEM-FIB teistes keskustes. Raskusi saada aega teenindusajad teistes keskustes, kohandatud nende vajadustele, on üks põhjusi, mis ajendab neid rühmi seda taotlust. Seetõttu eeldatakse tulemuste puhul täiendavat mõju teadusliku tootlikkuse tipptasemele ja koostöö rahvusvahelistumisele. Käesolevas ettepanekus kirjeldatakse üksikasjalikult lisandväärtust ja mõju igale uurimisrühmale ja institutsioonile. Võttes arvesse, et tema uuringud viiakse läbi nanomeetri skaalal, nõuavad selle vaatlused ja mõõtmised suuremat eraldusvõimet kui see, mida pakub tavapärane SEM. FESEM/FIB, meie uurimisrühmad ja ettevõtted saavad analüüsi elementaarne koostis ristlõigete või 3D tomograafia nad peavad olema väga konkurentsivõimeline. (Estonian)
17 August 2022
0 references
A javaslat egy nagyfelbontású szkennelő elektronmikroszkóp beszerzését mutatja be, amely egy fókuszált Ga+ Ion Beam-hez kapcsolódik. A FESEM/FIB/EDX lehetővé teszi néhány nanométeres szerkezet megfigyelését és mérését, a szelektív lerakódást és pácolást, a 3D tomográfiát, a mikrogyártást, a TEM lamellák előkészítését és az elemi mikroanalízist._x000D_ _x000D_ A berendezés az URV SRCiT-jén lesz telepítve, egy már elavult hagyományos SEM-EDX helyett. A létesítmények már rendelkeznek a megfelelő telepítéshez szükséges alapvető kiegészítő infrastruktúrával. _x000D_ A berendezéseket támogató csoportok és intézmények közül sokan a FESEM, a FIB és/vagy a FESEM-FIB használói más központokban. Az idősávok használatának nehézsége más központokban, igényeikhez igazítva, az egyik oka annak, hogy ezeket a csoportokat erre a kérésre készteti. Ezért a teljesítmény a tudományos termelékenység kiválóságára és az együttműködések nemzetközivé válására gyakorolt fokozatos hatást feltételez. Ez a javaslat részletezi az egyes kutatócsoportok és intézmények hozzáadott értékét és hatását. Lényegében, tekintettel arra, hogy kutatásait nanométer-skálán végzik, megfigyelései és mérései több felbontást igényelnek, mint a hagyományos SEM. A FESEM/FIB-vel kutatócsoportjaink és vállalataink megkapják a nagy versenyképességű keresztmetszetek elemi összetételének vagy a 3D tomográfiának az elemzését. (Hungarian)
17 August 2022
0 references
Предложението представя придобиването на електронен микроскоп с висока разделителна способност, съчетан с фокусиран Ga+ Ion Beam. FESEM/FIB/EDX позволява наблюдение и измерване на няколко нанометра структури, селективно отлагане и ецване, 3D томография, микрофабрикация, приготвяне на TEM ламели и елементарен микроанализ._x000D_ _x000D_ Оборудването ще бъде инсталирано в SRCiT на URV, заменяйки вече остарял конвенционален SEM-EDX. Съоръженията вече разполагат с основната спомагателна инфраструктура за правилното им инсталиране. _x000D_ много от групите и институциите, които поддържат оборудването, са потребители на FESEM, FIB и/или FESEM-FIB в други центрове. Трудността да се използват времеви слотове в други центрове, адаптирани към техните нужди, е една от причините, които карат тези групи да направят това искане. Ето защо резултатите ще предполагат постепенно въздействие върху високите постижения на научната производителност и интернационализирането на сътрудничеството. В настоящото предложение се описват подробно добавената стойност и въздействието за всяка от научноизследователските групи и институции. По същество, като се има предвид, че неговите изследвания се извършват по скалата на нанометъра, неговите наблюдения и измервания изискват по-голяма разделителна способност от тази, предлагана от конвенционален SEM. С FESEM/FIB нашите изследователски групи и компании ще получат анализ на елементарния състав на напречните сечения или 3D томографията, от които се нуждаят, за да бъдат силно конкурентни. (Bulgarian)
17 August 2022
0 references
Pasiūlyme pristatomas didelės skiriamosios gebos skenavimo elektronų mikroskopas, sujungtas su tiksliniu Ga+ jonų spinduliu. FESEM/FIB/EDX leidžia stebėti ir matuoti keletą nanometrų struktūrų, selektyvaus nusodinimo ir ėsdinimo, 3D tomografijos, mikrofabracijos, TEM lamellas paruošimo ir elementinės mikroanalizės._x000D_ _x000D_ Įranga bus įdiegta URV SRCiT, pakeičiant jau pasenusią tradicinę SEM-EDX. Įranga jau turi pagrindinę pagalbinę infrastruktūrą tinkamam jos montavimui. _x000D_ daugelis įrangą palaikančių grupių ir institucijų yra FESEM, FIB ir (arba) FESEM-FIB naudotojai kituose centruose. Sunku gauti laiko tarpsnius kituose centruose, pritaikyti jų poreikiams, yra viena iš priežasčių, dėl kurių šios grupės gali pateikti šį prašymą. Todėl veiklos rezultatai darys papildomą poveikį mokslinio našumo meistriškumui ir bendradarbiavimo internacionalizavimui. Šiame pasiūlyme išsamiai aprašoma kiekvienos mokslinių tyrimų grupės ir institucijos pridėtinė vertė ir poveikis. Iš esmės, atsižvelgiant į tai, kad jos tyrimas atliekamas nanometrų skalėje, jo stebėjimui ir matavimams reikia didesnės skiriamosios gebos nei ta, kurią siūlo įprasta SEM. Su FESEM/FIB, mūsų mokslinių tyrimų grupės ir įmonės gaus elementinės sudėties kryžminių sekcijų arba 3D tomografijos analizę, kad jos būtų labai konkurencingos. (Lithuanian)
17 August 2022
0 references
U prijedlogu je predstavljena nabava elektronskog mikroskopa visoke razlučivosti u kombinaciji s fokusiranim Ga+ Ion Beamom. FESEM/FIB/EDX omogućuje promatranje i mjerenje nekoliko struktura nanometara, selektivnog taloženja i kiseljenja, 3D tomografije, mikrofabrikacije, pripreme TEM lamela i elementarne mikroanalize._x000D_ _x000D_ Oprema će biti instalirana na SRCiT URV-a, zamjenjujući već zastarjelu konvencionalnu SEM-EDX. Objekti već imaju osnovnu pomoćnu infrastrukturu za njegovu pravilnu ugradnju. _x000D_ mnoge grupe i institucije koje podržavaju opremu su korisnici FESEM-a, FIB-a i/ili FESEM-FIB-a u drugim centrima. Poteškoća u dobivanju vremena korištenja utora u drugim centrima, prilagođena njihovim potrebama, jedan je od razloga koji pokreće ove skupine kako bi ovaj zahtjev. Stoga će uspješnost podrazumijevati postupni učinak na izvrsnost znanstvene produktivnosti i internacionalizaciju suradnje. U ovom se prijedlogu detaljno opisuje dodana vrijednost i učinak na svaku od istraživačkih skupina i institucija. U biti, s obzirom na to da se njegovo istraživanje provodi na ljestvici nanometara, njegova opažanja i mjerenja zahtijevaju veću razlučivost od one koju nudi konvencionalni SEM. Uz FESEM/FIB, naše istraživačke grupe i tvrtke dobit će analizu elementarnog sastava presjeka ili 3D tomografije koja im je potrebna kako bi bila vrlo konkurentna. (Croatian)
17 August 2022
0 references
Förslaget presenterar förvärvet av ett högupplöst skanningselektronmikroskop kopplat till en fokuserad Ga+ Ion Beam. FESEM/FIB/EDX möjliggör observation och mätning av få nanometerstrukturer, selektiv deposition och betning, 3D-tomografi, mikrofabricering, beredning av TEM lamellas och elemental mikroanalys._x000D_ _x000D_ Utrustningen kommer att installeras vid SRCiT av URV, som ersätter en redan föråldrad konventionell SEM-EDX. Anläggningarna har redan den grundläggande hjälpinfrastrukturen för korrekt installation. _x000D_ många av de grupper och institutioner som stöder utrustningen är användare av FESEM, FIB och/eller FESEM-FIB i andra centra. Svårigheten att få använda tidsluckor i andra centra, anpassade till deras behov, är en av anledningarna till att dessa grupper att göra denna begäran. Därför kommer resultatet att förutsätta en stegvis inverkan på spetskompetensen i den vetenskapliga produktiviteten och internationaliseringen av samarbetet. I detta förslag anges mervärdet och effekterna för var och en av forskningsgrupperna och forskningsinstitutionerna. Med tanke på att dess forskning bedrivs på nanometerskalan kräver dess observationer och mätningar i huvudsak mer upplösning än den som erbjuds av ett konventionellt SEM. Med FESEM/FIB kommer våra forskargrupper och företag att få en analys av elementsammansättningen i de tvärsnitt eller den 3D-tomografi som de behöver för att vara mycket konkurrenskraftiga. (Swedish)
17 August 2022
0 references
Propunerea prezintă achiziționarea unui microscop electronic de scanare de înaltă rezoluție cuplat la un fascicul de ioni Ga+. FESEM/FIB/EDX permite observarea și măsurarea unor structuri de nanometri, depunere selectivă și decapare, tomografie 3D, microfabricare, prepararea lamelelor TEM și microanaliză elementară._x000D_ _x000D_ _x000D_ Echipamentul va fi instalat la SRCiT al URV, înlocuind un SEM-EDX convențional deja depășit. Instalațiile dispun deja de infrastructura auxiliară de bază pentru instalarea corespunzătoare. _x000D_ multe dintre grupurile și instituțiile care sprijină echipamentele sunt utilizatori ai FESEM, FIB și/sau FESEM-FIB în alte centre. Dificultatea de a obține utilizarea sloturilor orare în alte centre, adaptate nevoilor lor, este unul dintre motivele care determină aceste grupuri să facă această cerere. Prin urmare, performanța va presupune un impact incremental asupra excelenței productivității științifice și internaționalizării colaborărilor. Prezenta propunere detaliază valoarea adăugată și impactul pentru fiecare dintre grupurile și instituțiile de cercetare. În esență, având în vedere că cercetarea sa se desfășoară la scara nanometrului, observațiile și măsurătorile sale necesită o rezoluție mai mare decât cea oferită de un SEM convențional. Cu FESEM/FIB, grupurile de cercetare și companiile noastre vor obține analiza compoziției elementare a secțiunilor transversale sau a tomografiei 3D de care au nevoie pentru a fi extrem de competitive. (Romanian)
17 August 2022
0 references
Predlog predstavlja pridobitev elektronskega mikroskopa visoke ločljivosti, povezanega z osredotočenim Ga+ ionskim žarkom. FESEM/FIB/EDX omogoča opazovanje in merjenje nekaj nanometrov struktur, selektivno nanašanje in dekapiranje, 3D tomografijo, mikrofabrikacijo, pripravo TEM lamel in elementarno mikroanalizo._x000D_ _x000D_ Oprema bo nameščena na SRCiT URV, ki bo nadomestila že zastarelo konvencionalno SEM-EDX. Objekti že imajo osnovno pomožno infrastrukturo za pravilno namestitev. _x000D_ mnoge skupine in institucije, ki podpirajo opremo, so uporabniki FESEM, FIB in/ali FESEM-FIB v drugih centrih. Težave pri pridobivanju uporabe časovnih reže v drugih centrih, prilagojene njihovim potrebam, je eden od razlogov, ki poganja te skupine, da bi to zahtevo. Zato bo uspešnost predvidevala postopen vpliv na odličnost znanstvene produktivnosti in internacionalizacijo sodelovanja. Ta predlog podrobno opredeljuje dodano vrednost in vpliv na vsako raziskovalno skupino in institucije. Glede na to, da se njegove raziskave izvajajo na nanometrski lestvici, njegova opazovanja in meritve v bistvu zahtevajo večjo ločljivost od tiste, ki jo ponuja konvencionalna SEM. Z FESEM/FIB bodo naše raziskovalne skupine in podjetja pridobili analizo elementarne sestave presekov ali 3D tomografije, ki jo potrebujejo za visoko konkurenčnost. (Slovenian)
17 August 2022
0 references
WE wniosku przedstawiono nabycie wysokiej rozdzielczości skanującego mikroskopu elektronowego połączonego z skupioną wiązką jonową Ga+. FESEM/FIB/EDX umożliwia obserwację i pomiar kilku konstrukcji nanometrów, selektywne osadzanie i wytrawianie, tomografię 3D, mikrofabrykację, przygotowanie lameli TEM i mikroanalizę pierwiastkową._x000D_ _x000D_ Sprzęt zostanie zainstalowany na SRCiT URV, zastępując już przestarzały konwencjonalny SEM-EDX. Obiekty posiadają już podstawową infrastrukturę pomocniczą dla jej prawidłowej instalacji. _x000D_ wiele grup i instytucji wspierających sprzęt są użytkownikami FESEM, FIB i/lub FESEM-FIB w innych ośrodkach. Trudności w korzystaniu z szczelin czasowych w innych ośrodkach, dostosowane do ich potrzeb, są jednym z powodów, dla których grupy te kierują tę prośbę. W związku z tym wyniki będą zakładać stopniowy wpływ na doskonałość wydajności naukowej i umiędzynarodowienie współpracy. W niniejszym wniosku wyszczególniono wartość dodaną i wpływ na każdą grupę badawczą i instytucję badawczą. W istocie, biorąc pod uwagę, że badania prowadzone są w skali nanometrów, jej obserwacje i pomiary wymagają większej rozdzielczości niż ta, którą oferuje konwencjonalne SEM. Z FESEM/FIB, nasze grupy badawcze i firmy uzyskają analizę składu elementarnego przekrojów lub tomografii 3D, które muszą być wysoce konkurencyjne. (Polish)
17 August 2022
0 references
Tarragona
0 references
Identifiers
EQC2018-005278-P
0 references