Equipment for near-situ electronic microscopy and high-resolution low-voltage Analytical Tomography. (Q3180412): Difference between revisions
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| label / fr | label / fr | ||||||||||||||
Équipement pour microscopie électronique quasi-situ et tomographie analytique à basse tension à haute résolution. | |||||||||||||||
| Property / summary | |||||||||||||||
L’objectif central de cette demande est d’élargir les possibilités d’analyse du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 récemment intégré à la division Microscopie électronique du SC-ICYT de l’Université de Cadiz par l’acquisition de porte-échantillons de microscopie électronique avancés, ainsi que la possibilité de réduire la tension de travail à 60 kV, étendant ainsi l’utilisation de ce microscope à des matériaux sensibles aux dommages par irradiation, dans des conditions autres que celles habituelles dans les microscopes conventionnels. Il est proposé, tout d’abord, d’acquérir un porte-échantillon de transfert sous vide à double inclinaison, qui permettrait l’étude analytique des échantillons étudiés dans des conditions quasi-situes, après traitement en atmosphère contrôlée. Il est également proposé d’acquérir un détenteur d’échantillons commerciaux qui, grâce à sa conception et à son intervalle de rotation important, permet l’acquisition de séries tomographiques X-EDS pour générer des cartes compositionnelles en trois dimensions. Enfin, l’alignement de 60 kV du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 est proposé. Cet ajout élargit les possibilités d’utiliser le microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 à d’autres matériaux d’importance technologique, créant ainsi une nouvelle ligne de recherche à l’Université. (French) | |||||||||||||||
| Property / summary: L’objectif central de cette demande est d’élargir les possibilités d’analyse du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 récemment intégré à la division Microscopie électronique du SC-ICYT de l’Université de Cadiz par l’acquisition de porte-échantillons de microscopie électronique avancés, ainsi que la possibilité de réduire la tension de travail à 60 kV, étendant ainsi l’utilisation de ce microscope à des matériaux sensibles aux dommages par irradiation, dans des conditions autres que celles habituelles dans les microscopes conventionnels. Il est proposé, tout d’abord, d’acquérir un porte-échantillon de transfert sous vide à double inclinaison, qui permettrait l’étude analytique des échantillons étudiés dans des conditions quasi-situes, après traitement en atmosphère contrôlée. Il est également proposé d’acquérir un détenteur d’échantillons commerciaux qui, grâce à sa conception et à son intervalle de rotation important, permet l’acquisition de séries tomographiques X-EDS pour générer des cartes compositionnelles en trois dimensions. Enfin, l’alignement de 60 kV du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 est proposé. Cet ajout élargit les possibilités d’utiliser le microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 à d’autres matériaux d’importance technologique, créant ainsi une nouvelle ligne de recherche à l’Université. (French) / rank | |||||||||||||||
Normal rank | |||||||||||||||
| Property / summary: L’objectif central de cette demande est d’élargir les possibilités d’analyse du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 récemment intégré à la division Microscopie électronique du SC-ICYT de l’Université de Cadiz par l’acquisition de porte-échantillons de microscopie électronique avancés, ainsi que la possibilité de réduire la tension de travail à 60 kV, étendant ainsi l’utilisation de ce microscope à des matériaux sensibles aux dommages par irradiation, dans des conditions autres que celles habituelles dans les microscopes conventionnels. Il est proposé, tout d’abord, d’acquérir un porte-échantillon de transfert sous vide à double inclinaison, qui permettrait l’étude analytique des échantillons étudiés dans des conditions quasi-situes, après traitement en atmosphère contrôlée. Il est également proposé d’acquérir un détenteur d’échantillons commerciaux qui, grâce à sa conception et à son intervalle de rotation important, permet l’acquisition de séries tomographiques X-EDS pour générer des cartes compositionnelles en trois dimensions. Enfin, l’alignement de 60 kV du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 est proposé. Cet ajout élargit les possibilités d’utiliser le microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 à d’autres matériaux d’importance technologique, créant ainsi une nouvelle ligne de recherche à l’Université. (French) / qualifier | |||||||||||||||
point in time: 4 December 2021
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Revision as of 14:25, 4 December 2021
Project Q3180412 in Spain
| Language | Label | Description | Also known as |
|---|---|---|---|
| English | Equipment for near-situ electronic microscopy and high-resolution low-voltage Analytical Tomography. |
Project Q3180412 in Spain |
Statements
167,632.14 Euro
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209,540.17 Euro
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80.0 percent
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1 January 2016
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31 December 2018
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UNIVERSIDAD DE CADIZ
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36°31'43.28"N, 6°11'24.79"W
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11028
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El objetivo central de esta solicitud es expandir las posibilidades analíticas del Microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 recientemente incorporado a la División de Microscopía Electrónica de los SC-ICYT de la Universidad de Cádiz mediante la adquisición de porta-muestras avanzados de microscopía electrónica, así como mediante la posibilidad de reducir el voltaje de trabajo a 60kV, extendiendo así el uso de este microscopio a materiales sensibles a daños por irradiación, en condiciones distintas a las habituales en microscopios convencionales. Se propone, en primer lugar, la adquisición de un portamuestras de doble inclinación de transferencia en vacío, que permitiría el estudio analítico de las muestras estudiadas en condiciones cuasi in-situ, tras un tratamiento en atmósfera controlada. Se propone igualmente la adquisición de un porta-muestras comercial que permita, gracias a su diseño y su gran intervalo de giro, la adquisición de series tomográficas en modo X-EDS para generar mapas composicionales en tres dimensiones. Finalmente se propone la incorporación del alineamiento a 60 kV del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300. A través de esta incorporación se amplía las posibilidades de uso del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 a otros materiales, de importancia tecnológica, creándose una línea nueva de investigación en nuestra Universidad. (Spanish)
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The central objective of this request is to expand the analytical possibilities of the FEI TITAN3 Themis 60-300 Microscope recently incorporated into the Electronic Microscopy Division of the SC-ICYT of the University of Cadiz through the acquisition of advanced electronic microscopy sample holders, as well as the possibility of reducing the working voltage to 60 kV, thus extending the use of this microscope to materials sensitive to irradiation damage, under conditions other than those usual in conventional microscopes. It is proposed, first of all, the acquisition of a double tilt vacuum transfer sample holder, which would allow the analytical study of the samples studied under quasi-situ conditions, after treatment in controlled atmosphere. It is also proposed to acquire a commercial sample holder that, thanks to its design and its large turning interval, allows the acquisition of X-EDS tomographic series to generate compositional maps in three dimensions. Finally, the 60 kV alignment of the FEI TITAN3 Themis 60-300 microscope is proposed. This addition extends the possibilities of using the FEI TITAN3 Themis 60-300 microscope to other materials, of technological importance, creating a new line of research at our University. (English)
12 October 2021
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L’objectif central de cette demande est d’élargir les possibilités d’analyse du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 récemment intégré à la division Microscopie électronique du SC-ICYT de l’Université de Cadiz par l’acquisition de porte-échantillons de microscopie électronique avancés, ainsi que la possibilité de réduire la tension de travail à 60 kV, étendant ainsi l’utilisation de ce microscope à des matériaux sensibles aux dommages par irradiation, dans des conditions autres que celles habituelles dans les microscopes conventionnels. Il est proposé, tout d’abord, d’acquérir un porte-échantillon de transfert sous vide à double inclinaison, qui permettrait l’étude analytique des échantillons étudiés dans des conditions quasi-situes, après traitement en atmosphère contrôlée. Il est également proposé d’acquérir un détenteur d’échantillons commerciaux qui, grâce à sa conception et à son intervalle de rotation important, permet l’acquisition de séries tomographiques X-EDS pour générer des cartes compositionnelles en trois dimensions. Enfin, l’alignement de 60 kV du microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 est proposé. Cet ajout élargit les possibilités d’utiliser le microscope FEI TITAN3 Themis 60-300 à d’autres matériaux d’importance technologique, créant ainsi une nouvelle ligne de recherche à l’Université. (French)
4 December 2021
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Puerto Real
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Identifiers
UNCA15-CE-3715
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