Wafer Tester and Prober (Q3061681): Difference between revisions

From EU Knowledge Graph
Jump to navigation Jump to search
(‎Removed claim: summary (P836): Anschaffung eines Waver Testers und Probers - Testgeräte für die Chipentwicklung, Removing bad summary)
(‎Changed label, description and/or aliases in de-at, de, and other parts: Moving texts from de-at to de)
label / de-atlabel / de-at
Wafer Tester und Prober
label / delabel / de
 
Wafer Tester und Prober
Property / summary
 
Anschaffung eines Waver Testers und Probers - Testgeräte für die Chipentwicklung (German)
Property / summary: Anschaffung eines Waver Testers und Probers - Testgeräte für die Chipentwicklung (German) / rank
 
Normal rank

Revision as of 14:07, 3 December 2021

Project Q3061681 in Austria
Language Label Description Also known as
English
Wafer Tester and Prober
Project Q3061681 in Austria

    Statements

    0 references
    664,490.0 Euro
    0 references
    12 February 2020
    0 references
    31 January 2021
    0 references
    Photeon Technologies GmbH
    0 references
    0 references

    47°24'49.07"N, 9°44'32.60"E
    0 references
    80301
    0 references
    Purchase of a Waver Tester and Prober – Test Devices for Chip Development (English)
    20 July 2021
    0 references
    Acquisition d’un testeur Waver et d’un échantillonneur — Équipement de test pour le développement de puces (French)
    27 November 2021
    0 references
    Overname van een Waver Tester en Prober — Testers voor Chip Development (Dutch)
    29 November 2021
    0 references
    Anschaffung eines Waver Testers und Probers - Testgeräte für die Chipentwicklung (German)
    0 references
    Dornbirn
    0 references

    Identifiers

    AUST-1390
    0 references